ऋणात्मक अभिरंजन: Difference between revisions
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संचरण [[इलेक्ट्रॉन]] सूक्ष्मदर्शिकी की स्थिति में, इलेक्ट्रॉनों की अपारदर्शिता परमाणु संख्या, अर्थात प्रोटॉन की संख्या से संबंधित है। कुछ उपयुक्त ऋणात्मक दागों में [[अमोनियम मोलिब्डेट]], [[यूरेनिल एसीटेट]], [[यूरेनिल फॉर्मेट]], [[फॉस्फोटुंगस्टिक एसिड|फॉस्फोटुंगस्टिक अम्ल]], [[आज़मियम टेट्रोक्साइड]], ऑस्मियम फेरिकैनाइड और ऑरोग्लुकोथियोनेट सम्मिलित हैं।<ref>{{cite book| title = चिकनी पेशी में सार्कोप्लाज्मिक रेटिकुलम की भूमिका| author = D. Chadwick| publisher = John Wiley and Sons| year = 2002| isbn = 0-470-84479-5| pages = [https://archive.org/details/roleofsarcoplasm0000unse/page/259 259–264]| url-access = registration| url = https://archive.org/details/roleofsarcoplasm0000unse/page/259}}</ref> इन्हें इसलिए चुना गया है क्योंकि ये इलेक्ट्रॉनों को मजबूती से बिखेरते हैं और जैविक पदार्थों को भी अच्छी तरह से अवशोषित करते हैं। जो संरचनाएं ऋणात्मक रूप से अभिरंजित हो सकती हैं, वे प्रकाश सूक्ष्मदर्शी से अध्ययन किए गए संरचनाओं की तुलना में बहुत छोटी हैं। यहां, विधि का उपयोग वायरस, बैक्टीरिया, बैक्टीरियल [[कशाभिका]], [[जैविक झिल्ली]] संरचनाओं और [[प्रोटीन]] या प्रोटीन समुच्चय को देखने के लिए किया जाता है, जिनमें सभी की इलेक्ट्रॉन-प्रकीर्णन सामर्थ्य कम होती है। कुछ दाग, जैसे ऑस्मियम टेट्रोक्साइड और ऑस्मियम फेरिकैनाइड, रासायनिक रूप से बहुत सक्रिय होते हैं। मजबूत ऑक्सीडेंट के रूप में, वे मुख्य रूप से असंतृप्त कार्बन-कार्बन बांड के साथ प्रतिक्रिया करके लिपिड को क्रॉस-लिंक करते हैं, और इस प्रकार दोनों ऊतक के प्रतिदर्शों में जैविक झिल्ली को ठीक करते हैं और साथ ही उन्हें दाग देते हैं।<ref name="Bozzola">{{cite book|isbn = 978-0-7637-0192-5|chapter = Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy|pages = 21–31|chapter-url = https://books.google.com/books?id=RqSMzR-IXk0C&pg=PA21|first = John J.|last = Bozzola|author2=Russell, Lonnie D.| year = 1999|publisher = Jones and Bartlett|location = Sudbury, Mass.|title = Electron microscopy : principles and techniques for biologists}}</ref><ref>{{cite book| pages = 45–61| url = https://books.google.com/books?id=nfsVMH8it1kC| title = Principles and techniques of electron microscopy: biological applications| author = M. A. Hayat | |||
| publisher = Cambridge University Press| year = 2000| isbn = 0-521-63287-0}}</ref> | |||
[[इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी|इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शिकी]] में ऋणात्मक दाग का चुनाव बहुत महत्वपूर्ण हो सकता है। एक रोगग्रस्त पौधे से ऋणात्मक रूप से दाग वाले पत्तों के डिप्स का उपयोग करने वाले पादप विषाणुओं के एक प्रारंभिक अध्ययन में एक दाग के साथ केवल गोलाकार विषाणु और दूसरे के साथ केवल छड़ के आकार के विषाणु दिखाई दिए। सत्यापित निष्कर्ष यह था कि यह पौधा दो अलग-अलग विषाणुओं के मिश्रित [[संक्रमण]] से पीड़ित था। जब तक कड़ी सुरक्षा सावधानियों का पालन नहीं किया जाता है, तब तक प्रकाश सूक्ष्मदर्शी और इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी दोनों स्तरों पर ऋणात्मक अभिरंजन कभी भी संक्रामक जीवों के साथ नहीं किया जाना चाहिए। ऋणात्मक धुंधला सामान्यतः एक बहुत ही हल्की तैयारी विधि है और इस प्रकार ऑपरेटर संक्रमण की संभावना को कम नहीं करता है। | |||
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[[File:HexLamMic phases.jpg|thumb|right|900px|नेगेटिव स्टेनिंग द्वारा [[ परतदार ]] (ले), रिवर्स-माइकेलर (एम) और रिवर्स-[[हेक्सागोनल]] एच-II सिलिंडर (एच) [[लिपिड]] चरणों की पहचान।]]नेगेटिव स्टेनिंग | [[File:HexLamMic phases.jpg|thumb|right|900px|नेगेटिव स्टेनिंग द्वारा [[ परतदार |परतदार]] (ले), रिवर्स-माइकेलर (एम) और रिवर्स-[[हेक्सागोनल]] एच-II सिलिंडर (एच) [[लिपिड]] चरणों की पहचान।]]नेगेटिव स्टेनिंग संचरण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शिकी को लैमेलर [[ लाइपोसोम |लिपोसोम्स]] (ली), उल्टे गोलाकार मिसेलस (एम) और उल्टे हेक्सागोनल एचआईआई बेलनाकार (एच) चरणों (चित्र देखें) जैसे जलीय लिपिड समुच्चय के अध्ययन और पहचान के लिए सफलतापूर्वक नियोजित किया गया है।<ref>{{cite journal | last=Yashroy | first=R. C. | title=नकारात्मक धुंधला इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी द्वारा लैमेलर फैलाव और क्लोरोप्लास्ट झिल्ली लिपिड का चरण पृथक्करण| journal=Journal of Biosciences | publisher=Springer Science and Business Media LLC | volume=15 | issue=2 | year=1990 | issn=0250-5991 | doi=10.1007/bf02703373 | pages=93–98| s2cid=39712301 }}</ref> | ||
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Revision as of 19:54, 12 April 2023
सूक्ष्मदर्शिकी में, ऋणात्मक अभिरंजन एक स्थापित विधि है, जिसका उपयोग प्रायः क्रमादेश सूक्ष्मदर्शिकी में किया जाता है, एक प्रकाशिकी अपारदर्शी द्रव के साथ एक पतले नमूने के विपरीत करने के लिए। इस तकनीक में, पृष्ठभूमि को दाग दिया जाता है, वास्तविक नमूने को अछूता छोड़ दिया जाता है, और इस प्रकार दिखाई देता है। यह धनात्मक अभिरंजन के विपरीत है, जिसमें वास्तविक नमूना दागदार है।
उज्ज्वल क्षेत्र सूक्ष्मदर्शिकी
उज्ज्वल-क्षेत्र सूक्ष्मदर्शिकी के लिए, ऋणात्मक अभिरंजन सामान्यतः एक काली स्याही तरल पदार्थ जैसे निग्रोसिन और भारत स्याही का उपयोग करके किया जाता है। नमूना, जैसे एक कांच की स्लाइड पर फैला हुआ गीला जीवाणु कल्चर, ऋणात्मक दाग के साथ मिलाया जाता है और सूखने दिया जाता है। जब सूक्ष्मदर्शी से देखा जाता है तो जीवाणु कोशिकाएं, और लगभग उनके बीजाणु, अंधेरे के आसपास की पृष्ठभूमि के खिलाफ प्रकाश दिखाई देते हैं। ऋणात्मक दाग देने के लिए एक साधारण वाटरप्रूफ मार्किंग पेन का उपयोग करके एक वैकल्पिक विधि विकसित की गई है।[1]
संचरण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शिकी
संचरण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शिकी की स्थिति में, इलेक्ट्रॉनों की अपारदर्शिता परमाणु संख्या, अर्थात प्रोटॉन की संख्या से संबंधित है। कुछ उपयुक्त ऋणात्मक दागों में अमोनियम मोलिब्डेट, यूरेनिल एसीटेट, यूरेनिल फॉर्मेट, फॉस्फोटुंगस्टिक अम्ल, आज़मियम टेट्रोक्साइड, ऑस्मियम फेरिकैनाइड और ऑरोग्लुकोथियोनेट सम्मिलित हैं।[2] इन्हें इसलिए चुना गया है क्योंकि ये इलेक्ट्रॉनों को मजबूती से बिखेरते हैं और जैविक पदार्थों को भी अच्छी तरह से अवशोषित करते हैं। जो संरचनाएं ऋणात्मक रूप से अभिरंजित हो सकती हैं, वे प्रकाश सूक्ष्मदर्शी से अध्ययन किए गए संरचनाओं की तुलना में बहुत छोटी हैं। यहां, विधि का उपयोग वायरस, बैक्टीरिया, बैक्टीरियल कशाभिका, जैविक झिल्ली संरचनाओं और प्रोटीन या प्रोटीन समुच्चय को देखने के लिए किया जाता है, जिनमें सभी की इलेक्ट्रॉन-प्रकीर्णन सामर्थ्य कम होती है। कुछ दाग, जैसे ऑस्मियम टेट्रोक्साइड और ऑस्मियम फेरिकैनाइड, रासायनिक रूप से बहुत सक्रिय होते हैं। मजबूत ऑक्सीडेंट के रूप में, वे मुख्य रूप से असंतृप्त कार्बन-कार्बन बांड के साथ प्रतिक्रिया करके लिपिड को क्रॉस-लिंक करते हैं, और इस प्रकार दोनों ऊतक के प्रतिदर्शों में जैविक झिल्ली को ठीक करते हैं और साथ ही उन्हें दाग देते हैं।[3][4]
इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शिकी में ऋणात्मक दाग का चुनाव बहुत महत्वपूर्ण हो सकता है। एक रोगग्रस्त पौधे से ऋणात्मक रूप से दाग वाले पत्तों के डिप्स का उपयोग करने वाले पादप विषाणुओं के एक प्रारंभिक अध्ययन में एक दाग के साथ केवल गोलाकार विषाणु और दूसरे के साथ केवल छड़ के आकार के विषाणु दिखाई दिए। सत्यापित निष्कर्ष यह था कि यह पौधा दो अलग-अलग विषाणुओं के मिश्रित संक्रमण से पीड़ित था। जब तक कड़ी सुरक्षा सावधानियों का पालन नहीं किया जाता है, तब तक प्रकाश सूक्ष्मदर्शी और इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी दोनों स्तरों पर ऋणात्मक अभिरंजन कभी भी संक्रामक जीवों के साथ नहीं किया जाना चाहिए। ऋणात्मक धुंधला सामान्यतः एक बहुत ही हल्की तैयारी विधि है और इस प्रकार ऑपरेटर संक्रमण की संभावना को कम नहीं करता है।
अन्य अनुप्रयोग
नेगेटिव स्टेनिंग संचरण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शिकी को लैमेलर लिपोसोम्स (ली), उल्टे गोलाकार मिसेलस (एम) और उल्टे हेक्सागोनल एचआईआई बेलनाकार (एच) चरणों (चित्र देखें) जैसे जलीय लिपिड समुच्चय के अध्ययन और पहचान के लिए सफलतापूर्वक नियोजित किया गया है।[5]
संदर्भ
- ↑ Woeste, S; Demchick, P (1991). "नकारात्मक दाग का नया संस्करण।". Applied and Environmental Microbiology. American Society for Microbiology. 57 (6): 1858–1859. doi:10.1128/aem.57.6.1858-1859.1991. ISSN 0099-2240. PMC 183484. PMID 1714705.
- ↑ D. Chadwick (2002). चिकनी पेशी में सार्कोप्लाज्मिक रेटिकुलम की भूमिका. John Wiley and Sons. pp. 259–264. ISBN 0-470-84479-5.
- ↑ Bozzola, John J.; Russell, Lonnie D. (1999). "Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy". Electron microscopy : principles and techniques for biologists. Sudbury, Mass.: Jones and Bartlett. pp. 21–31. ISBN 978-0-7637-0192-5.
- ↑ M. A. Hayat (2000). Principles and techniques of electron microscopy: biological applications. Cambridge University Press. pp. 45–61. ISBN 0-521-63287-0.
- ↑ Yashroy, R. C. (1990). "नकारात्मक धुंधला इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी द्वारा लैमेलर फैलाव और क्लोरोप्लास्ट झिल्ली लिपिड का चरण पृथक्करण". Journal of Biosciences. Springer Science and Business Media LLC. 15 (2): 93–98. doi:10.1007/bf02703373. ISSN 0250-5991. S2CID 39712301.
बाहरी संबंध
Library resources about Negative staining |
- "Negative staining for dummies". Retrieved 2009-06-06.
- "Negative staining". Archived from the original on 2012-12-25. Retrieved 2009-06-06.