View source for सुपरलेंस

एक सुपरलेन्स, या सुपर लेंस, एक [[ लेंस (प्रकाशिकी) |लेंस (प्रकाशिकी)]] है जो [[विवर्तन सीमा]] के बाहर जाने के लिए [[मेटामेट्री|मेटामटेरियल्स]] का उपयोग करता है। विवर्तन सीमा पारंपरिक लेंस और [[ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी|प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी]] की एक विशेषता है जो प्रदीप्ति की तरंग दैर्ध्य और वस्तुनिष्ठ लेंस के संख्यात्मक एपर्चर (कैमरा के लेंस का द्वारक) एनए के आधार पर उनके विश्लेषण की सुंदरता को सीमित करती है। कई लेंस डिजाइन प्रस्तावित किए गए हैं जो किसी तरह विवर्तन सीमा के बाहर जाते हैं, लेकिन बाध्यताएं और बाधाएं उनमें से प्रत्येक का सामना करती हैं।<ref name=perfect-lens-2000/>
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== इतिहास ==
1873 में [[अर्नेस्ट अब्बे]] ने बताया कि पारंपरिक लेंस किसी भी छवि के कुछ सूक्ष्म विवरणों को कैप्चर करने में असमर्थ हैं। सुपरलेन्स का उद्देश्य ऐसे विवरणों को कैप्चर करना है। पारंपरिक लेंस (ऑप्टिक्स) की सीमा ने [[जैविक विज्ञान]] में प्रगति को बाधित किया है। ऐसा इसलिए है क्योंकि एक [[ वाइरस |वाइरस]] या [[डीएनए अणु]] को उच्चतम शक्ति वाले पारंपरिक सूक्ष्मदर्शी से नहीं सुलझाया जा सकता है। यह सीमा उनके प्राकृतिक वातावरण में एक कोशिका (जीव विज्ञान) के [[सूक्ष्मनलिकाएं]] के साथ चलने वाले [[सेलुलर प्रोटीन]] की मिनट प्रक्रियाओं तक प्रसारित हुई है। इसके अतिरिक्त, [[कंप्यूटर चिप]] और परस्पर संबंधित [[microelectronics|माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक्स]] सूक्ष्म और सूक्ष्म पैमाने पर निर्मित होते रहते हैं। इसके लिए विशिष्ट [[नैनोलिथोग्राफी|नैनोलिथोमुद्रण]] की आवश्यकता होती है, जो सीमित भी है क्योंकि इनमें पारंपरिक लेंस का उपयोग होता है। इसलिए, एक सुपरलेन्स को नियंत्रित करने वाले सिद्धांत दिखाते हैं कि इसमें डीएनए अणुओं, सेलुलर प्रोटीन प्रक्रियाओं की इमेजिंग और इससे भी सूक्ष्म कंप्यूटर चिप्स और माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक के निर्माण में सहायता करने की क्षमता है।<ref name=overcome>{{cite journal|last=Zhang|first=Xiang|author2=Liu, Zhaowei|title=विवर्तन सीमा को पार करने के लिए सुपरलेंस|journal=Nature Materials|volume=7|pages=435–441|format=Free PDF download|year=2008|url=http://xlab.me.berkeley.edu/pdf/090.pdf|doi=10.1038/nmat2141|pmid=18497850|access-date =2013-06-03|bibcode=2008NatMa...7..435Z|issue=6}}</ref><ref name=Aguirre>{{cite journal|last=Aguirre|first=Edwin L.|title=सुपर-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग के लिए 'परफेक्ट' लेंस बनाना|journal =Journal of Nanophotonics|volume=4|issue=1|pages=043514|date=2012-09-18|url=http://www.uml.edu/News/stories/2011-12/Akyurtlu-research.aspx|doi=10.1117/1.3484153|access-date =2013-06-02|bibcode=2010JNano...4d3514K }}</ref><ref name=100-nanometer/><ref name=half-wave-length/>

इसके अतिरिक्त, पारंपरिक लेंस केवल तरंग प्रसार प्रकाश तरंगों को कैप्चर करते हैं। ये [[लहर]] तरंगें हैं जो किसी प्रकाश स्रोत या वस्तु से लेंस या मानव आँख तक जाती हैं। इसका वैकल्पिक रूप से सुदूर क्षेत्र के रूप में अध्ययन किया जा सकता है। इसके विपरीत, एक सुपरलेंस किसी वस्तु की सतह के शीर्ष पर रहने वाले [[दृश्यमान प्रकाश]] और तरंगों को प्रसारित करता है, जिसे वैकल्पिक रूप से दूर क्षेत्र और निकटतम और दूर क्षेत्र दोनों के रूप में अध्ययन किया जा सकता है।<ref>{{cite web |last=Pendry |first=John |url=http://www.cmth.ph.ic.ac.uk/photonics/pdf/OPNarticle.pdf |title=निकट क्षेत्र में हेरफेर|volume=15 |website=Optics & Photonics News |date=September 2004 |archive-url=https://web.archive.org/web/20080221173839/http://www.cmth.ph.ic.ac.uk/photonics/pdf/OPNarticle.pdf |archive-date=2008-02-21 |url-status=dead}}</ref><ref>
{{cite journal|last=Anantha|first=S. Ramakrishna|author2=J.B. Pendry|author3=M.C.K. Wiltshire|author4=W.J. Stewart|title=Imaging the Near Field|journal=Journal of Modern Optics|volume=50|issue=9|pages=1419–1430|year=2003|url=http://esperia.iesl.forth.gr/~ppm/DALHM/publications/papers/jmov50p1419.pdf|doi=10.1080/0950034021000020824}}</ref>

20वीं शताब्दी की शुरुआत में [[डेनिस गैबोर]] द्वारा सुपरलेन्स शब्द का उपयोग कुछ अलग करने के लिए किया गया था: एक मिश्रित लेंसलेट सरणी प्रणाली का उपयोग किया गया था।<ref>{{cite patent|country=GB|number=541753|title=लेंसिक्यूल्स से बने ऑप्टिकल सिस्टम में सुधार या उससे संबंधित|inventor=Dennis Gabor|pubdate=1941}}</ref>



== सिद्धांत ==
[[File:Loupe-binoculaire-p1030891.jpg|thumb|250px|दूरबीन माइक्रोस्कोप एक पारंपरिक प्रकाशिकी प्रणाली है। [[स्थानिक संकल्प]] एक विवर्तन सीमा से सीमित है जो 200 [[नैनोमीटर]] से कुछ ऊपर है।]]

=== छवि निर्माण ===
[[Image:Commonly used metallic nanoprobes.jpg|thumb|250px|सामान्यतः उपयोग किए जाने वाले धात्विक नैनोप्रोब्स के योजनाबद्ध चित्रण और चित्र जिनका उपयोग नैनोमीटर विश्लेषण में एक नमूना देखने के लिए किया जा सकता है। ध्यान दें कि तीन नैनोप्रोब्स की युक्तियां 100 नैनोमीटर हैं।<ref name=100-nanometer/>]]किसी वस्तु की छवि को उस वस्तु की विशेषताओं के मूर्त या दृश्य प्रतिनिधित्व के रूप में परिभाषित किया जा सकता है। छवि निर्माण के लिए एक आवश्यकता विद्युत चुम्बकीय क्षेत्र के क्षेत्रों के साथ अंतःक्रिया है। इसके अतिरिक्त, फीचर विवरण, या छवि विश्लेषण का स्तर [[तरंग दैर्ध्य]] तक सीमित है। उदाहरण के लिए, प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी के साथ, छवि उत्पादन और संकल्प दृश्यमान प्रकाश की तरंग की लंबाई पर निर्भर करता है। हालांकि, एक सुपरलेन्स के साथ, इस सीमा को हटाया जा सकता है, और छवि की एक नई श्रेणी उत्पन्न की जा सकती है।<ref name="image=res">{{cite journal|last=Lauterbur|first=P.|year=1973|title=Image Formation by Induced Local Interactions: Examples Employing Nuclear Magnetic Resonance|url=http://www.nature.com/physics/looking-back/lauterbur/index.html|journal=[[Nature (journal)|Nature]]|volume=242|issue=5394|pages=190–191|doi=10.1038/242190a0|bibcode=1973Natur.242..190L |s2cid=4176060 }}</ref>
[[इलेक्ट्रॉन बीम लिथोग्राफी|इलेक्ट्रॉन बीम लिथोमुद्रण]] इस रिज़ॉल्यूशन सीमा को पार कर सकती है। दूसरी ओर प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी, 200 [[100 नैनोमीटर]] के ठीक ऊपर कुछ मान तक सीमित नहीं हो सकता है।<ref name=100-nanometer/>हालाँकि, प्रकाशिकी [[माइक्रोस्कोप]] के साथ संयुक्त तकनीक ने छवि विश्लेषण में वृद्धि की अनुमति देना प्रारम्भ कर दिया है। (नीचे अनुभाग देखें)

विवर्तन सीमा से प्रतिबंधित होने की एक परिभाषा, आधा प्रकाश पर एक संकल्प काट दिया गया है। दृश्यमान स्पेक्ट्रम की एक सीमा होती है जो 390 [[नैनो]]मीटर से 750 नैनोमीटर तक प्रसारित होती है। [[हरा]], बीच में आधा, लगभग 500 नैनोमीटर है। [[माइक्रोस्कोपी|सूक्ष्मदर्शी]] [[लेंस एपर्चर]], ऑब्जेक्ट से लेंस तक की दूरी और देखी गई सामग्री के अपवर्तनांक जैसे मापदंडों को ध्यान में रखता है। यह संयोजन विश्लेषण कटऑफ या सूक्ष्मदर्शी सूक्ष्मदर्शी को परिभाषित करता है, जो 200 नैनोमीटर तक सारणीबद्ध होता है। इसलिए, [[पारंपरिक लेंस]], जो वस्तुतः साधारण प्रकाश तरंगों का उपयोग करके किसी वस्तु की एक छवि का निर्माण करते हैं, ऐसी जानकारी को छोड़ देते हैं जो बहुत ही सूक्ष्म, और उस वस्तु का सूक्ष्म विवरण उत्पन्न करती है जो क्षणभंगुर तरंगों में समाहित होती है। ये आयाम 200 नैनोमीटर से कम हैं। इस कारण से, पारंपरिक प्रकाशिकी सिस्टम, जैसे कि सूक्ष्मदर्शी, बहुत छोटी, नैनो-तकनीक | नैनोमीटर-आकार की संरचनाओं या विवो में नैनोमीटर-आकार, जैसे कि व्यक्तिगत वायरस, या डीएनए अणुओं की सटीक रूप से छवि बनाने में असमर्थ रहे हैं।<ref name=100-nanometer/><ref name=half-wave-length>{{Cite journal|last1=Vinson|first1 =V|last2= Chin|first2=G.|year=2007|title =Introduction to special issue – Lights, Camera, Action|journal =[[Science (journal)|Science]]|volume =316|issue =5828|page=1143|doi =10.1126/science.316.5828.1143 |doi-access =free}}</ref>

मानक प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी ([[उज्ज्वल क्षेत्र माइक्रोस्कोपी|उज्ज्वल क्षेत्र सूक्ष्मदर्शी]]) की सीमाएं तीन क्षेत्रों में हैं:
* तकनीक केवल अंधेरे या दृढ़ता से अपवर्तक सूचकांक को प्रभावी ढंग से चित्रित कर सकती है।
* [[विवर्तन]] वस्तु, या कोशिका (जीव विज्ञान)|कोशिका के संकल्प को लगभग 200 नैनोमीटर तक सीमित करता है।
* [[फोकल प्लेन]] के बाहर के बिंदुओं से फोकस से बाहर का प्रकाश छवि की स्पष्टता को कम करता है।

जीवित जैविक कोशिका (जीव विज्ञान) में विशेष रूप से सफलतापूर्वक अध्ययन करने के लिए पर्याप्त कंट्रास्ट की कमी होती है, क्योंकि कोशिका की आंतरिक संरचना ज्यादातर रंगहीन और पारदर्शी होती है। कंट्रास्ट बढ़ाने का सबसे साधारण तरीका चयनात्मक रंगों के साथ विभिन्न संरचनाओं को रंगना (जीव विज्ञान) है, लेकिन अधिकांशतः इसमें नमूने को मारना और ठीक करना सम्मिलित होता है। स्टेनिंग [[ विरूपण साक्ष्य (माइक्रोस्कोपी) |विरूपण साक्ष्य (सूक्ष्मदर्शी)]] भी प्रस्तुत कर सकता है, स्पष्ट संरचनात्मक विवरण जो नमूने के प्रसंस्करण के कारण होते हैं और इस प्रकार नमूने की एक वैध विशेषता नहीं हैं।

=== पारंपरिक लेंस ===
[[File:DVD.png|thumb|150px|[[डीवीडी]] (डिजिटल बहुमुखी डिस्क)। [[डेटा स्थानांतरण]] के लिए एक लेजर कार्यरत है।]]पारंपरिक ग्लास लेंस हमारे समाज और [[विज्ञान]] में व्यापक है। यह [[प्रकाशिकी]] के मूलभूत उपकरणों में से एक है क्योंकि यह प्रकाश के विभिन्न तरंग दैर्ध्य के साथ संपर्क करता है। उसी समय, प्रकाश की तरंग दैर्ध्य साधारण छवियों को कैप्चर करने के लिए उपयोग की जाने वाली पेंसिल की चौड़ाई के [[अनुरूप]] हो सकती है। सीमा हर तरह से अतिक्रमण करती है। उदाहरण के लिए, डिजिटल वीडियो प्रणाली में उपयोग किया जाने वाला [[लेज़र]] डीवीडी से विवरण नहीं पढ़ सकता है जो कि लेज़र के दृश्य प्रकाश से छोटा होता है। यह डीवीडी की संग्रहण क्षमता को सीमित करता है।<ref name=MIT-Pendry-lecture/>

इस प्रकार, जब कोई वस्तु प्रकाश का उत्सर्जन या परावर्तित करती है तो इस [[घटना]] से जुड़े दो प्रकार के [[विद्युत चुम्बकीय विकिरण]] होते हैं। ये निकट क्षेत्र विकिरण तरंग विकिरण और कोणीय विभेदन विकिरण हैं। जैसा कि इसके विवरण से पता चलता है, दूर का क्षेत्र वस्तु के बाहर निकल जाता है। फिर इसे पारंपरिक ग्लास लेंस द्वारा आसानी से कैप्चर किया जाता है और हेरफेर किया जाता है। हालाँकि, उपयोगी (नैनोमीटर-आकार) विश्लेषण विवरण नहीं देखे गए हैं, क्योंकि वे निकटतम क्षेत्र में छिपे हुए हैं। वे स्थानीयकृत रहते हैं, प्रकाश उत्सर्जक वस्तु के बहुत समीप रहते हैं, यात्रा करने में असमर्थ होते हैं, और पारंपरिक लेंस द्वारा कब्जा करने में असमर्थ होते हैं। उच्च विभेदन के लिए निकटतम क्षेत्र विकिरण को नियंत्रित करना, प्रकृति में आसानी से प्राप्त नहीं होने वाली सामग्रियों की एक नई श्रेणी के साथ पूरा किया जा सकता है। ये क्रिस्टल संरचना जैसे परिचित [[ठोस]] पदार्थों के विपरीत हैं, जो परमाणु और आणविक इकाइयों से अपनी गुण प्राप्त करते हैं। नई सामग्री वर्ग, जिसे [[metamaterials|मेटामटेरियल्स]] कहा जाता है, इसके गुणों को कृत्रिम रूप से बड़ी संरचना से प्राप्त करता है। इसके परिणामस्वरूप उपन्यास गुण और उपन्यास प्रतिक्रियाएं हुई हैं, जो प्रकाश की तरंग दैर्ध्य द्वारा लगाए गए सीमाओं को पार करने वाले [[कोणीय संकल्प]] की अनुमति देती हैं।<ref name=MIT-Pendry-lecture>{{cite web|date =13 March 2007|title=प्रो. सर जॉन पेंड्री, इंपीरियल कॉलेज, लंदन|url =http://www.rle.mit.edu/60th/colloquiaseries.htm|work=Colloquia Series|publisher =Research Laboratory of Electronics|access-date =2010-04-07}}</ref>


=== सबवेवलेंथ इमेजिंग ===
[[File:Electrocomposeur 1976.JPG|thumb|259px|इलेक्ट्रोकंपोज़र एक इलेक्ट्रॉन-बीम लिथोमुद्रण मशीन (इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप) था जिसे मुखौटा लेखन के लिए डिज़ाइन किया गया था। इसे 1970 के दशक की शुरुआत में विकसित किया गया था और 1970 के दशक के मध्य में तैनात किया गया था।]]इसने वास्तविक समय, प्राकृतिक वातावरण में सेल (जीव विज्ञान) की बातचीत को देखने की इच्छा और सबवेवलेंथ इमेजिंग की आवश्यकता को जन्म दिया है। सबवेवलेंथ इमेजिंग को [[ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप|प्रकाशिकी]] सूक्ष्मदर्शी के रूप में परिभाषित किया जा सकता है जिसमें दृश्य प्रकाश की तरंग दैर्ध्य के नीचे किसी वस्तु या जीव का विवरण देखने की क्षमता होती है (उपरोक्त अनुभागों में चर्चा देखें)। दूसरे शब्दों में, 200 नैनोमीटर से कम वास्तविक समय में निरीक्षण करने की क्षमता होना। प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी एक गैर-इनवेसिव तकनीक और तकनीक है क्योंकि हर रोज प्रकाश [[संचरण माध्यम]] है। प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी (सबवेवलेंथ) में प्रकाशिकी सीमा के नीचे इमेजिंग को सेल (जीव विज्ञान) और सिद्धांत रूप में नैनोटेक्नोलॉजी के लिए इंजीनियर किया जा सकता है।

उदाहरण के लिए, 2007 में एक तकनीक का प्रदर्शन किया गया था जहां एक पारंपरिक प्रकाशिकी लेंस के साथ एक [[नकारात्मक सूचकांक मेटामेट्री|नकारात्मक सूचकांक मेटामटेरियल्स]] | मेटामटेरियल्स-आधारित लेंस दृश्यमान प्रकाश को देखने के लिए हेरफेर कर सकता है ([[नैनोस्कोपिक स्केल]]) पैटर्न जो एक साधारण प्रकाशिकी माइक्रोस्कोप के साथ देखे जाने के लिए बहुत छोटा था। इसमें न केवल एक संपूर्ण कोशिका (जीव विज्ञान), या कोशिका (जीव विज्ञान) # कार्यों को देखने के लिए संभावित अनुप्रयोग हैं, जैसे [[प्रोटीन]] और वसा कोशिकाओं के अंदर और बाहर कैसे चलते हैं। प्रौद्योगिकी क्षेत्र में, इसका उपयोग [[फोटोलिथोग्राफी|फोटोलिथोमुद्रण]] और नैनोलिथोमुद्रण के पहले चरणों में सुधार करने के लिए किया जा सकता है, जो कभी सूक्ष्म कंप्यूटर चिप्स के निर्माण के लिए आवश्यक है।<ref name=100-nanometer/><ref name=Zhang-Science-2007>
{{cite web|last=Yeager|first =A.|date =28 March 2009|title =Cornering The Terahertz Gap|url=http://www.sciencenews.org/view/feature/id/41651/title/Cornering_the_Terahertz_Gap|work=[[Science News]]|access-date =2010-03-02 }}</ref>

[[सबवेवलेंथ]] पर ध्यान केंद्रित करना एक अद्वितीय [[ऑप्टिकल इमेजिंग|प्रकाशिकी इमेजिंग]] तकनीक बन गई है जो देखी गई वस्तु पर उन विशेषताओं के दृश्य की अनुमति देती है जो उपयोग में [[फोटॉनों]] की तरंग दैर्ध्य से छोटी होती हैं। फोटोन प्रकाश की न्यूनतम इकाई है। जबकि पहले शारीरिक रूप से असंभव माना जाता था, मेटामटेरियल्स के विकास के माध्यम से सबवेवलेंथ इमेजिंग संभव हो गई है। यह सामान्यतः धातु की एक परत का उपयोग करके पूरा किया जाता है जैसे कि सोने या चांदी में कुछ परमाणु मोटे होते हैं, जो सुपरलेन्स के रूप में फलन करता है, या 1डी और 2डी [[फोटोनिक क्रिस्टल]] के माध्यम से।<ref>
{{Cite journal|last1 =Savo|first1=S.|last2=Andreone|first2=A.|last3=Di Gennaro|first3=E.|year= 2009|title =Superlensing properties of one-dimensional dielectric photonic crystals|journal =[[Optics Express]]|volume =17|issue=22|pages =19848–19856|doi =10.1364/OE.17.019848|pmid =19997206|bibcode=2009OExpr..1719848S|arxiv=0907.3821 |s2cid=2217980 }}</ref><ref name="imaging">{{Cite journal|last1 =Parimi|first1=P.|year=2003|title=नकारात्मक अपवर्तन का उपयोग करते हुए फ्लैट लेंस द्वारा इमेजिंग|journal= [[Nature (journal)|Nature]]|volume=426|issue =6965|page=404|doi =10.1038/426404a|pmid=14647372|bibcode=2003Natur.426..404P|display-authors =1|last2 =Lu|first2 =Wentao T.|last3 =Vodo|first3 =Plarenta|last4 =Sridhar|first4 =Srinivas |doi-access =free}}</ref> नीचे के अनुभागों में चर्चा की गई तरंगों के प्रसार, क्षणिक तरंगों, निकटतम क्षेत्र इमेजिंग और दूर क्षेत्र इमेजिंग के बीच एक सूक्ष्म परस्पर क्रिया है।<ref name="100-nanometer">{{Cite journal|last1=Kawata|first1=S.|last2=Inouye|first2=Y.|last3=Verma|first3=P.|year=2009|title =नियर-फील्ड नैनो-इमेजिंग और सुपरलेंसिंग के लिए प्लास्मोनिक्स|journal =[[Nature Photonics]]|volume =3|issue= 7|pages =388–394|doi =10.1038/nphoton.2009.111|bibcode=2009NaPho...3..388K }}</ref><ref name="MIT-magazine" />



=== प्रारंभिक सबवेवलेंथ इमेजिंग ===
मेटामटेरियल लेंस (सुपरलेंस) प्रत्येक उदाहरण में [[नकारात्मक अपवर्तक सूचकांक]] का उत्पादन करके नैनोमीटर आकार की छवियों का पुनर्निर्माण करने में सक्षम हैं। यह तेजी से सड़ने वाली क्षणभंगुर तरंगों की भरपाई करता है। मेटामटेरियल्स से पहले, [[सुपर-रिज़ॉल्यूशन माइक्रोस्कोपी|सुपर-विश्लेषण सूक्ष्मदर्शी]] बनाने के लिए कई अन्य तकनीकों का प्रस्ताव दिया गया था और यहां तक कि प्रदर्शित भी किया गया था। जहां तक 1928 की बात है, आयरिश भौतिक विज्ञानी [[एडवर्ड हचिंसन सिन्ज]] को इस विचार की कल्पना करने और विकसित करने का श्रेय दिया जाता है कि अंततः [[ निकट-क्षेत्र स्कैनिंग ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप |निकटतम -क्षेत्र स्कैनिंग प्रकाशिकी माइक्रोस्कोप]] | नियर-फील्ड स्कैनिंग प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी क्या होगा।<ref name=Novotny>{{cite book|last=Novotny|first =Lukas|editor=Wolf, Emil|author-link=Emil Wolf|title=प्रकाशिकी में प्रगति|publisher =Elsevier|chapter =Adapted from ”The History of Near-field Optics”|chapter-url =http://www.optics.rochester.edu/workgroups/novotny/papers/history4.pdf|series=Progress In Optics series|volume=50|date =November 2007|location =Amsterdam|pages=142–150|isbn =978-0-444-53023-3}}</ref><ref name=Synge1>{{cite journal|author=Synge, E.H.|title=सूक्ष्म विभेदन को अतिसूक्ष्मदर्शी क्षेत्र में विस्तारित करने के लिए सुझाई गई विधि|journal=Philosophical Magazine and Journal of Science|series= Series 7|volume=6|issue=35|pages=356–362|year=1928|doi=10.1080/14786440808564615}}</ref><ref name=Synge2>{{cite journal|author=Synge, E.H.|title=माइक्रोस्कोपी के लिए पीजोइलेक्ट्रिकिटी का एक अनुप्रयोग|journal=Philos. Mag.|volume=13|issue=83|page=297|year=1932|doi=10.1080/14786443209461931}}</ref>

1974 में द्वि-आयामी निर्माण तकनीकों के प्रस्ताव प्रस्तुत किए गए थे। इन प्रस्तावों में उपयुक्त समतल (ज्यामिति) सब्सट्रेट पर राहत, फोटोलिथोमुद्रण, [[इलेक्ट्रॉन लिथोग्राफी|इलेक्ट्रॉन लिथोमुद्रण]], [[एक्स-रे लिथोग्राफी|एक्स-रे लिथोमुद्रण]], या [[आयन]] बमबारी में एक पैटर्न बनाने के लिए संपर्क लिथोमुद्रण सम्मिलित थी।<ref name="contact-imaging-1">{{Cite journal|last =Smith|first=H.I.|year=1974|title =सतह-ध्वनिक-तरंग और पतली-फिल्म ऑप्टिकल उपकरणों के लिए निर्माण तकनीक|journal=[[Proceedings of the IEEE]]|volume=62|issue=10|pages=1361–1387|doi =10.1109/PROC.1974.9627 }}</ref> मेटामटेरियल लेंस के साझा तकनीकी लक्ष्यों और [[लिथोग्राफी|लिथोमुद्रण]] की विविधता का उद्देश्य [[ऑप्टिकल संकल्प|प्रकाशिकी संकल्प]] सुविधाओं का है, जो उजागर प्रकाश के वैक्यूम तरंगदैर्ध्य की तुलना में बहुत सूक्ष्म आयाम हैं।<ref name="surface-plasmon-Nanolithography" /><ref name="contact-imaging-2" />1981 में दृश्यमान स्पेक्ट्रम (400 [[नैनोमीटर]]) के साथ प्लानर (फ्लैट) सब[[ सूक्ष्म | सूक्ष्म]] धातु पैटर्न की संपर्क इमेजिंग की दो अलग-अलग तकनीकों का प्रदर्शन किया गया। एक प्रदर्शन के परिणामस्वरूप 100 एनएम का छवि विश्लेषण और दूसरा 50 से 70 एनएम का विश्लेषण हुआ।<ref name="contact-imaging-2">{{Cite journal|last1 =Fischer|first1 =U. Ch.|last2=Zingsheim|first2=H. P.|year=1981|title =दृश्यमान प्रकाश के साथ सबमरोस्कोपिक पैटर्न प्रतिकृति|journal =[[Journal of Vacuum Science and Technology]]|volume =19|issue =4|page =881|doi =10.1116/1.571227|bibcode=1981JVST...19..881F }}</ref>

1995 में, [[जॉन गुएरा]] ने एक पारंपरिक माइक्रोस्कोप विसर्जन उद्देश्य के साथ 50 एनएम लाइनों और रिक्त स्थान (मेटामटेरियल्स) वाले एक पारदर्शी झंझरी को संयोजित किया। परिणामी सुपरलेन्स ने एक सिलिकॉन नमूने को हल किया जिसमें 50 एनएम लाइनें और रिक्त स्थान थे, जो हवा में 650 एनएम तरंग दैर्ध्य वाली प्रदीप्ति द्वारा लगाए गए पारम्परिक विवर्तन सीमा के बाहर थे।<ref>{{Cite journal |last=Guerra |first=John M. |date=1995-06-26 |title=Super‐resolution through illumination by diffraction‐born evanescent waves |url=https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.113814 |journal=Applied Physics Letters |volume=66 |issue=26 |pages=3555–3557 |doi=10.1063/1.113814 |bibcode=1995ApPhL..66.3555G |issn=0003-6951}}</ref>

कम से कम 1998 के बाद से निकटतम और दूर क्षेत्र [[ऑप्टिकल लिथोग्राफी|प्रकाशिकी लिथोमुद्रण]] को नैनोमीटर-स्केल सुविधाओं को बनाने के लिए डिज़ाइन किया गया था। इस तकनीक पर अनुसंधान जारी रहा क्योंकि 2000-2001 में पहला प्रयोगात्मक रूप से प्रदर्शित नकारात्मक सूचकांक मेटामटेरियल्स अस्तित्व में आया। नैनोमीटर-स्केल अनुप्रयोगों के लिए नई सहस्राब्दी की शुरुआत में [[इलेक्ट्रॉन-बीम लिथोग्राफी|इलेक्ट्रॉन-बीम लिथोमुद्रण]] की प्रभावशीलता पर भी शोध किया जा रहा था। [[ नैनोइमप्रिंट लिथोग्राफी |नैनोइमप्रिंट लिथोमुद्रण]] को नैनोमीटर-स्केल्ड अनुसंधान और प्रौद्योगिकी के लिए वांछनीय लाभ दिखाया गया था।<ref name="surface-plasmon-Nanolithography" /><ref name="1998-Light-coupling-masks">{{Cite journal|last1=Schmid|first1=H.|year =1998|title =लेंस रहित, सब-वेवलेंथ ऑप्टिकल लिथोग्राफी के लिए लाइट-कपलिंग मास्क|journal =[[Applied Physics Letters]]|volume =73|issue=19|page=237|doi =10.1063/1.121362|bibcode=1998ApPhL..72.2379S|display-authors=1|last2=Biebuyck|first2=Hans|last3=Michel|first3=Bruno|last4=Martin|first4=Olivier J. F.|url =https://infoscience.epfl.ch/record/164885/files/029.pdf}}</ref>

उन्नत गहरी फोटोलिथोग्राफ़ी अब सब-100 एनएम विश्लेषण प्रदान कर सकती है, फिर भी न्यूनतम फ़ीचर आकार और पैटर्न के बीच की दूरी प्रकाश की विवर्तन सीमा द्वारा निर्धारित की जाती है। इसकी व्युत्पन्न प्रौद्योगिकियां जैसे निकटतम और दूर क्षेत्र | निकटतम -क्षेत्र लिथोमुद्रण, निकटतम -क्षेत्र हस्तक्षेप लिथोमुद्रण, और चरण-स्थानांतरण मुखौटा लिथोमुद्रण जैसे विवर्तन सीमा को पार करने के लिए विकसित की गईं।<ref name="surface-plasmon-Nanolithography">
{{Cite journal|last1=Srituravanich|first1=W.|title=Plasmonic Nanolithography|journal=[[Nano Letters]]|volume=4|issue=6|pages=1085–1088|year=2004|url=http://xlab.me.berkeley.edu/publications/pdfs/21.NanoLetters_2004_plasmonic-nanolith.pdf|doi=10.1021/nl049573q|bibcode=2004NanoL...4.1085S|display-authors=1|last2=Fang|first2=Nicholas|last3=Sun|first3=Cheng|last4=Luo|first4=Qi|last5=Zhang|first5=Xiang|url-status=dead|archive-url=https://web.archive.org/web/20100415064417/http://xlab.me.berkeley.edu/publications/pdfs/21.NanoLetters_2004_plasmonic-nanolith.pdf|archive-date=April 15, 2010 }}</ref>

वर्ष 2000 में, [[जॉन पेंड्री]] ने दृश्यमान स्पेक्ट्रम के तरंग दैर्ध्य के नीचे ध्यान केंद्रित करने के लिए नैनोमीटर-स्केल्ड इमेजिंग प्राप्त करने के लिए मेटामटेरियल्स लेंस का उपयोग करने का प्रस्ताव दिया।<ref name="perfect-lens-2000" /><ref name="thin-sliver" />



=== विवर्तन सीमा का विश्लेषण ===
सही लेंस की मूल समस्या: किसी स्रोत से निकलने वाले विद्युत चुम्बकीय क्षेत्र के सामान्य विस्तार में प्रसार तरंगें और निकटतम -क्षेत्र या क्षणभंगुर तरंगें होती हैं। एक विद्युत क्षेत्र के साथ 2-डी लाइन स्रोत का एक उदाहरण जिसमें एस-ध्रुवीकरण होता है, जिसमें समतल तरंगें होती हैं जिनमें प्रसार और अपवर्तक घटक होते हैं, जो इंटरफ़ेस के समानांतर आगे बढ़ते हैं।<ref name="further-research-p-lens-2" />जैसा कि प्रसार और छोटी अपस्फीति तरंगें दोनों माध्यम इंटरफ़ेस के समानांतर एक दिशा में आगे बढ़ती हैं, प्रसार की दिशा में वाष्पशील तरंगें क्षय होती हैं। साधारण (सकारात्मक सूचकांक) प्रकाशिकी तत्व प्रसार घटकों को पुनः फोकस कर सकते हैं, लेकिन तेजी से क्षय होने वाले अमानवीय घटक सदैव खो जाते हैं, जिससे एक छवि पर ध्यान केंद्रित करने के लिए विवर्तन सीमा बढ़ जाती है।<ref name="further-research-p-lens-2" />

एक सुपरलेन्स एक लेंस है जो निकटतम और दूर क्षेत्र के आवर्धन की अनुमति देते हुए [[ सबवेवलेंथ इमेजिंग |सबवेवलेंथ इमेजिंग]] में सक्षम है। तथाकथित विवर्तन सीमा के कारण परंपरागत लेंसों में एक तरंग दैर्ध्य के क्रम पर एक कोणीय संकल्प होता है। यह सीमा बहुत छोटी वस्तुओं की इमेजिंग में बाधा डालती है, जैसे कि व्यक्तिगत परमाणु, जो दृश्य प्रकाश की तरंग दैर्ध्य से बहुत सूक्ष्म होते हैं। एक सुपरलेंस विवर्तन सीमा को पार करने में सक्षम है। एक उदाहरण पेंड्री द्वारा वर्णित प्रारंभिक लेंस है, जो [[फ्लैट लेंस]] के रूप में अपवर्तन के नकारात्मक सूचकांक के साथ सामग्री के एक स्लैब का उपयोग करता है। सिद्धांत रूप में, एक संपूर्ण लेंस सही [[फोकस (ऑप्टिक्स)]] करने में सक्षम होगा - जिसका अर्थ है कि यह छवि विमान पर स्रोत विमान के [[विद्युत चुम्बकीय]] क्षेत्र को पूरी तरह से पुन: प्रस्तुत कर सकता है।

==== संकल्प पर प्रतिबंध के रूप में विवर्तन सीमा ====

पारंपरिक लेंसों की प्रदर्शन सीमा विवर्तन सीमा के कारण होती है। पेंड्री (2000) के बाद विवर्तन सीमा को इस प्रकार समझा जा सकता है। एक वस्तु और एक लेंस पर विचार करें जिसे z-अक्ष के साथ रखा गया है जिससे कि वस्तु से किरणें +z दिशा में यात्रा कर रही हों। वस्तु से निकलने वाले क्षेत्र को उसके [[कोणीय स्पेक्ट्रम विधि]] के संदर्भ में समतल तरंगों के सुपरपोज़िशन सिद्धांत के रूप में लिखा जा सकता है:

: <math>E(x,y,z,t)=\sum_{k_x,k_y} A(k_x,k_y) e^{i\left(k_z z + k_y y + k_x x - \omega t\right)},</math>
जहाँ <math>k_z</math> <math>k_x, k_y</math>का एक फलन है:

: <math> k_z=\sqrt{\frac{\omega^2}{c^2} - \left(k_x^2 + k_y^2\right)}. </math>
केवल धनात्मक वर्गमूल लिया जाता है क्योंकि ऊर्जा +z दिशा में जा रही है। छवि के कोणीय स्पेक्ट्रम के सभी घटक जिसके लिए <math>k_z</math> वास्तविक है एक साधारण लेंस द्वारा संचरित और पुनः फोकस किया जाता है। हालांकि, यदि

: <math> k_x^2 + k_y^2 > \frac{\omega^2}{c^2}, </math>
तब <math>k_z</math> काल्पनिक हो जाता है, और तरंग एक क्षणभंगुर तरंग है, जिसका [[आयाम]] z अक्ष के साथ तरंग प्रसार के रूप में घटता है। इसका परिणाम तरंग के उच्च-कोणीय-आवृत्ति घटकों के नुकसान में होता है, जिसमें छवि की जा रही वस्तु की उच्च-आवृत्ति (लघु-स्तरीय) विशेषताओं के बारे में जानकारी होती है। प्राप्त किया जा सकने वाला उच्चतम विभेदन तरंगदैर्घ्य के रूप में व्यक्त किया जा सकता है:

: <math> k_\text{max} \approx \frac{\omega}{c}=\frac{2 \pi}{\lambda}, </math>
: <math>\Delta x_\text{min} \approx \lambda. </math>
एक सुपरलेन्स ने सीमा पार कर ली। पेन्ड्री-प्रकार के सुपरलेंस में n=−1 (ε=−1, μ=−1) का सूचकांक होता है, और ऐसी सामग्री में, +z दिशा में ऊर्जा के परिवहन के लिए तरंग सदिश के z घटक के विपरीत होने की आवश्यकता होती है। संकेत:

: <math>k'_z=-\sqrt{\frac{\omega^2}{c^2} - \left(k_x^2 + k_y^2\right)}.</math>
बड़ी कोणीय आवृत्तियों के लिए, क्षणभंगुर तरंग अब बढ़ती है, इसलिए उचित लेंस मोटाई के साथ, कोणीय स्पेक्ट्रम के सभी घटकों को बिना विकृत हुए लेंस के माध्यम से प्रेषित किया जा सकता है। ऊर्जा के संरक्षण के साथ कोई समस्या नहीं है, क्योंकि क्षणभंगुर तरंगें विकास की दिशा में कुछ भी नहीं ले जाती हैं: [[पॉयंटिंग वेक्टर]] विकास की दिशा में लंबवत रूप से उन्मुख होता है। एक आदर्श लेंस के अंदर यात्रा करने वाली तरंगों के लिए, पॉयंटिंग वेक्टर चरण वेग के विपरीत दिशा में इंगित करता है।<ref name="Aguirre"/>


==== अपवर्तन के ऋणात्मक सूचकांक के प्रभाव ====

[[Image:Negative refraction index focusing.png|thumb|320px|a) जब कोई तरंग निर्वात से धनात्मक अपवर्तन सूचकांक सामग्री से टकराती है। बी) जब एक लहर एक निर्वात से एक नकारात्मक-अपवर्तन-सूचकांक सामग्री पर हमला करती है। c) जब किसी वस्तु को n=−1 वाली वस्तु के सामने रखा जाता है, तो इससे प्रकाश अपवर्तित होता है जिससे यह एक बार लेंस के अंदर और एक बार बाहर केंद्रित हो जाता है। यह सबवेवलेंथ इमेजिंग की अनुमति देता है।]]सामान्यतः, जब कोई तरंग दो सामग्रियों के [[इंटरफ़ेस (रसायन विज्ञान)]] से गुजरती है, तो लहर सामान्य सतह के विपरीत दिशा में दिखाई देती है। हालांकि, यदि इंटरफ़ेस अपवर्तन के सकारात्मक सूचकांक वाली सामग्री और अपवर्तन के नकारात्मक सूचकांक वाली दूसरी सामग्री के बीच है, तो तरंग सामान्य के समान तरफ दिखाई देगी। पेंड्री का आदर्श लेंस का विचार एक सपाट पदार्थ है जहाँ n=−1 है। ऐसा लेंस निकटतम -क्षेत्र किरणों की अनुमति देता है, जो सामान्यतः विवर्तन सीमा के कारण क्षय होता है, एक बार लेंस के भीतर और एक बार लेंस के बाहर ध्यान केंद्रित करने के लिए, सबवेवलेंथ इमेजिंग की अनुमति देता है।<ref name="smith2004">"{{cite news|title=Breaking the diffraction limit|author=David R. Smith|url= http://physicsworld.com/cws/article/print/19415|agency=Institute of Physics|date=May 10, 2004|access-date=May 31, 2009}}</ref>


== विकास और निर्माण ==
सुपरलेन्स का निर्माण एक समय असंभव माना जाता था। 2000 में, जॉन पेंड्री ने दावा किया कि [[बाएं हाथ की सामग्री]] का एक साधारण स्लैब काम करेगा।<ref name="Pendry2000">{{cite journal|last=Pendry|first=J. B.|year=2000|title=नकारात्मक अपवर्तन एक आदर्श लेंस बनाता है|journal=Phys. Rev. Lett.|volume=85|doi=10.1103/PhysRevLett.85.3966|pmid=11041972|issue=18|bibcode=2000PhRvL..85.3966P|pages=3966–3969|s2cid=25803316 |url=https://semanticscholar.org/paper/efa06fd0a0762fbf3ce6e105f2c61296dc54a898}}</ref> हालांकि, इस तरह के लेंस के प्रायोगिक अहसास में कुछ और समय लगा, क्योंकि नकारात्मक पारगम्यता और [[पारगम्यता (विद्युत चुंबकत्व)]] दोनों के साथ मेटामटेरियल्स ज़ बनाना इतना आसान नहीं है। दरअसल, ऐसी कोई सामग्री स्वाभाविक रूप से सम्मलित नहीं है और आवश्यक मेटामटेरियल्स का निर्माण गैर-तुच्छ है। इसके अतिरिक्त, यह दिखाया गया था कि सामग्री के पैरामीटर बेसीमा संवेदनशील हैं (सूचकांक -1 के बराबर होना चाहिए); सूक्ष्म विचलन सबवेवलेंथ विश्लेषण को अप्राप्य बनाते हैं।<ref name="Podolskiy2005">{{cite journal|last1=Podolskiy|first1=V.A.|year=2005|title=निकट-दृष्टि वाले सुपरलेन्स|journal=Opt. Lett.|volume=30|doi=10.1364/OL.30.000075|pmid=15648643|first2=EE|issue=1|last2=Narimanov|arxiv=physics/0403139|bibcode=2005OptL...30...75P|pages=75–7 |s2cid=15680137 }}</ref><ref name="Tasin2006">{{cite journal|last1=Tassin|first1=P.|year=2006|title=वेसेलागो का लेंस जिसमें अपवर्तन के मनमाने सूचकांक के साथ बाएं हाथ की सामग्री होती है|journal=Opt. Commun.|volume=264|pages=130–134|doi=10.1016/j.optcom.2006.02.013|first2=I|first3=G|last2=Veretennicoff|last3=Vandersande|bibcode=2006OptCo.264..130T|issue=1}}</ref> मेटामटेरियल्स की गुंजयमान प्रकृति के कारण, जिस पर सुपरलेंस के कई (प्रस्तावित) कार्यान्वयन निर्भर करते हैं, मेटामटेरियल अत्यधिक प्रसारण वाले होते हैं। भौतिक मापदंडों के लिए सुपरलेन्स की संवेदनशील प्रकृति मेटामटेरियल्स के आधार पर सुपरलेन्स को सीमित प्रयोग करने योग्य आवृत्ति रेंज का कारण बनती है। इस प्रारंभिक सैद्धांतिक सुपरलेन्स डिज़ाइन में एक मेटामटेरियल्स सम्मिलित थी जो निकटतम और दूर के क्षेत्र में तरंग क्षय और प्रकाशिकी विश्लेषण के लिए क्षतिपूर्ति करती थी। वेव प्रसार और वाष्पशील तरंगें दोनों प्रकाशिकी विश्लेषण में योगदान कर सकती हैं।<ref name="perfect-lens-2000" /><ref name="thin-sliver" /><ref name="ideal-focus">{{Cite journal|last =Brumfiel|first =G|year =2009|title =Metamaterials: Ideal focus|journal =[[Nature (journal)|Nature News]]|volume =459|issue =7246|pages =504–505|doi =10.1038/459504a|pmid =19478762|doi-access =free}}</ref>

पेंड्री ने यह भी सुझाव दिया कि एक लेंस जिसमें केवल एक नकारात्मक पैरामीटर होता है, एक अनुमानित सुपरलेन्स बनाता है, बशर्ते इसमें सम्मिलित दूरी भी बहुत कम हो और बशर्ते कि स्रोत ध्रुवीकरण उपयुक्त हो। दृश्य प्रकाश के लिए यह एक उपयोगी विकल्प है, क्योंकि दृश्य प्रकाश की आवृत्ति पर एक नकारात्मक पारगम्यता के साथ इंजीनियरिंग मेटामटेरियल्स मुश्किल है। धातु तब एक अच्छा विकल्प है क्योंकि उनके पास नकारात्मक पारगम्यता (लेकिन नकारात्मक पारगम्यता नहीं) है। पेंड्री ने ऑपरेशन के अनुमानित तरंग दैर्ध्य (356 एनएम) पर अपेक्षाकृत कम नुकसान के कारण चांदी का उपयोग करने का सुझाव दिया। 2003 में पेंड्री के सिद्धांत को पहली बार प्रयोगात्मक रूप से प्रदर्शित किया गया था<ref name="imaging" />आरएफ/माइक्रोवेव आवृत्तियों पर। 2005 में, दो स्वतंत्र समूहों ने यूवी रेंज में पेंड्री के लेंस को सत्यापित किया, दोनों ने तरंग दैर्ध्य से छोटी वस्तुओं की तस्वीरों का उत्पादन करने के लिए यूवी प्रकाश से प्रकाशित चांदी की पतली परतों का उपयोग किया।<ref name="silver-also" /><ref name="Fang-2005">{{cite journal|last1=Fang|first1=Nicholas|year=2005|title=Sub–Diffraction-Limited Optical Imaging with a Silver Superlens|journal=Science|volume=308|doi=10.1126/science.1108759|pmid=15845849|first2=H|first3=C|first4=X|issue=5721|last2=Lee|last3=Sun|last4=Zhang|bibcode=2005Sci...308..534F|pages=534–537 |s2cid=1085807 |url=https://semanticscholar.org/paper/58d66948e42c0613656d26f3909704dd655d1691}}</ref> दृश्य प्रकाश के नकारात्मक अपवर्तन को एक [[yttrium orthovanadate|येट्रियम ऑर्थोवनाडेट]] (वाईवीओ 4) 2003 में बाइक्रिस्टल का उपयोग किया।<ref>{{cite journal|doi=10.1103/PhysRevLett.91.157404|title=बैलिस्टिक इलेक्ट्रॉनों और प्रकाश के लिए वास्तविक क्रिस्टल में कुल नकारात्मक अपवर्तन|year=2003|last1=Zhang|first1=Yong|first2=B.|first3=A.|journal=Physical Review Letters|volume=91|page=157404|pmid=14611495|last2=Fluegel|last3=Mascarenhas|issue=15|bibcode=2003PhRvL..91o7404Z|s2cid=36997903 |url=https://semanticscholar.org/paper/8e982538e9e0b8aa1dbb1774591c31f024c5360d}}</ref>

यह पता चला कि माइक्रोवेव के लिए एक सरल सुपरलेंस डिजाइन समानांतर संवाहक तारों की एक सरणी का उपयोग कर सकता है।

<ref>{{cite journal|doi=10.1103/PhysRevB.71.193105|title=इलेक्ट्रोमैग्नेटिक क्रिस्टल द्वारा सबवेवलेंग्थ इमेज का कैनालाइजेशन|year=2005|last1=Belov|first1=Pavel|last2=Simovski|first2=Constantin|journal=Physical Review B|volume=71|page=193105|issue=19|bibcode=2005PhRvB..71s3105B }}</ref> यह संरचना [http://irc.ifmo.ru/en/87787/res_dir/735/Wire_metamaterials_and_its_application_in_MRI.htm दिखाया गया था] चुंबकीय अनुनाद इमेजिंग इमेजिंग के विश्लेषण में सुधार करने में सक्षम होने के लिए फलन के रूप में भी अध्ययन किया गया है।

2004 में, एक नकारात्मक सूचकांक मेटामटेरियल्स के साथ पहला सुपरलेन्स विवर्तन सीमा से तीन गुना बेहतर संकल्प प्रदान करता था और [[माइक्रोवेव]] आवृत्तियों पर प्रदर्शित किया गया था।<ref>{{cite journal|last1=Grbic|first1=A.|last2=Eleftheriades|first2=G. V.|year=2004|title=प्लेनर लेफ्ट-हैंडेड ट्रांसमिशन-लाइन लेंस के साथ विवर्तन सीमा पर काबू पाना|journal= [[Physical Review Letters]]|volume=92|issue=11|page=117403|doi=10.1103/PhysRevLett.92.117403|pmid=15089166|bibcode=2004PhRvL..92k7403G|s2cid=17693868 |url=https://semanticscholar.org/paper/3c6da6223ad9976d631f5825e6c1ed0867f6c6b1}}</ref> 2005 में, N.Fang et al. द्वारा पहले [[ निकट-क्षेत्र प्रकाशिकी |निकटतम -क्षेत्र प्रकाशिकी]] सुपरलेंस का प्रदर्शन किया गया था, लेकिन लेंस [[नकारात्मक अपवर्तन]] पर निर्भर नहीं थे। इसके अतिरिक्त, एक पतली चांदी की फिल्म का उपयोग सतह के प्लास्मोन कपलिंग के माध्यम से अपवर्तक तरंग को बढ़ाने के लिए किया गया था।<ref name="mielsen10">{{cite journal|doi=10.1007/s00340-010-4065-z|url=http://cmip.pratt.duke.edu/tomuri2009/sites/cmip.pratt.duke.edu.tomuri2009/files/pubs_purdue/2010_APB_MDC_Superlensing.pdf|title=Toward superlensing with metal–dielectric composites and multilayers|year=2010|last1=Nielsen|first1=R. B.|last2=Thoreson|first2=M. D.|last3=Chen|first3=W.|last4=Kristensen|first4=A.|last5=Hvam|first5=J. M.|last6=Shalaev|first6=V. M.|last7=Boltasseva|first7=A.|format=Free PDF download|journal=Applied Physics B|volume=100|pages=93–100|bibcode=2010ApPhB.100...93N|issue=1|s2cid=39903291 |url-status=dead|archive-url=https://web.archive.org/web/20140908111903/http://cmip.pratt.duke.edu/tomuri2009/sites/cmip.pratt.duke.edu.tomuri2009/files/pubs_purdue/2010_APB_MDC_Superlensing.pdf|archive-date=September 8, 2014 }}</ref><ref name="Fangetal05">{{cite journal|doi=10.1126/science.1108759|pmid=15845849|bibcode=2005Sci...308..534F|url=https://semanticscholar.org/paper/58d66948e42c0613656d26f3909704dd655d1691|title=सिल्वर सुपरलेंस के साथ उप-विवर्तन-सीमित ऑप्टिकल इमेजिंग|year=2005|last1=Fang|first1=N.|journal=Science|volume=308|issue=5721|pages=534–537|last2=Lee|first2=H|last3=Sun|first3=C|last4=Zhang|first4=X|s2cid=1085807 }}</ref> लगभग उसी समय मेलविल और [[रिचर्ड ब्लैकी]] नियर फील्ड सुपरलेंस के साथ सफल हुए। अन्य समूहों ने पीछा किया।<ref name="silver-also" /><ref>{{cite journal|doi=10.1364/OE.17.022543|pmid=20052179|url=http://orbit.dtu.dk/files/56674188/oe_17_25_22543.pdf|title=पतली फिल्म एजी लैब-ऑन-ए-चिप एकीकरण की दिशा में सुपरलेन्स करती है|journal=Optics Express|volume=17|issue=25|pages=22543–52|year=2009|last1=Jeppesen|first1=C.|last2=Nielsen|first2=R. B.|last3=Boltasseva|first3=A.|last4=Xiao|first4=S.|last5=Mortensen|first5=N. A.|last6=Kristensen|first6=A.|bibcode=2009OExpr..1722543J|doi-access=free}}</ref> 2008 में सुपरलेन्स अनुसंधान में दो विकास रिपोर्ट किए गए।<ref name="Valenitne-J.">{{cite journal|last1=Valentine|first1=J.|year=2008|title=एक नकारात्मक अपवर्तक सूचकांक के साथ त्रि-आयामी ऑप्टिकल मेटामेट्री|journal=[[Nature (journal)|Nature]]|volume=455|issue=7211|doi=10.1038/nature07247|pmid=18690249|bibcode=2008Natur.455..376V|display-authors=1|last2=Zhang|first2=Shuang|last3=Zentgraf|first3=Thomas|last4=Ulin-Avila|first4=Erick|last5=Genov|first5=Dentcho A.|last6=Bartal|first6=Guy|last7=Zhang|first7=Xiang|pages=376–379 |s2cid=4314138 }}</ref> दूसरे प्रकरण में, चांदी के नैनोवायरों से एक मेटामटेरियल्स का गठन किया गया था जो झरझरा एल्यूमीनियम ऑक्साइड में विद्युत रासायनिक रूप से जमा हुआ था। सामग्री ने नकारात्मक अपवर्तन प्रदर्शित किया।<ref>{{cite journal|last1=Yao|first1=J.|year=2008|title=नैनोवायरों के थोक मेटामटेरियल्स में ऑप्टिकल नकारात्मक अपवर्तन|journal=[[Science (journal)|Science]]|volume=321 |issue=5891|page=930|doi=10.1126/science.1157566|pmid=18703734|bibcode=2008Sci...321..930Y|display-authors=1|last2=Liu|first2=Z.|last3=Liu|first3=Y.|last4=Wang|first4=Y.|last5=Sun|first5=C.|last6=Bartal|first6=G.|last7=Stacy|first7=A. M.|last8=Zhang|first8=X. |citeseerx=10.1.1.716.4426|s2cid=20978013 }}</ref> स्लैब सामग्री और मोटाई के संबंध में ऐसे आइसोट्रोपिक नकारात्मक ढांकता हुआ निरंतर स्लैब लेंस के इमेजिंग प्रदर्शन का भी विश्लेषण किया गया था।<ref>{{cite journal|last1=Shivanand|year=2008|title=एक आइसोट्रोपिक नकारात्मक ढांकता हुआ निरंतर स्लैब का इमेजिंग प्रदर्शन|journal=[[Optics Letters|Opt. Lett.]]|volume=33 |issue=21|pages=2562–4|doi=10.1364/OL.33.002562|pmid=18978921|last2=Liu|first2=Huikan|last3=Webb|first3=K.J.|bibcode=2008OptL...33.2562S }}</ref> प्लैनर यूनिएक्सियल अनिसोट्रोपिक लेंस के साथ सबवेवलेंथ इमेजिंग अवसर, जहां ढांकता हुआ टेंसर घटक विपरीत संकेत के होते हैं, संरचना मापदंडों के एक फलन के रूप में भी अध्ययन किया गया है।<ref>{{cite journal|last1=Liu|first1=Huikan|year=2008|title=प्लानर यूनिएक्सियल अनिसोट्रोपिक लेंस के साथ सबवेवलेंथ इमेजिंग अवसर|journal=[[Optics Letters|Opt. Lett.]]|volume=33 |issue=21|doi=10.1364/OL.33.002568|pmid=18978923|last2=Shivanand|last3=Webb|first3=K.J.|pages=2568–70|bibcode=2008OptL...33.2568L}}</ref>

सुपरलेंस को अभी तक [[दृश्यमान आवृत्ति]] या निकटतम -[[अवरक्त]] आवृत्तियों (नीलसन, आर.बी.; 2010) पर प्रदर्शित नहीं किया गया है। इसके अतिरिक्त, फैलाने वाली सामग्री के रूप में, ये एक तरंग दैर्ध्य पर फलन करने तक सीमित हैं। प्रस्तावित समाधान धातु-ढांकता हुआ कंपोजिट (एमडीसी) हैं<ref>W. Cai, D.A. Genov, V.M. Shalaev, Phys. Rev. B 72, 193101 (2005)

*A.V. Kildishev, W. Cai, U.K. Chettiar, H.-K. Yuan, A.K. Sarychev, V.P. Drachev, V.M. Shalaev, J. Opt. Soc. Am. B 23, 423 (2006)
*L. Shi, L. Gao, S. He, B. Li, Phys. Rev. B 76, 045116 (2007)
</ref> और बहुपरत लेंस संरचनाएं।<ref>Z. Jacob, L.V. Alekseyev, E. Narimanov, Opt. Express 14, 8247 (2006)
*P.A. Belov, Y. Hao, Phys. Rev. B 73, 113110 (2006)
*B. Wood, J.B. Pendry, D.P. Tsai, Phys. Rev. B 74, 115116 (2006)
*E. Shamonina, V.A. Kalinin, K.H. Ringhofer, L. Solymar, Electron. Lett. 37, 1243 (2001)</ref> मल्टी-लेयर सुपरलेन्स में सिंगल लेयर सुपरलेन्स की तुलना में बेहतर सबवेवलेंग्थ रेजोल्यूशन है। मल्टी-लेयर प्रणाली के साथ नुकसान कम चिंता का विषय है, लेकिन [[ तरंग प्रतिबाधा |तरंग प्रतिबाधा]] मिस-मैच के कारण अभी तक यह अव्यावहारिक प्रतीत होता है।<ref name="mielsen10" />

जबकि नैनोफैब्रिकेशन तकनीकों का विकास नैनोस्ट्रक्चर के निर्माण में सीमाओं को आगे बढ़ाता है, नैनो-फोटोनिक उपकरणों के डिजाइन में सतह खुरदरापन चिंता का एक अनिवार्य स्रोत बना हुआ है। बहुपरत धातु-इन्सुलेटर स्टैक लेंस के प्रभावी परावैद्युत स्थिरांक और सबवेवलेंथ छवि विश्लेषण पर इस सतह खुरदरापन के प्रभाव का भी अध्ययन किया गया है।
 <ref>{{cite journal|last1=Shivanand|year=2012|title=Impact of surface roughness on the effective dielectric constants and subwavelength image resolution of metal–insulator stack lenses|journal=[[Optics Letters|Opt. Lett.]]|volume=37 |issue=20|doi=10.1364/OL.37.004317|pmid=23233908|last2=Ludwig|first2=Alon|last3=Webb|first3=K.J.|pages=4317–9|bibcode=2012OptL...37.4317S }}</ref>


=== बिल्कुल सही लेंस ===

जब दुनिया को लेंस (प्रकाशिकी) के माध्यम से देखा जाता है, तो [[छवि]] की तीक्ष्णता प्रकाश की तरंग दैर्ध्य द्वारा निर्धारित और सीमित होती है। वर्ष 2000 के आसपास, पारंपरिक (अपवर्तक सूचकांक) लेंसों के बाहर क्षमताओं वाले लेंस बनाने के लिए नकारात्मक सूचकांक मेटामटेरियल्स का एक स्लैब सिद्धांतित किया गया था। जॉन पेंड्री ने प्रस्तावित किया कि नकारात्मक सूचकांक मेटामटेरियल्स का एक पतला स्लैब एक संपूर्ण लेंस प्राप्त करने के लिए सामान्य लेंस के साथ ज्ञात समस्याओं को दूर कर सकता है जो पूरे स्पेक्ट्रम पर ध्यान केंद्रित करेगा, दोनों तरंग प्रसार के साथ-साथ अपवर्तक तरंग स्पेक्ट्रा योगदान करती हैं।<ref name=perfect-lens-2000/><ref name=further-research-p-lens/>

मेटामटेरियल्स के रूप में चांदी का एक स्लैब प्रस्तावित किया गया था। अधिक विशेष रूप से, ऐसी चांदी की पतली फिल्म को [[विद्युत चुम्बकीय मेटासुरफेस]] माना जा सकता है। जैसे ही प्रकाश स्रोत से दूर जाता है (प्रचार करता है), यह एक मनमाना चरण (तरंगें) प्राप्त करता है। एक पारंपरिक लेंस के माध्यम से चरण सुसंगत रहता है, लेकिन क्षणभंगुर तरंगें घातीय फलन करती हैं। फ्लैट मेटामटेरियल #डबल नेगेटिव मेटामटेरियल्स स्लैब में, सामान्य रूप से सड़ने वाली वाष्पशील तरंगें विपरीत रूप से प्रवर्धक होती हैं। इसके अतिरिक्त, जैसे-जैसे वाष्पशील तरंगें अब प्रवर्धित होती हैं, चरण उलट जाता है।<ref name=perfect-lens-2000/>

इसलिए, धातु फिल्म मेटामटेरियल्स से मिलकर एक प्रकार का लेंस प्रस्तावित किया गया था। जब इसकी [[प्लाज्मा आवृत्ति]] के पास प्रदीप्त किया जाता है, तो लेंस का उपयोग [[superresolution|सुपररिज़ॉल्यूशन]] इमेजिंग के लिए किया जा सकता है जो निकटतम और दूर के क्षेत्र में तरंग क्षय और प्रकाशिकी विश्लेषण के लिए क्षतिपूर्ति करता है। इसके अतिरिक्त, वेव प्रसार और वाष्पशील तरंगें दोनों प्रकाशिकी विश्लेषण में योगदान करती हैं।<ref name=perfect-lens-2000/>

पेंड्री ने सुझाव दिया कि बाएं हाथ के स्लैब सही इमेजिंग की अनुमति देते हैं यदि वे पूरी तरह दोषरहित, [[प्रतिबाधा मिलान]], और उनके अपवर्तक सूचकांक -1 आसपास के माध्यम के सापेक्ष हैं। सैद्धांतिक रूप से, यह एक सफलता होगी कि प्रकाशिकी संस्करण वस्तुओं को नैनोमीटर के रूप में माइनसक्यूल के रूप में हल करता है। पेंड्री ने अनुमान लगाया कि n = -1 के अपवर्तक सूचकांक के साथ डबल नकारात्मक मेटामटेरियल्स (डीएनजी), कम से कम सिद्धांत रूप में फलन कर सकते हैं, इमेजिंग विश्लेषण की अनुमति देने वाले एक आदर्श लेंस के रूप में जो तरंग दैर्ध्य द्वारा सीमित नहीं है, बल्कि सामग्री की गुणवत्ता से सीमित है।<ref name=perfect-lens-2000>{{Cite journal|last =Pendry|first=J. B.|year =2000|title=नकारात्मक अपवर्तन एक उत्तम लेंस बनाता है|url=http://www.cmth.ph.ic.ac.uk/photonics/Newphotonics/pdf/negref2.pdf|journal =[[Physical Review Letters]]|volume =85|issue =18|doi=10.1103/PhysRevLett.85.3966|pmid=11041972|bibcode=2000PhRvL..85.3966P|pages =3966–3969 |s2cid=25803316 }}</ref><ref name=far-field-microscope/><ref name=Superlens-breakthrough-2005>{{cite web|last=Dumé|first=B.|date=21 April 2005|title=सुपरलेंस सफलता|url=http://physicsworld.com/cws/article/news/22065|work=[[Physics World]]}}</ref><ref>{{cite web|last=Pendry|first=J. B.|date=18 February 2005|title=फोटोनिक्स संदर्भों का संग्रह|url=http://www.cmth.ph.ic.ac.uk/photonics/references.html }}</ref>


==== संपूर्ण लेंस से संबंधित अन्य अध्ययन ====

आगे के शोध से पता चला कि सही लेंस के पीछे पेंड्री का सिद्धांत बिल्कुल सही नहीं था। क्षणभंगुर तरंग स्पेक्ट्रम के फोकस का विश्लेषण (संदर्भ में 13-21 समीकरण<ref name=perfect-lens-2000/> त्रुटिपूर्ण था। इसके अतिरिक्त, यह केवल एक (सैद्धांतिक) उदाहरण पर लागू होता है, और यह एक विशेष माध्यम है जो दोषरहित, अप्रकट है और घटक मापदंडों को इस प्रकार परिभाषित किया गया है:<ref name=further-research-p-lens/>

: ε(ω) / ε<sub>0</sub>=μ(ω) / μ<sub>0</sub>=−1, जिसके परिणामस्वरूप n=−1 का ऋणात्मक अपवर्तन होता है

हालाँकि, इस सिद्धांत का अंतिम सहज परिणाम है कि दोनों तरंग प्रसार तरंगें केंद्रित हैं, जिसके परिणामस्वरूप स्लैब के भीतर एक अभिसरण फोकस (ऑप्टिक्स) और स्लैब के बाहर एक अन्य अभिसरण (फोकल बिंदु) सही निकला।<ref name=further-research-p-lens/>

यदि डीएनजी ट्रांसमिशन माध्यम का एक बड़ा नकारात्मक सूचकांक है या [[अवशोषण (विद्युत चुम्बकीय विकिरण)]] या विकट हो जाता है: विशेष:खोज/फैलाने वाला, पेंड्री का सही लेंस प्रभाव महसूस नहीं किया जा सकता है। परिणाम स्वरुप, सही लेंस प्रभाव सामान्य रूप से सम्मलित नहीं होता है। उस समय (2001) में [[FDTD|एफडीटीडी]] के अनुसार, डीएनजी स्लैब स्पंदित बेलनाकार तरंग से स्पंदित बीम में कनवर्टर की तरह फलन करता है। इसके अतिरिक्त, वास्तव में (व्यावहारिक रूप से), एक डीएनजी माध्यम होना चाहिए और फैलाने वाला और हानिकारक है, जो अनुसंधान या आवेदन के आधार पर वांछनीय या अवांछित प्रभाव हो सकता है। परिणाम स्वरुप, पेंड्री का सही लेंस प्रभाव डीएनजी माध्यम बनने के लिए डिज़ाइन किए गए किसी भी मेटामटेरियल्स के साथ पहुंच योग्य नहीं है।<ref name=further-research-p-lens>
{{Cite journal|last1=Ziolkowski|first1=R. W.|last2=Heyman|first2=E.|year=2001|title=Wave propagation in media having negative permittivity and permeability|url=http://mesoscopic.mines.edu/mediawiki/images/3/3d/Waveprop_DNG_media.pdf|journal=[[Physical Review E]]|volume=64|issue=5|page=056625|doi=10.1103/PhysRevE.64.056625|pmid=11736134|bibcode=2001PhRvE..64e6625Z|s2cid=38798156 |url-status=dead|archive-url=https://web.archive.org/web/20100717004208/http://mesoscopic.mines.edu/mediawiki/images/3/3d/Waveprop_DNG_media.pdf|archive-date=July 17, 2010 }}</ref>

एक अन्य विश्लेषण, 2002 में,<ref name="further-research-p-lens-2" />विषय के रूप में दोषरहित, प्रसारण रहित डीएनजी का उपयोग करते समय सही लेंस [[अवधारणा]] ने इसे त्रुटि में दिखाया। इस विश्लेषण ने गणितीय रूप से प्रदर्शित किया कि क्षणभंगुर तरंगों की सूक्ष्मता, एक भौतिकी स्लैब के लिए प्रतिबंध और अवशोषण ने विसंगतियों और भिन्नताओं को जन्म दिया है जो बिखरे हुए तरंग क्षेत्रों के बुनियादी गणितीय गुणों का खंडन करते हैं। उदाहरण के लिए, इस विश्लेषण में कहा गया है कि अवशोषण (विद्युत चुम्बकीय विकिरण), जो प्रसारण (ऑप्टिक्स) से जुड़ा हुआ है, व्यवहार में सदैव सम्मलित रहता है, और अवशोषण प्रवर्धित तरंगों को इस माध्यम (डीएनजी) के अंदर सड़ने वाली तरंगों में बदलने की प्रवृत्ति रखता है।<ref name="further-research-p-lens-2">{{Cite journal|last1=Garcia|first1 =N.|last2=Nieto-Vesperinas|first2=M.|year =2002|title =बाएं हाथ की सामग्री एक संपूर्ण लेंस नहीं बनाती है|journal =[[Physical Review Letters]]|volume =88|issue =20|page =207403|doi =10.1103/PhysRevLett.88.207403|bibcode=2002PhRvL..88t7403G|pmid=12005605 |s2cid =32561041|url =https://semanticscholar.org/paper/fd894f6cc0bb9fbffa1e8158d4d55b908e1fef3e}}</ref>

2003 में प्रकाशित पेंड्री की संपूर्ण लेंस अवधारणा का तीसरा विश्लेषण,<ref name="SNG-lens-Smith" />माइक्रोवेव आवृत्तियों पर नकारात्मक अपवर्तन के हालिया प्रदर्शन का उपयोग किया<ref name="AAAS2" />विक्ट की पुष्टि के रूप में: सही लेंस की मौलिक अवधारणा की व्यवहार्यता। इसके अतिरिक्त, इस प्रदर्शन को [[प्रयोगात्मक]] साक्ष्य माना गया था कि एक प्लानर डीएनजी मेटामटेरियल्स [[ईएम विकिरण]] के दूर क्षेत्र विकिरण को पुनः फोकस करेगा। हालांकि, सही लेंस को प्रदर्शित नकारात्मक अपवर्तक नमूने की तुलना में पारगम्यता, पारगम्यता (विद्युत चुंबकत्व) और स्प्लिट-रिंग गुंजयमान यंत्र के लिए महत्वपूर्ण रूप से भिन्न मूल्यों की आवश्यकता होगी।<ref name="SNG-lens-Smith">{{Cite journal|last1=Smith|first1=D.R.|year=2003|title =एक नकारात्मक अपवर्तक सूचकांक स्लैब के साथ उपविवर्तन इमेजिंग पर सीमाएं|url =http://people.engr.ncsu.edu/dschuri/Site/Publications_files/10.1063-1.1554779.pdf|journal =[[Applied Physics Letters]]|volume =82|issue =10|pages=1506–1508|arxiv=cond-mat/0206568|doi =10.1063/1.1554779|bibcode=2003ApPhL..82.1506S|display-authors=1|last2=Schurig|first2=David|last3=Rosenbluth|first3=Marshall|last4=Schultz|first4=Sheldon|last5=Ramakrishna|first5=S. Anantha|last6=Pendry|first6=John B. |s2cid=39687616 }}</ref><ref name="AAAS2">{{Cite journal|last1=Shelby|first1=R. A.|last2=Smith|first2=D. R.|last3=Schultz|first3=S.|title=अपवर्तन के एक नकारात्मक सूचकांक का प्रायोगिक सत्यापन|year=2001|journal=[[Science (journal)|Science]]|volume=292|issue=5514|doi=10.1126/science.1058847|pmid=11292865|bibcode=2001Sci...292...77S|pages=77–9 |citeseerx=10.1.1.119.1617|s2cid=9321456 }}</ref>

यह अध्ययन इस बात से सहमत है कि स्थितियों से कोई भी विचलन जहां ε=µ=−1 का परिणाम सामान्य, पारंपरिक, अपूर्ण छवि में होता है जो घातीय रूप से घटता है, अर्थात विवर्तन सीमा। नुकसान की अनुपस्थिति में सही लेंस समाधान पुनः व्यावहारिक नहीं है, और विरोधाभासी व्याख्याओं को जन्म दे सकता है।<ref name="further-research-p-lens-2" />

यह निर्धारित किया गया था कि हालांकि गुंजयमान [[सतह plasmons|सतह प्लास्मोंस]] इमेजिंग के लिए अवांछनीय हैं, ये सड़ने वाली वाष्पशील तरंगों की वसूली के लिए आवश्यक हैं। इस विश्लेषण से पता चला कि आवधिकता (मेटामैटेरियल्स) का प्रकार के क्षणिक घटकों की वसूली पर महत्वपूर्ण प्रभाव पड़ता है। इसके अतिरिक्त, सम्मलित ा तकनीकों के साथ फोटोलिथोमुद्रण प्राप्त करना संभव है। संरचित मेटामटेरियल्स में [[नकारात्मक अपवर्तक सूचकांक]] का प्रदर्शन किया गया है। इस तरह की सामग्रियों को ट्यून करने योग्य सामग्री पैरामीटर रखने के लिए इंजीनियर किया जा सकता है, और इस प्रकार इष्टतम स्थितियों को प्राप्त किया जा सकता है। [[ अतिचालक |अतिचालक]] तत्वों का उपयोग करने वाली संरचनाओं में माइक्रोवेव आवृत्तियों तक के नुकसान को कम किया जा सकता है। इसके अतिरिक्त, वैकल्पिक संरचनाओं पर विचार करने से बाएं हाथ की सामग्री का विन्यास हो सकता है जो सबवेवलेंथ फोकसिंग प्राप्त कर सकता है। उस समय ऐसी संरचनाओं का अध्ययन किया जा रहा था।<ref name="further-research-p-lens-2" />

प्लास्मोन इंजेक्शन योजना नामक मेटामटेरियल्स में नुकसान के मुआवजे के लिए एक प्रभावी दृष्टिकोण हाल ही में प्रस्तावित किया गया है।<ref name=":0">{{Cite journal|last1=Sadatgol|first1=M.|last2=Ozdemir|first2=S. K.|last3=Yang|first3=L.|last4=Guney|first4=D. O.|date=2015|title=नकारात्मक सूचकांक मेटामेट्री में नुकसान की भरपाई और नियंत्रण के लिए प्लास्मोन इंजेक्शन|journal=Physical Review Letters|volume=115|issue=3|pages=035502|doi=10.1103/physrevlett.115.035502|pmid=26230802|arxiv=1506.06282|bibcode=2015PhRvL.115c5502S|s2cid=2876786 }}</ref> प्लास्मोन इंजेक्शन योजना सैद्धांतिक रूप से उचित भौतिक नुकसान और शोर की उपस्थिति के साथ अपूर्ण नकारात्मक सूचकांक फ्लैट लेंस पर लागू की गई है<ref name=":1">{{Cite journal|last1=Adams|first1=W.|last2=Sadatgol|first2=M.|last3=Zhang|first3=X.|last4=Guney|first4=D. O.|date=2016|title=गेन मीडिया के बिना घाटे के लगभग पूर्ण मुआवजे द्वारा 'परफेक्ट लेंस' को फोकस में लाना|journal=New Journal of Physics|volume=18|issue=12|pages=125004|doi=10.1088/1367-2630/aa4f9e|arxiv=1607.07464|bibcode=2016NJPh...18l5004A|s2cid=119268393 }}</ref><ref name=":2">A. Ghoshroy, W. Adams, X. Zhang, and D. O. Guney, Active plasmon injection scheme for subdiffraction imaging with imperfect negative index flat lens, arXiv: 1706.03886</ref> साथ ही हाइपरलेंस।<ref name=":3">{{Cite journal|last1=Zhang|first1=Xu|last2=Adams|first2=Wyatt|last3=Guney|first3=Durdu O.|date=2017|title=प्लास्मोन इंजेक्शन हानि क्षतिपूर्ति योजना का अनुकरण करने वाले व्युत्क्रम फ़िल्टर का विश्लेषणात्मक विवरण और अल्ट्राहाई-रिज़ॉल्यूशन हाइपरलेंस के लिए कार्यान्वयन|journal=J. Opt. Soc. Am. B|volume=34|issue=6|pages=1310|doi=10.1364/josab.34.001310|bibcode=2017JOSAB..34.1310Z|doi-access=free}}</ref> यह दिखाया गया है कि प्लास्मोन इंजेक्शन योजना के साथ सहायता प्राप्त अपूर्ण नकारात्मक सूचकांक फ्लैट लेंस भी वस्तुओं के उपविवर्तन इमेजिंग को सक्षम कर सकते हैं जो नुकसान और शोर के कारण अन्यथा संभव नहीं है। हालांकि प्लास्मोन इंजेक्शन योजना मूल रूप से प्लास्मोनिक मेटामटेरियल्स ज के लिए संकल्पित की गई थी,<ref name=":0" />अवधारणा सामान्य है और सभी प्रकार के विद्युत चुम्बकीय मोड पर लागू होती है। योजना का मुख्य विचार उचित रूप से संरचित बाहरी सहायक क्षेत्र के साथ मेटामटेरियल्स में हानिपूर्ण मोड का सुसंगत सुपरपोजिशन है। यह सहायक क्षेत्र मेटामटेरियल्स में नुकसान के लिए खाता है, इसलिए मेटामटेरियल्स लेंस के प्रकरण में सिग्नल बीम या ऑब्जेक्ट फील्ड द्वारा अनुभव किए गए नुकसान को प्रभावी ढंग से कम करता है। प्लास्मोन इंजेक्शन योजना को शारीरिक रूप से भी लागू किया जा सकता है<ref name=":2" />या समतुल्य रूप से डीकोनवोल्यूशन पोस्ट-प्रोसेसिंग विधि के माध्यम से।<ref name=":1" /><ref name=":3" />हालांकि, भौतिक कार्यान्वयन डीकोनवोल्यूशन की तुलना में अधिक प्रभावी प्रमाणित हुआ है। दृढ़ संकल्प का भौतिक निर्माण और एक संकीर्ण बैंडविड्थ के भीतर स्थानिक आवृत्तियों का चयनात्मक प्रवर्धन प्लास्मोन इंजेक्शन योजना के भौतिक कार्यान्वयन की कुंजी है। यह हानि क्षतिपूर्ति योजना विशेष रूप से मेटामटेरियल लेंस के लिए उपयुक्त है क्योंकि इसमें लाभ माध्यम, गैर-रैखिकता, या फोनोन के साथ किसी भी बातचीत की आवश्यकता नहीं होती है। प्लास्मोन इंजेक्शन योजना का प्रायोगिक प्रदर्शन अभी तक आंशिक रूप से नहीं दिखाया गया है क्योंकि सिद्धांत बल्कि नया है।

=== चुंबकीय तारों के साथ निकटतम -क्षेत्र इमेजिंग ===

[[Image:Prism composed of high performance Swiss Rolls.jpg|thumb|330px|उच्च प्रदर्शन [[स्विस रोल (मेटामेट्री)|स्विस रोल (मेटामटेरियल्स)]] से बना एक प्रिज्म जो एक चुंबकीय फेसप्लेट के रूप में व्यवहार करता है, एक चुंबकीय क्षेत्र वितरण को इनपुट से आउटपुट फेस तक ईमानदारी से स्थानांतरित करता है।<ref name=layered-DPG-DPS-lens/>]]पेंड्री के सैद्धांतिक लेंस को प्रसार तरंगों और निकटतम और दूर क्षेत्र | निकटतम -क्षेत्र क्षणिक तरंगों दोनों पर ध्यान केंद्रित करने के लिए डिज़ाइन किया गया था। पारगम्यता ε और चुंबकीय पारगम्यता μ से अपवर्तन n का एक सूचकांक प्राप्त होता है। अपवर्तन का सूचकांक यह निर्धारित करता है कि प्रकाश एक सामग्री से दूसरी सामग्री में जाने पर कैसे झुकता है। 2003 में, यह सुझाव दिया गया था कि n=−1 सामग्री और n=+1 सामग्रियों की वैकल्पिक, समानांतर, परतों के साथ निर्मित एक मेटामटेरियल्स, [[मेटामेट्री लेंस|मेटामटेरियल्स लेंस]] के लिए एक अधिक प्रभावी डिजाइन होगा। यह एक बहु-परत स्टैक से बना एक प्रभावी माध्यम है, जो [[birefringence]], एन प्रदर्शित करता है<sub>2</sub>=∞, एन<sub>x</sub>= 0। प्रभावी अपवर्तक सूचकांक क्रमशः लंबवत और समांतर (ज्यामिति) हैं।<ref name=layered-DPG-DPS-lens/>

पारंपरिक लेंस (ऑप्टिक्स) की तरह, जेड-दिशा रोल के [[ऑप्टिकल अक्ष|प्रकाशिकी अक्ष]] के साथ होती है। गुंजयमान आवृत्ति (w<sub>0</sub>) - 21.3 मेगाहर्ट्ज के समीप - रोल के निर्माण से निर्धारित होता है। भिगोना परतों के अंतर्निहित प्रतिरोध और पारगम्यता के हानिपूर्ण भाग द्वारा प्राप्त किया जाता है।<ref name=layered-DPG-DPS-lens/>

सीधे शब्दों में कहें, क्योंकि फ़ील्ड पैटर्न को इनपुट से स्लैब के आउटपुट फेस में स्थानांतरित किया जाता है, इसलिए छवि की जानकारी प्रत्येक परत में ले जाया जाता है। यह प्रयोगात्मक रूप से प्रदर्शित किया गया था। सामग्री के द्वि-आयामी इमेजिंग प्रदर्शन का परीक्षण करने के लिए, अक्षर एम के आकार में समानांतर-विरोधी तारों की एक जोड़ी से एक एंटीना का निर्माण किया गया था। इसने चुंबकीय प्रवाह की एक पंक्ति उत्पन्न की, जिससे इमेजिंग के लिए एक विशिष्ट क्षेत्र पैटर्न प्रदान किया गया। इसे क्षैतिज रूप से रखा गया था, और सामग्री, जिसमें 271 स्विस रोल (मेटामटेरियल्स) सम्मिलित थे, को 21.5 मेगाहर्ट्ज पर ट्यून किया गया था, इसके शीर्ष पर रखा गया था। सामग्री वास्तव में चुंबकीय क्षेत्र के लिए एक छवि हस्तांतरण उपकरण के रूप में फलन करती है। ऐन्टेना के आकार को आउटपुट प्लेन में, पीक इंटेंसिटी के वितरण में और एम को बाध्य करने वाली "घाटियों" दोनों में ईमानदारी से पुन: प्रस्तुत किया जाता है।<ref name=layered-DPG-DPS-lens/>

बहुत निकटतम (क्षणभंगुर) क्षेत्र की एक सुसंगत विशेषता यह है कि [[विद्युत क्षेत्र]] और [[चुंबकीय क्षेत्र]] काफी सीमा तक वियुग्मित होते हैं। यह पारगम्यता के साथ विद्युत क्षेत्र और पारगम्यता के साथ चुंबकीय क्षेत्र के लगभग स्वतंत्र हेरफेर की अनुमति देता है।<ref name=layered-DPG-DPS-lens>
{{Cite journal|last1           =Wiltshire|first1          =M. c. k.|year           =2003|title          =Metamaterial endoscope for magnetic field transfer: near field imaging with magnetic wires|journal        =[[Optics Express]]|volume         =11|issue          =7|pages          =709–715|doi            =10.1364/OE.11.000709|pmid           =19461782|bibcode        =2003OExpr..11..709W|display-authors=1|last2          =Hajnal|first2         =J.|last3          =Pendry|first3         =J.|last4          =Edwards|first4         =D.|last5          =Stevens|first5         =C.|doi-access=free}}</ref>

इसके अतिरिक्त, यह अत्यधिक [[एनिस्ट्रोपिक]] है। इसलिए, विद्युत चुम्बकीय क्षेत्र के अनुप्रस्थ (लंबवत) घटक जो सामग्री को विकीर्ण करते हैं, जो कि वेववेक्टर घटक k है<sub>x</sub> और के<sub>y</sub>, अनुदैर्ध्य घटक k से अलग हो गए हैं<sub>z</sub>. इसलिए, फ़ील्ड पैटर्न को छवि जानकारी के क्षरण के बिना इनपुट से सामग्री के स्लैब के आउटपुट चेहरे में स्थानांतरित किया जाना चाहिए।<ref name="layered-DPG-DPS-lens" />



=== सिल्वर मेटामटेरियल्स के साथ प्रकाशिकी सुपरलेंस ===

{{Multiple image|direction=vertical|align=right|image1=|image2=|width=385|caption1=April, 2005. Optical super lens with silver metamaterial.

: (a)Lens stack with 35 nm silver layer (light blue).
: (b) control stack – [[Poly(methyl methacrylate)|PMMA]] layer replaced the silver layer.
: See the actual graphic results below:<ref name=thin-sliver/>|caption2=An arbitrary object, " NANO" was imaged with the 35 nm silver layer (2nd row left).<ref name=thin-sliver/>
: (Top center) The image of the object – focused ion beam image of the object "NANO" after fabrication on [[Chromium|Cr]] film.
: (Second row left) The object is then captured by the silver layer superlens.
: (Second row right) The imaged object with control layer (PMMA) replacing silver layer.
: (Third row left) A graph depicting resolution of silver layer. The line width is 90 nm across.
: (Third row right) A graph depicting resolution of control layer which resulted in a conventional diffraction limited image with line width of 360 nm, and is comparable to the exposure wavelength (365 nm).}}

2003 में, शोधकर्ताओं के एक समूह ने दिखाया कि जब वे सिल्वर मेटामटेरियल्स लेंस (ऑप्टिक्स) से गुज़रते हैं तो प्रकाशिकी इवेसेंट तरंगों को बढ़ाया जाएगा। इसे विवर्तन-मुक्त लेंस के रूप में संदर्भित किया गया था। हालांकि एक सुसंगतता (भौतिकी), उच्च-रिज़ॉल्यूशन, छवि का इरादा नहीं था, न ही प्राप्त किया गया था, क्षणभंगुर क्षेत्र का उत्थान [[प्रयोग]]ात्मक रूप से प्रदर्शित किया गया था।<ref name=Superlens-breakthrough/><ref name=growth-of-evan-wve/>

2003 तक यह दशकों से ज्ञात था कि इंटरफ़ेस (रसायन विज्ञान) सतहों पर उत्तेजित अवस्थाओं का निर्माण करके वाष्पशील तरंगों को बढ़ाया जा सकता है। हालांकि, पेंड्री के हालिया प्रस्ताव (ऊपर परफेक्ट लेंस देखें) तक वाष्पशील घटकों के पुनर्निर्माण के लिए सतह के प्लास्मों का उपयोग करने की कोशिश नहीं की गई थी। अलग-अलग मोटाई की फिल्मों का अध्ययन करके यह देखा गया है कि उपयुक्त परिस्थितियों में तेजी से बढ़ने वाला [[संचरण गुणांक]] होता है। इस प्रदर्शन ने प्रत्यक्ष प्रमाण प्रदान किया कि सुपरलेंसिंग की नींव ठोस है, और उस पथ का सुझाव दिया जो प्रकाशिकी तरंग दैर्ध्य पर सुपरलेंसिंग के अवलोकन को सक्षम करेगा।<ref name=growth-of-evan-wve>
{{Cite journal|last1=Liu|first1=Z.|year=2003|title=Rapid growth of evanescent wave by a silver superlens|url=http://xlab.me.berkeley.edu/publications/pdfs/17.AppPhysL_12.22.2003_evwave-superlens.pdf|journal=[[Applied Physics Letters]]|volume=83|issue=25|page=5184|doi=10.1063/1.1636250|bibcode=2003ApPhL..83.5184L|display-authors=1|last2=Fang|first2=Nicholas|last3=Yen|first3=Ta-Jen|last4=Zhang|first4=Xiang|url-status=dead|archive-url=https://web.archive.org/web/20100624130039/http://xlab.me.berkeley.edu/publications/pdfs/17.AppPhysL_12.22.2003_evwave-superlens.pdf|archive-date=June 24, 2010 }}</ref>

2005 में, एक जुटना (भौतिकी), उच्च-रिज़ॉल्यूशन, प्रकाशिकी विश्लेषण का उत्पादन किया गया था (2003 के परिणामों के आधार पर)। प्रकाशिकी लिथोमुद्रण के लिए चांदी का एक पतला स्लैब (35 एनएम) बेहतर था। उप-विवर्तन-सीमित इमेजिंग, जिसके परिणामस्वरूप प्रदीप्ति तरंग दैर्ध्य का छठा हिस्सा होता है। इस प्रकार के लेंस का उपयोग तरंग क्षय की भरपाई करने और निकटतम और दूर के क्षेत्र में छवियों के पुनर्निर्माण के लिए किया गया था। वर्किंग सुपरलेंस बनाने के पहले के प्रयासों में चांदी की एक स्लैब का उपयोग किया गया था जो बहुत मोटी थी।<ref name="thin-sliver">{{Cite journal|last1=Fang|first1 =N.|year =2005|title =Sub–Diffraction-Limited Optical Imaging with a Silver Superlens|journal =[[Science (journal)|Science]]|volume =308|issue=5721|doi =10.1126/science.1108759|pmid=15845849|bibcode=2005Sci...308..534F|display-authors=1|last2=Lee|first2=H|last3=Sun|first3=C|last4=Zhang|first4=X|pages=534–537 |s2cid =1085807|url =https://semanticscholar.org/paper/58d66948e42c0613656d26f3909704dd655d1691}}</ref><ref name="far-field-microscope" />

ऑब्जेक्ट की इमेज 40 एनएम जितनी छोटी आर-पार ली गई थी। 2005 में प्रकाशिकी माइक्रोस्कोप के लिए इमेजिंग विश्लेषण की सीमा [[लाल रक्त कोशिका]] के व्यास का दसवां हिस्सा थी। सिल्वर सुपरलेंस के साथ इसका परिणाम लाल रक्त कोशिका के व्यास के सौवें हिस्से के विश्लेषण में होता है।<ref name=Superlens-breakthrough/>

पारंपरिक लेंस, चाहे मानव निर्मित हों या प्राकृतिक, सभी वस्तुओं से निकलने वाली प्रकाश तरंगों को कैप्चर करके और फिर उन्हें झुकाकर छवियां बनाते हैं। मोड़ का कोण अपवर्तन के सूचकांक द्वारा निर्धारित किया जाता है और कृत्रिम नकारात्मक सूचकांक सामग्री के निर्माण तक सदैव सकारात्मक रहा है। वस्तुएं क्षणभंगुर तरंगों का भी उत्सर्जन करती हैं जो वस्तु का विवरण ले जाती हैं, लेकिन पारंपरिक प्रकाशिकी के साथ अप्राप्य हैं। इस तरह की क्षणभंगुर तरंगें तेजी से क्षय होती हैं और इस प्रकार कभी भी छवि संकल्प का हिस्सा नहीं बनतीं, एक प्रकाशिकी सीमा जिसे विवर्तन सीमा के रूप में जाना जाता है। इस विवर्तन सीमा को तोड़ना, और क्षणभंगुर तरंगों को पकड़ना किसी वस्तु के 100 प्रतिशत सही प्रतिनिधित्व के निर्माण के लिए महत्वपूर्ण है।<ref name=thin-sliver/>

इसके अतिरिक्त, पारंपरिक लेंस (ऑप्टिक्स) एक विवर्तन सीमा से ग्रस्त हैं क्योंकि विद्युत चुम्बकीय विकिरण से केवल प्रचार करने वाले घटक (प्रकाशिकी सामग्री द्वारा) प्रेषित होते हैं।<ref name=thin-sliver/>गैर-प्रचारक घटक, क्षणभंगुर तरंगें संचरित नहीं होती हैं।<ref name=further-research-p-lens-2/>इसके अतिरिक्त, लेंस जो अपवर्तन के सूचकांक को बढ़ाकर छवि विश्लेषण में सुधार करते हैं, उच्च-सूचकांक सामग्री की उपलब्धता से सीमित होते हैं, और [[इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी|इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी]] के पॉइंट बाय पॉइंट सबवेवलेंग्थ इमेजिंग की भी सीमाएं होती हैं जब एक कार्यशील सुपरलेंस की क्षमता की तुलना में। स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन और परमाणु बल सूक्ष्मदर्शी का उपयोग अब कुछ नैनोमीटर तक विस्तार से कब्जा करने के लिए किया जाता है। हालांकि, इस तरह के सूक्ष्मदर्शी वस्तुओं को बिंदु से स्कैन करके छवियां बनाते हैं, जिसका अर्थ है कि वे सामान्यतः निर्जीव नमूनों तक सीमित हैं, और छवि कैप्चर समय में कई मिनट लग सकते हैं।<ref name=thin-sliver/>

वर्तमान प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी के साथ, वैज्ञानिक केवल कोशिका के भीतर अपेक्षाकृत बड़ी संरचनाएं बना सकते हैं, जैसे कि इसके नाभिक और माइटोकॉन्ड्रिया। शोधकर्ताओं ने कहा कि एक सुपरलेंस के साथ, प्रकाशिकी माइक्रोस्कोप एक दिन सूक्ष्मनलिकाएं के साथ यात्रा करने वाले व्यक्तिगत प्रोटीन के आंदोलनों को प्रकट कर सकते हैं, जो एक कोशिका के कंकाल को बनाते हैं। प्रकाशिकी माइक्रोस्कोप एक सेकंड के एक अंश में एक स्नैपशॉट के साथ पूरे फ्रेम को कैप्चर कर सकते हैं। सुपरलेंस के साथ यह जीवित सामग्रियों के लिए नैनोस्केल इमेजिंग खोलता है, जो जीवविज्ञानियों को वास्तविक समय में कोशिका संरचना और फलन को बेहतर ढंग से समझने में मदद कर सकता है।<ref name=thin-sliver/>

[[टेराहर्ट्ज़ विकिरण]] और इन्फ्रारेड शासन में [[चुंबकीय युग्मन]] की प्रगति ने संभावित मेटामटेरियल्स सुपरलेन्स की प्राप्ति प्रदान की। हालाँकि, निकटतम क्षेत्र में, सामग्रियों की विद्युत और चुंबकीय प्रतिक्रियाएँ अलग हो जाती हैं। इसलिए, अनुप्रस्थ चुंबकीय (टीएम) तरंगों के लिए, केवल पारगम्यता पर विचार करने की आवश्यकता है। महान धातुएं, फिर सुपरलेंसिंग के लिए प्राकृतिक चयन बन जाती हैं क्योंकि नकारात्मक पारगम्यता आसानी से प्राप्त हो जाती है।<ref name=thin-sliver/>

धातु के पतले स्लैब को डिजाइन करके जिससे कि सतह के वर्तमान दोलन (सतह के प्लास्मोंस) वस्तु से क्षणभंगुर तरंगों से मेल खाते हों, सुपरलेंस क्षेत्र के आयाम को काफी सीमा तक बढ़ाने में सक्षम है। सुपरलेंसिंग सतह के प्लास्मों द्वारा वाष्पशील तरंगों की वृद्धि का परिणाम है।<ref name=thin-sliver/><ref name=Superlens-breakthrough>
{{cite web|last =Dumé|first =B.|title =Superlens breakthrough|url =http://physicsworld.com/cws/article/news/22065|work =[[Physics World]]|date =4 April 2005|access-date =2009-11-10 }}</ref>

सुपरलेंस की कुंजी बहुत सूक्ष्म पैमाने पर जानकारी ले जाने वाली क्षणभंगुर तरंगों को महत्वपूर्ण रूप से बढ़ाने और पुनर्प्राप्त करने की क्षमता है। यह विवर्तन सीमा के ठीक नीचे इमेजिंग को सक्षम बनाता है। कोई लेंस अभी तक किसी वस्तु द्वारा उत्सर्जित सभी क्षणभंगुर तरंगों को पूरी तरह से पुनर्गठित करने में सक्षम नहीं है, इसलिए 100 प्रतिशत सही छवि का लक्ष्य बना रहेगा। हालांकि, कई वैज्ञानिकों का मानना है कि एक सही सही लेंस संभव नहीं है क्योंकि सदैव कुछ ऊर्जा अवशोषण हानि होगी क्योंकि तरंगें किसी भी ज्ञात सामग्री से गुजरती हैं। इसकी तुलना में, चांदी के सुपरलेंस के बिना बनाई गई छवि की तुलना में सुपरलेंस छवि काफी बेहतर है।<ref name="thin-sliver" />



=== 50-एनएम फ्लैट चांदी की परत ===

फरवरी 2004 में, एक मेटामटेरियल्स प्लेट पर आधारित एक इलेक्ट्रोमैग्नेटिक रेडिएशन फोकसिंग प्रणाली ने माइक्रोवेव में सबवेवलेंथ इमेजिंग को पूरा किया। इससे पता चला कि प्रकाश की तरंग दैर्ध्य से बहुत कम दूरी पर अलग-अलग छवियां प्राप्त करना संभव है।<ref name=2004-pancake-plate>{{Cite journal|last=Lagarkov|first =A. N.|author2=V. N. Kissel|title =लेफ्ट-हैंडेड-मटेरियल प्लेट पर आधारित फोकसिंग सिस्टम में नियर-परफेक्ट इमेजिंग|journal =Phys. Rev. Lett.|volume =92|issue=7|pages =077401 [4 pages]|date =2004-02-18|doi =10.1103/PhysRevLett.92.077401|bibcode=2004PhRvL..92g7401L|pmid=14995884}}</ref> इसके अतिरिक्त, 2004 में, उप-[[माइक्रोमीटर]] निकटतम -क्षेत्र इमेजिंग के लिए एक चांदी का उपयोग किया गया था। सुपर हाई रेजोल्यूशन प्राप्त नहीं किया गया था, लेकिन इसका इरादा था। क्षणभंगुर क्षेत्र घटकों के महत्वपूर्ण संवर्द्धन की अनुमति देने के लिए चांदी की परत बहुत मोटी थी।<ref name=silver-also/>

2005 की शुरुआत में, एक अलग चांदी की परत के साथ फीचर रेजोल्यूशन प्राप्त किया गया था। हालांकि यह एक वास्तविक छवि नहीं थी, यह इरादा था। [[पारा दीपक]] की प्रदीप्ति का उपयोग करके 50 एनएम मोटे [[ photoresist |फोटोरेसिस्ट]] में 250 एनएम तक की सघन विशेषता विश्लेषण तैयार की गई थी। सिमुलेशन (एफडीटीडी) का उपयोग करते हुए, अध्ययन ने कहा कि निकटतम क्षेत्र इमेजिंग की एक अन्य विधि के अतिरिक्त, सिल्वर लेंस के माध्यम से इमेजिंग के लिए विश्लेषण सुधार की उम्मीद की जा सकती है।<ref name=rough-dense-image>{{Cite journal|last1=Blaikie|first1 =Richard J|author-link1=Richard Blaikie|first2=David O. S.|last2=Melville|title =ऑप्टिकल निकट क्षेत्र में प्लानर सिल्वर लेंस के माध्यम से इमेजिंग|journal =J. Opt. Soc. Am. A|volume =7|issue=2|pages=S176–S183|date=2005-01-20|doi=10.1088/1464-4258/7/2/023|bibcode=2005JOptA...7S.176B }}</ref>

इस पूर्व शोध के आधार पर, 50 एनएम प्लेन (ज्यामिति) चांदी की परत का उपयोग करके इन्फ्रारेड में सुपर विश्लेषण प्राप्त किया गया था। [[फ्राउनहोफर विवर्तन]] | दूर-क्षेत्र इमेजिंग के लिए विवर्तन सीमा के बाहर प्रकाशिकी विश्लेषण की क्षमता को यहाँ सुपरविश्लेषण के रूप में परिभाषित किया गया है।<ref name="silver-also" />

पिछले प्रायोगिक लेंस स्टैक के पिछले परिणामों की तुलना में छवि निष्ठा में काफी सुधार हुआ है। पतली सिल्वर और स्पेसर परतों का उपयोग करके और लेंस स्टैक की सतह खुरदरापन को कम करके सब-माइक्रोमीटर सुविधाओं की इमेजिंग में बहुत सुधार किया गया है। झंझरी की छवि के लिए सिल्वर लेंस की क्षमता का उपयोग अंतिम विश्लेषण परीक्षण के रूप में किया गया है, क्योंकि एक आवधिक वस्तु की छवि के लिए एक पारंपरिक (दूर क्षेत्र) लेंस की क्षमता के लिए एक ठोस सीमा है - इस प्रकरण में छवि एक विवर्तन है झंझरी। सामान्य-घटना प्रदीप्ति के लिए न्यूनतम स्थानिक अवधि जिसे अपवर्तक सूचकांक एन के माध्यम से तरंग दैर्ध्य λ के साथ हल किया जा सकता है λ/n है। इसलिए इस सीमा से नीचे किसी भी (पारंपरिक) दूर-क्षेत्र की छवि में शून्य विपरीतता की उम्मीद की जाएगी, चाहे इमेजिंग प्रतिरोध कितना भी अच्छा क्यों न हो।<ref name="silver-also" />

यहां (सुपर) लेंस स्टैक का परिणाम 243 एनएम के विवर्तन-सीमित विश्लेषण के कम्प्यूटेशनल परिणाम में होता है। 500 एनएम से 170 एनएम तक की अवधियों के साथ झंझरी का चित्रण किया जाता है, जैसे-जैसे झंझरी अवधि कम होती जाती है, प्रतिरोध में मॉड्यूलेशन की गहराई कम होती जाती है। विवर्तन सीमा (243 एनएम) से ऊपर की अवधि वाले सभी झंझरी अच्छी तरह से हल हो गए हैं।<ref name="silver-also" />इस प्रयोग के मुख्य परिणाम 200 एनएम और 170 एनएम अवधियों के लिए उप-विवर्तन सीमा की सुपर-इमेजिंग हैं। दोनों ही स्थितियों में झंझरी हल हो जाती है, भले ही कंट्रास्ट कम हो, लेकिन यह पेंड्री के सुपरलेंसिंग प्रस्ताव की प्रायोगिक पुष्टि देता है।<ref name="silver-also">{{Cite journal|last1=Melville|first1=David|first2=Richard|last2=Blaikie|author-link2=Richard Blaikie|title =प्लानर सिल्वर लेयर के माध्यम से सुपर-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग|journal =Optics Express|volume =13|issue =6|pages =2127–2134|url=http://muri.lci.kent.edu/References/NIM_Papers/lens/2005_Blaikie_Ag_lens.pdf|date =2005-03-21|doi =10.1364/OPEX.13.002127|access-date =2009-10-23|pmid =19495100|bibcode=2005OExpr..13.2127M |doi-access =free}}</ref>

अधिक जानकारी के लिए फ्रेस्नेल संख्या और [[फ्रेस्नेल विवर्तन]] देखें।

=== नकारात्मक सूचकांक जीआरआईएन लेंस ===

ग्रेडियेंट इंडेक्स (जीआरआईएन) - मेटामटेरियल्स में उपलब्ध सामग्री प्रतिक्रिया की बड़ी रेंज को बेहतर जीआरआईएन लेंस डिजाइन का नेतृत्व करना चाहिए। विशेष रूप से, चूंकि मेटामटेरियल्स की पारगम्यता और पारगम्यता को स्वतंत्र रूप से समायोजित किया जा सकता है, मेटामटेरियल्स जीआरआईएन लेंस संभवतः मुक्त स्थान से बेहतर मिलान कर सकते हैं। जीआरआईएन लेंस का निर्माण एनआईएम के एक स्लैब का उपयोग करके y दिशा में अपवर्तन के एक चर सूचकांक के साथ किया जाता है, जो प्रसार z की दिशा के लंबवत होता है।<ref name="GRIN-1">{{Cite journal|last1=Greegor|first1=R. B.|title=अपवर्तन लेंस के ग्रेडेड नेगेटिव इंडेक्स का अनुकरण और परीक्षण|journal=Applied Physics Letters|volume=87|issue=9|page=091114|date=2005-08-25|url=http://people.ee.duke.edu/~drsmith/pubs_smith_group/greegor_apl_2005.pdf|doi=10.1063/1.2037202|access-date=2009-11-01|last2=Parazzoli|first2=C. G.|last3=Nielsen|first3=J. A.|last4=Thompson|first4=M. A.|last5=Tanielian|first5=M. H.|last6=Smith|first6=D. R.|bibcode=2005ApPhL..87i1114G|name-list-style=vanc|display-authors=1|url-status=dead|archive-url=https://web.archive.org/web/20100618195456/http://people.ee.duke.edu/~drsmith/pubs_smith_group/greegor_apl_2005.pdf|archive-date=June 18, 2010 }}
</ref>



=== सुदूर-क्षेत्र सुपरलेंस ===

2005 में, एक समूह ने फार-फील्ड सुपरलेंस (एफएसएल) कहे जाने वाले एक नए उपकरण का उपयोग करके निकटतम -क्षेत्र की सीमा को पार करने के लिए एक सैद्धांतिक तरीका प्रस्तावित किया, जो समय-समय पर नालीदार धात्विक स्लैब-आधारित सुपरलेंस को ठीक से डिज़ाइन किया गया है।<ref name="corrugated-FSL">{{Cite journal|last1=Durant|first1 =Stéphane|title =विवर्तन सीमा से परे इमेजिंग के लिए एक ऑप्टिकल दूर-क्षेत्र सुपरलेंस के संचरण गुणों का सिद्धांत|journal =J. Opt. Soc. Am. B|volume =23|issue =11|pages =2383–2392|date =2005-12-02|url =http://circuit.ucsd.edu/~zhaowei/Journals/JOSAB_Stephane.pdf|doi =10.1364/JOSAB.23.002383|access-date =2009-10-26|last2=Liu|first2=Zhaowei|last3=Steele|first3=Jennifer M.|last4=Zhang|first4=Xiang|bibcode=2006JOSAB..23.2383D|display-authors=1 }}</ref>

निकटतम -क्षेत्र प्रयोगों के बाद अगला कदम उठाते हुए, सुदूर क्षेत्र में इमेजिंग का प्रायोगिक प्रदर्शन किया गया। प्रमुख तत्व को फार-फील्ड सुपरलेंस (एफएसएल) कहा जाता है, जिसमें एक पारंपरिक सुपरलेंस और एक नैनोस्केल कपलर होता है।<ref name="Far-field-nanocoupler">{{Cite journal|last1=Liu|first1=Zhaowei|title=सब-डिफ्रैक्शनल ऑप्टिकल इमेजिंग के लिए फार-फील्ड सुपरलेन्स का प्रायोगिक अध्ययन|journal=Optics Express|volume=15|issue=11|pages=6947–6954|date=2007-05-22|doi=10.1364/OE.15.006947|pmid=19547010|last2=Durant|first2=S|last3=Lee|first3=H|last4=Pikus|first4=Y|last5=Xiong|first5=Y|last6=Sun|first6=C|last7=Zhang|first7=X|bibcode=2007OExpr..15.6947L|display-authors=1|doi-access=free}}</ref>



==== दूर-क्षेत्र समय उत्क्रमण के साथ विवर्तन सीमा के बाहर ध्यान केंद्रित करना ====

सुदूर क्षेत्र में रखे गए टाइम-रिवर्सल मिरर और फ़ोकसिंग पॉइंट के निकटतम क्षेत्र में रखे गए स्कैटर के यादृच्छिक वितरण दोनों का उपयोग करके माइक्रोवेव के सबवेवलेंथ फ़ोकसिंग के लिए एक दृष्टिकोण प्रस्तुत किया गया है।<ref name=far-field-time-rev>{{Cite journal|last1 =Geoffroy|first1 =Lerosey|title =फार-फील्ड टाइम रिवर्सल के साथ विवर्तन सीमा से परे ध्यान केंद्रित करना|journal =[[Science (journal)|Science]]|volume =315|issue=5815|pages =1120–1122|date =2007-02-27|doi =10.1126/science.1134824|pmid =17322059|last2 =De Rosny|first2 =J|last3 =Tourin|first3 =A|last4 =Fink|first4 =M|bibcode=2007Sci...315.1120L|s2cid =16152502|display-authors =1 |url =https://semanticscholar.org/paper/39aade08cdcc17711598d9485e24e1dca5490c46}}</ref>


=== हाइपरलेंस ===

एक बार नियर-फील्ड इमेजिंग की क्षमता प्रदर्शित हो जाने के बाद, अगला कदम नियर-फील्ड इमेज को दूर-क्षेत्र में प्रोजेक्ट करना था। तकनीक और सामग्रियों सहित इस अवधारणा को हाइपरलेंस कहा जाता है।<ref name=hyperlens>{{cite journal|last1=Jacob|first1=Z.|year=2005|title=Optical Hyperlens: Far-field imaging beyond the diffraction limit|journal=Optics Express|volume=14|pages =8247–8256|doi=10.1364/OE.14.008247|first2=L.|last2=Alekseyev|first3=E.|last3=Narimanov|pmid=19529199|issue=18|arxiv=physics/0607277|bibcode=2006OExpr..14.8247J |s2cid=11542914 }}</ref><ref name=MM-crystal-lens>{{Cite journal|last=Salandrino|first =Alessandro|author2=Nader Engheta|title =Far-field subdiffraction optical microscopy using metamaterial crystals: Theory and simulations|journal =Phys. Rev. B|volume=74|issue=7|page=075103|date =2006-08-16|doi =10.1103/PhysRevB.74.075103|bibcode=2006PhRvB..74g5103S |hdl =1808/21743|url=https://kuscholarworks.ku.edu/bitstream/1808/21743/1/Salandrino_2006.pdf|hdl-access=free}}</ref>
मई 2012 में, गणना से पता चला कि एक [[पराबैंगनी]] (1200-1400 THz) हाइपरलेंस को [[बोरॉन नाइट्राइड]] और [[ग्राफीन]] की वैकल्पिक परतों का उपयोग करके बनाया जा सकता है।<ref>{{Cite arXiv|eprint= 1205.4823|last1= Wang|first1= Junxia|title= स्तरित ग्रेफीन और बोरॉन नाइट्राइड के साथ पराबैंगनी डाइइलेक्ट्रिक हाइपरलेंस|author2= Yang Xu Hongsheng Chen|last3= Zhang|first3= Baile|class= physics.chem-ph|year= 2012}}</ref>
फरवरी 2018 में, एक इन्फ्रारेड | मिड-इन्फ्रारेड (~5-25μm) हाइपरलेंस प्रस्तुत किया गया था, जो एक अलग-अलग डोप किए गए [[इंडियम आर्सेनाइड]] मल्टीलेयर से बना था, जो काफी कम नुकसान की पेशकश करता था।<ref>{{Cite journal|last1=Hart|first1=William S|last2=Bak|first2=Alexey O|last3=Phillips|first3=Chris C|date=7 February 2018|title=अल्ट्रा लो-लॉस सुपर-रिज़ॉल्यूशन बेहद अनिसोट्रोपिक सेमीकंडक्टर मेटामेट्रीज़ के साथ|journal=AIP Advances|volume=8|issue=2|pages=025203|doi=10.1063/1.5013084|bibcode=2018AIPA....8b5203H|doi-access=free}}</ref>
उप-विवर्तन-सीमित इमेजिंग के लिए मेटामटेरियल्स -हाइपरलेंस की क्षमता नीचे दिखाई गई है।

==== सुदूर क्षेत्र में उप-विवर्तन इमेजिंग ====

पारंपरिक लेंस (ऑप्टिक्स) के साथ, सुदूर क्षेत्र एक सीमा है जो क्षणभंगुर तरंगों के अक्षुण्ण आने के लिए बहुत दूर है। किसी वस्तु की इमेजिंग करते समय, यह लेंस के प्रकाशिकी विश्लेषण को प्रकाश की तरंग दैर्ध्य के क्रम तक सीमित कर देता है। ये गैर-प्रसार तरंगें उच्च स्थानिक संकल्प के रूप में विस्तृत जानकारी लेती हैं, और सीमाओं को पार करती हैं। इसलिए, दूर क्षेत्र में विवर्तन द्वारा सामान्य रूप से सीमित छवि विवरणों को प्रक्षेपित करने के लिए क्षणभंगुर तरंगों की पुनर्प्राप्ति की आवश्यकता होती है।<ref name=far-field-1/>

संक्षेप में इस जांच और प्रदर्शन के लिए अग्रणी कदम एक [[अतिशयोक्तिपूर्ण ज्यामिति]] प्रसारण के साथ अनिसोट्रोपिक मेटामटेरियल्स का रोजगार था। इसका प्रभाव ऐसा था कि साधारण क्षणभंगुर तरंगें विकट के साथ फैलती हैं: स्तरित मेटामटेरियल्स की रेडियल दिशा। सूक्ष्म स्तर पर बड़ी स्थानिक आवृत्ति तरंगें धात्विक परतों के बीच युग्मित सतह समतल उत्तेजनाओं के माध्यम से फैलती हैं।<ref name=far-field-1>
{{Cite journal|last1=Liu|first1=Z|last2=Lee|first2=H|last3=Xiong|first3=Y|last4=Sun|first4=C|last5=Zhang|first5=X|display-authors=1|date=2007-03-27|title=Far-Field Optical Hyperlens Magnifying Sub-Diffraction-Limited Objects|url=http://xlab.me.berkeley.edu/publications/pdfs/54.%20Science.pdf|journal=Science|volume=315|issue=5819|page=1686|bibcode=2007Sci...315.1686L|doi=10.1126/science.1137368|pmid=17379801|url-status=dead|archive-url=https://web.archive.org/web/20090920063006/http://xlab.me.berkeley.edu/publications/pdfs/54.%20Science.pdf|archive-date=September 20, 2009 |citeseerx=10.1.1.708.3342|s2cid=5917552}}</ref>
2007 में, इस तरह के अनिसोट्रोपिक मेटामटेरियल्स को एक [[आवर्धक]] प्रकाशिकी हाइपरलेंस के रूप में नियोजित किया गया था। हाइपरलेन्स में अर्ध-बेलनाकार गुहा पर जमा पतली चांदी और [[ अल्युमिना |अल्युमिना]] (35 नैनोमीटर मोटी पर) का घुमावदार आवधिक ढेर होता है, और क्वार्ट्ज सब्सट्रेट पर बना होता है। रेडियल और स्पर्शरेखा परमिट के अलग-अलग संकेत हैं।<ref name=far-field-1/>

विद्युत चुम्बकीय विकिरण पर, वस्तु से बिखरा हुआ [[क्षणभंगुर क्षेत्र]] अनिसोट्रोपिक माध्यम में प्रवेश करता है और रेडियल दिशा में फैलता है। मेटामटेरियल्स के एक अन्य प्रभाव के साथ, हाइपरलेन्स की बाहरी विवर्तन सीमा-सीमा पर एक आवर्धित छवि उत्पन्न होती है। एक बार जब आवर्धित विशेषता विवर्तन सीमा से (परे) बड़ी हो जाती है, तो इसे एक पारंपरिक प्रकाशिकी माइक्रोस्कोप के साथ चित्रित किया जा सकता है, इस प्रकार दूर क्षेत्र में एक उप-विवर्तन-सीमित छवि के आवर्धन और प्रक्षेपण का प्रदर्शन किया जाता है।<ref name=far-field-1/>

हाइपरलेन्स दूर क्षेत्र में एक स्थानिक विश्लेषण उच्च-विश्लेषण छवि प्रस्तुत करते हुए, अनिसोट्रोपिक माध्यम में बिखरी हुई वाष्पशील तरंगों को प्रसार तरंगों में परिवर्तित करके वस्तु को आवर्धित करता है। इस प्रकार के मेटामटेरियल्स-आधारित लेंस, एक पारंपरिक प्रकाशिकी लेंस के साथ जोड़े जाते हैं, इसलिए सामान्य प्रकाशिकी माइक्रोस्कोप के साथ पहचाने जाने वाले पैटर्न को बहुत छोटा प्रकट करने में सक्षम होते हैं। एक प्रयोग में, लेंस 150 नैनोमीटर की दूरी पर उकेरी गई दो 35-नैनोमीटर रेखाओं को अलग करने में सक्षम था। मेटामटेरियल्स के बिना, माइक्रोस्कोप ने केवल एक मोटी रेखा दिखाई।<ref name=MIT-magazine/>

एक नियंत्रण प्रयोग में, लाइन पेयर ऑब्जेक्ट को हाइपरलेंस के बिना इमेज किया गया था। लाइन जोड़ी को हल नहीं किया जा सका क्योंकि (ऑप्टिकल) एपर्चर की विवर्तन सीमा 260 एनएम तक सीमित थी। क्योंकि हाइपरलेंस तरंग सदिशों के एक बहुत व्यापक स्पेक्ट्रम के प्रसार का समर्थन करता है, यह उप-विवर्तन-सीमित विश्लेषण के साथ मनमाने ढंग से वस्तुओं को बढ़ा सकता है।<ref name=far-field-1/>

यद्यपि यह फलन केवल एक [[बेलनाकार]] हाइपरलेंस होने के कारण सीमित प्रतीत होता है, अगला चरण एक [[गोलाकार]] लेंस डिजाइन करना है। वह लेंस त्रि-आयामी क्षमता प्रदर्शित करेगा। नियर-फील्ड प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी किसी वस्तु को स्कैन करने के लिए एक टिप का उपयोग करता है। इसके विपरीत, यह प्रकाशिकी हाइपरलेंस एक ऐसी छवि को बड़ा करता है जो उप-विवर्तन-सीमित है। आवर्धित उप-विवर्तन छवि को दूर क्षेत्र में प्रक्षेपित किया जाता है।<ref name=MIT-magazine/><ref name=far-field-1/>

प्रकाशिकी हाइपरलेंस अनुप्रयोगों के लिए एक उल्लेखनीय क्षमता दिखाता है, जैसे रीयल-टाइम बायोमोलेक्यूलर इमेजिंग और नैनोलिथोमुद्रण । ऐसे लेंस का उपयोग कोशिकीय प्रक्रियाओं को देखने के लिए किया जा सकता है जिन्हें देखना असंभव है। इसके विपरीत, इसका उपयोग फोटोलिथोमुद्रण में पहले चरण के रूप में एक फोटोरेसिस्ट पर अत्यंत सूक्ष्म विशेषताओं वाली छवि को प्रोजेक्ट करने के लिए किया जा सकता है, कंप्यूटर चिप्स बनाने के लिए उपयोग की जाने वाली प्रक्रिया। हाइपरलेन्स में डीवीडी तकनीक के लिए अनुप्रयोग भी हैं।<ref name=MIT-magazine>{{Cite news|last=Bullis|first =Kevin|title =सुपरलेंस और छोटे कंप्यूटर चिप्स|newspaper =Technology Review magazine of [[Massachusetts Institute of Technology]]|date =2007-03-27|url =http://www.technologyreview.com/computing/18428/?a=f|access-date =2010-01-13}}</ref><ref name=far-field-1/>

2010 में, दृश्यमान आवृत्तियों पर दो आयामी इमेजिंग के लिए एक गोलाकार हाइपरलेन्स को प्रयोगात्मक रूप से प्रदर्शित किया गया था। गोलाकार हाइपरलेंस बारी-बारी से परतों में सिल्वर और टाइटेनियम ऑक्साइड पर आधारित था और इसमें मजबूत अनिसोट्रोपिक हाइपरबोलिक प्रसारण था जो दृश्यमान स्पेक्ट्रम के साथ सुपर-विश्लेषण की अनुमति देता था। दृश्यमान स्पेक्ट्रम में विश्लेषण 160 एनएम था। यह दूर-क्षेत्र में उप-विवर्तन संकल्प को बढ़ाने के एक मजबूत लाभ के साथ सेलुलर और डीएनए स्तर पर जैविक इमेजिंग को सक्षम करेगा।<ref name=far-field-2>{{cite journal|last=Rho|first=Junsuk|author2=Ye, Ziliang|author3=Xiong, Yi|author4=Yin, Xiaobo|author5=Liu, Zhaowei|author6=Choi, Hyeunseok|author7=Bartal, Guy|author8=Zhang, Xiang|title=दृश्य आवृत्तियों पर द्वि-आयामी उप-विवर्तनिक इमेजिंग के लिए गोलाकार हाइपरलेन्स|journal=Nature Communications|date=1 December 2010|volume=1|issue=9|page=143|doi=10.1038/ncomms1148|bibcode=2010NatCo...1..143R|pmid=21266993|doi-access=free}}</ref>


=== प्लास्मोन-असिस्टेड सूक्ष्मदर्शी ===

नियर-फील्ड स्कैनिंग प्रकाशिकी माइक्रोस्कोप देखें।

== दृश्य आवृत्ति रेंज में सुपर-इमेजिंग ==
2007 में शोधकर्ताओं ने सामग्री का उपयोग करके सुपर इमेजिंग का प्रदर्शन किया, जो नकारात्मक अपवर्तक सूचकांक बनाता है और दृश्य सीमा में लेंसिंग प्राप्त की जाती है।<ref name="far-field-microscope" />

नैनोटेक्नोलॉजी और [[ कीटाणु-विज्ञान |कीटाणु-विज्ञान]] में प्रगति को बनाए रखने के लिए प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी में निरंतर सुधार की आवश्यकता है। स्थानिक संकल्प में उन्नति महत्वपूर्ण है। पारंपरिक प्रकाशिकी सूक्ष्मदर्शी एक विवर्तन सीमा द्वारा सीमित है जो 200 नैनोमीटर (तरंग दैर्ध्य) के क्रम में है। इसका मतलब है कि वायरस, प्रोटीन, [[डीएनए]] अणु और कई अन्य नमूनों को एक नियमित (ऑप्टिकल) माइक्रोस्कोप से देखना मुश्किल है। लेंस ने पहले [[नकारात्मक अपवर्तक सूचकांक सामग्री]], एक पतली विमान (ज्यामिति) सुपरलेंस के साथ प्रदर्शित किया, पारंपरिक सूक्ष्मदर्शी की विवर्तन सीमा के बाहर आवर्धन प्रदान नहीं करता है। इसलिए, पारंपरिक विवर्तन सीमा से छोटी छवियां अभी भी अनुपलब्ध होंगी।<ref name="far-field-microscope">
{{Cite journal|last1=Smolyaninov|first1 =Igor I.|title =Magnifying Superlens in the Visible Frequency Range|journal =Science|volume =315|issue =5819|pages =1699–1701|date =2007-03-27|doi =10.1126/science.1138746|pmid=17379804|first2=YJ|first3=CC|last2=Hung|last3=Davis|arxiv=physics/0610230|bibcode=2007Sci...315.1699S |s2cid =11806529}}</ref>
दृश्य तरंग दैर्ध्य पर सुपर-विश्लेषण प्राप्त करने वाला एक अन्य दृष्टिकोण हाल ही में चांदी और टाइटेनियम ऑक्साइड वैकल्पिक परतों पर आधारित गोलाकार हाइपरलेंस विकसित किया गया है। इसमें मजबूत अनिसोट्रोपिक हाइपरबोलिक प्रसारण है जो वाष्पशील तरंगों को प्रसार तरंगों में परिवर्तित करने के साथ सुपर-विश्लेषण की अनुमति देता है। यह विधि गैर-प्रतिदीप्ति आधारित सुपर-विश्लेषण इमेजिंग है, जिसके परिणामस्वरूप छवियों और सूचनाओं के पुनर्निर्माण के बिना रीयल-टाइम इमेजिंग होती है।<ref name="far-field-2" />



=== सुपर रेजोल्यूशन फार-फील्ड सूक्ष्मदर्शी तकनीक ===

2008 तक विवर्तन सीमा को पार कर लिया गया है और 20 से 50 एनएम के पार्श्व इमेजिंग संकल्पों को कई सुपर-विश्लेषण दूर-क्षेत्र सूक्ष्मदर्शी तकनीकों द्वारा प्राप्त किया गया है, जिसमें उत्तेजित उत्सर्जन कमी (एसटीईडी) और इसके संबंधित आरईएसओएलएफटी (प्रतिवर्ती संतृप्त प्रकाशिकी रैखिक फ्लोरोसेंट संक्रमण) सम्मिलित हैं। सूक्ष्मदर्शी ; संतृप्त संरचित प्रदीप्ति सूक्ष्मदर्शी (एसएसआईएम); स्टोचैस्टिक प्रकाशिकी पुनर्निर्माण सूक्ष्मदर्शी (STORM); फोटोएक्टिवेटेड स्थानीयकरण सूक्ष्मदर्शी (पाम); और समान सिद्धांतों का उपयोग करने वाले अन्य तरीके।<ref name=stochastic-optical>{{Cite journal|last1=Huang|first1 =Bo|title =स्टोचैस्टिक ऑप्टिकल रिकंस्ट्रक्शन माइक्रोस्कोपी द्वारा त्रि-आयामी सुपर-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग|journal =Science|volume =319|issue =5864|pages =810–813|date =2008-02-08|doi =10.1126/science.1153529|first2=W.|first3=M.|first4=X.|last2=Wang|last3=Bates|last4=Zhuang|pmid=18174397|pmc=2633023|bibcode=2008Sci...319..810H }}</ref>


=== समन्वय परिवर्तन के माध्यम से बेलनाकार सुपरलेंस ===

यह पेंड्री द्वारा 2003 में एक प्रस्ताव के साथ प्रारम्भ हुआ। छवि को आवर्धित करने के लिए एक नई डिजाइन अवधारणा की आवश्यकता होती है जिसमें नकारात्मक रूप से अपवर्तक लेंस की सतह घुमावदार होती है। एक सिलेंडर दूसरे सिलेंडर को छूता है, जिसके परिणामस्वरूप एक घुमावदार बेलनाकार लेंस होता है जो बड़े सिलेंडर के बाहर आवर्धित लेकिन अविकृत रूप में सूक्ष्म सिलेंडर की सामग्री को पुन: उत्पन्न करता है। मूल पूर्ण लेंस को बेलनाकार, लेंस संरचना में घुमाने के लिए समन्वय परिवर्तनों की आवश्यकता होती है।<ref name=Pendry-cyl-lens>{{Cite journal|last =Pendry|first =John|author-link=John Pendry|title =बिल्कुल सही बेलनाकार लेंस|journal =Optics Express|volume =11|issue =7|pages =755–60|date =2003-04-07|url=http://esperia.iesl.forth.gr/~ppm/DALHM/publications/papers/oev11p755.pdf|doi =10.1364/OE.11.000755|pmid =19461787|access-date =2009-11-04|bibcode=2003OExpr..11..755P |doi-access =free}}</ref>

इसके बाद 2005 में 36-पृष्ठ का वैचारिक और गणितीय प्रमाण दिया गया, कि बेलनाकार सुपरलेन्स [[क्वासिस्टेटिक प्रक्रिया]] में काम करता है। सबसे पहले सही लेंस पर बहस पर चर्चा की जाती है।<ref name="proof-cyl">{{Cite journal|last1=Milton|first1=Graeme W.|title=क्वासस्टैटिक शासन में सुपरलेंसिंग का एक प्रमाण, और विषम स्थानीय प्रतिध्वनि के कारण इस शासन में सुपरलेंस की सीमाएं|journal =Proceedings of the Royal Society A|volume =461|issue=2064|pages =3999 [36 pages]|date =2005-12-08|doi =10.1098/rspa.2005.1570|last2=Nicorovici|first2=Nicolae-Alexandru P.|last3=McPhedran|first3=Ross C.|last4=Podolskiy|first4=Viktor A.|bibcode=2005RSPSA.461.3999M |s2cid=120546522 }}</ref>

2007 में, समन्वय परिवर्तन का उपयोग करने वाला एक सुपरलेंस पुनः विषय था। हालाँकि, छवि हस्तांतरण के अतिरिक्त अन्य उपयोगी कार्यों पर चर्चा की गई; ट्रांसलेशन, रोटेशन, मिररिंग और इनवर्जन के साथ-साथ सुपरलेंस इफेक्ट। इसके अतिरिक्त, आवर्धन करने वाले तत्वों का वर्णन किया गया है, जो मुक्त स्थान सोर्सिंग (वेवगाइड के अतिरिक्त) का उपयोग करते हुए इनपुट और आउटपुट दोनों पक्षों पर ज्यामितीय विपथन से मुक्त हैं। ये आवर्धक तत्व निकटतम और दूर क्षेत्र में भी काम करते हैं, छवि को निकटतम क्षेत्र से दूर क्षेत्र में स्थानांतरित करते हैं।<ref name="other-use-cyl">{{Cite journal|last=Schurig|first=D.|author2=J. B. Pendry|author3=D. R. Smith|title =परिवर्तन-डिज़ाइन किए गए ऑप्टिकल तत्व|journal =Optics Express|volume =15|issue =22|pages =14772–82|date =2007-10-24|doi =10.1364/OE.15.014772|pmid=19550757|bibcode=2007OExpr..1514772S |s2cid=16247289 |doi-access=free}}</ref>

बेलनाकार आवर्धक सुपरलेन्स को 2007 में दो समूहों, लियू एट अल द्वारा प्रयोगात्मक रूप से प्रदर्शित किया गया था।<ref name="far-field-1" />और स्मोल्यानिनोव एट अल।<ref name="far-field-microscope" /><ref>{{cite journal|arxiv=0708.0262|doi=10.1103/PhysRevB.77.035122|title=समन्वय परिवर्तन द्वारा सही लेंस और सुपरलेंस डिजाइन को आवर्धित करना|year=2008|last1=Tsang|first1=Mankei|last2=Psaltis|first2=Demetri|journal=Physical Review B|volume=77|issue=3|page=035122|bibcode=2008PhRvB..77c5122T |s2cid=9517825 }}</ref>



=== मेटामटेरियल्स के साथ नैनो-ऑप्टिक्स ===

==== एक लेंस के रूप में नैनोहोल सरणी ====

<!-- Deleted image removed: [[File:Two arrays of nanoholes in a metal screen.gif|thumb|280px|Schematic diagrams. More than concentrating hot spots (left), as was accomplished previously; an image of the [[point source]] (right) is displayed a few tens of wavelengths from the array, on the other side of the array.<ref name=Nanohole-Array-Lens/>]] -->
2007 में फलन ने प्रदर्शित किया कि एक [[धातु]] स्क्रीन में नैनो-प्रौद्योगिकी की एक अर्ध-आवधिक सरणी, सबवेवलेंथ स्पॉट (हॉट स्पॉट) बनाने के लिए एक समतल तरंग के इन्फ्रारेड पर ध्यान केंद्रित करने में सक्षम थी। धब्बे के लिए दूरी सरणी के दूसरी तरफ कुछ दसियों तरंग दैर्ध्य थी, या दूसरे शब्दों में, [[सामान्य घटना]] के पक्ष के विपरीत। नैनोहोल्स की अर्ध-आवधिक सरणी एक प्रकाश संकेंद्रक के रूप में फलन करती है।<ref name=Nanohole-Array-Lens/>

जून 2008 में, इसके बाद धातु स्क्रीन में अर्ध-क्रिस्टल नैनोहोल की एक सरणी की प्रदर्शित क्षमता का प्रदर्शन किया गया। गर्म स्थानों पर ध्यान केंद्रित करने से अधिक, [[बिंदु स्रोत]] की एक छवि को सरणी से कुछ दसियों तरंग दैर्ध्य, सरणी के दूसरी तरफ (छवि विमान) में प्रदर्शित किया जाता है। इसके अतिरिक्त इस प्रकार की सरणी ने 1 से 1 रैखिक विस्थापन का प्रदर्शन किया, - बिंदु स्रोत के स्थान से संबंधित, समानांतर, छवि तल पर स्थान। दूसरे शब्दों में, x से x + δx तक। उदाहरण के लिए, अन्य बिंदु स्रोत समान रूप से x' से x' + δx', x^ से x^ + δx^, और x^^ से x^^ + δx^^, और इसी तरह से विस्थापित किए गए थे। एक प्रकाश संकेंद्रक के रूप में फलन करने के अतिरिक्त, यह 1 से 1 पत्राचार के साथ पारंपरिक लेंस इमेजिंग का फलन करता है, यद्यपि एक बिंदु स्रोत के साथ फलन करता है।<ref name=Nanohole-Array-Lens/>

हालांकि, अधिक जटिल संरचनाओं के प्रकाशिकी संकल्प को कई बिंदु स्रोतों के निर्माण के रूप में प्राप्त किया जा सकता है। सामान्य रूप से पारंपरिक लेंसों के [[संख्यात्मक छिद्र]] से जुड़े बारीक विवरण और उज्ज्वल छवि को मज़बूती से उत्पादित किया जा सकता है। इस तकनीक के उल्लेखनीय अनुप्रयोग तब उत्पन्न होते हैं जब पारंपरिक प्रकाशिकी हाथ में लिए गए फलन के लिए उपयुक्त नहीं होती है। उदाहरण के लिए, यह तकनीक [[एक्स-रे]] | एक्स-रे इमेजिंग, या [[फोटोनिक मेटामटेरियल्स]]  नैनो-प्रकाशिकी परिपथ आदि के लिए बेहतर अनुकूल है।<ref name=Nanohole-Array-Lens>{{Cite journal|last1=Huang|first1 =Fu Min|title =एक लेंस के रूप में नैनोहोल ऐरे|journal=Nano Lett.|volume =8|pages =2469–2472|date =2008-06-24|url =http://www.nanoscope.org.uk/publications/huang-2008-nal.pdf|doi =10.1021/nl801476v|access-date =2009-12-21|pmid=18572971|last2=Kao|first2=TS|last3=Fedotov|first3=VA|last4=Chen|first4=Y|last5=Zheludev|first5=NI|issue=8|bibcode=2008NanoL...8.2469H|name-list-style=vanc|display-authors=1 }}</ref>


==== नैनोलेंस ====

2010 में, एक नैनो-वायर ऐरे प्रोटोटाइप, जिसे तीन-आयामी (3डी) मेटामटेरियल्स -नैनोलेंस के रूप में वर्णित किया गया था, जिसमें एक [[ढांकता हुआ]] सब्सट्रेट में जमा किए गए बल्क नैनोवायरों का निर्माण और परीक्षण किया गया था।<ref name=nanotechwire-nanolens/><ref name=B-D-F-Casse/>

मेटामटेरियल नैनोलेंस को 20 नैनोमीटर व्यास वाले लाखों नैनोवायरों से बनाया गया था। ये सटीक रूप से संरेखित थे और एक पैकेज्ड कॉन्फ़िगरेशन लागू किया गया था। लेंस नैनो-आकार की वस्तुओं की एक स्पष्ट, उच्च-विश्लेषण वाली छवि को चित्रित करने में सक्षम है क्योंकि यह छवि बनाने के लिए सामान्य प्रसार ईएम विकिरण और क्षणिक तरंगों दोनों का उपयोग करता है। सुपर-विश्लेषण इमेजिंग को कम से कम λ / 4 के विश्लेषण के साथ, दूर-क्षेत्र में तरंग दैर्ध्य (λ) से 6 गुना अधिक दूरी पर प्रदर्शित किया गया था। यह पिछले अनुसंधान और अन्य निकटतम क्षेत्र और दूर क्षेत्र इमेजिंग के प्रदर्शन पर एक महत्वपूर्ण सुधार है, जिसमें नीचे चर्चा की गई नैनोहोल सरणियाँ सम्मिलित हैं।<ref name=nanotechwire-nanolens>{{cite web|title =Northeastern physicists develop 3D metamaterial nanolens that achieves super-resolution imaging|work =prototype super-resolution metamaterial nanonlens|publisher =Nanotechwire.com|date =2010-01-18|url =http://nanotechwire.com/news.asp?nid=9315|access-date =2010-01-20}}</ref><ref name=B-D-F-Casse>{{cite journal|last1 =Casse|first1 =B. D. F.|last2 =Lu|first2 =W. T.|last3 =Huang|first3 =Y. J.|last4 =Gultepe|first4 =E.|last5 =Menon|first5 =L.|last6 =Sridhar|first6 =S.|title =त्रि-आयामी मेटामटेरियल्स नैनोलेंस का उपयोग करके सुपर-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग|journal =Applied Physics Letters|volume =96|issue =2|page =023114|year =2010|doi =10.1063/1.3291677|bibcode=2010ApPhL..96b3114C |hdl =2047/d20002681|hdl-access =free}}</ref>


==== छिद्रपूर्ण धातु फिल्मों के प्रकाश संचरण गुण ====

2009-12। मेटामटेरियल्स सीमा में छिद्रपूर्ण धातु फिल्मों के प्रकाश संचरण गुण, जहां आवधिक संरचनाओं की इकाई लंबाई ऑपरेटिंग तरंग दैर्ध्य की तुलना में बहुत छोटी होती है, का सैद्धांतिक रूप से विश्लेषण किया जाता है।<ref name=EOT-Jung>
{{Cite journal|last=Jung|first =J. and|author2=L. Martín-Moreno|author3=F J García-Vidal|title =Light transmission properties of holey metal films in the metamaterial limit: effective medium theory and subwavelength imaging|journal =New Journal of Physics|volume =11|issue=12|page =123013|date =2009-12-09|doi =10.1088/1367-2630/11/12/123013|bibcode=2009NJPh...11l3013J |doi-access =free}}</ref>


==== एक छवि को एक सबवेवलेंग्थ होल के माध्यम से ट्रांसपोर्ट करना ====

सैद्धांतिक रूप से यह संभव प्रतीत होता है कि एक सूक्ष्म सबवेवलेंथ छेद के माध्यम से एक जटिल विद्युत चुम्बकीय छवि को छवि के व्यास से काफी सूक्ष्म व्यास के साथ, बिना सबवेवलेंग्थ विवरण खोए संभव है।<ref name="Nanohole-Engheta">
{{cite journal|last1=Silveirinha|first1 =Mário G.|last2=Engheta|first2=Nader|title =Transporting an Image through a Subwavelength Hole|journal =Physical Review Letters|volume =102|issue=10|page =103902|date =2009-03-13|pmid=19392114|doi =10.1103/PhysRevLett.102.103902|bibcode=2009PhRvL.102j3902S |url =https://repository.upenn.edu/ese_papers/483}}</ref>


=== नैनोपार्टिकल इमेजिंग - क्वांटम डॉट्स ===

एक जीवित कोशिका में जटिल प्रक्रियाओं का अवलोकन करते समय, महत्वपूर्ण प्रक्रियाओं (परिवर्तनों) या विवरणों को अनदेखा करना आसान होता है। यह उन परिवर्तनों को देखते समय अधिक आसानी से हो सकता है जिन्हें प्रकट होने में लंबा समय लगता है और उच्च-स्थानिक-विश्लेषण इमेजिंग की आवश्यकता होती है। हालांकि, हालिया शोध कोशिकाओं के अंदर घंटों या दिनों तक होने वाली गतिविधियों की छानबीन करने के लिए एक समाधान प्रदान करता है, जो संभावित रूप से इन सूक्ष्म जीवों में होने वाली आणविक-पैमाने की घटनाओं से जुड़े कई रहस्यों को सुलझाता है।<ref name=q-dot-image/>

राष्ट्रीय मानक और प्रौद्योगिकी संस्थान (एनआईएसटी) और राष्ट्रीय एलर्जी और संक्रामक रोग संस्थान (एनआईएआईडी) में काम कर रहे एक संयुक्त शोध दल ने इन धीमी प्रक्रियाओं को प्रकट करने के लिए सेलुलर इंटीरियर को रोशन करने के लिए नैनोकणों का उपयोग करने की एक विधि की खोज की है। एक कोशिका से हजारों गुना सूक्ष्म नैनोकणों में विभिन्न प्रकार के अनुप्रयोग होते हैं। प्रकाश के संपर्क में आने पर एक प्रकार का नैनोपार्टिकल जिसे क्वांटम डॉट कहा जाता है, चमकता है। इन अर्धचालक कणों को कार्बनिक पदार्थों के साथ लेपित किया जा सकता है, जो एक वैज्ञानिक द्वारा जांच की जाने वाली कोशिका के हिस्से के भीतर विशिष्ट प्रोटीन को आकर्षित करने के लिए तैयार किए जाते हैं।<ref name=q-dot-image/>

विशेष रूप से, क्वांटम डॉट्स कई कार्बनिक रंगों और फ्लोरोसेंट प्रोटीनों की तुलना में अधिक समय तक चलते हैं जो पहले कोशिकाओं के अंदरूनी हिस्सों को रोशन करने के लिए उपयोग किए जाते थे। उनके पास सेलुलर प्रक्रियाओं में परिवर्तन की निगरानी का भी लाभ है, जबकि इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी जैसी अधिकांश उच्च-विश्लेषण तकनीकें केवल एक पल में जमी हुई सेलुलर प्रक्रियाओं की छवियां प्रदान करती हैं। क्वांटम डॉट्स का उपयोग करते हुए, प्रोटीन की गतिशील गतियों को सम्मिलित करने वाली सेलुलर प्रक्रियाएं अवलोकन योग्य (स्पष्ट) हैं।<ref name=q-dot-image/>

अनुसंधान मुख्य रूप से क्वांटम डॉट गुणों को चित्रित करने पर केंद्रित था, उन्हें अन्य इमेजिंग तकनीकों के विपरीत। एक उदाहरण में, क्वांटम डॉट्स को एक विशिष्ट प्रकार के मानव लाल रक्त कोशिका प्रोटीन को लक्षित करने के लिए डिज़ाइन किया गया था जो सेल की आंतरिक झिल्ली में नेटवर्क संरचना का हिस्सा बनता है। जब ये प्रोटीन एक स्वस्थ कोशिका में एक साथ जुड़ते हैं, तो नेटवर्क कोशिका को यांत्रिक लचीलापन प्रदान करता है जिससे कि यह संकीर्ण केशिकाओं और अन्य तंग जगहों के माध्यम से निचोड़ सके। लेकिन जब कोशिका मलेरिया परजीवी से संक्रमित हो जाती है, तो नेटवर्क प्रोटीन की संरचना बदल जाती है।<ref name=q-dot-image/>

चूंकि क्लस्टरिंग तंत्र अच्छी तरह से समझा नहीं गया है, इसलिए इसे क्वांटम डॉट्स के साथ जांचने का निर्णय लिया गया। यदि क्लस्टरिंग की कल्पना करने के लिए एक तकनीक विकसित की जा सकती है, तो मलेरिया संक्रमण की प्रगति को समझा जा सकता है, जिसमें विकास के कई अलग-अलग चरण होते हैं।<ref name=q-dot-image/>

अनुसंधान के प्रयासों से पता चला है कि जैसे-जैसे झिल्ली प्रोटीन बंच होते हैं, उनसे जुड़े क्वांटम डॉट्स खुद को क्लस्टर करने के लिए प्रेरित होते हैं और अधिक उज्ज्वल रूप से चमकते हैं, वास्तविक समय अवलोकन की अनुमति देते हैं क्योंकि प्रोटीन की क्लस्टरिंग बढ़ती है। अधिक मोटे तौर पर, अनुसंधान ने पाया कि जब क्वांटम डॉट्स खुद को अन्य नैनोमैटेरियल्स से जोड़ते हैं, तो डॉट्स के प्रकाशिकी गुण प्रत्येक प्रकरण में अनूठे तरीके से बदलते हैं। इसके अतिरिक्त, साक्ष्य की खोज की गई थी कि क्वांटम डॉट प्रकाशिकी गुणों को नैनोस्केल पर्यावरण परिवर्तन के रूप में बदल दिया गया है, जिससे कोशिकाओं के अंदर स्थानीय जैव रासायनिक वातावरण को समझने के लिए क्वांटम डॉट्स का उपयोग करने की अधिक संभावना की पेशकश की जाती है।<ref name=q-dot-image/>

विषाक्तता और अन्य गुणों पर कुछ चिंताएँ बनी हुई हैं। हालांकि, समग्र निष्कर्ष बताते हैं कि गतिशील सेलुलर प्रक्रियाओं की जांच के लिए क्वांटम डॉट्स एक मूल्यवान उपकरण हो सकते हैं।<ref name=q-dot-image>{{Cite journal|last1 =Kang|first1 =Hyeong-Gon|last2 =Tokumasu|first2 =Fuyuki|last3 =Clarke|first3 =Matthew|last4 =Zhou|first4 =Zhenping|last5 =Tang|first5 =Jianyong|last6 =Nguyen|first6 =Tinh|last7 =Hwang|first7 =Jeeseong|title =कोशिकाओं की मात्रात्मक बायोमेडिकल इमेजिंग की ओर एकल और क्लस्टर क्वांटम डॉट्स के गतिशील फ्लोरेसेंस गुणों की जांच करना|journal =Wiley Interdisciplinary Reviews: Nanomedicine and Nanobiotechnology|volume =2|pages =48–58|year =2010|doi =10.1002/wnan.62|pmid =20049830|issue=1|url =https://zenodo.org/record/1229384}}</ref>
संबंधित प्रकाशित शोध पत्र से सार (आंशिक रूप से): परिणाम विभिन्न रासायनिक और भौतिक वातावरणों में जैवसंयुग्मित नैनोक्रिस्टल या क्वांटम डॉट्स (क्यूडी) के गतिशील प्रतिदीप्ति गुणों के बारे में प्रस्तुत किए जाते हैं। विभिन्न प्रकार के क्यूडी नमूने तैयार किए गए और उनकी तुलना की गई: पृथक व्यक्तिगत क्यूडी, क्यूडी समुच्चय, और क्यूडी अन्य नैनोस्केल सामग्रियों से संयुग्मित ...

== यह भी देखें ==
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* [[ध्वनिक मेटामटेरियल्स]]
* [[मेटामटेरियल्स का इतिहास]]
* [[मेटामेट्री अवशोषक]]
* [[मेटामेट्री एंटेना]]
* [[मेटामेट्री क्लोकिंग]]
* [[नकारात्मक सूचकांक मेटामटेरियल्स]]
* [[नॉनलाइनियर मेटामटेरियल्स]]
* [[फोटोनिक क्रिस्टल]]
* [[फोटोनिक मेटामटेरियल्स]]
* [[प्लाज़्मोनिक मेटामेट्रीज़]]
* [[भूकंपीय मेटामटेरियल्स]]

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* [[स्प्लिट-रिंग रेज़ोनेटर]]
* [[टेराहर्ट्ज़ मेटामटेरियल्स]]
* [[आवरण के सिद्धांत]]
* [[परिवर्तन प्रकाशिकी]]
* [[ट्यून करने योग्य मेटामटेरियल्स]]
* [[प्लास्मोनिक लेंस]]
* [[शैक्षणिक पत्रिकाएँ]]
* [[मेटामटेरियल्स (जर्नल)]]
* [[मेटामटेरियल्स किताबें]]
* [[मेटामटेरियल्स हैंडबुक]]
* [[मेटामटेरियल्स: भौतिकी और इंजीनियरिंग अन्वेषण]]

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* [[मेटामटेरियल्स वैज्ञानिक]]
* [[नादेर एंगेटा]]
* [[उल्फ लियोनहार्ट]]
* [[जॉन पेंड्री]]
* [[व्लादिमीर शालाव]]
* [[डेविड आर. स्मिथ (भौतिक विज्ञानी) | डेविड आर. स्मिथ]]
* [[सर्गेई त्रेताकोव (वैज्ञानिक)]]
* [[रिचर्ड डब्ल्यू ज़िओल्कोव्स्की]]

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== संदर्भ ==
{{NIST-PD}}
{{Reflist}}


== बाहरी संबंध ==
* "[https://web.archive.org/web/20110717081913/http://www.cmth.ph.ic.ac.uk/photonics/Newphotonics/pdf/sciam-pendry-4a.pdf The Quest for the Superlens]" by [[John B. Pendry]] and [[David R. Smith (physicist)|David R. Smith]]. ''Scientific American''. July 2006. PDF [[Imperial College]].
* [https://web.archive.org/web/20070714042835/http://physicsweb.org/articles/news/9/4/12 Subwavelength imaging]
* [https://web.archive.org/web/20091008075725/http://mitworld.mit.edu/video/455/ Professor Sir John Pendry at MIT] – "The Perfect Lens: Resolution Beyond the Limits of Wavelength'
* "[http://www.me.berkeley.edu/~lwlin/me118/papers/paper11.pdf Surface plasmon subwavelength optics]" 2009-12-05
* "[http://circuit.ucsd.edu/~zhaowei/Journals/Nature%20Material%20_%20superlenses.pdf Superlenses to overcome the diffraction limit]"
* "[http://physicsworld.com/cws/article/print/19415 Breaking the diffracion limit]" Overview of superlens theory
* "[http://www.emtalk.com/tut_4.htm Flat Superlens Simulation]" विद्युत चुम्बकीय Talk
* "[http://physicsworld.com/cws/article/news/25892 Superlens microscope gets up close]"
* "[http://physicsworld.com/cws/article/news/22065 Superlens breakthrough]"
* "[http://physicsworld.com/cws/article/print/22746 Superlens breaks optical barrier]"
* "[https://web.archive.org/web/20060824041720/http://www.physics.oregonstate.edu/~vpodolsk/NIM/index.html Materials with negative index of refraction]" by V.A. Podolskiy
* "[https://web.archive.org/web/20060106051934/http://www.physics.oregonstate.edu/~vpodolsk/reprints.pdf/resolut.apl2005.pdf Optimizing the superlens: Manipulating geometry to enhance the resolution]" by V.A. Podolskiy and Nicholas A. Kuhta
* "[https://www.theguardian.com/science/story/0,,1766219,00.html Now you see it, now you don't: cloaking device is not just sci-fi]"
* "[https://web.archive.org/web/20080705153453/http://www.nrel.gov/research_review/pdfs/2004/37011d.pdf Initial page describes first demonstration of negative refraction in a natural material]"
* "[http://physicsworld.com/cws/article/news/18434 Negative-index materials made easy]"
* "[https://www.newscientist.com/channel/tech/dn13771-simple-superlens-sharpens-focusing-power.html Simple 'superlens' sharpens focusing power]" – A lens able to focus 10 times more intensely than any conventional design could significantly enhance wireless power transmission and photolithography (''New Scientist'', 24 April 2008)
* "[http://www.fcm.in.cnr.it/lsbm/testi/tecnofisica/docs/TB08_micros_2.pdf Far-Field Optical Nanoscopy]" by Stefan W. Hell. Vol. 316. ''Science''. 25 May 2007
* "[https://arxiv.org/abs/1205.4823 Ultraviolet dielectric hyperlens with layered graphene and boron nitride]", 22 May 2012
* {{Cite news|url=https://www.zmescience.com/science/physics/metalens-nanotechnology-04012017|title=New, revolutionary metalens focuses entire visible spectrum into a single point|first= Mihai|last=Andrei|date=2018-01-04|work=ZME Science|access-date=2018-01-05|language=en-US}}

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