अपरूपण अंतरमापी (शियरिंग इंटरफेरोमीटर)

बाल काटना इंटरफेरोमीटर का सिद्धांत।

कतरनी इंटरफेरोमीटर हस्तक्षेप (ऑप्टिक्स) का निरीक्षण करने और इस घटना का उपयोग करने के लिए विशेष रूप से लेज़र स्रोतों से, विशेष रूप से लेजर स्रोतों से, जो आमतौर पर कतरनी प्लेट की मोटाई से काफी लंबा होता है, का परीक्षण करने के लिए एक अत्यंत सरल साधन है। ग्राफिक्स) ताकि हस्तक्षेप के लिए बुनियादी शर्त पूरी हो।

समारोह

परीक्षण उपकरण में उच्च-गुणवत्ता वाले ऑप्टिकल ग्लास होते हैं, जैसे N-BK7, बेहद सपाट ऑप्टिकल सतहों के साथ जो आमतौर पर एक दूसरे से मामूली कोण पर होते हैं। जब एक समतल तरंग 45° के कोण पर आपतित होती है, जो अधिकतम संवेदनशीलता प्रदान करती है, तो यह दो बार परावर्तित होती है। प्लेट की परिमित मोटाई और कील के कारण दो प्रतिबिंब बाद में अलग हो जाते हैं। इस पृथक्करण को कतरनी कहा जाता है और इसने यंत्र को अपना नाम दिया है। कतरनी को विवर्तन झंझरी द्वारा भी उत्पादित किया जा सकता है, नीचे बाहरी लिंक देखें।

समानांतर-पक्षीय कतरनी प्लेटों का कभी-कभी उपयोग किया जाता है, लेकिन वेडेड प्लेटों के हस्तक्षेप फ्रिंज की व्याख्या अपेक्षाकृत आसान और सीधी होती है। वेज्ड शीयर प्लेटें सामने और पीछे की सतह के प्रतिबिंबों के बीच एक श्रेणीबद्ध पथ अंतर उत्पन्न करती हैं; परिणामस्वरूप, प्रकाश की एक समानांतर किरण ओवरलैप के भीतर एक रेखीय फ्रिंज पैटर्न उत्पन्न करती है।

एक समतल वेवफ्रंट घटना के साथ, दो परावर्तित बीमों का ओवरलैप अंतराल के साथ हस्तक्षेप फ्रिंज दिखाता है $d_{f}={\frac {\lambda }{2n\theta }}$, कहाँ $d_{f}$ कतरनी के लिए लंबवत रिक्ति है,$\lambda$बीम की तरंग दैर्ध्य है, n अपवर्तक सूचकांक, और$\theta$पच्चर का कोण। यह समीकरण इस सरलीकरण को बनाता है कि वेड्ड शीयर प्लेट से प्रेक्षण तल तक की दूरी प्रेक्षण तल पर वक्रता के वेवफ्रंट त्रिज्या के सापेक्ष छोटी होती है। फ्रिंज समान दूरी पर हैं और वेज ओरिएंटेशन के बिल्कुल लंबवत होंगे और शियरिंग इंटरफेरोमीटर में बीम अक्ष के साथ संरेखित आमतौर पर मौजूद तार कर्सर के समानांतर होंगे। फ्रिन्जों का अभिविन्यास तब बदलता है जब किरणपुंज पूरी तरह से संमिलित नहीं होता है। एक वेज्ड शीयर प्लेट पर एक गैर-कोलिमेटेड बीम की घटना के मामले में, वक्रता के संकेत के आधार पर दो परावर्तित वेवफ्रंट के बीच का पथ अंतर सही कोलिमेशन के मामले से बढ़ा या घटा है। इसके बाद पैटर्न को घुमाया जाता है और बीम की वक्रता की वेवफ्रंट त्रिज्या$R$गणना की जा सकती है: $R=-{\frac {s\cdot d_{f}}{\lambda \tan \gamma }}$, साथ$s$कतरनी दूरी,$d_{f}$किनारे की दूरी,$\lambda$तरंग दैर्ध्य और$\gamma$पूर्ण समतलीकरण से फ्रिंज संरेखण का कोणीय विचलन। यदि इसके बजाय फ्रिन्जों के लिए सामान्य दूरी का उपयोग किया जाता है, तो यह समीकरण बन जाता है $R=-{\frac {s\cdot k_{f}}{\lambda \sin \gamma }}$, कहाँ $k_{f}$ फ्रिंजों के बीच की दूरी सामान्य है।

स्क्रीन पर देखा जाने वाला कतरनी प्लेट और परिणामी हस्तक्षेप पैटर्न का एक साइड व्यू। भूत के प्रतिबिंबों को कम करने के लिए, कतरनी प्लेट को आम तौर पर बिना किसी प्रकार के दर्पण कोटिंग के नंगे छोड़ दिया जाता है।

यह भी देखें

• इंटरफेरोमीटर के प्रकारों की सूची
• एयर-वेज शियरिंग इंटरफेरोमीटर
• प्रत्यक्ष विद्युत-क्षेत्र पुनर्निर्माण के लिए वर्णक्रमीय चरण इंटरफेरोमेट्री, एक प्रकार का वर्णक्रमीय अपरूपण इंटरफेरोमेट्री, जो वर्तमान लेख में एक अवधारणा के समान है, सिवाय इसके कि कतरनी बाद में आवृत्ति डोमेन में की जाती है।

बाहरी संबंध

• University of Erlangen — Optical Design and Microptics Archived 2016-02-22 at the Wayback Machine