प्रवाहकीय एनोडिक फिलामेंट: Difference between revisions

From Vigyanwiki
No edit summary
No edit summary
Line 2: Line 2:


== तंत्र ==
== तंत्र ==
सीएएफ गठन एक ऐसी प्रक्रिया है जिसमें एक प्रयुक्त विद्युत क्षेत्र के प्रभाव में एक गैर-धातु सब्सट्रेट में संवाहक रसायन विज्ञान के परिवहन को सम्मिलित किया गया है।<ref name=IPC> IPC TM-650 2.6.25 Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance Test: X-Y Axis https://www.ipc.org/4.0_Knowledge/4.1_Standards/test/2-6-25.pdf</ref> सीएएफ [[विद्युत क्षेत्र की ताकत|विद्युत क्षेत्र की शक्ति]], [[तापमान]] (सोल्डरिंग तापमान सहित), आर्द्रता, लेमिनेट पदार्थ और विनिर्माण दोषों की उपस्थिति से प्रभावित होता है। सीएएफ विफलताओं की घटना मुख्य रूप से इलेक्ट्रॉनिक्स उद्योग द्वारा उच्च घनत्व परिपथ बोर्डों और उच्च विश्वसनीयता अनुप्रयोगों के लिए कठोर वातावरण में इलेक्ट्रॉनिक्स के उपयोग के लिए प्रेरित किया गया है।<ref> L. Zou and C. Hunt, “How to Avoid Conductive Anodic Filaments (CAF),”  National Physical Laboratory. 22 Jan 2013. http://www.npl.co.uk/upload/pdf/20130122_caf_avoid_failure.pdf</ref>
सीएएफ गठन ऐसी प्रक्रिया है जिसमें प्रयुक्त विद्युत क्षेत्र के प्रभाव में गैर-धातु सब्सट्रेट में संवाहक रसायन विज्ञान के परिवहन को सम्मिलित किया गया है।<ref name=IPC> IPC TM-650 2.6.25 Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance Test: X-Y Axis https://www.ipc.org/4.0_Knowledge/4.1_Standards/test/2-6-25.pdf</ref> सीएएफ [[विद्युत क्षेत्र की ताकत|विद्युत क्षेत्र की शक्ति]], [[तापमान]] (सोल्डरिंग तापमान सहित), आर्द्रता, लेमिनेट पदार्थ और विनिर्माण दोषों की उपस्थिति से प्रभावित होता है। सीएएफ विफलताओं की घटना मुख्य रूप से इलेक्ट्रॉनिक्स उद्योग द्वारा उच्च घनत्व परिपथ बोर्डों और उच्च विश्वसनीयता अनुप्रयोगों के लिए कठोर वातावरण में इलेक्ट्रॉनिक्स के उपयोग के लिए प्रेरित किया गया है।<ref> L. Zou and C. Hunt, “How to Avoid Conductive Anodic Filaments (CAF),”  National Physical Laboratory. 22 Jan 2013. http://www.npl.co.uk/upload/pdf/20130122_caf_avoid_failure.pdf</ref>




== विफलता मोड और पहचान ==
== विफलता मोड और पहचान ==
सीएएफ सामान्यतः एक पीसीबी के अंदर इलेक्ट्रॉनिक्स (अर्थात छिद्रों के माध्यम से चढ़ाया जाता है) के बीच होता है, क्योंकि तांबा [[एनोड]] से [[कैथोड]] तक ग्लास / राल इंटरफ़ेस के साथ माइग्रेट करता है। सीएएफ विफलताएं वर्तमान रिसाव, आंतरायिक [[ शार्ट सर्किट | शार्ट परिपथ]] , और यहां तक ​​कि मुद्रित परिपथ बोर्डों में संवाहक के बीच डाइलेक्ट्रिक टूटने के रूप में प्रकट हो सकती हैं।<ref>C. Tulkoff. “Design for Reliability: PCBs” North Texas IPC Designers Council. https://www.dfrsolutions.com/hubfs/Resources/services/Design_for_Reliability_PCBs.pdf?t=1514473946162</ref> यह अधिकांशतः सीएएफ का पता लगाने में बहुत कठिनाई होता है | अधिकतर जब यह एक आंतरायिक समस्या के रूप में होता है। कुछ चीजें हैं जो गलती के स्थान को अलग करने और विफलता के मूल कारण के रूप में सीएएफ की पुष्टि करने के लिए की जा सकती हैं। यदि समस्या रुक-रुक कर हो रही है तो संयुक्त तापमान-आर्द्रता-पूर्वाग्रह (टीएचबी) के अनुसार ब्याज का प्रतिरूप रखने से विफलता मोड को फिर से बनाने में सहायता मिल सकती है। इसके अतिरिक्त, विफलता की पहचान करने के लिए [[क्रॉस सेक्शन (इलेक्ट्रॉनिक्स)]] या [[स्कैनिंग SQUID माइक्रोस्कोप|स्कैनिंग स्क्विड सूक्ष्मदर्शी]] सुपरकंडक्टिंग क्वांटम इंटरफेरेंस उपकरण (स्क्विड) जैसी विधियों का उपयोग किया जा सकता है। <ref> C. Hillman. “A Novel Approach to Identifying and Validating Electrical Leakage in Printed Circuit Boards through Magnetic Current Imaging.” Proceedings from the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004 Worcester, Massachusetts. http://www.dfrsolutions.com/hubfs/DfR_Solutions_Website/Resources-Archived/Publications/2002-2004/2004_SQUID_Hillman.pdf</ref>
सीएएफ सामान्यतः पीसीबी के अंदर इलेक्ट्रॉनिक्स (अर्थात छिद्रों के माध्यम से चढ़ाया जाता है) के बीच होता है, क्योंकि तांबा [[एनोड]] से [[कैथोड]] तक ग्लास / राल इंटरफ़ेस के साथ माइग्रेट करता है। सीएएफ विफलताएं वर्तमान रिसाव, आन्तरिक [[ शार्ट सर्किट | शार्ट परिपथ]] , और यहां तक ​​कि मुद्रित परिपथ बोर्डों में संवाहक के बीच डाइलेक्ट्रिक टूटने के रूप में प्रकट हो सकती हैं।<ref>C. Tulkoff. “Design for Reliability: PCBs” North Texas IPC Designers Council. https://www.dfrsolutions.com/hubfs/Resources/services/Design_for_Reliability_PCBs.pdf?t=1514473946162</ref> यह अधिकांशतः सीएएफ का पता लगाने में बहुत कठिनाई होता है | अधिकतर जब यह आन्तरिक समस्या के रूप में होता है। कुछ चीजें हैं जो गलती के स्थान को अलग करने और विफलता के मूल कारण के रूप में सीएएफ की पुष्टि करने के लिए की जा सकती हैं। यदि समस्या रुक-रुक कर हो रही है तो संयुक्त तापमान-आर्द्रता-पूर्वाग्रह (टीएचबी) के अनुसार ब्याज का प्रतिरूप रखने से विफलता मोड को फिर से बनाने में सहायता मिल सकती है। इसके अतिरिक्त, विफलता की पहचान करने के लिए [[क्रॉस सेक्शन (इलेक्ट्रॉनिक्स)]] या [[स्कैनिंग SQUID माइक्रोस्कोप|स्कैनिंग स्क्विड सूक्ष्मदर्शी]] सुपरकंडक्टिंग क्वांटम इंटरफेरेंस उपकरण (स्क्विड) जैसी विधियों का उपयोग किया जा सकता है। <ref> C. Hillman. “A Novel Approach to Identifying and Validating Electrical Leakage in Printed Circuit Boards through Magnetic Current Imaging.” Proceedings from the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004 Worcester, Massachusetts. http://www.dfrsolutions.com/hubfs/DfR_Solutions_Website/Resources-Archived/Publications/2002-2004/2004_SQUID_Hillman.pdf</ref>




== महत्त्व और न्यूनीकरण ==
== महत्त्व और न्यूनीकरण ==
सीएएफ की संवेदनशीलता को कम करने के लिए कई रचना महत्त्व और न्यूनीकरण विधियाँ हैं | जिनका उपयोग किया जा सकता है। कुछ पदार्थ चयन (अर्थात लेमिनेट करना) और रचना नियम (अर्थात रिक्ति के माध्यम से) सीएएफ कठिन परिस्थिति को कम करने में सहायता कर सकते हैं। पीसीबी में राल और कांच के तंतुओं के बीच व्यर्थ आसंजन सीएएफ होने के लिए एक रास्ता बना सकता है। यह ग्लास फाइबर पर प्रयुक्त सिलेन फिनिश के मापदंड पर निर्भर हो सकता है | जिसका उपयोग राल को आसंजन को बढ़ावा देने के लिए किया जाता है।<ref>S. Binfield, C. Hillman, T. Johnston, and N. Blattau, ”Conductive Anodic Filaments: The Role of Epoxy-Glass Adhesion”, DfR Solutions White Paper</ref> ऐसे परीक्षण मानक भी हैं जिन्हें सीएएफ कठिन परिस्थिति का आकलन करने के लिए निष्पादित किया जा सकता है। आईपीसी टीएम-650 2.6.25 सीएएफ संवेदनशीलता का आकलन करने के लिए एक परीक्षण विधि प्रदान करता है।<ref name=IPC /> इसके अतिरिक्त, आईपीसी टीएम-650 2.6.16 ग्लास एपॉक्सी लेमिनेट अखंडता का तेजी से मूल्यांकन करने के लिए एक दबाव परीक्षण विधि प्रदान करता है।<ref> IPC TM-650 2.6.16 Pressure Vessel Method for Glass Epoxy Laminate. https://www.ipc.org/TM/2.6.16.pdf</ref> यह सहायक है किन्तु समस्या को सक्रिय रूप से कम करने के लिए रचना नियमों और उचित पदार्थ चयन का उपयोग करना अधिकांशतः उत्तम हो सकता है।
सीएएफ की संवेदनशीलता को कम करने के लिए कई रचना महत्त्व और न्यूनीकरण विधियाँ हैं | जिनका उपयोग किया जा सकता है। कुछ पदार्थ चयन (अर्थात लेमिनेट करना) और रचना नियम (अर्थात रिक्ति के माध्यम से) सीएएफ कठिन परिस्थिति को कम करने में सहायता कर सकते हैं। पीसीबी में राल और कांच के तंतुओं के बीच व्यर्थ आसंजन सीएएफ होने के लिए रास्ता बना सकता है। यह ग्लास फाइबर पर प्रयुक्त सिलेन फिनिश के मापदंड पर निर्भर हो सकता है | जिसका उपयोग राल को आसंजन को बढ़ावा देने के लिए किया जाता है।<ref>S. Binfield, C. Hillman, T. Johnston, and N. Blattau, ”Conductive Anodic Filaments: The Role of Epoxy-Glass Adhesion”, DfR Solutions White Paper</ref> ऐसे परीक्षण मानक भी हैं जिन्हें सीएएफ कठिन परिस्थिति का आकलन करने के लिए निष्पादित किया जा सकता है। आईपीसी टीएम-650 2.6.25 सीएएफ संवेदनशीलता का आकलन करने के लिए परीक्षण विधि प्रदान करता है।<ref name=IPC /> इसके अतिरिक्त, आईपीसी टीएम-650 2.6.16 ग्लास एपॉक्सी लेमिनेट अखंडता का तेजी से मूल्यांकन करने के लिए परीक्षण विधि प्रदान करता है।<ref> IPC TM-650 2.6.16 Pressure Vessel Method for Glass Epoxy Laminate. https://www.ipc.org/TM/2.6.16.pdf</ref> यह सहायक है किन्तु समस्या को सक्रिय रूप से कम करने के लिए रचना नियमों और उचित पदार्थ चयन का उपयोग करना अधिकांशतः उत्तम हो सकता है।


== यह भी देखें ==
== यह भी देखें ==

Revision as of 17:46, 7 June 2023

संवाहक एनोडिक फिलामेंट, जिसे सीएएफ भी कहा जाता है | एक धातु फिलामेंट है जो विद्युत रासायनिक माइग्रेशन प्रक्रिया से बनता है और मुद्रित परिपथ बोर्ड (पीसीबी) विफलताओं के कारण जाना जाता है।

तंत्र

सीएएफ गठन ऐसी प्रक्रिया है जिसमें प्रयुक्त विद्युत क्षेत्र के प्रभाव में गैर-धातु सब्सट्रेट में संवाहक रसायन विज्ञान के परिवहन को सम्मिलित किया गया है।[1] सीएएफ विद्युत क्षेत्र की शक्ति, तापमान (सोल्डरिंग तापमान सहित), आर्द्रता, लेमिनेट पदार्थ और विनिर्माण दोषों की उपस्थिति से प्रभावित होता है। सीएएफ विफलताओं की घटना मुख्य रूप से इलेक्ट्रॉनिक्स उद्योग द्वारा उच्च घनत्व परिपथ बोर्डों और उच्च विश्वसनीयता अनुप्रयोगों के लिए कठोर वातावरण में इलेक्ट्रॉनिक्स के उपयोग के लिए प्रेरित किया गया है।[2]


विफलता मोड और पहचान

सीएएफ सामान्यतः पीसीबी के अंदर इलेक्ट्रॉनिक्स (अर्थात छिद्रों के माध्यम से चढ़ाया जाता है) के बीच होता है, क्योंकि तांबा एनोड से कैथोड तक ग्लास / राल इंटरफ़ेस के साथ माइग्रेट करता है। सीएएफ विफलताएं वर्तमान रिसाव, आन्तरिक शार्ट परिपथ , और यहां तक ​​कि मुद्रित परिपथ बोर्डों में संवाहक के बीच डाइलेक्ट्रिक टूटने के रूप में प्रकट हो सकती हैं।[3] यह अधिकांशतः सीएएफ का पता लगाने में बहुत कठिनाई होता है | अधिकतर जब यह आन्तरिक समस्या के रूप में होता है। कुछ चीजें हैं जो गलती के स्थान को अलग करने और विफलता के मूल कारण के रूप में सीएएफ की पुष्टि करने के लिए की जा सकती हैं। यदि समस्या रुक-रुक कर हो रही है तो संयुक्त तापमान-आर्द्रता-पूर्वाग्रह (टीएचबी) के अनुसार ब्याज का प्रतिरूप रखने से विफलता मोड को फिर से बनाने में सहायता मिल सकती है। इसके अतिरिक्त, विफलता की पहचान करने के लिए क्रॉस सेक्शन (इलेक्ट्रॉनिक्स) या स्कैनिंग स्क्विड सूक्ष्मदर्शी सुपरकंडक्टिंग क्वांटम इंटरफेरेंस उपकरण (स्क्विड) जैसी विधियों का उपयोग किया जा सकता है। [4]


महत्त्व और न्यूनीकरण

सीएएफ की संवेदनशीलता को कम करने के लिए कई रचना महत्त्व और न्यूनीकरण विधियाँ हैं | जिनका उपयोग किया जा सकता है। कुछ पदार्थ चयन (अर्थात लेमिनेट करना) और रचना नियम (अर्थात रिक्ति के माध्यम से) सीएएफ कठिन परिस्थिति को कम करने में सहायता कर सकते हैं। पीसीबी में राल और कांच के तंतुओं के बीच व्यर्थ आसंजन सीएएफ होने के लिए रास्ता बना सकता है। यह ग्लास फाइबर पर प्रयुक्त सिलेन फिनिश के मापदंड पर निर्भर हो सकता है | जिसका उपयोग राल को आसंजन को बढ़ावा देने के लिए किया जाता है।[5] ऐसे परीक्षण मानक भी हैं जिन्हें सीएएफ कठिन परिस्थिति का आकलन करने के लिए निष्पादित किया जा सकता है। आईपीसी टीएम-650 2.6.25 सीएएफ संवेदनशीलता का आकलन करने के लिए परीक्षण विधि प्रदान करता है।[1] इसके अतिरिक्त, आईपीसी टीएम-650 2.6.16 ग्लास एपॉक्सी लेमिनेट अखंडता का तेजी से मूल्यांकन करने के लिए परीक्षण विधि प्रदान करता है।[6] यह सहायक है किन्तु समस्या को सक्रिय रूप से कम करने के लिए रचना नियमों और उचित पदार्थ चयन का उपयोग करना अधिकांशतः उत्तम हो सकता है।

यह भी देखें

बाहरी संबंध


संदर्भ

  1. ↑ 1.0 1.1 IPC TM-650 2.6.25 Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance Test: X-Y Axis https://www.ipc.org/4.0_Knowledge/4.1_Standards/test/2-6-25.pdf
  2. ↑ L. Zou and C. Hunt, “How to Avoid Conductive Anodic Filaments (CAF),” National Physical Laboratory. 22 Jan 2013. http://www.npl.co.uk/upload/pdf/20130122_caf_avoid_failure.pdf
  3. ↑ C. Tulkoff. “Design for Reliability: PCBs” North Texas IPC Designers Council. https://www.dfrsolutions.com/hubfs/Resources/services/Design_for_Reliability_PCBs.pdf?t=1514473946162
  4. ↑ C. Hillman. “A Novel Approach to Identifying and Validating Electrical Leakage in Printed Circuit Boards through Magnetic Current Imaging.” Proceedings from the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004 Worcester, Massachusetts. http://www.dfrsolutions.com/hubfs/DfR_Solutions_Website/Resources-Archived/Publications/2002-2004/2004_SQUID_Hillman.pdf
  5. ↑ S. Binfield, C. Hillman, T. Johnston, and N. Blattau, ”Conductive Anodic Filaments: The Role of Epoxy-Glass Adhesion”, DfR Solutions White Paper
  6. ↑ IPC TM-650 2.6.16 Pressure Vessel Method for Glass Epoxy Laminate. https://www.ipc.org/TM/2.6.16.pdf
Retrieved from ‘https://www.vigyanwiki.in/index.php?title=प्रवाहकीय_एनोडिक_फिलामेंट&oldid=185917’