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'''परिचालन-स्तरीय धारिता प्रोफाइलन (डीएलसीपी)''' धारा-विद्युत -दाब प्रोफाइलन का एक प्रकार है। धारिता विद्युत दाब-प्रोफाइलन लक्षण वर्णन तकनीक विशेष रूप से [[अनाकार ठोस]] और [[ polycrystalline | बहुक्रिस्टलीय]] पदार्थ के लिए विकसित की गई है, जिसमें अधस्थ तल,अंतराफलक अवस्था या गैर-एकरूपता जैसी अधिक विसंगतियाँ हैं।

जबकि मानक C-V प्रोफाइलन में आवेश प्रतिक्रिया को रैखिक (dQ = CdV) माना जाता है, परिचालन-स्तरीय धारिता प्रोफाइलन में आवेश प्रतिक्रिया में महत्वपूर्ण गैर-रेखीय व्यवहार (dQ = C<sub>0</sub>dV + C<sub>1</sub>(dV)<sup>2</sup> + C<sub>2</sub>(dV)<sup>3</sup>) होने की अपेक्षा होती है, परिचालन-स्तरीय धारिता प्रोफाइलन तकनीक में उपयोग किए जाने वाले महत्वपूर्ण बड़े प्रत्यावर्ती धारा-सिग्नल आयाम के कारण होता है।

परिचालन-स्तरीय धारिता प्रोफाइलन, प्रवेश [[स्पेक्ट्रोस्कोपी|स्पेक्ट्रमदर्शी]] की तरह, दोषों के स्थानिक और ऊर्जावान वितरण दोनों को प्राप्त कर सकता है। ऊर्जावान वितरण प्रत्यावर्ती धारा सिग्नल की [[आवृत्ति]] को अलग करके प्राप्त किया जाता है, जबकि स्थानिक वितरण प्रयुक्त दिष्ट धारा-अभिनति में संशोधनों द्वारा बनाए रखा जाता है।

परिचालन-स्तरीय धारिता प्रोफाइलन दृढ़ता से गतिशील माप है, जिसका अर्थ है कि C–V प्रोफाइलन में अभिलेखित स्थिर-स्थिति गतिविधि को अलग कर दिया गया है। परिणामस्वरूप, परिचालन-स्तरीय धारिता प्रोफाइलन अंतरफलक अवस्थाओं के प्रति असंवेदनशील है।

== संदर्भ ==
Heath, Jennifer T., J. David Cohen, William N. Shafarman. "Bulk and MetaStable Defects in CuIn(1-x)Ga(x)Se2 Thin Films Using Drive Level Capacitance Profiling." ''Journal of Applied Physics.'' 95.3 (2004).

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