पीजोफोटोट्रॉनिक्स: Difference between revisions

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पीजो-फोटोट्रॉनिक प्रभाव गैर-केंद्रीय सममित अर्धचालक सामग्रियों में पीजोइलेक्ट्रिक, अर्धचालक और फोटोनिक गुणों का एक तीन-तरफा युग्मन प्रभाव है, जो पीजोइलेक्ट्रिक क्षमता (पीजोपोटेंशियल) का उपयोग करता है जो कि [[फोटोडिटेक्टर]] जैसे [[ optoelectronic ]] उपकरणों के प्रदर्शन में सुधार के लिए धातु-अर्धचालक जंक्शन या पी-एन जंक्शन पर वाहक उत्पादन, परिवहन, पृथक्करण और/या पुनर्संयोजन को नियंत्रित करने के लिए [[पीजोइलेक्ट्रिसिटी]] के साथ एक अर्धचालक पर तनाव लगाने से उत्पन्न होता है। < संदर्भ नाम = यांग गुओ वांग झांग पीपी. 6285-6291 >{{cite journal | last1=Yang | first1=Qing | last2=Guo | first2=Xin | last3=Wang | first3=Wenhui | last4=Zhang | first4=Yan | last5=Xu | first5=Sheng | last6=Lien | first6=Der Hsien | last7=Wang | first7=Zhong Lin | title=पीजो-फोटोट्रॉनिक प्रभाव द्वारा एकल ZnO माइक्रो-/नैनोवायर फोटोडिटेक्टर की संवेदनशीलता बढ़ाना| journal=ACS Nano | publisher=American Chemical Society (ACS) | volume=4 | issue=10 | date=4 October 2010 | issn=1936-0851 | doi=10.1021/nn1022878 | pages=6285–6291| pmid=20919691 |url=http://www.nanoscience.gatech.edu/paper/2010/10_ACSN_05.pdf}}</ref> [[सौर सेल]]<ref नाम = यांग गुओ झांग डिंग पीपी 4812-4817>{{cite journal | last1=Yang | first1=Ya | last2=Guo | first2=Wenxi | last3=Zhang | first3=Yan | last4=Ding | first4=Yong | last5=Wang | first5=Xue | last6=Wang | first6=Zhong Lin | title=P3HT/ZnO माइक्रो/नैनोवायर हेटेरोजंक्शन सौर कोशिकाओं के आउटपुट वोल्टेज पर पीज़ोट्रॉनिक प्रभाव|url=http://www.nanoscience.gatech.edu/paper/2011/11_NL_06.pdf| journal=Nano Letters | publisher=American Chemical Society (ACS) | volume=11 | issue=11 | date=9 November 2011 | issn=1530-6984 | doi=10.1021/nl202648p | pages=4812–4817| pmid=21961812 | bibcode=2011NanoL..11.4812Y }}</ref> और [[प्रकाश उत्सर्जक डायोड]]।<ref name= यांग वांग जू वांग पीपी. 4012-4017 >{{cite journal | last1=Yang | first1=Qing | last2=Wang | first2=Wenhui | last3=Xu | first3=Sheng | last4=Wang | first4=Zhong Lin | title=पीजो-फोटोट्रॉनिक प्रभाव द्वारा ZnO माइक्रोवायर-आधारित डायोड का प्रकाश उत्सर्जन बढ़ाना|url=http://www.nanoscience.gatech.edu/paper/2011/11_NL_05.pdf| journal=Nano Letters | publisher=American Chemical Society (ACS) | volume=11 | issue=9 | date=14 September 2011 | issn=1530-6984 | doi=10.1021/nl202619d | pages=4012–4017| pmid=21823605 | bibcode=2011NanoL..11.4012Y }}</ref> जॉर्जिया इंस्टीट्यूट ऑफ टेक्नोलॉजी में प्रोफेसर झोंग लिन वांग ने 2010 में इस आशय के मूल सिद्धांत का प्रस्ताव रखा।{{cite journal | last1=Hu | first1=Youfan | last2=Chang | first2=Yanling | last3=Fei | first3=Peng | last4=Snyder | first4=Robert L. | last5=Wang | first5=Zhong Lin | title=पीजोइलेक्ट्रिक और फोटोउत्तेजना प्रभावों को युग्मित करके ZnO माइक्रो/नैनोवायर उपकरणों के इलेक्ट्रिक परिवहन विशेषताओं को डिजाइन करना|url=http://www.nanoscience.gatech.edu/paper/2010/10_ACSN_01.pdf| journal=ACS Nano | publisher=American Chemical Society (ACS) | volume=4 | issue=2 | date=15 January 2010 | issn=1936-0851 | doi=10.1021/nn901805g | pages=1234–1240| pmid=20078071 }}</ref><ref name= वांग 2010 पीपी. 540-552 >{{cite journal | last=Wang | first=Zhong Lin | title=पीजोपोटेंशियल गेटेड नैनोवायर डिवाइस: पीजोट्रॉनिक्स और पीजो-फोटोट्रॉनिक्स|url=http://www.nanoscience.gatech.edu/paper/2010/10_NTD_02.pdf| journal=Nano Today | publisher=Elsevier BV | volume=5 | issue=6 | year=2010 | issn=1748-0132 | doi=10.1016/j.nantod.2010.10.008 | pages=540–552}}</ref>
'''पीजोफोटोट्रॉनिक्स'''(दाब- प्रकाशानुवर्ती) प्रभाव गैर-केंद्रीय सममित अर्धचालक पदार्थो में दाबविद्युत, अर्धचालक और फोटोनिक गुणों का एक तीन-तरफा युग्मन प्रभाव है। ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक उपकरणों जैसे प्रकाश संसूचक, सौर सेल और प्रकाश उत्सर्जक डायोड के बेहतर प्रदर्शन के लिए धातु-अर्धचालक संयोजन या p–n संयोजन पर वाहक उत्पादन, परिवहन, पृथक्करण या पुनर्संयोजन को नियंत्रित करके दाबविद्युत के साथ अर्धचालक पर तनाव लगाने के लिए दाबविद्युत क्षमता (दाब क्षमता) का उपयोग किया जाता है। जॉर्जिया इंस्टीट्यूट ऑफ टेक्नोलॉजी में प्रोफेसर झोंग लिन वांग ने 2010 में इस आशय के मूल सिद्धांत का प्रस्ताव रखा था। 


==तंत्र==
==प्रणाली==
[[File:Piezophototronics.png|thumb|upright=1.5|पी-एन जंक्शन के लिए [[ऊर्जा बैंड आरेख]] (ए) पीजो-चार्ज की अनुपस्थिति के साथ, और (बी, सी) क्रमशः जंक्शन पर सकारात्मक और नकारात्मक पीजो-चार्ज की उपस्थिति के साथ। लाल ठोस रेखाएं पीजोपोटेंशियल पर विचार करने वाले बैंड आरेख हैं। पीज़ोपोटेंशियल संशोधित ऊर्जा बैंड के कारण छेद इंटरफ़ेस पर फंस गए हैं, जो इलेक्ट्रॉन-छेद पुनर्संयोजन दक्षता को बढ़ाएगा।]]
[[File:Piezophototronics.png|thumb|upright=1.5|p-n संयोजन के लिए [[ऊर्जा बैंड आरेख]] (ए) दाब-संरक्षण की अनुपस्थिति के साथ, और (बी, सी) क्रमशः संयोजन पर धनात्मक और ऋणात्मक दाब-संरक्षण की उपस्थिति के साथ। लाल ठोस रेखाएं दाबक्षमता पर विचार करने वाले बैंड आरेख हैं। दाबक्षमता संशोधित ऊर्जा बैंड के कारण छिद्र संयोजन पर फंस गए हैं, जो विद्युदअणु-छिद्र पुनर्संयोजन दक्षता को बढ़ाएगा।]]
[[File:coupling.png|thumb|upright=1.5|पीज़ोइलेक्ट्रिसिटी, फोटोएक्सिटेशन और सेमीकंडक्टर गुणों के बीच तीन-तरफ़ा युग्मन दिखाने वाला योजनाबद्ध आरेख।]]जब एक [[पी-प्रकार अर्धचालक]] और एक [[एन-प्रकार अर्धचालक]] एक जंक्शन बनाते हैं, तो पी-प्रकार पक्ष में छेद और एन-प्रकार पक्ष में इलेक्ट्रॉन स्थानीय [[विद्युत क्षेत्र]] को संतुलित करने के लिए इंटरफ़ेस क्षेत्र के चारों ओर पुनर्वितरित होते हैं, जिसके परिणामस्वरूप चार्ज कमी परत होती है। जंक्शन क्षेत्र में इलेक्ट्रॉनों और छिद्रों का प्रसार और पुनर्संयोजन डिवाइस के ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक गुणों से निकटता से संबंधित है, जो स्थानीय विद्युत क्षेत्र वितरण से बहुत प्रभावित होता है। इंटरफ़ेस पर पीजो-चार्ज का अस्तित्व तीन प्रभावों का परिचय देता है: स्थानीय क्षमता के कारण स्थानीय [[इलेक्ट्रॉनिक बैंड संरचना]] में बदलाव, [[ piezoelectric ]] सेमीकंडक्टर में मौजूद ध्रुवीकरण के लिए जंक्शन क्षेत्र पर इलेक्ट्रॉनिक बैंड संरचना का झुकाव, और स्थानीय पीजो-चार्ज को संतुलित करने के लिए स्थानीय चार्ज वाहक के पुनर्वितरण के कारण चार्ज कमी परत में बदलाव। जंक्शन पर सकारात्मक पीजोइलेक्ट्रिक चार्ज ऊर्जा बैंड को कम करते हैं और नकारात्मक पीजोइलेक्ट्रिक चार्ज जंक्शन क्षेत्र के पास एन-प्रकार अर्धचालक क्षेत्र में ऊर्जा बैंड को बढ़ाते हैं। पीजोपोटेंशियल द्वारा स्थानीय बैंड में संशोधन चार्ज फंसाने के लिए प्रभावी हो सकता है ताकि इलेक्ट्रॉन-छेद पुनर्संयोजन दर को काफी हद तक बढ़ाया जा सके, जो प्रकाश उत्सर्जक डायोड की दक्षता में सुधार के लिए बहुत फायदेमंद है। इसके अलावा, झुका हुआ बैंड जंक्शन की ओर जाने वाले वाहकों की गतिशीलता को बदल देता है।
[[File:coupling.png|thumb|upright=1.5|दाब विद्युतधारा, फोटोउत्तेजना और अर्धचालक गुणों के बीच तीन-तरफ़ा युग्मन दिखाने वाला योजनाबद्ध आरेख।]]जब एक [[पी-प्रकार अर्धचालक|p-प्रकार अर्धचालक]] और एक [[एन-प्रकार अर्धचालक|n-प्रकार अर्धचालक]] एक संयोजन बनाते हैं, तो p-प्रकार पक्ष में छिद्र और n-प्रकार पक्ष में विद्युदअणु स्थानीय [[विद्युत क्षेत्र]] को संतुलित करने के लिए संयोजन क्षेत्र के चारों ओर पुनर्वितरित होते हैं, जिसके परिणामस्वरूप रिक्तिकरण परत होती है। संयोजन क्षेत्र में अणुओं और छिद्रों का प्रसार और पुनर्संयोजन उपकरण के ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक गुणों से निकटता से संबंधित है, जो स्थानीय विद्युत क्षेत्र वितरण से बहुत प्रभावित होता है। संयोजन पर दाब-संरक्षण का अस्तित्व, स्थानीय क्षमता के कारण स्थानीय [[इलेक्ट्रॉनिक बैंड संरचना|विद्युतीय बैंड संरचना]] में बदलाव,[[ piezoelectric | दाबविद्युत]] अर्धचालक में उपलब्ध ध्रुवीकरण के लिए संयोजन क्षेत्र पर विद्युतीय बैंड संरचना का झुकाव, और स्थानीय दाब-संरक्षण को संतुलित करने के लिए स्थानीय संरक्षण वाहक के पुनर्वितरण के कारण संरक्षण रिक्तिकरण परत में बदलाव जैसे तीन प्रभावों का परिचय देता है। संयोजन पर धनात्मक दाबविद्युत संरक्षण ऊर्जा बैंड को कम करते हैं और ऋणात्मक दाबविद्युत संरक्षण संयोजन क्षेत्र के पास n-प्रकार अर्धचालक क्षेत्र में ऊर्जा बैंड को बढ़ाते हैं। दाबक्षमता द्वारा स्थानीय बैंड में संशोधन संरक्षण सीमित करने के लिए प्रभावी हो सकता है ताकि विद्युदअणु-छिद्र पुनर्संयोजन दर को काफी हद तक बढ़ाया जा सके, जो प्रकाश उत्सर्जक डायोड की दक्षता में बेहतर प्रदर्शन के लिए बहुत उपयोगी है। इसके अतिरिक्त, प्रवृत्त बैंड संयोजन की ओर जाने वाले वाहकों की गतिशीलता को बदल देता है।
पीजो-फोटोट्रॉनिक्स के लिए सामग्री में तीन बुनियादी गुण होने चाहिए: पीजोइलेक्ट्रिसिटी, सेमीकंडक्टर संपत्ति, और फोटॉन उत्तेजना संपत्ति [5]विशिष्ट सामग्रियां वर्टज़ाइट संरचनाएं हैं, जैसे [[ZnO]], [[GaN]] और InN। पीजोइलेक्ट्रिसिटी, फोटोएक्सिटेशन और सेमीकंडक्टर गुणों के बीच तीन-तरफा युग्मन, जो [[पीज़ोट्रॉनिक्स]] (पीजोइलेक्ट्रिसिटी-सेमीकंडक्टर कपलिंग), पीजोफोटोनिक्स (पीजोइलेक्ट्रिक-फोटॉन एक्सिटेशन कपलिंग), ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक्स और पीजो-फोटोट्रॉनिक्स पीजोइलेक्ट्रिसिटी-सेमीकंडक्टर-फोटोएक्सिटेशन का आधार है। [[इन]] युग्मन का मूल पीज़ोइलेक्ट्रिक सामग्रियों द्वारा निर्मित पीज़ोपोटेंशियल पर निर्भर करता है।
दाब- प्रकाशानुवर्ती के लिए पदार्थ में दाब विद्युतधारा, अर्धचालक और फोटॉन उत्तेजना [5] जैसे तीन आधारभतू गुण होने चाहिए। विशिष्ट सामग्रियां वर्टज़ाइट संरचनाएं, जैसे [[ZnO]], [[GaN]] और InN होती हैं। दाब विद्युतधारा, फोटोउत्तेजना और अर्धचालक गुणों के बीच तीन-तरफा युग्मन, जो [[पीज़ोट्रॉनिक्स|दाबविद्युत]] (अर्धचालक युग्मन), दाबफोटोनिक्स (दाबविद्युत-फोटॉन उत्तेजित युग्मन), ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक और दाब-प्रकाशानुवर्ती दाब विद्युतधारा-अर्धचालक-फोटोउत्तेजना का आधार है। [[इन]] युग्मन का अन्तर्भाग दाबविद्युत सामग्रियों द्वारा निर्मित दाबक्षमता पर निर्भर करता है।


== प्रायोगिक अनुभूति ==
== प्रायोगिक अनुभूति ==
ग्राफीन और [[संक्रमण धातु डाइक्लोजेनाइड मोनोलेयर्स]] (टीएमडी) पर आधारित [[वैन डेर वाल्स हेटरोस्ट्रक्चर]] पीज़ोफोटोट्रॉनिक प्रभाव की प्राप्ति के लिए आशाजनक हैं।<ref name=":0">{{Cite journal |last=Javadi |first=Mohammad |last2=Darbari |first2=Sara |last3=Abdi |first3=Yaser |last4=Ghasemi |first4=Fooad |year=2016-05-29 |title=Realization of a Piezophototronic Device Based on Reduced Graphene Oxide/MoS2 Heterostructure |url=https://ieeexplore.ieee.org/document/7442787/ |journal=IEEE Electron Device Letters |volume=37 |issue=5 |pages=677–680 |doi=10.1109/LED.2016.2547993 |issn=1558-0563}}</ref> यह दिखाया गया है कि ग्राफीन/MoS की फोटो-प्रतिक्रिया<sub>2</sub> जंक्शन को ट्रांज़िशन मेटल डाइक्लोजेनाइड मोनोलेयर्स उपकरणों में पीज़ोफोटोट्रॉनिक प्रभाव प्रकट करने वाले तन्य तनाव के माध्यम से ट्यून किया जा सकता है।<ref name=":0" />
ग्राफीन और [[संक्रमण धातु डाइक्लोजेनाइड मोनोलेयर्स|संक्रमण धातु डाइक्लोजेनाइड एकस्तर]] (टीएमडी) पर आधारित [[वैन डेर वाल्स हेटरोस्ट्रक्चर]] दाब- प्रकाशानुवर्ती प्रभाव की प्राप्ति के लिए अनुकूल हैं।<ref name=":0">{{Cite journal |last=Javadi |first=Mohammad |last2=Darbari |first2=Sara |last3=Abdi |first3=Yaser |last4=Ghasemi |first4=Fooad |year=2016-05-29 |title=Realization of a Piezophototronic Device Based on Reduced Graphene Oxide/MoS2 Heterostructure |url=https://ieeexplore.ieee.org/document/7442787/ |journal=IEEE Electron Device Letters |volume=37 |issue=5 |pages=677–680 |doi=10.1109/LED.2016.2547993 |issn=1558-0563}}</ref> यह दर्शाया गया है कि ग्राफीन/ MoS<sub>2</sub> की फोटो-प्रतिक्रिया संयोजन को [[संक्रमण धातु डाइक्लोजेनाइड मोनोलेयर्स|संक्रमण]] [[संक्रमण धातु डाइक्लोजेनाइड मोनोलेयर्स|धातु]] डाइक्लोजेनाइड एकस्तर उपकरणों में दाब- प्रकाशानुवर्ती प्रभाव प्रकट करने वाले समायोज्य तनाव के माध्यम से संतुलित किया जा सकता है।<ref name=":0" />




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Latest revision as of 09:55, 23 August 2023

पीजोफोटोट्रॉनिक्स(दाब- प्रकाशानुवर्ती) प्रभाव गैर-केंद्रीय सममित अर्धचालक पदार्थो में दाबविद्युत, अर्धचालक और फोटोनिक गुणों का एक तीन-तरफा युग्मन प्रभाव है। ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक उपकरणों जैसे प्रकाश संसूचक, सौर सेल और प्रकाश उत्सर्जक डायोड के बेहतर प्रदर्शन के लिए धातु-अर्धचालक संयोजन या p–n संयोजन पर वाहक उत्पादन, परिवहन, पृथक्करण या पुनर्संयोजन को नियंत्रित करके दाबविद्युत के साथ अर्धचालक पर तनाव लगाने के लिए दाबविद्युत क्षमता (दाब क्षमता) का उपयोग किया जाता है। जॉर्जिया इंस्टीट्यूट ऑफ टेक्नोलॉजी में प्रोफेसर झोंग लिन वांग ने 2010 में इस आशय के मूल सिद्धांत का प्रस्ताव रखा था।

प्रणाली

p-n संयोजन के लिए ऊर्जा बैंड आरेख (ए) दाब-संरक्षण की अनुपस्थिति के साथ, और (बी, सी) क्रमशः संयोजन पर धनात्मक और ऋणात्मक दाब-संरक्षण की उपस्थिति के साथ। लाल ठोस रेखाएं दाबक्षमता पर विचार करने वाले बैंड आरेख हैं। दाबक्षमता संशोधित ऊर्जा बैंड के कारण छिद्र संयोजन पर फंस गए हैं, जो विद्युदअणु-छिद्र पुनर्संयोजन दक्षता को बढ़ाएगा।
दाब विद्युतधारा, फोटोउत्तेजना और अर्धचालक गुणों के बीच तीन-तरफ़ा युग्मन दिखाने वाला योजनाबद्ध आरेख।

जब एक p-प्रकार अर्धचालक और एक n-प्रकार अर्धचालक एक संयोजन बनाते हैं, तो p-प्रकार पक्ष में छिद्र और n-प्रकार पक्ष में विद्युदअणु स्थानीय विद्युत क्षेत्र को संतुलित करने के लिए संयोजन क्षेत्र के चारों ओर पुनर्वितरित होते हैं, जिसके परिणामस्वरूप रिक्तिकरण परत होती है। संयोजन क्षेत्र में अणुओं और छिद्रों का प्रसार और पुनर्संयोजन उपकरण के ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक गुणों से निकटता से संबंधित है, जो स्थानीय विद्युत क्षेत्र वितरण से बहुत प्रभावित होता है। संयोजन पर दाब-संरक्षण का अस्तित्व, स्थानीय क्षमता के कारण स्थानीय विद्युतीय बैंड संरचना में बदलाव, दाबविद्युत अर्धचालक में उपलब्ध ध्रुवीकरण के लिए संयोजन क्षेत्र पर विद्युतीय बैंड संरचना का झुकाव, और स्थानीय दाब-संरक्षण को संतुलित करने के लिए स्थानीय संरक्षण वाहक के पुनर्वितरण के कारण संरक्षण रिक्तिकरण परत में बदलाव जैसे तीन प्रभावों का परिचय देता है। संयोजन पर धनात्मक दाबविद्युत संरक्षण ऊर्जा बैंड को कम करते हैं और ऋणात्मक दाबविद्युत संरक्षण संयोजन क्षेत्र के पास n-प्रकार अर्धचालक क्षेत्र में ऊर्जा बैंड को बढ़ाते हैं। दाबक्षमता द्वारा स्थानीय बैंड में संशोधन संरक्षण सीमित करने के लिए प्रभावी हो सकता है ताकि विद्युदअणु-छिद्र पुनर्संयोजन दर को काफी हद तक बढ़ाया जा सके, जो प्रकाश उत्सर्जक डायोड की दक्षता में बेहतर प्रदर्शन के लिए बहुत उपयोगी है। इसके अतिरिक्त, प्रवृत्त बैंड संयोजन की ओर जाने वाले वाहकों की गतिशीलता को बदल देता है।

दाब- प्रकाशानुवर्ती के लिए पदार्थ में दाब विद्युतधारा, अर्धचालक और फोटॉन उत्तेजना [5] जैसे तीन आधारभतू गुण होने चाहिए। विशिष्ट सामग्रियां वर्टज़ाइट संरचनाएं, जैसे ZnO, GaN और InN होती हैं। दाब विद्युतधारा, फोटोउत्तेजना और अर्धचालक गुणों के बीच तीन-तरफा युग्मन, जो दाबविद्युत (अर्धचालक युग्मन), दाबफोटोनिक्स (दाबविद्युत-फोटॉन उत्तेजित युग्मन), ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक और दाब-प्रकाशानुवर्ती दाब विद्युतधारा-अर्धचालक-फोटोउत्तेजना का आधार है। इन युग्मन का अन्तर्भाग दाबविद्युत सामग्रियों द्वारा निर्मित दाबक्षमता पर निर्भर करता है।

प्रायोगिक अनुभूति

ग्राफीन और संक्रमण धातु डाइक्लोजेनाइड एकस्तर (टीएमडी) पर आधारित वैन डेर वाल्स हेटरोस्ट्रक्चर दाब- प्रकाशानुवर्ती प्रभाव की प्राप्ति के लिए अनुकूल हैं।[1] यह दर्शाया गया है कि ग्राफीन/ MoS2 की फोटो-प्रतिक्रिया संयोजन को संक्रमण धातु डाइक्लोजेनाइड एकस्तर उपकरणों में दाब- प्रकाशानुवर्ती प्रभाव प्रकट करने वाले समायोज्य तनाव के माध्यम से संतुलित किया जा सकता है।[1]


संदर्भ

  1. 1.0 1.1 Javadi, Mohammad; Darbari, Sara; Abdi, Yaser; Ghasemi, Fooad (2016-05-29). "Realization of a Piezophototronic Device Based on Reduced Graphene Oxide/MoS2 Heterostructure". IEEE Electron Device Letters. 37 (5): 677–680. doi:10.1109/LED.2016.2547993. ISSN 1558-0563.