परीक्षण बिंदु: Difference between revisions
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* निर्माण के दौरान उनका उपयोग यह सत्यापित करने के लिए किया जाता है कि | '''परीक्षण बिंदुओं को लेबल किया जा सकता है और इसमें मगरमच्छ क्लिप के लगाव के लिए पिन शामिल हो सकते हैं या परीक्षण क्लिप के लिए पूर्ण कनेक्टर हो सकते हैं।''' | ||
* निर्माण के दौरान उनका उपयोग यह सत्यापित करने के लिए किया जाता है कि नया जोड़ा गया उपकरण ठीक से काम कर रहा है। कोई भी उपकरण जो इस परीक्षण में विफल रहता है उसे या तो खारिज कर दिया जाता है या विनिर्माण दोषों को ठीक करने के प्रयास के लिए ''[[फिर से काम करने वाला स्टेशन]]'' में भेज दिया जाता है। | |||
* किसी ग्राहक को डिवाइस की बिक्री के बाद, परीक्षण बिंदुओं का उपयोग बाद में डिवाइस को ठीक करने के लिए किया जा सकता है यदि यह खराब हो जाता है, या यदि घटकों को बदलने के बाद डिवाइस को फिर से कैलिब्रेट करने की आवश्यकता होती है। | * किसी ग्राहक को डिवाइस की बिक्री के बाद, परीक्षण बिंदुओं का उपयोग बाद में डिवाइस को ठीक करने के लिए किया जा सकता है यदि यह खराब हो जाता है, या यदि घटकों को बदलने के बाद डिवाइस को फिर से कैलिब्रेट करने की आवश्यकता होती है। | ||
परीक्षण बिंदुओं को लेबल किया जा सकता है और इसमें मगरमच्छ क्लिप के लगाव के लिए पिन शामिल हो सकते हैं या परीक्षण क्लिप के लिए पूर्ण कनेक्टर हो सकते हैं। | परीक्षण बिंदुओं को लेबल किया जा सकता है और इसमें मगरमच्छ क्लिप के लगाव के लिए पिन शामिल हो सकते हैं या परीक्षण क्लिप के लिए पूर्ण कनेक्टर हो सकते हैं। | ||
आधुनिक मिनिएचर [[ भूतल पर्वत प्रौद्योगिकी ]] | सरफेस-माउंट इलेक्ट्रॉनिक्स में अक्सर बिना लेबल वाले, टिन वाले सोल्डर पैड की | आधुनिक मिनिएचर [[ भूतल पर्वत प्रौद्योगिकी ]] | सरफेस-माउंट इलेक्ट्रॉनिक्स में अक्सर बिना लेबल वाले, टिन वाले सोल्डर पैड की पंक्ति होती है। डिवाइस को टेस्ट फिक्सचर #इलेक्ट्रॉनिक्स में रखा गया है जो डिवाइस को सुरक्षित रखता है, और विशेष सतह-संपर्क कनेक्टर प्लेट को समूह के रूप में उन सभी को जोड़ने के लिए सोल्डर पैड पर दबाया जाता है। | ||
{{Electronics-stub}} | {{Electronics-stub}} | ||
Revision as of 07:42, 28 June 2023
एक परीक्षण बिंदु विद्युत सर्किट के भीतर स्थान है जिसका उपयोग या तो सर्किट्री की स्थिति की निगरानी करने या परीक्षण संकेतों को इंजेक्ट करने के लिए किया जाता है। परीक्षण बिंदुओं के दो प्राथमिक उपयोग हैं:
परीक्षण बिंदुओं को लेबल किया जा सकता है और इसमें मगरमच्छ क्लिप के लगाव के लिए पिन शामिल हो सकते हैं या परीक्षण क्लिप के लिए पूर्ण कनेक्टर हो सकते हैं।
- निर्माण के दौरान उनका उपयोग यह सत्यापित करने के लिए किया जाता है कि नया जोड़ा गया उपकरण ठीक से काम कर रहा है। कोई भी उपकरण जो इस परीक्षण में विफल रहता है उसे या तो खारिज कर दिया जाता है या विनिर्माण दोषों को ठीक करने के प्रयास के लिए फिर से काम करने वाला स्टेशन में भेज दिया जाता है।
- किसी ग्राहक को डिवाइस की बिक्री के बाद, परीक्षण बिंदुओं का उपयोग बाद में डिवाइस को ठीक करने के लिए किया जा सकता है यदि यह खराब हो जाता है, या यदि घटकों को बदलने के बाद डिवाइस को फिर से कैलिब्रेट करने की आवश्यकता होती है।
परीक्षण बिंदुओं को लेबल किया जा सकता है और इसमें मगरमच्छ क्लिप के लगाव के लिए पिन शामिल हो सकते हैं या परीक्षण क्लिप के लिए पूर्ण कनेक्टर हो सकते हैं।
आधुनिक मिनिएचर भूतल पर्वत प्रौद्योगिकी | सरफेस-माउंट इलेक्ट्रॉनिक्स में अक्सर बिना लेबल वाले, टिन वाले सोल्डर पैड की पंक्ति होती है। डिवाइस को टेस्ट फिक्सचर #इलेक्ट्रॉनिक्स में रखा गया है जो डिवाइस को सुरक्षित रखता है, और विशेष सतह-संपर्क कनेक्टर प्लेट को समूह के रूप में उन सभी को जोड़ने के लिए सोल्डर पैड पर दबाया जाता है।
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श्रेणी:इलेक्ट्रॉनिक्स निर्माण
