पेरेटो चार्ट: Difference between revisions

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[[File:Pareto.PNG|thumb|काल्पनिक डेटा का उपयोग करते हुए पेरेटो चार्ट का सरल उदाहरण जो काम पर देर से पहुंचने के कारणों की सापेक्ष आवृत्ति दिखाता है|दाएं|384पीएक्स]]'''पेरेटो चार्ट''' एक प्रकार का चार्ट है जिसमें बार और लाइन ग्राफ़ दोनों शामिल होते हैं, जहां व्यक्तिगत मान बार द्वारा अवरोही क्रम में दर्शाए जाते हैं, और संचयी कुल को लाइन द्वारा दर्शाया जाता है। चार्ट का नाम पेरेटो सिद्धांत के नाम पर रखा गया है, जो बदले में, एक प्रसिद्ध इतालवी अर्थशास्त्री [[विल्फ्रेडो पेरेटो]] के नाम पर रखा गया है।
[[File:Pareto.PNG|thumb|384पीएक्स|174x174px]]'''पेरेटो चार्ट''' एक प्रकार का चार्ट है जिसमें बार और लाइन ग्राफ़ दोनों सम्मिलित होते हैं, जहां व्यक्तिगत मान बार द्वारा अवरोही क्रम में दर्शाए जाते हैं, और संचयी कुल को लाइन द्वारा दर्शाया जाता है। चार्ट का नाम पेरेटो सिद्धांत के नाम पर रखा गया है, जो बदले में, एक प्रसिद्ध इतालवी अर्थशास्त्री [[विल्फ्रेडो पेरेटो]] के नाम पर रखा गया है।


== विवरण ==
== विवरण ==
बाईं ऊर्ध्वाधर धुरी घटना की [[आवृत्ति संभाव्यता|आवृत्ति]] है, लेकिन यह वैकल्पिक रूप से लागत या माप की किसी अन्य महत्वपूर्ण इकाई का प्रतिनिधित्व कर सकती है। सही ऊर्ध्वाधर अक्ष घटनाओं की कुल संख्या, कुल लागत, या माप की विशेष इकाई के कुल का संचयी प्रतिशत है। क्योंकि मान घटते क्रम में हैं, संचयी फ़ंक्शन एक अवतल फ़ंक्शन है। नीचे दिए गए उदाहरण को लेने के लिए, देर से आने वालों की संख्या को 78% तक कम करने के लिए, पहले तीन समस्याओं को हल करना पर्याप्त है।
बायां ऊर्ध्वाधर अक्ष घटना की [[आवृत्ति संभाव्यता|आवृत्ति]] है, लेकिन यह वैकल्पिक रूप से लागत या माप की किसी अन्य महत्वपूर्ण इकाई का प्रतिनिधित्व कर सकती है। सही ऊर्ध्वाधर अक्ष घटनाओं की कुल संख्या, कुल लागत, या माप की विशेष इकाई के कुल का संचयी प्रतिशत है। क्योंकि मान घटते क्रम में हैं, संचयी फलन एक अवतल फलन है। नीचे दिए गए उदाहरण को लेते हुए, देर से आने वालों की संख्या को 78% तक कम करने के लिए, पहली तीन समस्याओं को हल करना पर्याप्त है।


पेरेटो चार्ट का उद्देश्य कारकों के (आमतौर पर बड़े) सेट में सबसे महत्वपूर्ण को प्रकाशित करना है। [[गुणवत्ता नियंत्रण]] में, सबसे बड़े समग्र सुधार को देखने के लिए दोषों को प्राथमिकता देने के लिए पेरेटो चार्ट उपयोगी होते हैं। यह अक्सर दोषों के सबसे सामान्य स्रोतों, सबसे अधिक होने वाले प्रकार के दोष, या ग्राहकों की शिकायतों के सबसे लगातार कारणों इत्यादि का प्रतिनिधित्व करता है। [[लेलैंड विल्किंसन|विल्किंसन]] (2006) ने पेरेटो चार्ट में प्रत्येक बार के लिए सांख्यिकीय आधारित स्वीकृति सीमा (विश्वास अंतराल के समान) तैयार करने के लिए एक एल्गोरिदम तैयार किया था।<ref>{{cite journal
पेरेटो चार्ट का उद्देश्य कारकों के (सामान्यतः बड़े) समुच्चय में सबसे महत्वपूर्ण को प्रकाशित करना है। [[गुणवत्ता नियंत्रण]] में, सबसे बड़े समग्र सुधार को देखने के लिए दोषों को प्राथमिकता देने के लिए पेरेटो चार्ट उपयोगी होते हैं। यह प्रायः दोषों के सबसे सामान्य स्रोतों, सबसे अधिक होने वाले प्रकार के दोष, या ग्राहकों की शिकायतों के सबसे लगातार कारणों इत्यादि का प्रतिनिधित्व करता है। [[लेलैंड विल्किंसन|विल्किंसन]] (2006) ने पेरेटो चार्ट में प्रत्येक बार के लिए सांख्यिकीय आधारित स्वीकृति सीमा (विश्वास अंतराल के समान) तैयार करने के लिए एक एल्गोरिदम तैयार किया था।<ref>{{cite journal
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* कंट्रोल चार्ट
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* हिस्टोग्राम
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* संचयी वितरण फ़ंक्शन (सीडीएफ)
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* पेरेटो विश्लेषण
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* पेरेटो सिद्धांत
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*Pyzdek, T. (1989). ''What every engineer should know about quality control''. New York: Marcel Dekker.
*Pyzdek, T. (1989). ''What every engineer should know about quality control''. New York: Marcel Dekker.
*Vaughn, R. C. (1974). ''Quality control''. Ames, IA: Iowa State Press.
*Vaughn, R. C. (1974). ''Quality control''. Ames, IA: Iowa State Press.
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पेरेटो चार्ट
Pareto chart of titanium investment casting defects.svg
गुणवत्ता के सात मूल उपकरण में से एक
Purposeश्रेणी के अनुसार सबसे अधिक बार होने वाले दोषों का आकलन करने के लिए†
384पीएक्स

पेरेटो चार्ट एक प्रकार का चार्ट है जिसमें बार और लाइन ग्राफ़ दोनों सम्मिलित होते हैं, जहां व्यक्तिगत मान बार द्वारा अवरोही क्रम में दर्शाए जाते हैं, और संचयी कुल को लाइन द्वारा दर्शाया जाता है। चार्ट का नाम पेरेटो सिद्धांत के नाम पर रखा गया है, जो बदले में, एक प्रसिद्ध इतालवी अर्थशास्त्री विल्फ्रेडो पेरेटो के नाम पर रखा गया है।

विवरण

बायां ऊर्ध्वाधर अक्ष घटना की आवृत्ति है, लेकिन यह वैकल्पिक रूप से लागत या माप की किसी अन्य महत्वपूर्ण इकाई का प्रतिनिधित्व कर सकती है। सही ऊर्ध्वाधर अक्ष घटनाओं की कुल संख्या, कुल लागत, या माप की विशेष इकाई के कुल का संचयी प्रतिशत है। क्योंकि मान घटते क्रम में हैं, संचयी फलन एक अवतल फलन है। नीचे दिए गए उदाहरण को लेते हुए, देर से आने वालों की संख्या को 78% तक कम करने के लिए, पहली तीन समस्याओं को हल करना पर्याप्त है।

पेरेटो चार्ट का उद्देश्य कारकों के (सामान्यतः बड़े) समुच्चय में सबसे महत्वपूर्ण को प्रकाशित करना है। गुणवत्ता नियंत्रण में, सबसे बड़े समग्र सुधार को देखने के लिए दोषों को प्राथमिकता देने के लिए पेरेटो चार्ट उपयोगी होते हैं। यह प्रायः दोषों के सबसे सामान्य स्रोतों, सबसे अधिक होने वाले प्रकार के दोष, या ग्राहकों की शिकायतों के सबसे लगातार कारणों इत्यादि का प्रतिनिधित्व करता है। विल्किंसन (2006) ने पेरेटो चार्ट में प्रत्येक बार के लिए सांख्यिकीय आधारित स्वीकृति सीमा (विश्वास अंतराल के समान) तैयार करने के लिए एक एल्गोरिदम तैयार किया था।[1]

ये चार्ट सरल स्प्रेडशीट प्रोग्राम, विशेष सांख्यिकीय सॉफ़्टवेयर टूल और ऑनलाइन क्वालिटी चार्ट जेनरेटर द्वारा तैयार किए जा सकते हैं।

पेरेटो चार्ट गुणवत्ता नियंत्रण के सात मूलभूत उपकरणों में से एक है।[2][3]

यह भी देखें

संदर्भ

  1. ↑ Wilkinson, L. (2006). "Revising the Pareto Chart" (PDF). The American Statistician. 60 (4): 332–334. doi:10.1198/000313006x152243. S2CID 97936.
  2. ↑ Nancy R. Tague (2004). "सात बुनियादी गुणवत्ता उपकरण". The Quality Toolbox. Milwaukee, Wisconsin: American Society for Quality. p. 15. Retrieved 2010-02-05.
  3. ↑ "What is a Pareto Chart? Analysis & Diagram | ASQ". asq.org. Retrieved 2019-05-10.

अग्रिम पठन

  • Hart, K. M., & Hart, R. F. (1989). Quantitative methods for quality improvement. Milwaukee, WI: ASQC Quality Press. Santosh: Pre Press
  • Juran, J. M. (1962). Quality control handbook. New York: McGraw-Hill.
  • Juran, J. M., & Gryna, F. M. (1970). Quality planning and analysis. New York: McGraw-Hill.
  • Montgomery, D. C. (1985). Statistical quality control. New York: Wiley.
  • Montgomery, D. C. (1991). Design and analysis of experiments, 3rd ed. New York: Wiley.
  • Pyzdek, T. (1989). What every engineer should know about quality control. New York: Marcel Dekker.
  • Vaughn, R. C. (1974). Quality control. Ames, IA: Iowa State Press.
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