पूर्ण-युग्म परीक्षण: Difference between revisions
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== कारण विवरण == | == कारण विवरण == | ||
एक प्रोग्राम में सामान्य बग (प्रोग्राम में त्रुटि) सामान्यतः या तो एक निविष्टि प्राचल या प्राचल के युग्म के बीच अंतःक्रिया से उत्प्रेरक होते हैं।<ref>{{cite book |last=Black |first=Rex |year=2007 |title=Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional |publisher=[[John Wiley & Sons|Wiley]] |location=New York |isbn=978-0-470-12790-2 |page=240}}</ref> तीन या अधिक प्राचलों के बीच परस्पर क्रिया वाले बग दोनों प्रगामीयतः अपेक्षाकृत सामान्य हैं <ref>{{cite journal |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Wallace |first2=Dolores R. |last3=Gallo |first3=Albert M., Jr. |date=June 2004 |title=सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ|journal=IEEE Transactions on Software Engineering |volume=30 |issue=6 |pages=418–421 |url=http://csrc.nist.gov/staff/Kuhn/kuhn-wallace-gallo-04.pdf |doi=10.1109/TSE.2004.24 |s2cid=206778290 }}</ref> और साथ ही खोजने के लिए प्रगामीयतः अधिक मूल्यवान हैं --- इस तरह के परीक्षण में सभी संभाव्य निविष्टि के परीक्षण की सीमा होती है।<ref>{{cite report |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Kacker |first2=Raghu N. |author3=Yu Lei |date=October 2010 |title=Practical Combinatorial Testing. SP 800-142. |publisher=[[National Institute of Standards and Technology]] |doi=10.6028/NIST.SP.800-142|doi-access=free }}</ref> इस प्रकार, सभी युग्म परीक्षण जैसे परीक्षण स्थितियों को चुनने के लिए एक संयोजी तकनीक का उपयोगी का होना-प्रसुविधा समाधान है जो कार्य-संबंधी विस्तृत सूचना से समाधान किए बिना परीक्षण स्थितियों की संख्या में महत्वपूर्ण कमी को सक्षम बनाता है।<ref>{{cite book |date=July 18, 2008 |title=IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. |journal=IEEE STD 829-2008 |doi=10.1109/IEEESTD.2008.4578383 |pages=1–150 |isbn=978-0-7381-5746-7 }}</ref> अधिकांश सख्ती से, अगर हम मानते हैं कि एक परीक्षण स्थिति में N प्राचल एक समुच्चय में दिए गए हैं {Pi}={P1,P2,......,P''N'' | प्राचलों की परास <math>R(P_i)= R_i</math> द्वारा दी गई है। मान लेते हैं कि <math>|R_i|= n_i</math>| | एक प्रोग्राम में सामान्य बग (प्रोग्राम में त्रुटि) सामान्यतः या तो एक निविष्टि प्राचल या प्राचल के युग्म के बीच अंतःक्रिया से उत्प्रेरक होते हैं।<ref>{{cite book |last=Black |first=Rex |year=2007 |title=Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional |publisher=[[John Wiley & Sons|Wiley]] |location=New York |isbn=978-0-470-12790-2 |page=240}}</ref> तीन या अधिक प्राचलों के बीच परस्पर क्रिया वाले बग दोनों प्रगामीयतः अपेक्षाकृत सामान्य हैं <ref>{{cite journal |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Wallace |first2=Dolores R. |last3=Gallo |first3=Albert M., Jr. |date=June 2004 |title=सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ|journal=IEEE Transactions on Software Engineering |volume=30 |issue=6 |pages=418–421 |url=http://csrc.nist.gov/staff/Kuhn/kuhn-wallace-gallo-04.pdf |doi=10.1109/TSE.2004.24 |s2cid=206778290 }}</ref> और साथ ही खोजने के लिए प्रगामीयतः अधिक मूल्यवान हैं --- इस तरह के परीक्षण में सभी संभाव्य निविष्टि के परीक्षण की सीमा होती है।<ref>{{cite report |last1=Kuhn |first1=D. Richard |last2=Kacker |first2=Raghu N. |author3=Yu Lei |date=October 2010 |title=Practical Combinatorial Testing. SP 800-142. |publisher=[[National Institute of Standards and Technology]] |doi=10.6028/NIST.SP.800-142|doi-access=free }}</ref> इस प्रकार, सभी युग्म परीक्षण जैसे परीक्षण स्थितियों को चुनने के लिए एक संयोजी तकनीक का उपयोगी का होना-प्रसुविधा समाधान है जो कार्य-संबंधी विस्तृत सूचना से समाधान किए बिना परीक्षण स्थितियों की संख्या में महत्वपूर्ण कमी को सक्षम बनाता है।<ref>{{cite book |date=July 18, 2008 |title=IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. |journal=IEEE STD 829-2008 |doi=10.1109/IEEESTD.2008.4578383 |pages=1–150 |isbn=978-0-7381-5746-7 }}</ref> अधिकांश सख्ती से, अगर हम मानते हैं कि एक परीक्षण स्थिति में N प्राचल एक समुच्चय में दिए गए हैं {Pi}={P1,P2,......,P''N'' | प्राचलों की परास <math>R(P_i)= R_i</math> द्वारा दी गई है। मान लेते हैं कि <math>|R_i|= n_i</math>| हम ध्यान दें कि सभी सम्भाव्य परीक्षण स्थितियों की संख्या <math>\prod n_i</math>है | यह कल्पना करना कि कोड एक समय में केवल दो प्राचल लेने वाली स्थितियों से संबंधित है, आवश्यक परीक्षण स्थितियों की संख्या को कम कर सकता है।{{clarify|date=March 2016|reason=This clause is not well-formed, and the extraneous comma and the ambiguous placement of "taking only two pair at a time" obscure its meaning.}} | ||
हम ध्यान दें कि सभी सम्भाव्य परीक्षण स्थितियों की संख्या <math>\prod n_i</math>है | यह कल्पना करना कि कोड एक समय में केवल दो प्राचल लेने वाली स्थितियों से संबंधित है, आवश्यक परीक्षण स्थितियों की संख्या को कम कर सकता है।{{clarify|date=March 2016|reason=This clause is not well-formed, and the extraneous comma and the ambiguous placement of "taking only two pair at a time" obscure its meaning.}} | |||
प्रदर्शित करने के लिए, मान लीजिए कि X,Y,Z प्राचल हैं। हम | प्रदर्शित करने के लिए, मान लीजिए कि X,Y,Z प्राचल हैं। हम अनुक्रम 3 के रूप <math>P(X,Y,Z) </math>के एक [[निर्धारक]] का उपयोग कर सकते हैं, जो सभी 3 को निविष्टि के रूप में लेता है, या बल्कि तीन अलग-अलग अनुक्रम 2 रूप के निर्धारक का उपयोग करता है <math> p(u,v) </math>| <math>P(X,Y,Z)</math> को <math>p_{xy}(X,Y) , p_{yz}(Y,Z) , p_{zx}(Z,X)</math>के तुल्य रूप में लिखा जा सकता है ,जहाँ अल्पविराम-चिह्न किसी भी संयोजन को दर्शाता है। यदि कोड को प्राचलों के युग्म लेने वाली शर्तों के रूप में लिखा गया है, तो परास के विकल्पों का समुच्चय <math>X = \{ n_i \}</math> एक [[ multiset | बहुसमुच्चय]] हो सकता है{{clarify|date=June 2012}}, क्योंकि विकल्पों की समान संख्या वाले अनेक प्राचल हो सकते हैं। | ||
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== एन-वार परीक्षण == | == एन-वार परीक्षण == | ||
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N-वार परीक्षण को युग्म-वार परीक्षण का व्यापकीकृत रूप माना जा सकता है।{{citation needed|date=July 2012}} | N-वार परीक्षण को युग्म-वार परीक्षण का व्यापकीकृत रूप माना जा सकता है।{{citation needed|date=July 2012}} | ||
सिद्धांत समुच्चय <math>X = \{ n_i \}</math> पर [[ छँटाई |श्रेणीकरण]] लागू करना है ताकि <math>P = \{ P_i \}</math> को भी क्रमित किया जा सके। | सिद्धांत समुच्चय <math>X = \{ n_i \}</math> पर [[ छँटाई |श्रेणीकरण]] लागू करना है ताकि <math>P = \{ P_i \}</math> को भी क्रमित किया जा सके। क्रमबद्ध समुच्चय को एक <math>N</math> टपल होने दें :- | ||
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Revision as of 23:23, 8 March 2023
कंप्यूटर विज्ञान में, पूर्ण-युग्म परीक्षण या युग्मानूसार परीक्षण सॉफ़्टवेयर परीक्षण की एक संयोजी विधि है, जो एक विधि के निविष्टि प्राचलों के प्रत्येक युग्म के लिए ( विशिष्ट रूप से, एक सॉफ्टवेयर एल्गोरिथ्म (रोबोट को सिखाने के लिए प्रयुक्त अनुदेश) ), उन प्राचलों के सभी सम्भाव्य विविक्त संयोजनों का परीक्षण करता है। ध्यानपूर्वक चुने गए परीक्षण सदिशों का उपयोग करके, यह प्राचल युग्म के परीक्षणों को "समानांतर" करके, सभी प्राचलों के सभी संयोजनों की संपूर्ण जाँच की तुलना में बहुत तेज़ी से किया जा सकता है।
कारण विवरण
एक प्रोग्राम में सामान्य बग (प्रोग्राम में त्रुटि) सामान्यतः या तो एक निविष्टि प्राचल या प्राचल के युग्म के बीच अंतःक्रिया से उत्प्रेरक होते हैं।[1] तीन या अधिक प्राचलों के बीच परस्पर क्रिया वाले बग दोनों प्रगामीयतः अपेक्षाकृत सामान्य हैं [2] और साथ ही खोजने के लिए प्रगामीयतः अधिक मूल्यवान हैं --- इस तरह के परीक्षण में सभी संभाव्य निविष्टि के परीक्षण की सीमा होती है।[3] इस प्रकार, सभी युग्म परीक्षण जैसे परीक्षण स्थितियों को चुनने के लिए एक संयोजी तकनीक का उपयोगी का होना-प्रसुविधा समाधान है जो कार्य-संबंधी विस्तृत सूचना से समाधान किए बिना परीक्षण स्थितियों की संख्या में महत्वपूर्ण कमी को सक्षम बनाता है।[4] अधिकांश सख्ती से, अगर हम मानते हैं कि एक परीक्षण स्थिति में N प्राचल एक समुच्चय में दिए गए हैं {Pi}={P1,P2,......,PN | प्राचलों की परास द्वारा दी गई है। मान लेते हैं कि | हम ध्यान दें कि सभी सम्भाव्य परीक्षण स्थितियों की संख्या है | यह कल्पना करना कि कोड एक समय में केवल दो प्राचल लेने वाली स्थितियों से संबंधित है, आवश्यक परीक्षण स्थितियों की संख्या को कम कर सकता है।[clarification needed]
प्रदर्शित करने के लिए, मान लीजिए कि X,Y,Z प्राचल हैं। हम अनुक्रम 3 के रूप के एक निर्धारक का उपयोग कर सकते हैं, जो सभी 3 को निविष्टि के रूप में लेता है, या बल्कि तीन अलग-अलग अनुक्रम 2 रूप के निर्धारक का उपयोग करता है | को के तुल्य रूप में लिखा जा सकता है ,जहाँ अल्पविराम-चिह्न किसी भी संयोजन को दर्शाता है। यदि कोड को प्राचलों के युग्म लेने वाली शर्तों के रूप में लिखा गया है, तो परास के विकल्पों का समुच्चय एक बहुसमुच्चय हो सकता है[clarification needed], क्योंकि विकल्पों की समान संख्या वाले अनेक प्राचल हो सकते हैं।
अधिकतम(एस) बहुसमुच्चय के अधिकतम में से एक है इस परीक्षण फलन पर युगमानूसार परीक्षण स्थितियों की संख्या होगी:- इसलिए, यदि और है, तो परीक्षणों की संख्या औसतन ओ (एनएम) होती है, जहां एन और एम सबसे अधिक विकल्पों वाले दो प्राचलों में से प्रत्येक के लिए संभावनाओं की संख्या होती है, और यह संपूर्ण से काफी कम हो सकता है |·
एन-वार परीक्षण
N-वार परीक्षण को युग्म-वार परीक्षण का व्यापकीकृत रूप माना जा सकता है।[citation needed]
सिद्धांत समुच्चय पर श्रेणीकरण लागू करना है ताकि को भी क्रमित किया जा सके। क्रमबद्ध समुच्चय को एक टपल होने दें :-
अब हम समुच्चय ले सकते हैं और इसे युग्मानूसार परीक्षण कहते हैं। आगे सामान्यीकरण हम समुच्चय ले सकते हैं और इसे तीन-वार परीक्षण कहते हैं।अंततः, हम कह सकते हैं टी-वार परीक्षण।
एन-वार परीक्षण तब उपर्युक्त सूत्र से सभी सम्भाव्य संयोजन होंगे।
उदाहरण
नीचे दी गई तालिका में दिखाए गए प्राचलों पर विचार करें।
| प्राचल नाम | मान 1 | मान 2 | मान 3 | मान 4 |
|---|---|---|---|---|
| समर्थकृत | सत्य | असत्य | - | - |
| चयन का प्रकार | 1 | 2 | 3 | - |
| कोटि | a | b | c | d |
'समर्थकृत', 'चयन का प्रकार' और 'कोटि' में क्रमशः 2, 3 और 4 की चयन कोटि होती है। एक संपूर्ण परीक्षण में 24 परीक्षण (2 x 3 x 4) सम्मिलित होंगे। दो सबसे बड़े गुणकों (3 और 4) को गुणा करना स्पष्ट करता है कि एक युगमानूसार परीक्षणों में 12 परीक्षण सम्मिलित होंगे। माइक्रोसॉफ्ट के "सचित्र" साधन द्वारा उत्पन्न की गई युगमानूसार परीक्षण स्थिति नीचे दिखाई गई हैं।
| समर्थकृत | चयन का प्रकार | कोटि |
|---|---|---|
| सत्य | 3 | a |
| सत्य | 1 | d |
| असत्य | 1 | c |
| असत्य | 2 | d |
| सत्य | 2 | c |
| असत्य | 2 | a |
| असत्य | 1 | a |
| असत्य | 3 | b |
| सत्य | 2 | b |
| सत्य | 3 | d |
| असत्य | 3 | c |
| सत्य | 1 | b |
यह भी देखें
- सॉफ़्टवेयर परीक्षण
- ऑर्थोगोनल सरणी परीक्षण
टिप्पणियाँ
- ↑ Black, Rex (2007). Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional. New York: Wiley. p. 240. ISBN 978-0-470-12790-2.
- ↑ Kuhn, D. Richard; Wallace, Dolores R.; Gallo, Albert M., Jr. (June 2004). "सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ" (PDF). IEEE Transactions on Software Engineering. 30 (6): 418–421. doi:10.1109/TSE.2004.24. S2CID 206778290.
{{cite journal}}: CS1 maint: multiple names: authors list (link) - ↑ Kuhn, D. Richard; Kacker, Raghu N.; Yu Lei (October 2010). Practical Combinatorial Testing. SP 800-142 (Report). National Institute of Standards and Technology. doi:10.6028/NIST.SP.800-142.
- ↑ IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. July 18, 2008. pp. 1–150. doi:10.1109/IEEESTD.2008.4578383. ISBN 978-0-7381-5746-7.
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