एक्स-रे प्रकाशिकी: Difference between revisions
m (20 revisions imported from alpha:एक्स-रे_प्रकाशिकी) |
No edit summary |
||
| Line 126: | Line 126: | ||
* {{Commons category-inline}} | * {{Commons category-inline}} | ||
* {{cite web|title=X-ray optics|url=http://www.x-ray-optics.de/index.php/en/|access-date=19 November 2019|last=Arndt Last}} | * {{cite web|title=X-ray optics|url=http://www.x-ray-optics.de/index.php/en/|access-date=19 November 2019|last=Arndt Last}} | ||
[[Category:Articles with hatnote templates targeting a nonexistent page]] | |||
[[Category: | |||
[[Category:Created On 05/04/2023]] | [[Category:Created On 05/04/2023]] | ||
[[Category:Vigyan Ready]] | [[Category:Machine Translated Page]] | ||
[[Category:Pages with script errors]] | |||
[[Category:Templates Vigyan Ready]] | |||
[[Category:Webarchive template wayback links]] | |||
[[Category:एक्स-रे| प्रकाशिकी]] | |||
[[Category:एक्स-रे इंस्ट्रूमेंटेशन| प्रकाशिकी]] | |||
[[Category:एक्स-रे खगोल विज्ञान| प्रकाशिकी]] | |||
[[Category:प्रकाशिकी]] | |||
[[Category:रेडियोग्राफ़]] | |||
Revision as of 09:56, 18 April 2023
एक्स-रे प्रकाशिकी की वह शाखा है जो दृश्य प्रकाश के अतिरिक्त एक्स-रे में परिवर्तन करती है। यह एक्स - रे स्फटिक रूप-विधा , एक्स-रे प्रतिदीप्ति, अल्प-कोण एक्स-रे विस्तृत, एक्स-रे सूक्ष्मदशंक यंत्री, एक्स-रे चरण-विषमता कल्पना जैसी अनुसंधान प्रविधियों के लिए एक्स-रे बीम पर ध्यान केंद्रित करने एवं परिवर्तन करने की अन्य प्रविधियों से संबंधित है।
चूंकि एक्स-रे एवं दृश्यमान प्रकाश दोनों विद्युत चुम्बकीय तरंगें हैं, वे उसी प्रकार से अंतरिक्ष में विस्तृत होती हैं, किन्तु एक्स-रे की अधिक आवृत्ति एवं फोटॉन ऊर्जा के कारण वे पदार्थ के साथ अधिक भिन्न प्रविधि से वार्तालाप करते हैं। दृश्यमान प्रकाश को [[लेंस (प्रकाशिकी)]] एवं दर्पणों का उपयोग करके सरलता से पुनर्निर्देशित किया जाता है, किन्तु क्योंकि सभी सामग्रियों के कठिन अपवर्तक सूचकांक का वास्तविक भाग एक्स-रे के लिए 1 के अधिक निकट है,[1] इसके अतिरिक्त वे प्रारम्भ में प्रवेश करते हैं एवं अंततः बिना दिशा परिवर्तित किये अधिकांश सामग्रियों में अवशोषित हो जाते हैं।
एक्स-रे प्रविधि
एक्स-रे को पुनर्निर्देशित करने के लिए कई भिन्न-भिन्न प्रविधियों का उपयोग किया जाता है, उनमें से अधिकांश दिशाओं को केवल मिनट कोणों से परिवर्तित करते हैं। उपयोग किया जाने वाला सबसे सरल सिद्धांत चराई घटना कोणों पर प्रतिबिंब (भौतिकी) है, या तो अधिक अल्प कोणों या बहुपरत प्रकाशिकी पर कुल बाहरी प्रतिबिंब का उपयोग किए जाने वाले अन्य सिद्धांतों में जोन प्लेट के रूप में विवर्तन एवं अंतरापृष्ठ (तरंग प्रसार) सम्मिलित हैं, यौगिक अपवर्तक लेंस में अपवर्तन, जो श्रृंखला में कई अल्प एक्स-रे लेंस का उपयोग करते हैं, अपवर्तन के मिनट सूचकांक के लिए उनकी संख्या द्वारा क्षतिपूर्ति करने के लिए, क्रिस्टल से ब्रैग प्रतिबिंब समतल या मुड़े हुए क्रिस्टल में समतल होता है।
एक्स-रे बीम प्रायः समांतरित्र होते हैं या पिनहोल का उपयोग करके आकार में अल्प होते हैं जो सरलता टंगस्टन या किसी अन्य उच्च-परमाणु संख्या वाली सामग्री से बने होते हैं। एक्स-रे वर्णक्रम के संकीर्ण भागों को क्रिस्टल द्वारा एकाधिक ब्रैग प्रतिबिंबों के अर्द्धर पर मोनोक्रोमेटर के साथ चयन किया जा सकता है। एक्स-रे वर्णक्रम को निस्पंदन (प्रकाशिकी) के माध्यम से एक्स-रे निकट करके भी परिवर्तन किया जा सकता है। यह सरलता वर्णक्रम के अर्घ्य-ऊर्जा वालेभाग को अर्घ्य कर देगा, एवं संभवतः निस्पंदन के लिए उपयोग किए जाने वाले रासायनिक तत्व के अवशोषण किनारों के ऊपर के भाग उपयोग किए जाते है।
ध्यान केंद्रित प्रकाशिकी
विश्लेषणात्मक एक्स-रे प्रविधि जैसे एक्स-रे क्रिस्टलोग्राफी, अल्प-कोण एक्स-रे विस्तृत,प्रतिदीप्ति, एक्स-रे किरणों के वर्ण-क्रम को मापने एवं एक्स - रे छवि इलैक्ट्रॉन किरणों के वर्ण-क्रम को मापने सभी उच्च एक्स-रे से लाभान्वित होते हैं। परिक्षण किये जा रहे प्रतिरूपो पर प्रवाह घनत्व एक्स-रे उत्पादक से भिन्न-भिन्न बीम पर ध्यान केंद्रित करके प्राप्त किया जाता है। प्रकाशीय घटकों को ध्यान केंद्रित करने की सीमा से उपयोग करके प्रतिरूपो पर एक्स-रे स्रोत आलोचना परिक्षण सूक्ष्मदशंक यंत्री प्रविधियों जैसे आलोचना संचरण एक्स-रे सूक्ष्मदशंक यंत्री एवं आलोचना एक्स-रे प्रतिदीप्ति छवियों के लिए भी उपयोगी है।
पॉलीकेशिका प्रकाशिकी
पॉलीकेशिकालेंस अल्प खोखले ग्लास ट्यूबों की सरणी होती हैं, जो एक्स-रे को ट्यूबों के अंदर कई बाहरी बाहरी प्रतिबिंबों के साथ निर्देशित करते हैं।[2]
सरणी को पतला किया जाता है जिससे केशिकाओं का सिरा एक्स-रे स्रोत पर एवं दूसरा प्रतिरूप पर इंगित हो।पॉलीकेशिका प्रकाशिकी अक्रोमैटिक हैं एवं इस प्रकार प्रतिदीप्ति छवियों एवं अन्य अनुप्रयोगों को अवलोकन करने के लिए उपयुक्त हैं जहां व्यापक एक्स-रे वर्णक्रम उपयोगी है। वे 0.1 से 30 कीव की फोटॉन ऊर्जा के लिए कुशलतापूर्वक एक्स-रे एकत्र करते हैं एवं एक्स-रे स्रोत से 100 MM पर पिनहोल (प्रकाशिकी) का उपयोग करके प्रवाह में 100 से 10000 का लाभ प्राप्त कर सकते हैं।[3] चूंकि केवल अधिक ही संकीर्ण कोण के अंदर केशिकाओं में प्रवेश करने वाली एक्स-रे पूर्ण रूप से आंतरिक परिलक्षित होंगी, केवल अल्प स्थान से आने वाली एक्स-रे दृष्टिगत के माध्यम से प्रेषित की जाएंगी। पॉलीकेशिका प्रकाशिकी बिंदु से दूसरे बिंदु पर छवि नहीं बना सकते हैं, इसलिए उनका उपयोग रोशनी एवं एक्स-रे संग्रह के लिए किया जाता है।
जोन प्लेट्स
ज़ोन प्लेट्स में चरण-स्थानांतरण या अवशोषित सामग्री के संकेंद्रित क्षेत्रों के साथ सब्सट्रेट होता है, जो ज़ोन के साथ बड़ी त्रिज्या होती है। ज़ोन की चौड़ाई को इस प्रकार से चित्रित किया गया है, कि प्रेषित तरंग को केंद्र देने वाले एकल बिंदु में रचनात्मक अंतरापृष्ठ मिलता है।[4] ज़ोन प्लेट्स को प्रकाश एकत्र करने के लिए सूक्ष्मदशंक यंत्र के रूप में उपयोग किया जा सकता है, किन्तु प्रत्यक्ष पूर्ण-क्षेत्र छवियों के लिए भी उपयोग किया जा सकता है। एक्स-रे सूक्ष्मदशंक यंत्र ज़ोन प्लेटें अत्यधिक रंगीन विपथन हैं एवं सरलता केवल संकीर्ण ऊर्जा अवधि के लिए चित्रित की जाती हैं, जिससे कुशल संग्रह एवं उच्च-संकल्प छवियों के लिए एकरंगा एक्स-रे होना आवश्यक हो जाता है।
यौगिक अपवर्तक लेंस
चूंकि एक्स-रे तरंग दैर्ध्य पर अपवर्तक सूचकांक 1 के इतने निकट हैं, सामान्य लेंस (प्रकाशिकी) की फोकल लंबाई अव्यावहारिक रूप से लंबी हो जाती है। इसे दूर करने के लिए, अधिक अर्घ्य वक्रता त्रिज्या वाले लेंसों का उपयोग किया जाता है, एवं उन्हें लंबी पंक्तियों में रखा जाता है, जिससे संयुक्त ध्यान केंद्रित शक्ति प्रशंसनीय हो।[5] चूंकि एक्स-रे के लिए अपवर्तक सूचकांक 1 से अर्घ्य है, इन लेंसों को ध्यान केंद्रित करने के लिए अवतल लेंस होना चाहिए, दृश्य-प्रकाश लेंस के विपरीत, जो ध्यान केंद्रित प्रभाव के लिए उत्तल लेंस हैं। वक्रता की त्रिज्या सरलता मिलीमीटर से अर्घ्य होती है, जिससे प्रयोग करने योग्य एक्स-रे बीम की चौड़ाई लगभग 1 mm हो जाती है।[6] इन समूहों में एक्स-रे के अवशोषण (विद्युत चुम्बकीय विकिरण) को अर्घ्य करने के लिए, अधिक अर्घ्य परमाणु संख्या वाली सामग्री जैसे लिथियम का सरलता उपयोग किया जाता है। चूंकि अपवर्तक सूचकांक एक्स-रे तरंग दैर्ध्य पर दृढ़ता से निर्भर करता है, ये लेंस अत्यधिक रंगीन विपथन हैं, एवं किसी भी आवेदन के लिए तरंग दैर्ध्य के साथ फोकल लम्बाई की भिन्नता को ध्यान में रखा जाना चाहिए।
प्रतिबिंब
मूल विचार परावर्तन (भौतिकी) सतह से एक्स-रे की किरण है एवं स्पेक्युलर दिशा में परावर्तित एक्स-रे की तीव्रता को मापने के लिए (घटना कोण के समान परावर्तित कोण) यह दिखाया गया है, कि परवलयिक दर्पण से प्रतिबिंब केपश्चात अतिपरवलयिक दर्पण से प्रतिबिंब के कारण एक्स-रे का ध्यान केंद्रित होता है।[7] चूंकि आने वाली एक्स-रे को दर्पण की सतह पर प्रहार करना चाहिए, इसलिए संग्रह क्षेत्र अल्प होता है। चूँकि, इसे दूसरे के अंदर दर्पणों की नेस्टिंग व्यवस्था द्वारा बढ़ाया जा सकता है।[8]
घटना की तीव्रता से परावर्तित तीव्रता का अनुपात सतह के लिए एक्स-रे परावर्तकता है। यदि इंटरफ़ेस पूरी प्रकार से तेज एवं चिकना नहीं है, तो परावर्तित तीव्रता फ्रेस्नेल परावर्तकता कानून द्वारा भविष्यवाणी की गई तीव्रता से विचलित हो जाएगी। सतह के सामान्य इंटरफ़ेस के घनत्व प्रोफ़ाइल को प्राप्त करने के लिए विचलन का विश्लेषण किया जा सकता है। कई परतों वाली फिल्मों के लिए, एक्स-रे परावर्तन तरंग दैर्ध्य के साथ दोलन दिखा सकता है, फैब्री-पेरोट इंटरफेरोमीटर के अनुरूप। फैब्री-पेरोट प्रभाव। इन दोलनों का उपयोग परत की मोटाई एवं अन्य गुणों का पता लगाने के लिए किया जा सकता है।
विचलन
एक्स-रे विवर्तन में किरण क्रिस्टल से टकराती है एवं कई विशिष्ट दिशाओं में विवर्तन होता है। विवर्तित बीम के कोण एवं तीव्रता क्रिस्टल के अंदर इलेक्ट्रॉन के त्रि-आयामी घनत्व का संकेत देते हैं। एक्स-रे विवर्तन सारणी उत्पन्न करते हैं, क्योंकि उनके तरंग दैर्ध्य में सरलता परिमाण का ही क्रम (0.1–10.0 एनएम) क्रिस्टल में परमाणु विमानों के मध्य की दूरी के समान होता है।
प्रत्येक परमाणु वृत्ताकार तरंग के रूप में आने वाली बीम की तीव्रता के अल्प से भाग को विकीर्ण करता है। यदि परमाणुओं को सममित रूप से व्यवस्थित किया जाता है (जैसा कि क्रिस्टल में पाया जाता है)। पृथक्करण d के साथ, ये गोलाकार तरंगें चरण में होंगी (रचनात्मक रूप से जोड़ें) केवल उन दिशाओं में होंगी जहां उनका पथ-लंबाई अंतर 2d sin θ पूर्णांक गुणक के समान है तरंग दैर्ध्य λ। ऐसा प्रतीत होता है कि आने वाली बीम को कोण 2θ द्वारा विक्षेपित किया गया है, जो विवर्तन सारणी में प्रतिबिंब स्थान का निर्माण करता है।
एक्स-रे विवर्तन आगे की दिशा में पुनर्वितरित का रूप है; बहिर्गामी एक्स-रे में समान ऊर्जा होती है, एवं इस प्रकार समान तरंग दैर्ध्य, आने वाली एक्स-रे के रूप में, केवल परिवर्तित दिशा के साथ इसके विपरीत, अप्रत्यास्थ पुनर्वितरितव तब होता है जब ऊर्जा को आने वाली एक्स-रे से आंतरिक-शेल इलेक्ट्रॉन में स्थानांतरित किया जाता है, जो इसे उच्च ऊर्जा स्तर तक उत्तेजित करता है। इस प्रकार के अप्रत्यास्थ पुनर्वितरित से बाहर जाने वाली किरण की ऊर्जा अर्घ्य हो जाती है (या तरंग दैर्ध्य बढ़ जाती है)। [[बेलोचदार बिखराव]] ऐसे इलेक्ट्रॉन उत्तेजना की परिक्षण के लिए उपयोगी है, किन्तु क्रिस्टल के अंदर परमाणुओं के वितरण का निर्धारण करने में नहीं होता है।
लंबी-तरंग दैर्ध्य फोटोन (जैसे कि पराबैंगनी विद्युत चुम्बकीय विकिरण) में परमाणु स्थिति निर्धारित करने के लिए पर्याप्त संकल्प नहीं होगा। दूसरे चरम पर, गामा किरण जैसे अल्प-तरंग दैर्ध्य फोटॉनों का बड़ी संख्या में उत्पादन करना कठिन होता है, ध्यान केंद्रित करना कठिन होता है, एवं पदार्थ के साथ अधिक दृढ़ता से वार्तालाप करते हैं, जिससे जोड़ी उत्पादन होता है।
इसी प्रकार के विवर्तन सारणी को इलेक्ट्रॉनों या न्यूट्रॉन को पुनर्वितरित कर बनाया जा सकता है। एक्स-रे सरलता परमाणु नाभिक से विचलित नहीं होते हैं, जबकि केवल उनके निकट के इलेक्ट्रॉनों से होते हैं।
अंतरापृष्ठ
एक्स-रे अंतरापृष्ठ (तरंग प्रसार) दो या दो से अधिक एक्स-रे तरंगों का योग (सुपरपोज़िशन सिद्धांत) है, जिसके परिणामस्वरूप नया तरंग सारणी होती है। एक्स-रे अंतरापृष्ठ सरलता उन तरंगों की वार्तालाप को संदर्भित करता है जो सहसंबद्ध (भौतिकी) हैं, या तो क्योंकि, तरंग स्रोत से आते हैं, क्योंकि उनके निकट समान या लगभग समान आवृत्ति होती है।
दो गैर-मोनोक्रोमैटिक एक्स-रे तरंगें केवल पूर्ण रूप से सुसंगतता (भौतिकी) होती हैं यदि दोनों में तरंग दैर्ध्य की समान सीमा होती है एवं प्रत्येक घटक तरंग दैर्ध्य में समान चरण (तरंगें) अंतर होते हैं।
कुल चरण अंतर पथ अंतर एवं प्रारंभिक चरण अंतर दोनों के योग से प्राप्त होता है (यदि एक्स-रे तरंगें दो या दो से अधिक विभिन्न स्रोतों से उत्पन्न होती हैं)। इसके पश्चात यह निष्कर्ष निकाला जा सकता है, कि बिंदु तक पहुंचने वाली एक्स-रे तरंगें चरण (रचनात्मक अंतरापृष्ठ) या चरण से बाहर (विनाशकारी अंतरापृष्ठ) हैं या नहीं हैं।
प्रौद्योगिकियां
एक्स-रे फोटॉनों को एक्स-रे संसूचक पर उपयुक्त स्थान पर फ़नल करने के लिए विभिन्न प्रविधियों का उपयोग किया जाता है।
- वोल्टर दूरदर्शकप में ग्रेज़िंग आपतन दर्पण,[7][9][10] या एक्स-रे सूक्ष्मदशंक यंत्र एक्स-रे प्रतिबिंब सूक्ष्मदशंक यंत्र होते है।
- जोन प्लेटें।
- बेंट क्रिस्टल।[11]
- सामान्य-घटना दर्पण बहुपरत कोटिंग्स का उपयोग कर रहे हैं।
- सामान्य घटना लेंस प्रकाशीय लेंस के जैसे होता है, जैसे कि यौगिक अपवर्तक लेंस होते है।
- सूक्ष्म संरचित प्रकाशीय सरणियाँ, अर्थात्, केशिका प्रकाशीय प्रणाली होती है।[12][13][14][15]
- कोडित एपर्चर इमेजिंग।
- मॉडुलन समापक।
- एक्स-रे वेवगाइड्स।
अधिकांश एक्स-रे प्रकाशीय तत्व (चराई-घटना दर्पण के अपवाद के साथ) अधिक अल्प होते हैं एवं उन्हें विशेष कोण (प्रकाशिकी) एवं ऊर्जा के लिए चित्रित किया जाना चाहिए, इस प्रकार अपसारी विकिरण में उनके अनुप्रयोगों को सीमित करना चाहिए। चूँकि प्रविधि तीव्र गति से उन्नत हुई है, किन्तु शोध के बाहर इसका व्यावहारिक उपयोग अभी भी सीमित है। चूँकि, मेडिकल एक्स-रे छवियों में एक्स-रे प्रकाशिकी को प्रस्तुत करने के प्रयास निरतंर हैं। उदाहरण के लिए, पारंपरिक बिखराव विरोधी ग्रिड की तुलना में मैमोग्राम छवियों के अंतर(दृष्टि) एवं छवि संकल्प दोनों को बढ़ाने में अधिक वादा दिखाने वाले अनुप्रयोगों में से है।[16] अन्य अनुप्रयोग पारंपरिक ऊर्जा निस्पंदनिंग की तुलना में अंतर-टू-शोर अनुपात में सुधार के लिए एक्स-रे बीम के ऊर्जा वितरण को अनुकूलित करना है।[17]
एक्स-रे प्रकाशिकी के लिए दर्पण
दर्पण कांच, सिरेमिक, या धातु की पन्नी से बने हो सकते हैं, जो परावर्तक परत द्वारा लेपित होते हैं।[1]एक्स-रे दर्पणों के लिए सबसे अधिक उपयोग की जाने वाली परावर्तक सामग्री सोना एवं इरिडियम हैं। इनके साथ भी क्रांतिक परावर्तन कोण ऊर्जा पर निर्भर है। 1 keV पर सोने के लिए, क्रांतिक परावर्तन कोण 2.4° होता है।[18] एक्स-रे दर्पणों के उपयोग की आवश्यकता है।
- दो आयामों में एक्स-रे फोटॉन के आगमन का स्थान निर्धारित करने की क्षमता होती है।
- उचित पहचान दक्षता होती है।।
एक्स-रे के लिए बहुपरत
अधिक अल्प चराई कोणों को त्यागकर, किसी भी सामग्री का एक्स-रे के लिए पर्याप्त प्रतिबिंब नहीं होता है। बहुपरत चरण में सुसंगत रूप से कई सीमाओं से अल्प परावर्तित आयामों को जोड़कर एकल सीमा से अल्प परावर्तकता को बढ़ाते हैं। उदाहरण के लिए, यदि किसी एकल सीमा की परावर्तकता R = 10−4 है (आयाम r = 10−2), तो 100 सीमाओं से 100 एम्पलीट्यूड का जोड़ परावर्तकता R को दे सकता है। बहुपरत की अवधि Λ जो इन-फेज जोड़ प्रदान करती है, वह इनपुट एवं आउटपुट बीम द्वारा उत्पन्न
स्थायी वेव Λ = λ/2 sin θ की है, , जहां λ तरंग दैर्ध्य है, एवं 2θ दो बीमों के मध्य अर्द्ध कोण θ = 90° है, या सामान्य आपतन पर परावर्तन के लिए, बहुपरत की अवधि Λ = λ/2 है। बहुपरत में उपयोग की जा सकने वाली सबसे अल्प अवधि परमाणुओं के आकार द्वारा लगभग 2 एनएम तक सीमित होती है, जो 4 एनएम से ऊपर तरंग दैर्ध्य के अनुरूप होती है। अर्घ्य तरंग दैर्ध्य के लिए अधिक चराई की ओर घटना कोण θ की कमी का उपयोग किया जाना है।
प्रत्येक सीमा पर उच्चतम संभव प्रतिबिंब एवं संरचना के माध्यम से सबसे अल्प अवशोषण या प्रसार देने के लिए बहुपरतों के लिए सामग्री का चयन किया जाता है। यह सरलता अन्तरक परत के लिए प्रकाश, अर्घ्य घनत्व वाली सामग्री एवं उच्च अंतर उत्पन्न करने वाली भारी सामग्री द्वारा प्राप्त किया जाता है। भारी सामग्री में अवशोषण को संरचना के अंदर स्थायी-वेव फील्ड के ग्रंथि के निकट स्थित करके अर्घ्य किया जा सकता है। अच्छी निम्न-अवशोषण अन्तरक सामग्री Be, C, B, B, C4 एवं C हैं। उत्तम अंतर वाले भारी पदार्थों के कुछ उदाहरण W, Rh, Ru एवं Mo हैं।
अनुप्रयोगों में सम्मिलित हैं।
- ईयूवी से हार्ड एक्स-रे तक दूरबीनों के लिए सामान्य एवं चराई-घटना प्रकाशिकी होती है।
- सूक्ष्मदशंक यंत्र, बीम लाइन एवं सिंक्रोट्रॉन एवं एफईएल सुविधाएं होती है।
- ईयूवी शिलामुद्रण होता है।
Mo/Si EUV शिलामुद्रण के लिए लगभग सामान्य आपतन परावर्तकों के लिए प्रयुक्त सामग्री का चयन किया जाता है।
हार्ड एक्स-रे दर्पण
परमाणु किरणों के वर्ण-क्रम को मापने के लिए दूरदर्शक ऐरे अंतरिक्ष दूरदर्शक के लिए एक्स-रे दर्पण दृष्टिगत 79 keV तक कार्य कर रहा है, जिसे बहुपरत्ड कोटिंग्स, कंप्यूटर-एडेड विनिर्माण एवं अन्य प्रविधियों का उपयोग करके बनाया गया था।[19] दर्पण की दर में गिरावट ग्लास परसिलिकॉन (W/Si) या प्लैटिनम /सिलिकन कार्बाइड (Pt/SiC) मल्टीकोटिंग का उपयोग करते हैं, जिससे वोल्टर दूरदर्शकप चित्रित की अनुमति मिलती है।[19]
यह भी देखें
- किर्कपैट्रिक-बैज दर्पण
- एक्स-रे दूरदर्शक यंत्र
- वोल्टर दूरदर्शक, एक्स-रे दूरदर्शक है जो ग्लांसिंग-इंसिडेंस दर्पण के साथ बनाया गया है।
- एक्सएमएम- न्यूटन एवं चंद्रा एक्स-रे वेधशाला, एक्स-रे प्रकाशिकी का उपयोग कर परिक्रमा करने वाली वेधशालाएं होती हैI
- एक्स-रे स्पेक्ट्रोस्कोपी, एक्स-रे फोटोइलेक्ट्रॉन स्पेक्ट्रोस्कोपी, एक्स-रे क्रिस्टलोग्राफी होती हैI
संदर्भ
- ↑ 1.0 1.1 Spiller, E. (2015). "X-Rays: Optical Elements". In Craig Hoffman; Ronald Driggers (eds.). ऑप्टिकल इंजीनियरिंग का विश्वकोश (2nd ed.). Taylor & Francis. doi:10.1081/E-EOE2. ISBN 978-1-351-24718-4.
- ↑ MacDonald, Carolyn A. (2010). "Focusing Polycapillary Optics and Their Applications". X-Ray Optics and Instrumentation. 2010: 1–17. Bibcode:2010XROI.2010E..11M. doi:10.1155/2010/867049.
- ↑ "Polycapillary Focusing Optics – X-Ray". XOS. Retrieved 2016-12-13.
- ↑ "Zone Plates". एक्स-रे डेटा बुकलेट. Center for X-ray Optics and Advanced Light Source. Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved 13 January 2015.
- ↑ Snigirev, A. (1998). "Focusing high-energy x rays by compound refractive lenses". Applied Optics. 37 (4): 653–662. Bibcode:1998ApOpt..37..653S. doi:10.1364/AO.37.000653. PMID 18268637.
- ↑ "Compound refractive X-ray optics (CRLs)". X-ray-Optics.de. Retrieved 2016-12-14.
- ↑ 7.0 7.1 Rob Petre. "एक्स-रे इमेजिंग सिस्टम". NASA.
- ↑ Bradt, Hale (2007). खगोल विज्ञान के तरीके. Cambridge, UK: Cambridge University Press. p. 106. ISBN 978-0-521-53551-9.
- ↑ Wolter, H. (1952). "एक्स-रे के लिए इमेजिंग ऑप्टिक्स के रूप में ग्लांसिंग इंसिडेंस मिरर सिस्टम". Annalen der Physik. 10 (1): 94. Bibcode:1952AnP...445...94W. doi:10.1002/andp.19524450108.
- ↑ Wolter, H. (1952). "Verallgemeinerte Schwarzschildsche Spiegelsysteme streifender Reflexion als Optiken für Röntgenstrahlen". Annalen der Physik. 10 (4–5): 286–295. Bibcode:1952AnP...445..286W. doi:10.1002/andp.19524450410.
- ↑ Pikuz, T. A.; Faenov, A. Ya.; Fraenkel, M.; Zigler, A.; Flora, F.; Bollanti, S.; Di Lazzaro, P.; Letardi, T.; Grilli, A.; Palladino, L.; Tomassetti, G.; Reale, A.; Reale, L.; Scafati, A.; Limongi, T.; Bonfigli, F.; Alainelli, L.; Sanchez del Rio, M. (2000). ब्रैग कोणों की विस्तृत श्रृंखला के लिए उच्च-रिज़ॉल्यूशन, बड़े-क्षेत्र, मोनोक्रोमैटिक एक्स-रे बैकलाइटिंग इमेजिंग प्राप्त करने के लिए गोलाकार रूप से मुड़े हुए क्रिस्टल का उपयोग करना. 27th IEEE International Conference on Plasma Science. p. 183. doi:10.1109/PLASMA.2000.854969.
- ↑ Kumakhov, M. A. (1990). "फोटॉन और नए एक्स-रे ऑप्टिक्स की चैनलिंग". Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B. 48 (1–4): 283–286. Bibcode:1990NIMPB..48..283K. doi:10.1016/0168-583X(90)90123-C.
- ↑ Dabagov, SB (2003). "सूक्ष्म और नैनोकेशिकाओं में तटस्थ कणों का चैनलिंग". Physics-Uspekhi. 46 (10): 1053–1075. Bibcode:2003PhyU...46.1053D. doi:10.1070/PU2003v046n10ABEH001639. S2CID 115277219.
- ↑ An introduction to X-Ray Optics.
- ↑ Polycapillary Optics.
- ↑ Fredenberg, Erik; Cederström, Björn; Åslund, Magnus; Nillius, Peter; Danielsson, Mats (27 January 2009). "एक्स-रे लेंस पर आधारित एक कुशल प्री-ऑब्जेक्ट कोलिमेटर". Medical Physics. 36 (2): 626–633. arXiv:2101.07788. Bibcode:2009MedPh..36..626F. doi:10.1118/1.3062926. PMID 19292003. S2CID 44470446.
- ↑ Fredenberg, Erik; Cederström, Björn; Nillius, Peter; Ribbing, Carolina; Karlsson, Staffan; Danielsson, Mats (2009). "छोटे पैमाने के अनुप्रयोगों के लिए एक कम अवशोषण वाला एक्स-रे ऊर्जा फ़िल्टर". Optics Express. 17 (14): 11388–11398. Bibcode:2009OExpr..1711388F. doi:10.1364/OE.17.011388. PMID 19582053.
- ↑ "पदार्थ के साथ सीएक्सआरओ एक्स-रे इंटरेक्शन". henke.lbl.gov. Retrieved 2016-02-19.
- ↑ 19.0 19.1 NuStar: Instrumentation: Optics. Archived 1 November 2010 at the Wayback Machine
बाहरी संबंध
Media related to एक्स-रे प्रकाशिकी at Wikimedia Commons- Arndt Last. "X-ray optics". Retrieved 19 November 2019.
