डिजिटल स्टोरेज ऑसिलोस्कोप
एक डिजिटल स्टोरेज आस्टसीलस्कप (डीएसओ) एक ऑसिलोस्कोप है जो एनालॉग संकेत तकनीकों का उपयोग करने के बजाय इनपुट सिग्नल डिजिटल डेटा को स्टोर और विश्लेषण करता है। उन्नत ट्रिगर, भंडारण, प्रदर्शन और माप सुविधाओं के कारण यह अब उपयोग में आने वाला सबसे आम प्रकार का ऑसिलोस्कोप है जो इसे आमतौर पर प्रदान करता है।[1]
इनपुट एनालॉग सिग्नल (इलेक्ट्रॉनिक्स) नमूनाकरण (सिग्नल प्रोसेसिंग) है और फिर प्रत्येक नमूना समय पर सिग्नल के आयाम के डिजिटल रिकॉर्ड में परिवर्तित हो जाता है। अलियासिंग से बचने के लिए सैंपलिंग फ्रीक्वेंसी Nyquist रेट से कम नहीं होनी चाहिए। फिर इन डिजिटल मूल्यों को कैथोड रे ट्यूब (सीआरटी) पर प्रदर्शित करने के लिए एक एनालॉग सिग्नल में बदल दिया जाता है, या विभिन्न संभावित प्रकार के आउटपुट-लिक्विड क्रिस्टल डिस्प्ले, सूची अभिलेखी, आलेखक या नेटवर्क सॉकेट के लिए आवश्यकतानुसार रूपांतरित किया जाता है।[2] डिजिटल स्टोरेज ऑसिलोस्कोप की लागत व्यापक रूप से भिन्न होती है; बेंच-टॉप सेल्फ-कंटेन्ड इंस्ट्रूमेंट्स (डिस्प्ले के साथ पूर्ण) से शुरू होते हैं US$300 या इससे भी कम, उच्च-निष्पादन वाले मॉडल दसियों हज़ार डॉलर में बिकते हैं। छोटे, पॉकेट-आकार वाले मॉडल, सीमित कार्यक्षमता वाले, कम से कम US$50 में खुदरा बिक्री कर सकते हैं।[3]
एनालॉग स्टोरेज के साथ तुलना
एनालॉग स्टोरेज पर मुख्य लाभ यह है कि संग्रहीत अंश उतने ही चमकीले होते हैं, जितने स्पष्ट रूप से परिभाषित होते हैं, और गैर-संग्रहीत निशान के रूप में जल्दी से लिखे जाते हैं। अंशों को अनिश्चित काल तक संग्रहीत किया जा सकता है या कुछ बाहरी डेटा स्टोरेज डिवाइस पर लिखा जा सकता है और पुनः लोड किया जा सकता है। यह अनुमति देता है, उदाहरण के लिए, ज्ञात-अच्छे सिस्टम से प्राप्त मानक ट्रेस के साथ परीक्षण के तहत सिस्टम से प्राप्त ट्रेस की तुलना। कई मॉडल ट्रिगर सिग्नल से पहले तरंग प्रदर्शित कर सकते हैं।
डिजिटल ऑसिलोस्कोप आमतौर पर तरंगों का विश्लेषण करते हैं और संख्यात्मक मूल्यों के साथ-साथ दृश्य प्रदर्शन भी प्रदान करते हैं। इन मूल्यों में आम तौर पर औसत, मैक्सिमा और मिनिमा, वर्गमूल औसत का वर्ग (RMS) और आवृत्तियों शामिल होती हैं। एक कैथोड रे ट्यूब # ऑसिलोस्कोप सीआरटी की चमक और लेखन गति सीमाओं के बिना, एकल स्वीप मोड में संचालित होने पर उनका उपयोग क्षणिक (दोलन) को पकड़ने के लिए किया जा सकता है।[4] अधिग्रहण के बाद प्रदर्शित ट्रेस में हेरफेर किया जा सकता है; बारीक विवरण को और अधिक दृश्यमान बनाने के लिए डिस्प्ले के एक हिस्से को बड़ा किया जा सकता है, या रुचि के क्षेत्रों की पहचान करने के लिए एक ही डिस्प्ले में एक लंबे ट्रेस की जांच की जा सकती है। कई उपकरण उपयोगकर्ता द्वारा संग्रहीत ट्रेस को एनोटेट करने की अनुमति देते हैं।
कई डिजिटल ऑसिलोस्कोप कंप्यूटर और टेलीविजन डिस्प्ले के लिए उच्च मात्रा में बनाए गए फ्लैट पैनल डिस्प्ले का उपयोग करते हैं।
डिजिटल स्टोरेज ऑसिलोस्कोप में समानांतर प्रिंटर पोर्ट, RS-232 सीरियल पोर्ट, IEEE-488 बस, USB पोर्ट, या ईथरनेट जैसे इंटरफेस शामिल हो सकते हैं, जिससे रिमोट या ऑटोमैटिक कंट्रोल और कैप्चर किए गए वेवफॉर्म को बाहरी डिस्प्ले या स्टोरेज में ट्रांसफर किया जा सकता है।
पीसी आधारित
एक व्यक्तिगत कंप्यूटर-आधारित डिजिटल ऑसिलोस्कोप यूजर इंटरफेस और डिस्प्ले के लिए एक पीसी पर निर्भर करता है। फ्रंट एंड सर्किट, जिसमें इनपुट एम्पलीफायर और डिजिटल कन्वर्टर्स के एनालॉग शामिल हैं, अलग से पैक किए जाते हैं और यूएसबी, ईथरनेट या अन्य इंटरफेस पर पीसी के साथ संचार करते हैं। एक प्रारूप में, फ्रंट एंड को प्लग-इन विस्तार कार्ड पर इकट्ठा किया जाता है जो कंप्यूटर बैकप्लेन में प्लग करता है। पीसी आधारित ऑसिलोस्कोप एक समान स्व-निहित उपकरण की तुलना में कम खर्चीला हो सकता है क्योंकि वे संलग्न पीसी की मेमोरी, डिस्प्ले और कीबोर्ड का उपयोग कर सकते हैं। प्रदर्शन बड़े हो सकते हैं, और अधिग्रहीत डेटा को आसानी से पीसी होस्टेड एप्लिकेशन सॉफ़्टवेयर जैसे स्प्रेड शीट में स्थानांतरित किया जा सकता है। हालाँकि, होस्ट पीसी का इंटरफ़ेस अधिग्रहण के लिए अधिकतम डेटा दर को सीमित कर सकता है, और होस्ट पीसी माप में हस्तक्षेप करने के लिए पर्याप्त विद्युत चुम्बकीय शोर उत्पन्न कर सकता है। [5]
संदर्भ
- ↑ Ian Hickman (1997), Digital storage oscilloscopes, Newnes, ISBN 978-0-7506-2856-3
- ↑ Hughes electrical and electronic technology, Pearson Education, 2008, p. 953, ISBN 978-0-13-206011-0
- ↑ Charlie Sorrel (May 13, 2009), "DIY Oscilloscope is Awesomely Affordable", Wired
- ↑ Alan S. Morris (2001), Measurement and instrumentation principles, Butterworth-Heinemann, p. 211, ISBN 978-0-7506-5081-6
- ↑ Alan S. Morris, Reza Langari Measurement and Instrumentation: Theory and Application , Academic Press, 2011 ISBN 0123819628 page 180
