पूर्ण-युग्म परीक्षण: Difference between revisions

Revision as of 11:00, 8 March 2023

कंप्यूटर विज्ञान में, पूर्ण-युग्म परीक्षण या युग्‍मानूसार परीक्षण सॉफ़्टवेयर परीक्षण की एक संयोजी विधि है, जो एक पद्धति के निविष्टि प्राचलों के प्रत्येक युग्म के लिए ( विशिष्ट रूप से, एक सॉफ्टवेयर एल्गोरिथ्म (रोबोट को सिखाने के लिए प्रयुक्त अनुदेश) ), उन प्राचलों के सभी सम्भाव्य विविक्त संयोजनों का परीक्षण करता है। ध्यानपूर्वक चुने गए परीक्षण सदिशों का उपयोग करके, यह प्राचल युग्म के परीक्षणों को "समानांतर" करके, सभी प्राचलों के सभी संयोजनों की संपूर्ण जाँच की तुलना में बहुत तेज़ी से किया जा सकता है।

कारण विवरण

एक प्रोग्राम में सामान्य बग (प्रोग्राम में त्रुटि) सामान्यतः या तो एक निविष्टि प्राचल या प्राचल के युग्म के बीच अंतःक्रिया से उत्प्रेरक होते हैं।^[1] तीन या अधिक प्राचलों के बीच परस्पर क्रिया वाले बग दोनों प्रगामीयतः अपेक्षाकृत सामान्य हैं ^[2] और साथ ही खोजने के लिए प्रगामीयतः अधिक मूल्यवान हैं --- इस तरह के परीक्षण में सभी संभाव्य निविष्टि के परीक्षण की सीमा होती है।^[3] इस प्रकार, सभी युग्म परीक्षण जैसे परीक्षण स्थितियों को चुनने के लिए एक संयोजी तकनीक का उपयोगी का होना-प्रसुविधा समाधान है जो कार्य-संबंधी विस्तृत सूचना से समाधान किए बिना परीक्षण स्थितियों की संख्या में महत्वपूर्ण कमी को सक्षम बनाता है।^[4] अधिकांश सख्ती से, अगर हम मानते हैं कि एक परीक्षण स्थिति में N प्राचल एक समुच्चय में दिए गए हैं {Pi}={P1,P2,......,PN | प्राचलों की परास $R(P_{i})=R_{i}$ द्वारा दी गई है। मान लेते हैं कि $|R_{i}|=n_{i}$ | हम ध्यान दें कि सभी सम्भाव्य परीक्षण स्थितियों की संख्या $\prod n_{i}$ है | यह कल्पना करना कि कोड एक समय में केवल दो प्राचल लेने वाली स्थितियों से संबंधित है, आवश्यक परीक्षण स्थितियों की संख्या को कम कर सकता है।^{[clarification needed]}

प्रदर्शित करने के लिए, मान लीजिए कि एक्स, वाई, जेड प्राचलोंहैं। हम प्रपत्र के एक विधेय (गणितीय तर्क) का उपयोग कर सकते हैं $P(X,Y,Z)$ ऑर्डर 3 का, जो सभी 3 को इनपुट के रूप में लेता है, या बल्कि तीन अलग-अलग ऑर्डर 2 फॉर्म की भविष्यवाणी करता है $p(u,v)$ . $P(X,Y,Z)$ के समकक्ष रूप में लिखा जा सकता है $p_{xy}(X,Y),p_{yz}(Y,Z),p_{zx}(Z,X)$ जहाँ अल्पविराम किसी भी संयोजन को दर्शाता है। यदि कोड को मापदंडों के जोड़े लेने वाली शर्तों के रूप में लिखा गया है, फिर श्रेणियों के विकल्पों का सेट $X=\{n_{i}\}$ एक multiset हो सकता है^{[clarification needed]}, क्योंकि विकल्पों की समान संख्या वाले अनेक प्राचलोंहो सकते हैं।

$max(S)$ मल्टीसेट के अधिकतम में से एक है $S$ इस टेस्ट फंक्शन पर पेयर-वाइज टेस्ट केस की संख्या होगी:- $T=max(X)\times max(X\setminus max(X))$ इसलिए, यदि $n=max(X)$ और $m=max(X\setminus max(X))$ तो परीक्षणों की संख्या आम तौर पर ओ (एनएम) होती है, जहां एन और एम सबसे अधिक विकल्पों वाले दो पैरामीटरों में से प्रत्येक के लिए संभावनाओं की संख्या होती है, और यह संपूर्ण से काफी कम हो सकती है $\prod n_{i}$ ·

एन-वार परीक्षण

N-वार परीक्षण को युग्म-वार परीक्षण का सामान्यीकृत रूप माना जा सकता है।^{[citation needed]}

विचार सेट पर छँटाई लागू करना है $X=\{n_{i}\}$ ताकि $P=\{P_{i}\}$ भी आदेश दिया जाता है। क्रमबद्ध सेट को एक होने दें $N$ टपल:-

$P_{s}=<P_{i}>\;;\;i<j\implies |R(P_{i})|<|R(P_{j})|$ अब हम सेट ले सकते हैं $X(2)=\{P_{N-1},P_{N-2}\}$ और इसे जोड़ो में परीक्षण कहते हैं। आगे सामान्यीकरण करते हुए हम सेट ले सकते हैं $X(3)=\{P_{N-1},P_{N-2},P_{N-3}\}$ और इसे 3-वार परीक्षण कहते हैं। आखिरकार, हम कह सकते हैं $X(T)=\{P_{N-1},P_{N-2},...,P_{N-T}\}$ टी-वार परीक्षण।

एन-वार परीक्षण तब उपर्युक्त सूत्र से सभी संभावित संयोजन होंगे।

उदाहरण

नीचे दी गई तालिका में दिखाए गए मापदंडों पर विचार करें।

Parameter name	Value 1	Value 2	Value 3	Value 4
Enabled	True	False	-	-
Choice type	1	2	3	-
Category	a	b	c	d

'सक्षम', 'पसंद का प्रकार' और 'श्रेणी' में क्रमशः 2, 3 और 4 की पसंद श्रेणी होती है। एक संपूर्ण परीक्षण में 24 परीक्षण (2 x 3 x 4) शामिल होंगे। दो सबसे बड़े मूल्यों (3 और 4) को गुणा करना इंगित करता है कि एक जोड़ी-वार परीक्षणों में 12 परीक्षण शामिल होंगे। माइक्रोसॉफ्ट के पिक्चर टूल द्वारा जनरेट किए गए पेयर वाइज टेस्ट केस नीचे दिखाए गए हैं।

Enabled	Choice type	Category
True	3	a
True	1	d
False	1	c
False	2	d
True	2	c
False	2	a
False	1	a
False	3	b
True	2	b
True	3	d
False	3	c
True	1	b

यह भी देखें

सॉफ़्टवेयर परीक्षण
ऑर्थोगोनल सरणी परीक्षण

↑ Black, Rex (2007). Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional. New York: Wiley. p. 240. ISBN 978-0-470-12790-2.
↑ Kuhn, D. Richard; Wallace, Dolores R.; Gallo, Albert M., Jr. (June 2004). "सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ" (PDF). IEEE Transactions on Software Engineering. 30 (6): 418–421. doi:10.1109/TSE.2004.24. S2CID 206778290.{{cite journal}}: CS1 maint: multiple names: authors list (link)
↑ Kuhn, D. Richard; Kacker, Raghu N.; Yu Lei (October 2010). Practical Combinatorial Testing. SP 800-142 (Report). National Institute of Standards and Technology. doi:10.6028/NIST.SP.800-142.
↑ IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. July 18, 2008. pp. 1–150. doi:10.1109/IEEESTD.2008.4578383. ISBN 978-0-7381-5746-7. {{cite book}}: |journal= ignored (help)

बाहरी संबंध

[1] Black, Rex (2007). Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional. New York: Wiley. p. 240. ISBN 978-0-470-12790-2.

[2] Kuhn, D. Richard; Wallace, Dolores R.; Gallo, Albert M., Jr. (June 2004). "सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ" (PDF). IEEE Transactions on Software Engineering. 30 (6): 418–421. doi:10.1109/TSE.2004.24. S2CID 206778290.{{cite journal}}: CS1 maint: multiple names: authors list (link)

[3] Kuhn, D. Richard; Kacker, Raghu N.; Yu Lei (October 2010). Practical Combinatorial Testing. SP 800-142 (Report). National Institute of Standards and Technology. doi:10.6028/NIST.SP.800-142.

[4] IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. July 18, 2008. pp. 1–150. doi:10.1109/IEEESTD.2008.4578383. ISBN 978-0-7381-5746-7. {{cite book}}: |journal= ignored (help)

[1]

[2]

[3]

[4]

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 == कारण विवरण ==
-एक प्रोग्राम में सामान्य बग (प्रोग्राम में त्रुटि) सामान्यतः या तो एक निविष्टि प्राचल या प्राचल के युग्म के बीच अंतःक्रिया से उत्प्रेरक होते हैं।<ref>{{cite book |last=Black |first=Rex |year=2007 |title=Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional |publisher=[[John Wiley & Sons|Wiley]] |location=New York |isbn=978-0-470-12790-2 |page=240}}</ref> तीन या अधिक प्राचलों के बीच परस्पर क्रिया वाले बग दोनों प्रगामीयतः अपेक्षाकृत सामान्य हैं <ref>{{cite journal |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Wallace |first2=Dolores R. |last3=Gallo |first3=Albert M., Jr. |date=June 2004 |title=सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ|journal=IEEE Transactions on Software Engineering |volume=30 |issue=6 |pages=418–421 |url=http://csrc.nist.gov/staff/Kuhn/kuhn-wallace-gallo-04.pdf |doi=10.1109/TSE.2004.24 |s2cid=206778290 }}</ref> और साथ ही खोजने के लिए प्रगामीयतः अधिक मूल्यवान हैं --- इस तरह के परीक्षण में सभी संभाव्य निविष्टि के परीक्षण की सीमा होती है।<ref>{{cite report |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Kacker |first2=Raghu N. |author3=Yu Lei |date=October 2010 |title=Practical Combinatorial Testing. SP 800-142. |publisher=[[National Institute of Standards and Technology]] |doi=10.6028/NIST.SP.800-142|doi-access=free }}</ref> इस प्रकार, सभी युग्म परीक्षण जैसे परीक्षण स्थितियों को चुनने के लिए एक संयोजी तकनीक का उपयोगी का होना-प्रसुविधा समाधान है जो कार्य-संबंधी विस्तृत सूचना से समाधान किए बिना परीक्षण स्थितियों की संख्या में महत्वपूर्ण कमी को सक्षम बनाता है।<ref>{{cite book |date=July 18, 2008 |title=IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. |journal=IEEE STD 829-2008 |doi=10.1109/IEEESTD.2008.4578383 |pages=1–150 |isbn=978-0-7381-5746-7 }}</ref>                                                                                        अधिकांश सख्ती से, अगर हम मानते हैं कि एक परीक्षण स्थिति में N प्राचल एक समुच्चय में दिए गए हैं {Pi}={P1,P2,......,P''N'' | प्राचलों की परास <math>R(P_i)= R_i</math> द्वारा दी गई है।
+एक प्रोग्राम में सामान्य बग (प्रोग्राम में त्रुटि) सामान्यतः या तो एक निविष्टि प्राचल या प्राचल के युग्म के बीच अंतःक्रिया से उत्प्रेरक होते हैं।<ref>{{cite book |last=Black |first=Rex |year=2007 |title=Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional |publisher=[[John Wiley & Sons|Wiley]] |location=New York |isbn=978-0-470-12790-2 |page=240}}</ref> तीन या अधिक प्राचलों के बीच परस्पर क्रिया वाले बग दोनों प्रगामीयतः अपेक्षाकृत सामान्य हैं <ref>{{cite journal |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Wallace |first2=Dolores R. |last3=Gallo |first3=Albert M., Jr. |date=June 2004 |title=सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ|journal=IEEE Transactions on Software Engineering |volume=30 |issue=6 |pages=418–421 |url=http://csrc.nist.gov/staff/Kuhn/kuhn-wallace-gallo-04.pdf |doi=10.1109/TSE.2004.24 |s2cid=206778290 }}</ref> और साथ ही खोजने के लिए प्रगामीयतः अधिक मूल्यवान हैं --- इस तरह के परीक्षण में सभी संभाव्य निविष्टि के परीक्षण की सीमा होती है।<ref>{{cite report |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Kacker |first2=Raghu N. |author3=Yu Lei |date=October 2010 |title=Practical Combinatorial Testing. SP 800-142. |publisher=[[National Institute of Standards and Technology]] |doi=10.6028/NIST.SP.800-142|doi-access=free }}</ref> इस प्रकार, सभी युग्म परीक्षण जैसे परीक्षण स्थितियों को चुनने के लिए एक संयोजी तकनीक का उपयोगी का होना-प्रसुविधा समाधान है जो कार्य-संबंधी विस्तृत सूचना से समाधान किए बिना परीक्षण स्थितियों की संख्या में महत्वपूर्ण कमी को सक्षम बनाता है।<ref>{{cite book |date=July 18, 2008 |title=IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. |journal=IEEE STD 829-2008 |doi=10.1109/IEEESTD.2008.4578383 |pages=1–150 |isbn=978-0-7381-5746-7 }}</ref>                                                                                        अधिकांश सख्ती से, अगर हम मानते हैं कि एक परीक्षण स्थिति में N प्राचल एक समुच्चय में दिए गए हैं {Pi}={P1,P2,......,P''N'' | प्राचलों की परास <math>R(P_i)= R_i</math> द्वारा दी गई है। मान लेते हैं कि  <math>|R_i|= n_i</math>|
-चलिए मान लेते हैं <math>|R_i|= n_i</math>.
+हम ध्यान दें कि सभी सम्भाव्य परीक्षण स्थितियों की संख्या <math>\prod n_i</math>है | यह कल्पना करना कि कोड एक समय में केवल दो प्राचल लेने वाली स्थितियों से संबंधित है, आवश्यक परीक्षण स्थितियों की संख्या को कम कर सकता है।{{clarify|date=March 2016|reason=This clause is not well-formed, and the extraneous comma and the ambiguous placement of "taking only two pair at a time" obscure its meaning.}}
-हम ध्यान दें कि सभी संभावित परीक्षण मामलों की संख्या एक है <math>\prod n_i</math>. यह कल्पना करना कि कोड एक समय में केवल दो प्राचलोंलेने वाली स्थितियों से संबंधित है, आवश्यक परीक्षण मामलों की संख्या को कम कर सकता है।{{clarify|date=March 2016|reason=This clause is not well-formed, and the extraneous comma and the ambiguous placement of "taking only two pair at a time" obscure its meaning.}}
 प्रदर्शित करने के लिए, मान लीजिए कि एक्स, वाई, जेड प्राचलोंहैं।

v t e Software testing
The "box" approach	Black-box testing All-pairs testing Exploratory testing Fuzz testing Model-based testing Scenario testing Grey-box testing White-box testing API testing Mutation testing Static testing
Testing levels	Acceptance testing Integration testing System testing Unit testing
Testing types, techniques, and tactics	A/B testing Benchmark Compatibility testing Concolic testing Concurrent testing Conformance testing Continuous testing Destructive testing Development testing Dynamic program analysis Installation testing Regression testing Security testing Smoke testing (software) Software performance testing Symbolic execution Test automation Usability testing
See also	Graphical user interface testing Manual testing Orthogonal array testing Pair testing Soak testing Software reliability testing Stress testing Web testing

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