अस्थायी प्रतिसाद: Difference between revisions
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[[विद्युत अभियन्त्रण|विद्युत अभियांत्रिकी]] और [[मैकेनिकल इंजीनियरिंग|यांत्रिक अभियांत्रिकी]] में, क्षणिक प्रतिक्रिया संतुलन या [[स्थिर स्थिति (इलेक्ट्रॉनिक्स)]] से परिवर्तन के लिए एक प्रणाली की प्रतिक्रिया है। क्षणिक प्रतिक्रिया आवश्यक रूप से आकस्मिक घटनाओं से नहीं किन्तु किसी भी घटना से जुड़ी हो सकती है जो प्रणाली के संतुलन को प्रभावित करती है। [[आवेग प्रतिक्रिया]] और चरण प्रतिक्रिया विशिष्ट इनपुट (क्रमशः आवेग और चरण) के लिए क्षणिक प्रतिक्रियाएं हैं। | |||
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: गंभीर रूप से अवमंदित प्रतिक्रिया वह प्रतिक्रिया है जो कम अवमंदित हुए बिना सबसे तेजी से स्थिर-अवस्था मान तक पहुंचती है। यह [[महत्वपूर्ण बिंदु (गणित)]]गणित) से इस अर्थ में संबंधित है कि यह कम अवमंदित और [[overdamped|अति अवमंदित]] प्रतिक्रियाओं की सीमा को फैलाता है। यहाँ, अवमंदन अनुपात हमेशा एक के बराबर होता है। और आदर्श स्थितियों में स्थिर-अवस्था मान के बारे में कोई दोलन नहीं होना चाहिए। | |||
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: अति अवमंदित प्रतिक्रिया वह प्रतिक्रिया है जो स्थिर-अवस्था मान के बारे में दोलन नहीं करती है किन्तु गंभीर रूप से अवमंदित स्थितियों की तुलना में स्थिर-अवस्था तक पहुंचने में अधिक समय लेती है। यहाँ अवमंदन अनुपात से अधिक है। | |||
== गुण == | == गुण == | ||
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: | : वृद्धि समय संकेत के लिए आवश्यक समय को निर्दिष्ट निम्न मान से निर्दिष्ट उच्च मूल्य में बदलने के लिए संदर्भित करता है। सामान्यतः, ये मान चरण ऊंचाई के 10% और 90% होते हैं। | ||
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: [[ओवरशूट (सिग्नल)]] तब होता है जब कोई सिग्नल या फ़ंक्शन अपने लक्ष्य से अधिक हो जाता है। यह | : [[ओवरशूट (सिग्नल)|अतिलंघन (सिग्नल)]] तब होता है जब कोई सिग्नल या फ़ंक्शन अपने लक्ष्य से अधिक हो जाता है। यह अधिकांश [[बज रहा है (संकेत)|रिंगिंग (संकेत)]] से जुड़ा होता है। | ||
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:स्थिर-अवस्था त्रुटि वांछित अंतिम आउटपुट और वास्तविक आउटपुट के बीच का अंतर है जब प्रणाली स्थिर स्थिति में पहुंचता है, जब प्रणाली के अबाधित होने पर इसके व्यवहार के जारी रहने की | :[[स्थिर अवस्था|'''स्थिर अवस्था त्रुटि''']] | ||
:स्थिर-अवस्था त्रुटि वांछित अंतिम आउटपुट और वास्तविक आउटपुट के बीच का अंतर है जब प्रणाली स्थिर स्थिति में पहुंचता है, जब प्रणाली के अबाधित होने पर इसके व्यवहार के जारी रहने की आशा की जा सकती है।<ref>{{Cite book| title = Instrument Engineers' Handbook: Process control and optimization | first = Béla G. | last = Lipták | edition = 4th | publisher = CRC Press | year = 2003 | isbn = 0-8493-1081-4 | page = 108}}</ref> | |||
== दोलन == | == दोलन == | ||
दोलन | दोलन कमअवमंदित परिपथ या प्रणाली के लिए क्षणिक उत्तेजना के कारण होने वाला प्रभाव है। यह परिपथ या प्रवर्तन के अचानक परिवर्तन के बाद अंतिम स्थिर अवस्था (इलेक्ट्रॉनिक्स) से पहले की क्षणिक घटना है।<ref>Nilsson, James W, & Riedel, S. ''Electric Circuits, 9th Ed''. Prentice Hall, 2010, p. 271.</ref> गणितीय रूप से, इसे [[अवमंदित हार्मोनिक ऑसिलेटर]] के रूप में प्रतिरूपित किया जा सकता है। | ||
प्रारंभ करनेवाला [[वोल्ट-सेकंड बैलेंस]] और | प्रारंभ करनेवाला [[वोल्ट-सेकंड बैलेंस|वोल्ट-सेकंड संतुलन]] और संधारित्र [[एम्पीयर-सेकंड बैलेंस|एम्पीयर-सेकंड संतुलन]] ट्रांजिस्टर द्वारा परेशान हैं। ये संतुलन स्थिर-अवस्था एसी परिपथ के लिए उपयोग किए जाने वाले परिपथ विश्लेषण सरलीकरण को समाहित करते हैं।<ref>Simon Ang, Alejandro Oliva, ''Power-Switching Converters'', pp. 13–15, CRC Press, 2005 {{ISBN|0824722450}}.</ref> | ||
कंप्यूटर नेटवर्क में डिजिटल (पल्स) संकेतों में क्षणिक दोलन का उदाहरण पाया जा सकता है।<ref>Cheng, David K. ''Field and Wave Electromagnetics, 2nd Ed''. Addison-Wesley, 1989, p. 471.</ref> प्रत्येक स्पंद दो क्षणिक उत्पन्न करता है, जो दोलन वोल्टेज में अचानक वृद्धि से उत्पन्न होता है और दूसरा दोलन वोल्टेज में अचानक गिरावट से होता है। यह सामान्यतः अवांछनीय प्रभाव माना जाता है क्योंकि यह सिग्नल के उच्च और निम्न वोल्टेज में भिन्नता का परिचय देता है, जिससे अस्थिरता उत्पन्न होती है। | |||
[[विद्युत चुम्बकीय संगतता|'''विद्युत चुम्बकीय संगतता''']] | |||
स्विचिंग उपकरणों के संचालन के परिणामस्वरूप विद्युत चुम्बकीय दालें (ईएमपी) आंतरिक रूप से उत्पन्न होती हैं। इंजीनियर नाजुक उपकरणों को प्रभावित करने से बिजली में संक्रमण को रोकने के लिए [[विद्युत् दाब नियामक]] और [[वृद्धि रक्षक]] का उपयोग करते हैं। बाहरी स्रोतों में बिजली, [[स्थिरविद्युत निर्वाह]] और परमाणु [[विद्युत चुम्बकीय नाड़ी]] सम्मिलित हैं। | |||
विद्युतचुंबकीय अनुकूलता परीक्षण के अन्दर, ग्राहकों को उनके प्रदर्शन और क्षणिक हस्तक्षेप के लचीलेपन के परीक्षण के लिए जानबूझकर इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों पर प्रशासित किया जाता है। इस प्रकार के कई परीक्षण मूल स्रोत को पुन: उत्पन्न करने के प्रयास के अतिरिक्त, प्रेरित तीव्र क्षणिक दोलन को सीधे अवमंदित साइन लहर के रूप में संचालित करते हैं। अंतर्राष्ट्रीय मानक उन्हें प्रायुक्त करने के लिए उपयोग किए जाने वाले परिमाण और विधियों को परिभाषित करते हैं। | |||
विद्युत फास्ट ट्रांसिएंट (ईएफटी) परीक्षण के लिए यूरोपीय मानक [[EN-61000-4-4]] है। यूएस समकक्ष IEEE C37.90 है। ये दोनों मानक समान हैं। चुना गया मानक इच्छित बाजार पर आधारित है। | |||
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Latest revision as of 15:49, 15 September 2023
विद्युत अभियांत्रिकी और यांत्रिक अभियांत्रिकी में, क्षणिक प्रतिक्रिया संतुलन या स्थिर स्थिति (इलेक्ट्रॉनिक्स) से परिवर्तन के लिए एक प्रणाली की प्रतिक्रिया है। क्षणिक प्रतिक्रिया आवश्यक रूप से आकस्मिक घटनाओं से नहीं किन्तु किसी भी घटना से जुड़ी हो सकती है जो प्रणाली के संतुलन को प्रभावित करती है। आवेग प्रतिक्रिया और चरण प्रतिक्रिया विशिष्ट इनपुट (क्रमशः आवेग और चरण) के लिए क्षणिक प्रतिक्रियाएं हैं।
विद्युत अभियांत्रिकी में विशेष रूप से, क्षणिक प्रतिक्रिया परिपथ की अस्थायी प्रतिक्रिया होती है जो समय के साथ समाप्त हो जाती हैं।[1] इसके बाद स्थिर स्थिति प्रतिक्रिया होती है, जो बाहरी उत्तेजना प्रायुक्त होने के लंबे समय बाद परिपथ का व्यवहार है।[1]
अवमंदन
प्रतिक्रिया को तीन प्रकार के अवमंदन के रूप में वर्गीकृत किया जा सकता है जो स्थिर-अवस्था प्रतिक्रिया के संबंध में आउटपुट का वर्णन करता है।
कम अवमंदित
- कम अवमंदित प्रतिक्रिया वह है जो सड़ते हुए लिफाफे (गणित) के अन्दर दोलन करती है। जितना अधिक प्रणाली कम होता है, उतना ही अधिक दोलन और स्थिर-अवस्था तक पहुंचने में अधिक समय लगता है। यहाँ अवमंदन अनुपात हमेशा से कम होता है।
- गंभीर रूप से अवमंदित प्रतिक्रिया वह प्रतिक्रिया है जो कम अवमंदित हुए बिना सबसे तेजी से स्थिर-अवस्था मान तक पहुंचती है। यह महत्वपूर्ण बिंदु (गणित)गणित) से इस अर्थ में संबंधित है कि यह कम अवमंदित और अति अवमंदित प्रतिक्रियाओं की सीमा को फैलाता है। यहाँ, अवमंदन अनुपात हमेशा एक के बराबर होता है। और आदर्श स्थितियों में स्थिर-अवस्था मान के बारे में कोई दोलन नहीं होना चाहिए।
अति अवमंदित
- अति अवमंदित प्रतिक्रिया वह प्रतिक्रिया है जो स्थिर-अवस्था मान के बारे में दोलन नहीं करती है किन्तु गंभीर रूप से अवमंदित स्थितियों की तुलना में स्थिर-अवस्था तक पहुंचने में अधिक समय लेती है। यहाँ अवमंदन अनुपात से अधिक है।
गुण
निम्नलिखित गुणों के साथ क्षणिक प्रतिक्रिया की मात्रा निर्धारित की जा सकती है।
- वृद्धि समय
- वृद्धि समय संकेत के लिए आवश्यक समय को निर्दिष्ट निम्न मान से निर्दिष्ट उच्च मूल्य में बदलने के लिए संदर्भित करता है। सामान्यतः, ये मान चरण ऊंचाई के 10% और 90% होते हैं।
अतिलंघन
- अतिलंघन (सिग्नल) तब होता है जब कोई सिग्नल या फ़ंक्शन अपने लक्ष्य से अधिक हो जाता है। यह अधिकांश रिंगिंग (संकेत) से जुड़ा होता है।
- निपटान समय
- निपटान समय आदर्श तात्कालिक चरण इनपुट के अनुप्रयोग से उस समय तक का समय है जिस पर आउटपुट अंकित किया गया है और निर्दिष्ट त्रुटि बैंड के अन्दर बना हुआ है,[2] वह समय जिसके बाद निम्नलिखित समानता संतुष्ट होती है:
- जहाँ स्थिर-अवस्था मूल्य है, और त्रुटि बैंड की चौड़ाई को परिभाषित करता है।
- विलंब समय
- विलंब का समय वह समय है जो प्रतिक्रिया के लिए प्रारंभ में अंतिम मूल्य के आधे रास्ते तक पहुंचने के लिए आवश्यक है।[3]
- त्रुटिहीन समय
- त्रुटिहीन समय वह समय है जो प्रतिक्रिया को अतिलंघन के पहले शिखर तक पहुंचने के लिए आवश्यक है।[3]
- स्थिर अवस्था त्रुटि
- स्थिर-अवस्था त्रुटि वांछित अंतिम आउटपुट और वास्तविक आउटपुट के बीच का अंतर है जब प्रणाली स्थिर स्थिति में पहुंचता है, जब प्रणाली के अबाधित होने पर इसके व्यवहार के जारी रहने की आशा की जा सकती है।[4]
दोलन
दोलन कमअवमंदित परिपथ या प्रणाली के लिए क्षणिक उत्तेजना के कारण होने वाला प्रभाव है। यह परिपथ या प्रवर्तन के अचानक परिवर्तन के बाद अंतिम स्थिर अवस्था (इलेक्ट्रॉनिक्स) से पहले की क्षणिक घटना है।[5] गणितीय रूप से, इसे अवमंदित हार्मोनिक ऑसिलेटर के रूप में प्रतिरूपित किया जा सकता है।
प्रारंभ करनेवाला वोल्ट-सेकंड संतुलन और संधारित्र एम्पीयर-सेकंड संतुलन ट्रांजिस्टर द्वारा परेशान हैं। ये संतुलन स्थिर-अवस्था एसी परिपथ के लिए उपयोग किए जाने वाले परिपथ विश्लेषण सरलीकरण को समाहित करते हैं।[6]
कंप्यूटर नेटवर्क में डिजिटल (पल्स) संकेतों में क्षणिक दोलन का उदाहरण पाया जा सकता है।[7] प्रत्येक स्पंद दो क्षणिक उत्पन्न करता है, जो दोलन वोल्टेज में अचानक वृद्धि से उत्पन्न होता है और दूसरा दोलन वोल्टेज में अचानक गिरावट से होता है। यह सामान्यतः अवांछनीय प्रभाव माना जाता है क्योंकि यह सिग्नल के उच्च और निम्न वोल्टेज में भिन्नता का परिचय देता है, जिससे अस्थिरता उत्पन्न होती है।
स्विचिंग उपकरणों के संचालन के परिणामस्वरूप विद्युत चुम्बकीय दालें (ईएमपी) आंतरिक रूप से उत्पन्न होती हैं। इंजीनियर नाजुक उपकरणों को प्रभावित करने से बिजली में संक्रमण को रोकने के लिए विद्युत् दाब नियामक और वृद्धि रक्षक का उपयोग करते हैं। बाहरी स्रोतों में बिजली, स्थिरविद्युत निर्वाह और परमाणु विद्युत चुम्बकीय नाड़ी सम्मिलित हैं।
विद्युतचुंबकीय अनुकूलता परीक्षण के अन्दर, ग्राहकों को उनके प्रदर्शन और क्षणिक हस्तक्षेप के लचीलेपन के परीक्षण के लिए जानबूझकर इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों पर प्रशासित किया जाता है। इस प्रकार के कई परीक्षण मूल स्रोत को पुन: उत्पन्न करने के प्रयास के अतिरिक्त, प्रेरित तीव्र क्षणिक दोलन को सीधे अवमंदित साइन लहर के रूप में संचालित करते हैं। अंतर्राष्ट्रीय मानक उन्हें प्रायुक्त करने के लिए उपयोग किए जाने वाले परिमाण और विधियों को परिभाषित करते हैं।
विद्युत फास्ट ट्रांसिएंट (ईएफटी) परीक्षण के लिए यूरोपीय मानक EN-61000-4-4 है। यूएस समकक्ष IEEE C37.90 है। ये दोनों मानक समान हैं। चुना गया मानक इच्छित बाजार पर आधारित है।
यह भी देखें
संदर्भ
- ↑ 1.0 1.1 Alexander, Charles K.; Sadiku, Matthew N. O. (2012). Fundamentals of Electric Circuits. McGraw Hill. p. 276.
- ↑ Glushkov, V. M. Encyclopedia of Cybernetics (in русский) (1 ed.). Kyiv: USE. p. 624.
- ↑ 3.0 3.1 Ogata, Katsuhiko (2002). Modern Control Engineering (4 ed.). Prentice-Hall. p. 230. ISBN 0-13-043245-8.
- ↑ Lipták, Béla G. (2003). Instrument Engineers' Handbook: Process control and optimization (4th ed.). CRC Press. p. 108. ISBN 0-8493-1081-4.
- ↑ Nilsson, James W, & Riedel, S. Electric Circuits, 9th Ed. Prentice Hall, 2010, p. 271.
- ↑ Simon Ang, Alejandro Oliva, Power-Switching Converters, pp. 13–15, CRC Press, 2005 ISBN 0824722450.
- ↑ Cheng, David K. Field and Wave Electromagnetics, 2nd Ed. Addison-Wesley, 1989, p. 471.
