पोस्ट-सिलिकॉन सत्यापन

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अर्धचालक एकीकृत सर्किट के विकास में पोस्ट-सिलिकॉन सत्यापन और डिबग अंतिम चरण है।

पूर्व-सिलिकॉन प्रक्रिया

पूर्व-सिलिकॉन प्रक्रिया के दौरान, इंजीनियर परिष्कृत सिमुलेशन, एमुलेटर और औपचारिक सत्यापन उपकरण के साथ आभासी वातावरण में उपकरणों का परीक्षण करते हैं। इसके विपरीत, तार्किक विश्लेषक और अभिकथन (कंप्यूटिंग) | अभिकथन-आधारित उपकरणों का उपयोग करके वाणिज्यिक, वास्तविक-विश्व प्रणाली बोर्डों में गति से चलने वाले वास्तविक उपकरणों पर पश्च-सिलिकॉन सत्यापन परीक्षण होते हैं।

तर्क

बड़ी सेमीकंडक्टर कंपनियाँ नए पुर्जे बनाने में लाखों खर्च करती हैं; ये डिजाइन कार्यान्वयन की डूबती लागतें हैं। नतीजतन, यह जरूरी है कि नई चिप अपने विनिर्देशों के पूर्ण और पूर्ण अनुपालन में काम करे, और तंग उपभोक्ता खिड़कियों के भीतर बाजार में पहुंचाई जाए। यहां तक ​​कि कुछ हफ्तों की देरी से भी करोड़ों डॉलर खर्च हो सकते हैं। इसलिए पोस्ट-सिलिकॉन सत्यापन सफल डिजाइन कार्यान्वयन में सबसे अधिक लाभकारी कदमों में से एक है।

सत्यापन

कंप्यूटर विज्ञान में 500,000 लॉजिक वाले चिप्स सेल फोन, एमपी 3 प्लेयर, कंप्यूटर प्रिंटर और बाह्य उपकरणों, डिजिटल टेलीविजन सेट, मेडिकल इमेजिंग सिस्टम, परिवहन सुरक्षा और आराम में उपयोग किए जाने वाले घटकों और यहां तक ​​कि प्रबंधन प्रणालियों के निर्माण में सिलिकॉन मस्तिष्क हैं। या तो उनके व्यापक उपभोक्ता प्रसार के कारण, या उनके मिशन-महत्वपूर्ण अनुप्रयोग के कारण, निर्माता को बिल्कुल निश्चित होना चाहिए कि डिवाइस पूरी तरह से मान्य है।

उच्च आत्मविश्वास हासिल करने का सबसे अच्छा तरीका प्री-सिलिकॉन सत्यापन कार्य का लाभ उठाना है - जिसमें कार्यान्वयन की कुल लागत का 30% तक शामिल हो सकता है - और उस ज्ञान का उपयोग पोस्ट-सिलिकॉन सिस्टम में करें। आज, इनमें से अधिकतर काम मैन्युअल रूप से किया जाता है, जो आंशिक रूप से सिस्टम सत्यापन से जुड़ी उच्च लागतों की व्याख्या करता है। हालाँकि, कुछ उपकरण हैं जो हाल ही में पोस्ट-सिलिकॉन सिस्टम सत्यापन को स्वचालित करने के लिए पेश किए गए हैं।

अवलोकनशीलता

सिमुलेशन-आधारित डिज़ाइन वातावरण लगभग पूर्ण अवलोकन के जबरदस्त लाभ का आनंद लेते हैं, जिसका अर्थ है कि डिज़ाइनर लगभग किसी भी समय कोई भी संकेत देख सकता है। हालांकि, वे डेटा की सीमित मात्रा से पीड़ित हैं जो वे पोस्ट-सिलिकॉन सिस्टम सत्यापन के दौरान उत्पन्न कर सकते हैं। कई जटिल उपकरण परीक्षण के दिनों या हफ्तों के बाद ही अपनी समस्याओं का संकेत देते हैं, और वे डेटा की मात्रा का उत्पादन करते हैं जो एक सिम्युलेटर पर पुन: पेश करने में सदियों लगेंगे। क्षेत्र में प्रोग्राम की जा सकने वाली द्वार श्रंखला एमुलेटर, अधिकांश कार्यान्वयन तकनीकों का एक सुस्थापित हिस्सा, सॉफ्टवेयर सिमुलेटर की तुलना में तेज़ हैं, लेकिन डिवाइस की विश्वसनीयता के लिए आवश्यक व्यापक एट-सिस्टम-स्पीड टेस्ट प्रदान नहीं करेंगे।

इसके अलावा, पोस्ट-सिलिकॉन सत्यापन की समस्या बदतर होती जा रही है, क्योंकि सेमीकंडक्टर सामग्री प्रसंस्करण में भयानक प्रगति के कारण डिजाइन की जटिलता बढ़ जाती है। प्रोटोटाइप सिलिकॉन - तथाकथित पहले सिलिकॉन - से वॉल्यूम उत्पादन की अवधि बढ़ रही है, और बग ग्राहकों से बच जाते हैं। आईपी-हार्डिंग से जुड़ा खर्च बढ़ रहा है। उद्योग आज उन तकनीकों पर केंद्रित है जो डिजाइनरों को पूर्व-सिलिकॉन सत्यापन में अपने निवेश को सिलिकॉन सत्यापन के बाद बेहतर परिशोधन करने की अनुमति देती हैं। इनमें से सर्वश्रेष्ठ समाधान सस्ती, स्केलेबल, स्वचालित, ऑन-चिप वायर-स्केल दृश्यता को सक्षम करते हैं।

लाभ

पोस्ट-सिलिकॉन सत्यापन में वे सभी सत्यापन प्रयास शामिल हैं जो पहले कुछ सिलिकॉन प्रोटोटाइप उपलब्ध होने के बाद सिस्टम पर डाले जाते हैं, लेकिन उत्पाद रिलीज़ होने से पहले। जबकि अतीत में इस प्रयास का अधिकांश डिजाइन के विद्युत पहलुओं को मान्य करने, या व्यवस्थित निर्माण दोषों का निदान करने के लिए समर्पित था, आज प्रयास का एक बढ़ता हुआ हिस्सा कार्यात्मक प्रणाली सत्यापन पर केंद्रित है। यह प्रवृत्ति अधिकांश भाग के लिए डिजिटल सिस्टम की बढ़ती जटिलता के कारण है, जो पारंपरिक प्री-सिलिकॉन पद्धतियों द्वारा प्रदान किए गए सत्यापन कवरेज को सीमित करती है। नतीजतन, कई कार्यात्मक कीड़े निर्मित सिलिकॉन में जीवित रहते हैं, और यह उनका पता लगाने और निदान करने के लिए पोस्ट-सिलिकॉन सत्यापन का काम है ताकि वे जारी सिस्टम में भाग न जाएं। इस श्रेणी में बग अक्सर सिस्टम-स्तरीय बग और दुर्लभ कोने-केस स्थितियां हैं जो डिज़ाइन स्टेट स्पेस में गहराई से दबी हुई हैं: चूंकि इन समस्याओं में कई डिज़ाइन मॉड्यूल शामिल हैं, इसलिए सीमित मापनीयता और प्रदर्शन की विशेषता वाले प्री-सिलिकॉन टूल के साथ उनकी पहचान करना मुश्किल है। .

दूसरी ओर, सिलिकॉन सत्यापन के बाद, बहुत उच्च कच्चे प्रदर्शन से लाभ होता है, क्योंकि परीक्षण सीधे निर्मित सिलिकॉन पर निष्पादित होते हैं। साथ ही, सीमित आंतरिक निगरानी और निर्मित सिलिकॉन चिप्स में संशोधन लागू करने में कठिनाई के कारण, यह पारंपरिक सत्यापन पद्धतियों के लिए कई चुनौतियों का सामना करता है। ये दो कारक त्रुटि निदान और सुधार में गंभीर चुनौतियों का कारण बनते हैं।

यह भी देखें

बाहरी संबंध