दुरभिविन्यास
सामग्री विज्ञान में, गलत अभिविन्यास एक पॉलीस्फटिकाइन सामग्री में दो क्रिस्टलीय के बीच क्रिस्टलोग्राफी अभिविन्यास में अंतर है।
क्रिस्टलीय सामग्रियों में, एक क्रिस्टलीय का अभिविन्यास एक नमूना संदर्भ फ्रेम (यानी एक रोलिंग (मेटल वर्किंग) या बाहर निकालना प्रक्रिया और दो ओर्थोगोनल दिशाओं की दिशा द्वारा परिभाषित) से क्रिस्टलीय जाली के स्थानीय संदर्भ फ्रेम में परिवर्तन द्वारा परिभाषित किया जाता है। यूनिट सेल के आधार पर परिभाषित किया गया है। इसी तरह, एक स्थानीय क्रिस्टल फ्रेम से दूसरे क्रिस्टल फ्रेम में जाने के लिए आवश्यक परिवर्तन को गलत तरीके से बदलना है। यही है, यह दो अलग-अलग अभिविन्यासों के बीच अभिविन्यास स्थान में दूरी है। यदि अभिविन्यास दिशा कोसाइन के रोटेशन मैट्रिक्स के संदर्भ में निर्दिष्ट हैं gA और gB, फिर मिसऑरिएंटेशन ऑपरेटर ∆gAB से जा रहे हैं A को B को इस प्रकार परिभाषित किया जा सकता है:
जहां शब्द का उल्टा ऑपरेशन है gA, यानी क्रिस्टल फ्रेम से परिवर्तन A नमूना फ्रेम पर वापस। यह पहले क्रिस्टल फ्रेम (A) वापस नमूना फ्रेम में और बाद में नए क्रिस्टल फ्रेम में (B).
इस रूपांतरण प्रक्रिया को प्रदर्शित करने के लिए विभिन्न विधियों का उपयोग किया जा सकता है, जैसे: यूलर कोण, रोड्रिग्स वैक्टर, अक्ष कोण|अक्ष/कोण (जहां अक्ष को क्रिस्टलोग्राफिक दिशा के रूप में निर्दिष्ट किया गया है), या क्वाटरनियन और स्थानिक रोटेशन।
समरूपता और गलत धारणा
गलत अभिविन्यास पर क्रिस्टल समरूपता का प्रभाव पूर्ण अभिविन्यास स्थान के अंश को कम करना है जो सभी संभावित गलत संबंधों को विशिष्ट रूप से प्रदर्शित करने के लिए आवश्यक है। उदाहरण के लिए, क्यूबिक क्रिस्टल (यानी एफसीसी) में 24 सममित रूप से संबंधित अभिविन्यास हैं। इनमें से प्रत्येक अभिविन्यास शारीरिक रूप से अप्रभेद्य है, हालांकि गणितीय रूप से भिन्न है। इसलिए, अभिविन्यास स्थान का आकार 24 के एक कारक से कम हो जाता है। यह घन समरूपता के लिए मूलभूत क्षेत्र (FZ) को परिभाषित करता है। दो घनीय स्फटिकों के बीच दुर्विन्यास के लिए, प्रत्येक के पास अपनी 24 अंतर्निहित समरूपताएँ होती हैं। इसके अलावा, एक स्विचिंग समरूपता मौजूद है, जिसे परिभाषित किया गया है:
जो दिशा के प्रति दुर्भिमुखता की निश्चरता को पहचानता है; ए → बी या बी → ए। गलत अभिविन्यास के लिए क्यूबिक-क्यूबिक मौलिक क्षेत्र में कुल अभिविन्यास स्थान का अंश इसके द्वारा दिया गया है:
या 1/48 घन मौलिक क्षेत्र का आयतन। यह अधिकतम अद्वितीय गलत अभिविन्यास कोण को 62.8°
तक सीमित करने का प्रभाव भी रखता है
भटकाव FZ के भीतर आने वाले सभी सममित रूप से समतुल्य गलत अभिविन्यासों में से सबसे छोटे संभावित रोटेशन कोण के साथ गलत अभिविन्यास का वर्णन करता है (आमतौर पर क्यूबिक्स के लिए मानक स्टीरियोग्राफिक त्रिकोण में एक अक्ष होने के रूप में निर्दिष्ट)। इन वेरिएंट्स की गणना में गलत अभिविन्यास की गणना के दौरान प्रत्येक अभिविन्यास के लिए क्रिस्टल समरूपता ऑपरेटरों का अनुप्रयोग शामिल है।
जहां ओCrys सामग्री के लिए सममिति संचालकों में से एक को दर्शाता है।
दुर्बलता वितरण
मिसऑरिएंटेशन डिस्ट्रीब्यूशन (एमडी) अभिविन्यास वितरण समारोह के अनुरूप है जिसका उपयोग बनावट को चित्रित करने में किया जाता है। एमडी एक श्रेणी में आने वाले किन्हीं भी दो अनाजों के बीच गलतफहमी की संभावना का वर्णन करता है एक दिए गए दुराग्रह के आसपास . संभाव्यता घनत्व के समान होने पर, सामान्यीकरण के कारण एमडी गणितीय रूप से समान नहीं है। एक एमडी में तीव्रता समान रूप से वितरित गलत अभिविन्यास वाली सामग्री में अपेक्षित वितरण के संबंध में यादृच्छिक घनत्व (एमआरडी) के गुणकों के रूप में दी जाती है। एमडी की गणना या तो श्रृंखला विस्तार द्वारा की जा सकती है, आमतौर पर सामान्यीकृत गोलाकार हार्मोनिक्स का उपयोग करके, या असतत बिनिंग योजना द्वारा, जहां प्रत्येक डेटा बिंदु को एक बिन को सौंपा जाता है और संचित किया जाता है।
ग्राफिकल प्रतिनिधित्व
असतत गलत अभिविन्यास या गलत अभिविन्यास वितरण को यूलर कोण, अक्ष/कोण, या रोड्रिग्स वेक्टर अंतरिक्ष में भूखंडों के रूप में पूरी तरह से वर्णित किया जा सकता है। यूनिट चतुष्कोण, कम्प्यूटेशनल रूप से सुविधाजनक होते हुए, अपने चार-आयामी प्रकृति के कारण ग्राफिकल प्रतिनिधित्व के लिए खुद को उधार नहीं देते हैं। किसी भी अभ्यावेदन के लिए, भूखंडों को आमतौर पर मौलिक क्षेत्र के माध्यम से वर्गों के रूप में बनाया जाता है; φ के साथ2 यूलर कोणों में, अक्ष/कोण के लिए घूर्णन कोण की वृद्धि पर, और स्थिर ρ पर3 (<001> के समानांतर) रोड्रिग्स के लिए। घन-घन FZ के अनियमित आकार के कारण, भूखंडों को आम तौर पर घन FZ के माध्यम से अधिक प्रतिबंधात्मक सीमाओं के साथ वर्गों के रूप में दिया जाता है।
मैकेंज़ी भूखंड एमडी के एक आयामी प्रतिनिधित्व हैं, जो अक्ष के बावजूद, दुर्बलता कोण की सापेक्ष आवृत्ति की साजिश रचते हैं। मैकेंज़ी ने एक यादृच्छिक बनावट के साथ क्यूबिक नमूने के लिए गलत वर्गीकरण वितरण निर्धारित किया।
दुर्बलता की गणना का उदाहरण
यूलर कोणों के रूप में दिए गए दो बनावट घटकों के बीच गलतफहमी के धुरी/कोण प्रतिनिधित्व को निर्धारित करने के लिए निम्नलिखित एल्गोरिदम का एक उदाहरण है:
- कॉपर [90,35,45]
- S3 [59,37,63]
पहला चरण यूलर कोण प्रतिनिधित्व को परिवर्तित कर रहा है, अभिविन्यास मैट्रिक्स के लिए g द्वारा:
कहाँ और प्रतिनिधित्व करना और क्रमश। यह निम्नलिखित ओरिएंटेशन मैट्रिक्स उत्पन्न करता है:
दुस्साहस तब होता है:
अक्ष/कोण विवरण (एक इकाई सदिश के रूप में अक्ष के साथ) गलत अभिविन्यास मैट्रिक्स से संबंधित है:
(रैंडल और एंग्लर द्वारा पुस्तक में दिए गए 'आर' के घटकों के समान सूत्रों में त्रुटियां हैं (संदर्भ देखें), जिन्हें उनकी पुस्तक के अगले संस्करण में ठीक किया जाएगा। उपरोक्त सही संस्करण हैं, ध्यान दें यदि Θ = 180 डिग्री है तो इन समीकरणों के लिए भिन्न रूप का उपयोग करना होगा।)
तांबे के लिए- एस3 द्वारा दिया गया दुराग्रह ΔgAB, अक्ष/कोण विवरण 19.5° लगभग [0.689,0.623,0.369] है, जो कि <221> से केवल 2.3° है। यह परिणाम केवल 1152 सममित रूप से संबंधित संभावनाओं में से एक है, लेकिन गलत दिशा को निर्दिष्ट करता है। अभिविन्यास समरूपता (स्विचिंग समरूपता सहित) के सभी संभावित संयोजनों पर विचार करके इसे सत्यापित किया जा सकता है।
संदर्भ
- Kocks, U.F., C.N. Tomé, and H.-R. Wenk (1998). Texture and Anisotropy: Preferred Orientations in Polycrystals and their Effect on Materials Properties, Cambridge University Press.
- Mackenzie, J.K. (1958). Second Paper on the Statistics Associated with the Random Disorientation of Cubes, Biometrika 45,229.
- Randle, Valerie and Olaf Engler (2000). Introduction to Texture Analysis: Macrotexture, Microtexture & Orientation Mapping, CRC Press.
- Reed-Hill, Robert E. and Reza Abbaschian (1994). Physical Metallurgy Principles (Third Edition), PWS.
- Sutton, A.P. and R.W. Balluffi (1995). Interfaces in Crystalline Materials, Clarendon Press.
- G. Zhu, W. Mao and Y. Yu (1997). "Calculation of misorientation distribution between recrystallized grains and deformed matrix", Scripta mater. 42(2000) 37-41.