अवांछित प्रकाश: Difference between revisions
From Vigyanwiki
No edit summary |
No edit summary |
||
| (5 intermediate revisions by 4 users not shown) | |||
| Line 1: | Line 1: | ||
{{Short description|Undesired light in an optical system}} | {{Short description|Undesired light in an optical system}} | ||
ऑप्टिकल प्रणाली में '''अवांछित प्रकाश''' हल्का होता है जो डिजाइन में अभिप्रेत नहीं था। प्रकाश इच्छित स्रोत से हो सकता है, किन्तु आशय के अतिरिक्त अन्य पथों का अनुसरण करता है, और यह अभीष्ट स्रोत के अतिरिक्त किसी अन्य स्रोत से हो सकता है। यह प्रकाश अधिकांशतः प्रणाली की गतिशील सीमा पर कार्य सीमा निर्धारित करेगा; यह संकेत से ऑडियो अनुपात या कंट्रास्ट अनुपात को सीमित करता है, यह सीमित करके कि प्रणाली कितना अंधेरा हो सकता है।<ref name="jy-stray-light">{{Cite web | |||
| title = Section 4: Optical Signal-to-Noise Ratio and Stray Light | | title = Section 4: Optical Signal-to-Noise Ratio and Stray Light | ||
| accessdate = Feb 6, 2009 | | accessdate = Feb 6, 2009 | ||
| url = http://www.jobinyvon.com/SiteResources/Data/Templates/1divisional.asp?DocID=621&v1ID=&lang= | | url = http://www.jobinyvon.com/SiteResources/Data/Templates/1divisional.asp?DocID=621&v1ID=&lang= | ||
}}</ref> | }}</ref> | ||
== ऑप्टिकल प्रणाली == | == ऑप्टिकल प्रणाली == | ||
===एकवर्णी प्रकाश=== | ===एकवर्णी प्रकाश=== | ||
ऑप्टिकल मापने वाले उपकरण जो [[मोनोक्रोमैटिक प्रकाश]] के साथ काम करते हैं, जैसे कि [[स्पेक्ट्रोफोटोमीटर]], | ऑप्टिकल मापने वाले उपकरण जो [[मोनोक्रोमैटिक प्रकाश]] के साथ काम करते हैं, जैसे कि [[स्पेक्ट्रोफोटोमीटर]], अवांछित प्रकाश को [[तरंग दैर्ध्य]] (रंगों) में प्रणाली में प्रकाश के रूप में परिभाषित करते हैं, जो उद्देश्य के अतिरिक्त होता है। अवांछित प्रकाश स्तर उपकरण के सबसे महत्वपूर्ण विशिष्टताओं में से एक है।<ref>{{cite web |url=https://www.mt.com/ch/en/home/library/white-papers/lab-analytical-instruments/stray-light-and-performance-verification.html |title=आवारा प्रकाश और प्रदर्शन सत्यापन|publisher=Mettler Toledo |accessdate=Aug 14, 2018}}</ref> उदाहरण के लिए, तीव्र, संकीर्ण अवशोषण बैंड आसानी से नमूने के वास्तविक अवशोषण से कम शिखर अवशोषण के लिए प्रकट हो सकते हैं क्योंकि नमूना के माध्यम से प्रकाश संचरण को मापने के लिए उपकरण की क्षमता अवांछित प्रकाश स्तर द्वारा सीमित होती है। इन प्रणालियों में प्रकीर्णन प्रकाश को कम करने विधि [[डबल मोनोक्रोमेटर]] का उपयोग है। संचरित अवांछित प्रकाश का संकेत के अनुपात को प्रत्येक मोनोक्रोमेटर के अनुपात के उत्पाद में कम किया जाता है, इसलिए 10<sup>−3</sup> के साथ श्रृंखला में दो मोनोक्रोमेटरों का संयोजन प्रत्येक अवांछित प्रकाश 10<sup>−6</sup> के अवांछित प्रकाश अनुपात के साथ एक प्रणाली उत्पन्न करता है मापन के लिए बहुत बड़ी गतिशील सीमा की अनुमति देता है। | ||
स्पेक्ट्रोफोटोमीटर में प्रकीर्णन प्रकाश को मापने और क्षतिपूर्ति करने के विधि भी आविष्कृत किए गए हैं।<ref name="Kaye-patent">{{Cite web | स्पेक्ट्रोफोटोमीटर में प्रकीर्णन प्रकाश को मापने और क्षतिपूर्ति करने के विधि भी आविष्कृत किए गए हैं।<ref name="Kaye-patent">{{Cite web | ||
| Line 15: | Line 15: | ||
| accessdate = Feb 6, 2009 | | accessdate = Feb 6, 2009 | ||
| url = http://www.freepatentsonline.com/4526470.html | | url = http://www.freepatentsonline.com/4526470.html | ||
}}</ref> एएसटीएम मानक ई387 स्पेक्ट्रोफोटोमीटर में | }}</ref> एएसटीएम मानक ई387 स्पेक्ट्रोफोटोमीटर में अवांछित प्रकाश का आकलन करने के विधि का वर्णन करता है।<ref name="astm-e387">{{Cite web | ||
| title = ASTM E387 -04 Standard Test Method for Estimating Stray Radiant Power Ratio of... | | title = ASTM E387 -04 Standard Test Method for Estimating Stray Radiant Power Ratio of... | ||
| accessdate = Feb 6, 2009 | | accessdate = Feb 6, 2009 | ||
| Line 21: | Line 21: | ||
}}</ref> इसके लिए वे जिन शब्दों का प्रयोग करते हैं वे हैं स्ट्रे दीप्तिमान शक्ति (एसआरपी) और स्ट्रे दीप्तिमान शक्ति अनुपात (एसआरपीआर)। | }}</ref> इसके लिए वे जिन शब्दों का प्रयोग करते हैं वे हैं स्ट्रे दीप्तिमान शक्ति (एसआरपी) और स्ट्रे दीप्तिमान शक्ति अनुपात (एसआरपीआर)। | ||
स्पेक्ट्रोफोटोमीटर में | स्पेक्ट्रोफोटोमीटर में अवांछित प्रकाश स्तर के परीक्षण में सहायता के लिए संदर्भ सामग्री के व्यावसायिक स्रोत भी हैं।<ref name="stray-light-materials">{{Cite web | ||
| title = Stray Light Reference Materials | | title = Stray Light Reference Materials | ||
| accessdate = Feb 6, 2009 | | accessdate = Feb 6, 2009 | ||
| Line 27: | Line 27: | ||
}}</ref> | }}</ref> | ||
=== खगोल विज्ञान === | === खगोल विज्ञान === | ||
[[ ऑप्टिकल खगोल विज्ञान | ऑप्टिकल खगोल विज्ञान]] में [[ आकाश-प्रदीप्ति |आकाश-प्रदीप्ति]] से | [[ ऑप्टिकल खगोल विज्ञान | ऑप्टिकल खगोल विज्ञान]] में [[ आकाश-प्रदीप्ति |आकाश-प्रदीप्ति]] से अवांछित प्रकाश अशक्त वस्तुओं का पता लगाने की क्षमता को सीमित कर सकता है। इस अर्थ में अवांछित प्रकाश अन्य स्रोतों से प्रकाश होता है जो उसी स्थान पर केंद्रित होता है जहां अशक्त वस्तु होती है। | ||
सूर्य के अवलोकन के लिए उपयोग किए जाने वाले [[कोरोनाग्राफ]] के डिजाइन में | सूर्य के अवलोकन के लिए उपयोग किए जाने वाले [[कोरोनाग्राफ]] के डिजाइन में अवांछित प्रकाश प्रमुख उद्देश्य है। | ||
== स्रोत == | == स्रोत == | ||
अवांछित प्रकाश के कई स्रोत हैं।<ref name="stray-light-design">{{Cite web | |||
| title = Stray light and ghost images – analyzed and reduced using simulation software. | | title = Stray light and ghost images – analyzed and reduced using simulation software. | ||
| accessdate = Feb 6, 2009 | | accessdate = Feb 6, 2009 | ||
| Line 43: | Line 43: | ||
*** प्रणाली के अंदर उत्पन्न स्ट्रे आईआर के प्रभाव को कम करने कि एक विधि डीसी संकेत के साथ काम करने से लेकर संकीर्ण आवृत्ति बैंड तक जाना है जहां स्ट्रे उत्सर्जन का आयाम छोटा है। यह उदाहरण के लिए [[ ऑप्टिकल हेलिकॉप्टर |ऑप्टिकल हेलिकॉप्टर]] के साथ प्रणाली में प्रवेश करने वाले स्रोत प्रकाश को संशोधित करके और पता लगाए गए स्रोत संकेत घटक को पता लगाए गए स्ट्रे घटक से अलग करके एम्पलीफायर आवृत्ति में लॉक इन एम्पलीफायर के साथ किया जा सकता है। चूंकि यह दृष्टिकोण अभी भी ससूचक की गतिशील सीमा द्वारा सीमित है। अर्थात स्ट्रे घटक इतना बड़ा नहीं होना चाहिए कि वह ससूचक को संतृप्त कर दे। | *** प्रणाली के अंदर उत्पन्न स्ट्रे आईआर के प्रभाव को कम करने कि एक विधि डीसी संकेत के साथ काम करने से लेकर संकीर्ण आवृत्ति बैंड तक जाना है जहां स्ट्रे उत्सर्जन का आयाम छोटा है। यह उदाहरण के लिए [[ ऑप्टिकल हेलिकॉप्टर |ऑप्टिकल हेलिकॉप्टर]] के साथ प्रणाली में प्रवेश करने वाले स्रोत प्रकाश को संशोधित करके और पता लगाए गए स्रोत संकेत घटक को पता लगाए गए स्ट्रे घटक से अलग करके एम्पलीफायर आवृत्ति में लॉक इन एम्पलीफायर के साथ किया जा सकता है। चूंकि यह दृष्टिकोण अभी भी ससूचक की गतिशील सीमा द्वारा सीमित है। अर्थात स्ट्रे घटक इतना बड़ा नहीं होना चाहिए कि वह ससूचक को संतृप्त कर दे। | ||
*[[ लेंस (प्रकाशिकी) | लेंस (प्रकाशिकी)]] सतहों से प्रतिबिंब। | *[[ लेंस (प्रकाशिकी) | लेंस (प्रकाशिकी)]] सतहों से प्रतिबिंब। | ||
** | **अवांछित प्रकाश को कम करने के लिए एंटी-रिफ्लेक्टिव कोटिंग्स का उपयोग किया जाता है। | ||
** नार्सिसस <ref name="narcissus">{{Cite journal | ** नार्सिसस <ref name="narcissus">{{Cite journal | ||
| title = The Narcissus effect in infrared optical scanning systems | | title = The Narcissus effect in infrared optical scanning systems | ||
| Line 59: | Line 59: | ||
*अपूर्ण दर्पण सतहों से विसरित प्रतिबिंब। | *अपूर्ण दर्पण सतहों से विसरित प्रतिबिंब। | ||
* प्रणाली के बाड़े में प्रकाश का रिसाव होता है। | * प्रणाली के बाड़े में प्रकाश का रिसाव होता है। | ||
** यह दिमाग में आने वाला पहला कारण हो सकता है, किन्तु जैसा कि यह सूची दिखाती है यह | ** यह दिमाग में आने वाला पहला कारण हो सकता है, किन्तु जैसा कि यह सूची दिखाती है यह अवांछित प्रकाश का संभवतः ही एकमात्र स्रोत है। | ||
== डिजाइन उपकरण == | == डिजाइन उपकरण == | ||
कई [[ऑप्टिकल डिजाइन]] प्रोग्राम में ऑप्टिकल प्रणाली में | कई [[ऑप्टिकल डिजाइन]] प्रोग्राम में ऑप्टिकल प्रणाली में अवांछित प्रकाश को मॉडलिंग करने की क्षमता होती है उदाहरण के लिए: | ||
* यथाशीघ्र (सॉफ्टवेयर) | * यथाशीघ्र (सॉफ्टवेयर) | ||
* [[फ्रेड सॉफ्टवेयर]]<ref name="stray-light-design" /> | * [[फ्रेड सॉफ्टवेयर]]<ref name="stray-light-design" /> | ||
| Line 68: | Line 68: | ||
* [[ट्रेसप्रो]] | * [[ट्रेसप्रो]] | ||
*[[ज़ेमैक्स]] | *[[ज़ेमैक्स]] | ||
एक डिजाइनर इस तरह के मॉडल का उपयोग अंतिम प्रणाली में | एक डिजाइनर इस तरह के मॉडल का उपयोग अंतिम प्रणाली में अवांछित प्रकाश की भविष्यवाणी और कम करने के लिए कर सकता है। | ||
== यह भी देखें == | == यह भी देखें == | ||
* [[चकाचौंध (दृष्टि)]] | * [[चकाचौंध (दृष्टि)|ग्लैर (दृष्टि)]] | ||
*[[लेंस चमकाना]] | *[[लेंस चमकाना]] | ||
* वर्णक्रमीय विद्युत वितरण | * वर्णक्रमीय विद्युत वितरण | ||
* वेइलिंग चकाचौंध | * वेइलिंग [[चकाचौंध (दृष्टि)|ग्लैर]] | ||
==संदर्भ== | ==संदर्भ== | ||
{{reflist}} | {{reflist}} | ||
[[Category:Created On 09/06/2023]] | [[Category:Created On 09/06/2023]] | ||
[[Category:Lua-based templates]] | |||
[[Category:Machine Translated Page]] | |||
[[Category:Pages with script errors]] | |||
[[Category:Templates Vigyan Ready]] | |||
[[Category:Templates that add a tracking category]] | |||
[[Category:Templates that generate short descriptions]] | |||
[[Category:Templates using TemplateData]] | |||
[[Category:ऑप्टिकल मेट्रोलॉजी]] | |||
[[Category:प्रकाश मापन]] | |||
Latest revision as of 13:06, 22 June 2023
ऑप्टिकल प्रणाली में अवांछित प्रकाश हल्का होता है जो डिजाइन में अभिप्रेत नहीं था। प्रकाश इच्छित स्रोत से हो सकता है, किन्तु आशय के अतिरिक्त अन्य पथों का अनुसरण करता है, और यह अभीष्ट स्रोत के अतिरिक्त किसी अन्य स्रोत से हो सकता है। यह प्रकाश अधिकांशतः प्रणाली की गतिशील सीमा पर कार्य सीमा निर्धारित करेगा; यह संकेत से ऑडियो अनुपात या कंट्रास्ट अनुपात को सीमित करता है, यह सीमित करके कि प्रणाली कितना अंधेरा हो सकता है।[1]
ऑप्टिकल प्रणाली
एकवर्णी प्रकाश
ऑप्टिकल मापने वाले उपकरण जो मोनोक्रोमैटिक प्रकाश के साथ काम करते हैं, जैसे कि स्पेक्ट्रोफोटोमीटर, अवांछित प्रकाश को तरंग दैर्ध्य (रंगों) में प्रणाली में प्रकाश के रूप में परिभाषित करते हैं, जो उद्देश्य के अतिरिक्त होता है। अवांछित प्रकाश स्तर उपकरण के सबसे महत्वपूर्ण विशिष्टताओं में से एक है।[2] उदाहरण के लिए, तीव्र, संकीर्ण अवशोषण बैंड आसानी से नमूने के वास्तविक अवशोषण से कम शिखर अवशोषण के लिए प्रकट हो सकते हैं क्योंकि नमूना के माध्यम से प्रकाश संचरण को मापने के लिए उपकरण की क्षमता अवांछित प्रकाश स्तर द्वारा सीमित होती है। इन प्रणालियों में प्रकीर्णन प्रकाश को कम करने विधि डबल मोनोक्रोमेटर का उपयोग है। संचरित अवांछित प्रकाश का संकेत के अनुपात को प्रत्येक मोनोक्रोमेटर के अनुपात के उत्पाद में कम किया जाता है, इसलिए 10−3 के साथ श्रृंखला में दो मोनोक्रोमेटरों का संयोजन प्रत्येक अवांछित प्रकाश 10−6 के अवांछित प्रकाश अनुपात के साथ एक प्रणाली उत्पन्न करता है मापन के लिए बहुत बड़ी गतिशील सीमा की अनुमति देता है।
स्पेक्ट्रोफोटोमीटर में प्रकीर्णन प्रकाश को मापने और क्षतिपूर्ति करने के विधि भी आविष्कृत किए गए हैं।[3] एएसटीएम मानक ई387 स्पेक्ट्रोफोटोमीटर में अवांछित प्रकाश का आकलन करने के विधि का वर्णन करता है।[4] इसके लिए वे जिन शब्दों का प्रयोग करते हैं वे हैं स्ट्रे दीप्तिमान शक्ति (एसआरपी) और स्ट्रे दीप्तिमान शक्ति अनुपात (एसआरपीआर)।
स्पेक्ट्रोफोटोमीटर में अवांछित प्रकाश स्तर के परीक्षण में सहायता के लिए संदर्भ सामग्री के व्यावसायिक स्रोत भी हैं।[5]
खगोल विज्ञान
ऑप्टिकल खगोल विज्ञान में आकाश-प्रदीप्ति से अवांछित प्रकाश अशक्त वस्तुओं का पता लगाने की क्षमता को सीमित कर सकता है। इस अर्थ में अवांछित प्रकाश अन्य स्रोतों से प्रकाश होता है जो उसी स्थान पर केंद्रित होता है जहां अशक्त वस्तु होती है।
सूर्य के अवलोकन के लिए उपयोग किए जाने वाले कोरोनाग्राफ के डिजाइन में अवांछित प्रकाश प्रमुख उद्देश्य है।
स्रोत
अवांछित प्रकाश के कई स्रोत हैं।[6] उदाहरण के लिए:
- घोस्ट आदेश विवर्तन ग्रेटिंग्स में उदाहरण के लिए शासित ग्रेटिंग्स में खांचे के अंतर में आवधिक भिन्नता के कारण ये हो सकते हैं।
- किसी तारे के प्रकाशिक पथ के साथ कणों से प्रकाशीय दूरदर्शी की ओर प्रकाश का प्रकीर्णन।
- ऑप्टिकल प्रणाली के घटकों द्वारा उत्सर्जित प्रकाश।
- थर्मल विकिरण के कारण इन्फ्रारेड ऑप्टिकल प्रणाली स्पष्ट रूप से अतिसंवेदनशील होते हैं।
- प्रणाली के अंदर उत्पन्न स्ट्रे आईआर के प्रभाव को कम करने कि एक विधि डीसी संकेत के साथ काम करने से लेकर संकीर्ण आवृत्ति बैंड तक जाना है जहां स्ट्रे उत्सर्जन का आयाम छोटा है। यह उदाहरण के लिए ऑप्टिकल हेलिकॉप्टर के साथ प्रणाली में प्रवेश करने वाले स्रोत प्रकाश को संशोधित करके और पता लगाए गए स्रोत संकेत घटक को पता लगाए गए स्ट्रे घटक से अलग करके एम्पलीफायर आवृत्ति में लॉक इन एम्पलीफायर के साथ किया जा सकता है। चूंकि यह दृष्टिकोण अभी भी ससूचक की गतिशील सीमा द्वारा सीमित है। अर्थात स्ट्रे घटक इतना बड़ा नहीं होना चाहिए कि वह ससूचक को संतृप्त कर दे।
- थर्मल विकिरण के कारण इन्फ्रारेड ऑप्टिकल प्रणाली स्पष्ट रूप से अतिसंवेदनशील होते हैं।
- लेंस (प्रकाशिकी) सतहों से प्रतिबिंब।
- अवांछित प्रकाश को कम करने के लिए एंटी-रिफ्लेक्टिव कोटिंग्स का उपयोग किया जाता है।
- नार्सिसस [7] - विशेष रूप से, इन्फ्रारेड ससूचक से थर्मल विकिरण लेंस की सतहों से स्वयं में वापस परावर्तित होता है।
- ऑप्टिकल प्रणाली के अंदर सहायक संरचनाओं की सतहों से प्रकीर्णन प्रकाश है।
- अपूर्ण दर्पण सतहों से विसरित प्रतिबिंब।
- प्रणाली के बाड़े में प्रकाश का रिसाव होता है।
- यह दिमाग में आने वाला पहला कारण हो सकता है, किन्तु जैसा कि यह सूची दिखाती है यह अवांछित प्रकाश का संभवतः ही एकमात्र स्रोत है।
डिजाइन उपकरण
कई ऑप्टिकल डिजाइन प्रोग्राम में ऑप्टिकल प्रणाली में अवांछित प्रकाश को मॉडलिंग करने की क्षमता होती है उदाहरण के लिए:
- यथाशीघ्र (सॉफ्टवेयर)
- फ्रेड सॉफ्टवेयर[6]
- सिनोप्सिस प्रकाश उपकरण
- ट्रेसप्रो
- ज़ेमैक्स
एक डिजाइनर इस तरह के मॉडल का उपयोग अंतिम प्रणाली में अवांछित प्रकाश की भविष्यवाणी और कम करने के लिए कर सकता है।
यह भी देखें
- ग्लैर (दृष्टि)
- लेंस चमकाना
- वर्णक्रमीय विद्युत वितरण
- वेइलिंग ग्लैर
संदर्भ
- ↑ "Section 4: Optical Signal-to-Noise Ratio and Stray Light". Retrieved Feb 6, 2009.
- ↑ "आवारा प्रकाश और प्रदर्शन सत्यापन". Mettler Toledo. Retrieved Aug 14, 2018.
- ↑ "Stray light measurement and compensation – Patent 4526470". Retrieved Feb 6, 2009.
- ↑ "ASTM E387 -04 Standard Test Method for Estimating Stray Radiant Power Ratio of..." Retrieved Feb 6, 2009.
- ↑ "Stray Light Reference Materials". Retrieved Feb 6, 2009.
- ↑ 6.0 6.1 "Stray light and ghost images – analyzed and reduced using simulation software" (PDF). Retrieved Feb 6, 2009. .
- ↑ Lau, A. S. (1977). "The Narcissus effect in infrared optical scanning systems". Stray-Light Problems in Optical Systems. 107: 57. Bibcode:1977SPIE..107...57L. doi:10.1117/12.964596. S2CID 122030149. .
