पूर्ण-युग्म परीक्षण: Difference between revisions

Latest revision as of 11:26, 1 November 2023

कंप्यूटर विज्ञान में, पूर्ण-युग्म परीक्षण या युग्‍मानूसार परीक्षण सॉफ़्टवेयर परीक्षण की एक संयोजी विधि है, जो एक विधि के निविष्टि प्राचलों के प्रत्येक युग्म के लिए ( विशिष्ट रूप से, एक सॉफ्टवेयर एल्गोरिथ्म (रोबोट को सिखाने के लिए प्रयुक्त अनुदेश) ), उन प्राचलों के सभी सम्भाव्य विविक्त संयोजनों का परीक्षण करता है। ध्यानपूर्वक चुने गए परीक्षण सदिशों का उपयोग करके यह प्राचल युग्म के परीक्षणों को "समानांतर" करके, सभी प्राचलों के सभी संयोजनों की संपूर्ण जाँच की तुलना में बहुत तेज़ी से किया जा सकता है।

कारण विवरण

एक प्रोग्राम में सामान्य बग (प्रोग्राम में त्रुटि) सामान्यतः या तो एक निविष्टि प्राचल या प्राचल के युग्म के बीच अंतःक्रिया से उत्प्रेरक होते हैं।^[1] तीन या अधिक प्राचलों के बीच परस्पर क्रिया वाले बग दोनों प्रगामीयतः अपेक्षाकृत सामान्य हैं ^[2] और साथ ही खोजने के लिए प्रगामीयतः अधिक मूल्यवान हैं --- इस तरह के परीक्षण में सभी संभाव्य निविष्टि के परीक्षण की सीमा होती है।^[3] इस प्रकार, सभी युग्म परीक्षण जैसे परीक्षण स्थितियों को चुनने के लिए एक संयोजी तकनीक का उपयोगी का होना-प्रसुविधा समाधान है जो कार्य-संबंधी विस्तृत सूचना से समाधान किए बिना परीक्षण स्थितियों की संख्या में महत्वपूर्ण कमी को सक्षम बनाता है।^[4] अधिकांश सख्ती से, अगर हम मानते हैं कि एक परीक्षण स्थिति में N प्राचल एक समुच्चय में दिए गए हैं {Pi}={P1,P2,......,PN | प्राचलों की परास $R(P_{i})=R_{i}$ द्वारा दी गई है। मान लेते हैं कि $|R_{i}|=n_{i}$ | हम ध्यान दें कि सभी सम्भाव्य परीक्षण स्थितियों की संख्या $\prod n_{i}$ है | यह कल्पना करना कि कोड एक समय में केवल दो प्राचल लेने वाली स्थितियों से संबंधित है, आवश्यक परीक्षण स्थितियों की संख्या को कम कर सकता है।^{[clarification needed]}

प्रदर्शित करने के लिए, मान लीजिए कि X,Y,Z प्राचल हैं। हम अनुक्रम 3 के रूप $P(X,Y,Z)$ के एक निर्धारक का उपयोग कर सकते हैं, जो सभी 3 को निविष्टि के रूप में लेता है, या बल्कि तीन अलग-अलग अनुक्रम 2 रूप के निर्धारक का उपयोग करता है $p(u,v)$ | $P(X,Y,Z)$ को $p_{xy}(X,Y),p_{yz}(Y,Z),p_{zx}(Z,X)$ के तुल्य रूप में लिखा जा सकता है ,जहाँ अल्पविराम-चिह्न किसी भी संयोजन को दर्शाता है। यदि कोड को प्राचलों के युग्म लेने वाली शर्तों के रूप में लिखा गया है, तो परास के विकल्पों का समुच्चय $X=\{n_{i}\}$ एक बहुसमुच्चय हो सकता है^{[clarification needed]}, क्योंकि विकल्पों की समान संख्या वाले अनेक प्राचल हो सकते हैं।

अधिकतम(एस) बहुसमुच्चय के अधिकतम में से एक है $S$ इस परीक्षण फलन पर युगमानूसार परीक्षण स्थितियों की संख्या होगी:- $T=max(X)\times max(X\setminus max(X))$ इसलिए, यदि $n=max(X)$ और $m=max(X\setminus max(X))$ है, तो परीक्षणों की संख्या औसतन ओ (एनएम) होती है, जहां एन और एम सबसे अधिक विकल्पों वाले दो प्राचलों में से प्रत्येक के लिए संभावनाओं की संख्या होती है, और यह संपूर्ण $\prod n_{i}$ से काफी कम हो सकता है |·

एन-वार परीक्षण

N-वार परीक्षण को युग्म-वार परीक्षण का व्यापकीकृत रूप माना जा सकता है।^{[citation needed]}

सिद्धांत समुच्चय $X=\{n_{i}\}$ पर श्रेणीकरण लागू करना है ताकि $P=\{P_{i}\}$ को भी क्रमित किया जा सके। क्रमबद्ध समुच्चय को एक $N$ टपल होने दें :-

$P_{s}=<P_{i}>\;;\;i<j\implies |R(P_{i})|<|R(P_{j})|$ अब हम समुच्चय ले सकते हैं $X(2)=\{P_{N-1},P_{N-2}\}$ और इसे युग्‍मानूसार परीक्षण कहते हैं। आगे सामान्यीकरण हम समुच्चय ले सकते हैं $X(3)=\{P_{N-1},P_{N-2},P_{N-3}\}$ और इसे तीन-वार परीक्षण कहते हैं।अंततः, हम कह सकते हैं $X(T)=\{P_{N-1},P_{N-2},...,P_{N-T}\}$ टी-वार परीक्षण।

एन-वार परीक्षण तब उपर्युक्त सूत्र से सभी सम्भाव्य संयोजन होंगे।

उदाहरण

नीचे दी गई तालिका में दिखाए गए प्राचलों पर विचार करें।

प्राचल नाम	मान 1	मान 2	मान 3	मान 4
समर्थकृत	सत्य	असत्य	-	-
चयन का प्रकार	1	2	3	-
कोटि	a	b	c	d

'समर्थकृत', 'चयन का प्रकार' और 'कोटि' में क्रमशः 2, 3 और 4 की चयन कोटि होती है। एक संपूर्ण परीक्षण में 24 परीक्षण (2 x 3 x 4) सम्मिलित होंगे। दो सबसे बड़े गुणकों (3 और 4) को गुणा करना स्पष्ट करता है कि एक युगमानूसार परीक्षणों में 12 परीक्षण सम्मिलित होंगे। माइक्रोसॉफ्ट के "सचित्र" साधन द्वारा उत्पन्न की गई युगमानूसार परीक्षण स्थिति नीचे दिखाई गई हैं।

समर्थकृत	चयन का प्रकार	कोटि
सत्य	3	a
सत्य	1	d
असत्य	1	c
असत्य	2	d
सत्य	2	c
असत्य	2	a
असत्य	1	a
असत्य	3	b
सत्य	2	b
सत्य	3	d
असत्य	3	c
सत्य	1	b

यह भी देखें

सॉफ़्टवेयर परीक्षण
ऑर्थोगोनल सरणी परीक्षण

↑ Black, Rex (2007). Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional. New York: Wiley. p. 240. ISBN 978-0-470-12790-2.
↑ Kuhn, D. Richard; Wallace, Dolores R.; Gallo, Albert M., Jr. (June 2004). "सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ" (PDF). IEEE Transactions on Software Engineering. 30 (6): 418–421. doi:10.1109/TSE.2004.24. S2CID 206778290.{{cite journal}}: CS1 maint: multiple names: authors list (link)
↑ Kuhn, D. Richard; Kacker, Raghu N.; Yu Lei (October 2010). Practical Combinatorial Testing. SP 800-142 (Report). National Institute of Standards and Technology. doi:10.6028/NIST.SP.800-142.
↑ IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. July 18, 2008. pp. 1–150. doi:10.1109/IEEESTD.2008.4578383. ISBN 978-0-7381-5746-7. {{cite book}}: |journal= ignored (help)

बाहरी संबंध

[1] Black, Rex (2007). Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional. New York: Wiley. p. 240. ISBN 978-0-470-12790-2.

[2] Kuhn, D. Richard; Wallace, Dolores R.; Gallo, Albert M., Jr. (June 2004). "सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ" (PDF). IEEE Transactions on Software Engineering. 30 (6): 418–421. doi:10.1109/TSE.2004.24. S2CID 206778290.{{cite journal}}: CS1 maint: multiple names: authors list (link)

[3] Kuhn, D. Richard; Kacker, Raghu N.; Yu Lei (October 2010). Practical Combinatorial Testing. SP 800-142 (Report). National Institute of Standards and Technology. doi:10.6028/NIST.SP.800-142.

[4] IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. July 18, 2008. pp. 1–150. doi:10.1109/IEEESTD.2008.4578383. ISBN 978-0-7381-5746-7. {{cite book}}: |journal= ignored (help)

[1]

[2]

[3]

[4]

@@ Line 1: / Line 1: @@
-[[कंप्यूटर विज्ञान]] में, '''पूर्ण-युग्म परीक्षण''' या '''युग्‍मानूसार परीक्षण''' [[ सॉफ़्टवेयर |सॉफ़्टवेयर]] परीक्षण की एक [[संयोजी]] विधि है, जो एक पद्धति के निविष्टि प्राचलों के ''प्रत्येक'' युग्म के लिए ( विशिष्ट रूप से, एक [[सॉफ्टवेयर एल्गोरिथ्म]] (रोबोट को सिखाने के लिए प्रयुक्त अनुदेश) ), उन प्राचलों के सभी सम्भाव्य विविक्त संयोजनों का परीक्षण करता है। ध्यानपूर्वक चुने गए [[परीक्षण सदिशों]] का उपयोग करके, यह प्राचल युग्म के परीक्षणों को "समानांतर" करके, सभी प्राचलों के [[सभी संयोजनों]] की संपूर्ण जाँच की तुलना में बहुत तेज़ी से किया जा सकता है।
+[[कंप्यूटर विज्ञान]] में, '''पूर्ण-युग्म परीक्षण''' या '''युग्‍मानूसार परीक्षण''' [[ सॉफ़्टवेयर |सॉफ़्टवेयर]] परीक्षण की एक [[संयोजी]] विधि है, जो एक विधि के निविष्टि प्राचलों के ''प्रत्येक'' युग्म के लिए ( विशिष्ट रूप से, एक [[सॉफ्टवेयर एल्गोरिथ्म]] (रोबोट को सिखाने के लिए प्रयुक्त अनुदेश) ), उन प्राचलों के सभी सम्भाव्य विविक्त संयोजनों का परीक्षण करता है। ध्यानपूर्वक चुने गए [[परीक्षण सदिशों]] का उपयोग करके यह प्राचल युग्म के परीक्षणों को "समानांतर" करके, सभी प्राचलों के [[सभी संयोजनों]] की संपूर्ण जाँच की तुलना में बहुत तेज़ी से किया जा सकता है।
 == कारण विवरण ==
-एक प्रोग्राम में सामान्य बग (प्रोग्राम में त्रुटि) सामान्यतः या तो एक निविष्टि प्राचल या प्राचल के युग्म के बीच अंतःक्रिया से उत्प्रेरक होते हैं।<ref>{{cite book |last=Black |first=Rex |year=2007 |title=Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional |publisher=[[John Wiley & Sons|Wiley]] |location=New York |isbn=978-0-470-12790-2 |page=240}}</ref> तीन या अधिक प्राचलों के बीच परस्पर क्रिया वाले बग दोनों प्रगामीयतः अपेक्षाकृत सामान्य हैं <ref>{{cite journal |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Wallace |first2=Dolores R. |last3=Gallo |first3=Albert M., Jr. |date=June 2004 |title=सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ|journal=IEEE Transactions on Software Engineering |volume=30 |issue=6 |pages=418–421 |url=http://csrc.nist.gov/staff/Kuhn/kuhn-wallace-gallo-04.pdf |doi=10.1109/TSE.2004.24 |s2cid=206778290 }}</ref> और साथ ही खोजने के लिए प्रगामीयतः अधिक मूल्यवान हैं --- इस तरह के परीक्षण में सभी संभाव्य निविष्टि के परीक्षण की सीमा होती है।<ref>{{cite report |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Kacker |first2=Raghu N. |author3=Yu Lei |date=October 2010 |title=Practical Combinatorial Testing. SP 800-142. |publisher=[[National Institute of Standards and Technology]] |doi=10.6028/NIST.SP.800-142|doi-access=free }}</ref> इस प्रकार, सभी युग्म परीक्षण जैसे परीक्षण स्थितियों को चुनने के लिए एक संयोजी तकनीक एक उपयोगी व्यय-प्रसुविधा समाधान है जो कार्य-संबंधी विस्तृत सूचना से समाधान किए बिना परीक्षण स्थितियों की संख्या में महत्वपूर्ण कमी को सक्षम बनाता है।<ref>{{cite book |date=July 18, 2008 |title=IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. |journal=IEEE STD 829-2008 |doi=10.1109/IEEESTD.2008.4578383 |pages=1–150 |isbn=978-0-7381-5746-7 }}</ref>
+एक प्रोग्राम में सामान्य बग (प्रोग्राम में त्रुटि) सामान्यतः या तो एक निविष्टि प्राचल या प्राचल के युग्म के बीच अंतःक्रिया से उत्प्रेरक होते हैं।<ref>{{cite book |last=Black |first=Rex |year=2007 |title=Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional |publisher=[[John Wiley & Sons|Wiley]] |location=New York |isbn=978-0-470-12790-2 |page=240}}</ref> तीन या अधिक प्राचलों के बीच परस्पर क्रिया वाले बग दोनों प्रगामीयतः अपेक्षाकृत सामान्य हैं <ref>{{cite journal |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Wallace |first2=Dolores R. |last3=Gallo |first3=Albert M., Jr. |date=June 2004 |title=सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ|journal=IEEE Transactions on Software Engineering |volume=30 |issue=6 |pages=418–421 |url=http://csrc.nist.gov/staff/Kuhn/kuhn-wallace-gallo-04.pdf |doi=10.1109/TSE.2004.24 |s2cid=206778290 }}</ref> और साथ ही खोजने के लिए प्रगामीयतः अधिक मूल्यवान हैं --- इस तरह के परीक्षण में सभी संभाव्य निविष्टि के परीक्षण की सीमा होती है।<ref>{{cite report |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Kacker |first2=Raghu N. |author3=Yu Lei |date=October 2010 |title=Practical Combinatorial Testing. SP 800-142. |publisher=[[National Institute of Standards and Technology]] |doi=10.6028/NIST.SP.800-142|doi-access=free }}</ref> इस प्रकार, सभी युग्म परीक्षण जैसे परीक्षण स्थितियों को चुनने के लिए एक संयोजी तकनीक का उपयोगी का होना-प्रसुविधा समाधान है जो कार्य-संबंधी विस्तृत सूचना से समाधान किए बिना परीक्षण स्थितियों की संख्या में महत्वपूर्ण कमी को सक्षम बनाता है।<ref>{{cite book |date=July 18, 2008 |title=IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. |journal=IEEE STD 829-2008 |doi=10.1109/IEEESTD.2008.4578383 |pages=1–150 |isbn=978-0-7381-5746-7 }}</ref>                                                                                        अधिकांश सख्ती से, अगर हम मानते हैं कि एक परीक्षण स्थिति में N प्राचल एक समुच्चय में दिए गए हैं {Pi}={P1,P2,......,P''N'' | प्राचलों की परास <math>R(P_i)= R_i</math> द्वारा दी गई है। मान लेते हैं कि  <math>|R_i|= n_i</math>| हम ध्यान दें कि सभी सम्भाव्य परीक्षण स्थितियों की संख्या <math>\prod n_i</math>है | यह कल्पना करना कि कोड एक समय में केवल दो प्राचल लेने वाली स्थितियों से संबंधित है, आवश्यक परीक्षण स्थितियों की संख्या को कम कर सकता है।{{clarify|date=March 2016|reason=This clause is not well-formed, and the extraneous comma and the ambiguous placement of "taking only two pair at a time" obscure its meaning.}}
-अधिक सख्ती से, अगर हम मानते हैं कि एक टेस्ट केस है <math>N</math> एक सेट में दिए गए प्राचलों<math>\{ P_i\} = \{ P_1 , P_2 , ... , P_N \}</math>.
-मापदंडों की सीमा द्वारा दिया जाता है <math>R(P_i)= R_i</math>.
-चलिए मान लेते हैं <math>|R_i|= n_i</math>.
-हम ध्यान दें कि सभी संभावित परीक्षण मामलों की संख्या एक है <math>\prod n_i</math>. यह कल्पना करना कि कोड एक समय में केवल दो प्राचलोंलेने वाली स्थितियों से संबंधित है, आवश्यक परीक्षण मामलों की संख्या को कम कर सकता है।{{clarify|date=March 2016|reason=This clause is not well-formed, and the extraneous comma and the ambiguous placement of "taking only two pair at a time" obscure its meaning.}}
-प्रदर्शित करने के लिए, मान लीजिए कि एक्स, वाई, जेड प्राचलोंहैं।
+प्रदर्शित करने के लिए, मान लीजिए कि X,Y,Z  प्राचल हैं।                                                हम अनुक्रम 3 के रूप <math>P(X,Y,Z) </math>के एक [[निर्धारक]] का उपयोग कर सकते हैं, जो सभी 3 को निविष्टि के रूप में लेता है, या बल्कि तीन अलग-अलग अनुक्रम 2 रूप के निर्धारक का उपयोग करता है <math> p(u,v) </math>| <math>P(X,Y,Z)</math> को <math>p_{xy}(X,Y) ,  p_{yz}(Y,Z) , p_{zx}(Z,X)</math>के तुल्य रूप में लिखा जा सकता है ,जहाँ अल्पविराम-चिह्न किसी भी संयोजन को दर्शाता है। यदि कोड को प्राचलों के युग्म लेने वाली शर्तों के रूप में लिखा गया है, तो परास के विकल्पों का समुच्चय <math>X = \{ n_i \}</math> एक [[ multiset | बहुसमुच्चय]] हो सकता है{{clarify|date=June 2012}}, क्योंकि विकल्पों की समान संख्या वाले अनेक प्राचल हो सकते हैं।
-हम प्रपत्र के एक [[विधेय (गणितीय तर्क)]] का उपयोग कर सकते हैं <math>P(X,Y,Z) </math> ऑर्डर 3 का, जो सभी 3 को इनपुट के रूप में लेता है, या बल्कि तीन अलग-अलग ऑर्डर 2 फॉर्म की भविष्यवाणी करता है <math> p(u,v) </math>. <math>P(X,Y,Z)</math> के समकक्ष रूप में लिखा जा सकता है <math>p_{xy}(X,Y) ,  p_{yz}(Y,Z) , p_{zx}(Z,X)</math> जहाँ अल्पविराम किसी भी संयोजन को दर्शाता है। यदि कोड को मापदंडों के जोड़े लेने वाली शर्तों के रूप में लिखा गया है,
-फिर श्रेणियों के विकल्पों का सेट <math>X = \{ n_i \}</math> एक [[ multiset ]] हो सकता है{{clarify|date=June 2012}}, क्योंकि विकल्पों की समान संख्या वाले अनेक प्राचलोंहो सकते हैं।
-<math>max(S)</math> मल्टीसेट के अधिकतम में से एक है <math>S</math>
+अधिकतम(एस) [[ multiset |बहुसमुच्चय]] के अधिकतम में से एक है <math>S</math> इस परीक्षण फलन पर  युगमानूसार परीक्षण स्थितियों की संख्या होगी:-<math>
-इस टेस्ट फंक्शन पर पेयर-वाइज टेस्ट केस की संख्या होगी:-
-<math>
 T =  max(X) \times max ( X \setminus max(X) )
-</math>
+</math> इसलिए, यदि <math> n = max(X) </math> और <math> m =  max ( X \setminus max(X) ) </math> है, तो परीक्षणों की संख्या औसतन ओ (एनएम) होती है, जहां एन और एम सबसे अधिक विकल्पों वाले दो प्राचलों में से प्रत्येक के लिए संभावनाओं की संख्या होती है, और यह संपूर्ण <math>\prod n_i</math>से काफी कम हो सकता है |·
-इसलिए, यदि <math> n = max(X) </math> और <math> m =  max ( X \setminus max(X) ) </math> तो परीक्षणों की संख्या आम तौर पर ओ (एनएम) होती है, जहां एन और एम सबसे अधिक विकल्पों वाले दो पैरामीटरों में से प्रत्येक के लिए संभावनाओं की संख्या होती है, और यह संपूर्ण से काफी कम हो सकती है <math>\prod n_i</math>·
 == एन-वार परीक्षण ==
-N-वार परीक्षण को युग्म-वार परीक्षण का सामान्यीकृत रूप माना जा सकता है।{{citation needed|date=July 2012}}
+N-वार परीक्षण को युग्म-वार परीक्षण का व्यापकीकृत रूप माना जा सकता है।{{citation needed|date=July 2012}}
-विचार सेट पर [[ छँटाई ]] लागू करना है  <math>X = \{ n_i \}</math> ताकि <math>P = \{ P_i \}</math> भी आदेश दिया जाता है।
+सिद्धांत समुच्चय <math>X = \{ n_i \}</math> पर [[ छँटाई |श्रेणीकरण]] लागू करना है ताकि <math>P = \{ P_i \}</math> को भी क्रमित किया जा सके। क्रमबद्ध समुच्चय को एक <math>N</math> टपल होने दें :-
-क्रमबद्ध सेट को एक होने दें  <math>N</math> टपल:-
 <math>
 P_s = <  P_i  > \;  ; \; i < j \implies |R(P_i)| < |R(P_j)|
-</math>
+</math>                                                अब हम समुच्चय ले सकते हैं <math>X(2) = \{ P_{N-1} , P_{N-2}  \}</math> और इसे युग्‍मानूसार परीक्षण कहते हैं। आगे सामान्यीकरण हम समुच्चय ले सकते हैं <math>X(3) = \{ P_{N-1} , P_{N-2} , P_{N-3}  \}</math> और इसे तीन-वार परीक्षण कहते हैं।अंततः, हम कह सकते हैं <math>X(T) = \{ P_{N-1} , P_{N-2} , ... , P_{N-T}  \}</math> टी-वार परीक्षण।
-अब हम सेट ले सकते हैं <math>X(2) = \{ P_{N-1} , P_{N-2}  \}</math> और इसे जोड़ो में परीक्षण कहते हैं।
-आगे सामान्यीकरण करते हुए हम सेट ले सकते हैं <math>X(3) = \{ P_{N-1} , P_{N-2} , P_{N-3}  \}</math> और इसे 3-वार परीक्षण कहते हैं।
-आखिरकार, हम कह सकते हैं <math>X(T) = \{ P_{N-1} , P_{N-2} , ... , P_{N-T}  \}</math> टी-वार परीक्षण।
-एन-वार परीक्षण तब उपर्युक्त सूत्र से सभी संभावित संयोजन होंगे।
+एन-वार परीक्षण तब उपर्युक्त सूत्र से सभी सम्भाव्य संयोजन होंगे।
 == उदाहरण ==
-नीचे दी गई तालिका में दिखाए गए मापदंडों पर विचार करें।
+नीचे दी गई तालिका में दिखाए गए प्राचलों पर विचार करें।
 {| class="wikitable"
 |-
-! Parameter name !! Value 1 !! Value 2 || Value 3 || Value 4
+! प्राचल नाम !! मान 1 !! मान 2 || मान 3 || मान 4
 |-
-| Enabled || True || False || - || -
+| समर्थकृत || सत्य ||असत्य
+| - || -
 |-
-| Choice type || 1 || 2 || 3 || -
+| चयन का प्रकार || 1 || 2 || 3 || -
 |-
-| Category || a || b || c || d
+| कोटि || a || b || c || d
 |}
-'सक्षम', 'पसंद का प्रकार' और 'श्रेणी' में क्रमशः 2, 3 और 4 की पसंद श्रेणी होती है। एक संपूर्ण परीक्षण में 24 परीक्षण (2 x 3 x 4) शामिल होंगे। दो सबसे बड़े मूल्यों (3 और 4) को गुणा करना इंगित करता है कि एक जोड़ी-वार परीक्षणों में 12 परीक्षण शामिल होंगे। माइक्रोसॉफ्ट के पिक्चर टूल द्वारा जनरेट किए गए पेयर वाइज टेस्ट केस नीचे दिखाए गए हैं।
+'समर्थकृत', 'चयन का प्रकार' और 'कोटि' में क्रमशः 2, 3 और 4 की चयन कोटि होती है। एक संपूर्ण परीक्षण में 24 परीक्षण (2 x 3 x 4) सम्मिलित होंगे। दो सबसे बड़े गुणकों  (3 और 4) को गुणा करना स्पष्ट करता है कि एक युगमानूसार परीक्षणों में 12 परीक्षण सम्मिलित होंगे। माइक्रोसॉफ्ट के "सचित्र" साधन द्वारा उत्पन्न की गई युगमानूसार परीक्षण स्थिति नीचे दिखाई गई हैं।
 {| class="wikitable sortable"
 |-
-! Enabled   !! Choice type  !! Category
+! समर्थकृत   !! चयन का प्रकार
+| कोटि
 |-
-| True || 3 || a
+|सत्य
+| 3 || a
 |-
-| True || 1 || d
+|सत्य
+| 1 || d
 |-
-| False || 1 || c
+|असत्य
+| 1 || c
 |-
-| False || 2 || d
+|असत्य
+| 2 || d
 |-
-| True || 2 || c
+|सत्य
+| 2 || c
 |-
-| False || 2 || a
+|असत्य
+| 2 || a
 |-
-| False || 1 || a
+|असत्य
+| 1 || a
 |-
-| False || 3 || b
+|असत्य
+| 3 || b
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+|सत्य
+| 2 || b
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+| 3 || d
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+| 3 || c
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+|सत्य
+| 1 || b
 |}
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 {{Software testing}}
-{{DEFAULTSORT:All-Pairs Testing}}[[Category: सॉफ़्टवेयर परीक्षण]] [[Category: साहचर्य]] [[Category: प्रयोगों की रूप रेखा]]
+{{DEFAULTSORT:All-Pairs Testing}}
-[[Category: Machine Translated Page]]
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-[[Category:Created On 02/03/2023]]
+[[Category:Articles prone to spam from April 2015|All-Pairs Testing]]
+[[Category:Articles with invalid date parameter in template|All-Pairs Testing]]
+[[Category:Articles with unsourced statements from July 2012|All-Pairs Testing]]
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+[[Category:Created On 02/03/2023|All-Pairs Testing]]
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+[[Category:Templates generating microformats|All-Pairs Testing]]
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+[[Category:Templates using TemplateData|All-Pairs Testing]]
+[[Category:Wikipedia articles needing clarification from June 2012|All-Pairs Testing]]
+[[Category:Wikipedia articles needing clarification from March 2016|All-Pairs Testing]]
+[[Category:Wikipedia metatemplates|All-Pairs Testing]]
+[[Category:प्रयोगों की रूप रेखा|All-Pairs Testing]]
+[[Category:साहचर्य|All-Pairs Testing]]
+[[Category:सॉफ़्टवेयर परीक्षण|All-Pairs Testing]]

v t e Software testing
The "box" approach	Black-box testing All-pairs testing Exploratory testing Fuzz testing Model-based testing Scenario testing Grey-box testing White-box testing API testing Mutation testing Static testing
Testing levels	Acceptance testing Integration testing System testing Unit testing
Testing types, techniques, and tactics	A/B testing Benchmark Compatibility testing Concolic testing Concurrent testing Conformance testing Continuous testing Destructive testing Development testing Dynamic program analysis Installation testing Regression testing Security testing Smoke testing (software) Software performance testing Symbolic execution Test automation Usability testing
See also	Graphical user interface testing Manual testing Orthogonal array testing Pair testing Soak testing Software reliability testing Stress testing Web testing

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