तरंगमयता

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लहरदारता सतह बनावट के अधिक व्यापक रूप से फैले हुए घटक का माप है। यह सतह के खुरदरेपन का व्यापक दृष्टिकोण है क्योंकि इसे अधिक सख्ती से उन अनियमितताओं के रूप में परिभाषित किया गया है जिनकी दूरी खुरदरेपन के नमूने की लंबाई से अधिक है। यह मशीन या कार्य विक्षेपण (इंजीनियरिंग), बकबक, अवशिष्ट तनाव, कंपन या गर्मी उपचार से हो सकता है।[1][2] वेवनेस को फ़्लैटनेस (विनिर्माण) से भी अलग किया जाना चाहिए, इसकी कम दूरी और प्रकृति में आम तौर पर आवधिक होने की विशेषता दोनों के आधार पर।

पैरामीटर

तरंग की ऊंचाई को व्यक्त करने के लिए कई पैरामीटर हैं, जिनमें से सबसे आम क्रमशः औसत तरंग और कुल तरंग के लिए Wa और Wt हैं।[3] सतह के साथ पार्श्व दिशा में, लहरदार रिक्ति, Wsm, अन्य पैरामीटर है जो आवधिक लहरदार चोटियों के बीच औसत अंतर का वर्णन करता है। ऐसी कई माप सेटिंग्स हैं जो इन परिणामी पैरामीटर मानों को प्रभावित करती हैं, जिनका उल्लेख नीचे किया गया है। सबसे महत्वपूर्ण में से तरंगता मूल्यांकन लंबाई है, जो वह लंबाई है जिसमें तरंगता पैरामीटर निर्धारित किए जाते हैं। इस लंबाई के भीतर लहरदार प्रोफ़ाइल निर्धारित की जाती है। यह सतह बनावट प्रोफ़ाइल है जिसमें छोटी खुरदरापन विशेषताओं को फ़िल्टर किया गया है, या हटा दिया गया है; इसमें वर्कपीस की ज्यामिति में परिवर्तन के कारण कोई भी प्रोफ़ाइल परिवर्तन शामिल नहीं है जो या तो अनजाने (सपाटपन) या जानबूझकर (रूप) हैं।

वेवनेस आईएसओ मानकों आईएसओ 4287 में शामिल है[3] और आईएसओ 16610-21[4] साथ ही अमेरिकी मानक ASME B46.1,[5] और यह इंजीनियरिंग ड्राइंग में उपयोग किए जाने वाले सतह बनावट प्रतीक का हिस्सा है।[6]

माप

तरंगता का माप विभिन्न प्रकार के उपकरणों से किया जा सकता है, जिसमें सतह खत्म प्रोफिलोमीटर और गोलाई उपकरण दोनों शामिल हैं। इन उपकरणों की प्रकृति लगातार प्रगति कर रही है और अब इसमें स्टाइलस-आधारित संपर्क उपकरणों के साथ-साथ ऑप्टिकल और लेजर-आधारित गैर-संपर्क उपकरण भी शामिल हैं। पहले के उपकरणों में, माप आउटपुट स्वाभाविक रूप से उपकरण से ही जुड़ा हुआ था, जबकि अब सतह प्रोफ़ाइल डेटा एकत्र करने वाले उपकरण और इस डेटा का मूल्यांकन करने में सक्षम विश्लेषणात्मक सॉफ़्टवेयर के बीच कुछ अंतर उभर रहा है।

पिछली पीढ़ी के दो उपकरणों के उदाहरण तरंगमापी या सूक्ष्म स्थलाकृतिक हैं। वेवोमीटर प्लास्टिक टिप का उपयोग करता है जो इलेक्ट्रॉनिक पिकअप से जुड़ा होता है जो फिर सतह की विविधताओं को मापता है। माप को इलेक्ट्रॉनिक सिग्नल के रूप में दर्ज किया जाता है जो एम्पलीफायर है और दो सिग्नलों में विभाजित होता है: उच्च बैंड और निम्न बैंड। बॉल बियरिंग को मापने के लिए, निम्न बैंड सिग्नल प्रति क्रांति हर चार से सत्रह बार होने वाली विविधताओं को रिकॉर्ड करता है और उच्च बैंड सिग्नल प्रति क्रांति सत्रह से 330 बार होने वाली विविधताओं को रिकॉर्ड करता है; निम्न बैंड तरंगता है। इन बैंडों को विश्लेषण के लिए आस्टसीलस्कप में प्रेषित किया जाता है।[7][8]

उपयोग

तरंगता माप खुरदरापन माप जितना सामान्य नहीं है, हालांकि इसके महत्वपूर्ण अनुप्रयोग हैं। उदाहरण के लिए, बॉल (बेयरिंग) और रेस (बेयरिंग) में लहरपन बॉल बियरिंग) में कंपन और शोर का कारण है। अन्य अनुप्रयोग उदाहरण फ्लैट मिल्ड सीलिंग सतहों में लहरदारता, चित्रित सतहों पर नारंगी छील, और गोल शाफ्ट सतहों पर चटकारे हैं।[9][10][11]

बाहरी संबंध


संबंधित मानक

संदर्भ

  1. Oberg et al. 2000, p. 699.
  2. Oberg et al. 2000, p. 702.
  3. 3.0 3.1 ISO 4287, Geometrical Product Specifications (GPS) -- Surface texture: Profile method -- Terms, definitions and surface texture parameters
  4. ISO 16610, Geometrical product specifications (GPS) -- Filtration -- Part 21: Linear profile filters: Gaussian filters
  5. ASME B46.1, Surface Texture (Surface Roughness, Waviness, and Lay).
  6. Jensen 2001, p. 86.
  7. Measuring waviness, retrieved 2009-08-20.
  8. Degarmo, Black & Kohser 2003, p. 225.
  9. Harsha, S.P.; Kankar, P.K. (July 2004), "Stability analysis of a rotor bearing system due to surface waviness and number of balls", International Journal of Mechanical Sciences, 46 (7): 1057–1081, doi:10.1016/j.ijmecsci.2004.07.007.
  10. Harsha, S. P.; Sandeep, K.; Prakash, R. (July 2004), "Nonlinear Dynamic Response of a Rotor Bearing System Due to Surface Waviness", Nonlinear Dynamics, 37 (2): 91–114, doi:10.1023/B:NODY.0000042916.10351.ff, S2CID 120661760.
  11. Yhland, E. M. (1967), "Waviness measurement—an instrument for quality control in rolling bearing industry", Proceedings of the Institution of Mechanical Engineers, 182 (3K): 438–445, doi:10.1243/PIME_CONF_1967_182_341_02

ग्रन्थसूची