तापीय चालकता माप: Difference between revisions

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तापीय चालकता को मापने के कई संभावित प्रकार हैं, उनमें से प्रत्येक सामग्री की सीमित सीमा के लिए उपयुक्त है, जो तापीय गुणों और मध्यम तापमान पर निर्भर करता है। एक प्रतिरूप की तापीय चालकता को मापने के लिए विधियों के तीन वर्ग उपस्थित हैं: स्थिर-अवस्था, काल-प्रक्षेत्र और आवृत्ति-प्रक्षेत्र विधियाँ।

स्थिर-अवस्था के प्रकार

सामान्य रूप में, स्थिर-अवस्था तकनीकें माप करती हैं जब मापी गई सामग्री का तापमान समय के साथ नहीं बदलता है। यह संकेत विश्लेषण को स्पष्ट बनाता है (स्थिर अवस्था का तात्पर्य निरंतर संकेतों से है)। हानि यह है कि सामान्यतः एक अच्छी तरह से व्यवस्थित प्रयोगात्मक व्यवस्था की आवश्यकता होती है।

सामान्य रूप से स्थिर-अवस्था विधियाँ, पृष्ठ क्षेत्रफल $A(m^{2})$ और मोटाई, $x(m)$ वाले प्रतिरूप के लिए एक ज्ञात ऊष्माभिवाह ${\dot {Q}}(W/m^{2})$ को उपयोजित करके काम करती हैं; एक बार प्रतिरूप के स्थिर-अवस्था तापमान पर पहुंचने के बाद, तापमान में अंतर, $\Delta T$ , प्रतिदर्श की मोटाई में मापा जाता है। एक आयामी ऊष्मा प्रवाह और एक समदैशिक माध्यम को मानने के बाद, फूरियर के नियम का उपयोग तब मापी गई तापीय चालकता $k$ की गणना के लिए किया जाता है:

{\dot {Q}}=-kA{\frac {\Delta T}{x}}

स्थिर-अवस्था मापन में त्रुटि के प्रमुख स्रोतों में व्यवस्था में विकिरण और संवहनी ऊष्मा हानियां सम्मलित हैं, साथ ही तापीय चालकता के लिए प्रसार करने वाले प्रतिरूप की मोटाई में त्रुटियां भी सम्मलित हैं।

भूविज्ञान और भूभौतिकी में, समेकित चट्टान प्रतिदर्श के लिए सबसे सामान्य विधि विभाजित रेखा है। तापमान और आवश्यक दबावों के साथ-साथ प्रतिदर्श आकार के आधार पर युक्ति में कई संशोधन हैं। ज्ञात चालकता के दो प्रतिदर्श (सामान्यतः पीतल की प्लेट) के मध्य अज्ञात चालकता का एक प्रतिदर्श रखा जाता है। व्यवस्था सामान्यतः शीर्ष पर गर्म पीतल की प्लेट के साथ ऊर्ध्व होती है और मध्य में शीत पीतल की प्लेट के मध्य का प्रतिदर्श होती है। प्रतिरूप के अंतर्गत किसी भी संवहन को रोकने के लिए शीर्ष पर ऊष्मा की आपूर्ति की जाती है और नीचे की ओर जाने के लिए बनाया जाता है। प्रतिदर्श स्थिर अवस्था में पहुंचने के बाद माप लिया जाता है (शून्य ताप प्रवणता या पूरे प्रतिरूप पर निरंतर ऊष्मा के साथ), सामान्यतः इसमें लगभग 30 मिनट और अधिक समय लगता है।

अन्य स्थिर-अवस्था विधियाँ

ऊष्मा के अच्छे संवाहकों के लिए, सरेल रेखा विधि का उपयोग किया जा सकता है।^[1] ऊष्मा के तुच्छ संवाहकों के लिए, लीज़ डिस्क विधि का उपयोग किया जा सकता है।^[2]

काल प्रक्षेत्र प्रकार

क्षणिक तकनीकें तापन प्रक्रिया के समय माप करती हैं। लाभ यह है कि माप अपेक्षाकृत जल्दी किया जा सकता है। क्षणिक विधियाँ सामान्यतः नीडल जांच द्वारा की जाती हैं।

तापीय चालकता को मापने के लिए गैर-स्थिर-अवस्था विधियों को निरंतर मान प्राप्त करने के लिए संकेत की आवश्यकता नहीं होती है। इसके अलावा, संकेत का अध्ययन समय के कार्य के रूप में किया जाता है। इन विधियों का लाभ यह है कि इन्हें सामान्य रूप से अधिक तेज़ी से निष्पादित किया जा सकता है, क्योंकि स्थिर स्थिति के लिए प्रतीक्षा करने की कोई आवश्यकता नहीं है। हानि यह है कि आकड़ो का गणितीय विश्लेषण सामान्यतः अधिक कठिन होता है।

क्षणिक तप्त तार विधि

क्षणिक तप्त तार विधि (THW) गैसों, तरल पदार्थ, ^[3]ठोस,^[4]नैनोतरल ^[5]और प्रशीतक द्रव्य^[6] के व्यापक तापमान और दबाव में तापीय चालकता को मापने के लिए एक बहुत ही लोकप्रिय और सटीक तकनीक है। यह तकनीक अनंत लंबाई वाले क्षीण ऊर्ध्वाधर धातु के तार के क्षणिक तापमान वृद्धि को अभिलेखन करने पर आधारित है, जब उस पर एक सोपान वोल्टता लगाया जाता है। तार एक द्रव में डूबा हुआ है और विद्युत ताप तत्व और प्रतिरोध तापमापी दोनों के रूप में कार्य कर सकता है। क्षणिक तप्त तार विधि का अन्य तापीय चालकता पद्धति पर लाभ क्योंकि पूर्ण विकसित सिद्धांत है और कोई अंशांकन या एकल-बिंदु अंशांकन नहीं है। इसके अलावा बहुत कम मापने के समय (1s) के कारण माप में कोई संवहन उपस्थित नहीं है और केवल द्रव की तापीय चालकता को बहुत उच्च सटीकता के साथ मापा जाता है।

शैक्षिक विश्व में उपयोग किए जाने वाले अधिकांश टीएचडब्ल्यू संवेदक में लंबाई में केवल अंतर के साथ दो समान बहुत क्षीण तार होते हैं।^[3] एकल तार का उपयोग करने वाले संवेदक,^[7]^[8] दो-तार संवेदक पर लाभ के साथ शिक्षा और उद्योग दोनों में उपयोग किये जाते है, संवेदक को प्रहस्तन और तार को बदलने में आसानी होती है।

एकल-क्षणिक तप्त तार विधि का उपयोग करके इंजन शीतलक के मापन के लिए एक एएसटीएम मानक प्रकाशित किया गया है।^[9]

क्षणिक समतल स्रोत विधि

टीपीएस संवेदक, प्रतिरूप तीव्र डिस्क 4922, सर्पिल त्रिज्या लगभग 15 मिमी

क्षणिक समतल स्रोत विधि, एक समतल संवेदक का उपयोग और एक विशेष गणितीय प्रतिरूप जो ऊष्मा चालकता का वर्णन करता है, इलेक्ट्रॉनिक्स के साथ मिलकर, तापीय परिवहन गुण को मापने के लिए उपयोग की जाने वाली विधि को सक्षम बनाता है। यह कम से कम 0.01-500 W/m/K (ISO 22007-2 के अनुसार) की तापीय चालकता सीमा को आच्छादित करता है और इसका उपयोग विभिन्न प्रकार के सामग्रीो, जैसे ठोस, तरल, लेपित और पतली फिल्मों आदि को मापने के लिए किया जा सकता है। 2008 में इसे बहुलक (नवंबर 2008) के तापीय परिवहन गुणों को मापने के लिए आईएसओ-मानक के रूप में अनुमोदित किया गया था। यह टीपीएस मानक समदैशिक और विषमदैशिक सामग्री दोनों का परीक्षण करने के लिए इस पद्धति के उपयोग को भी सम्मलित करता है।

क्षणिक समतल स्रोत तकनीक सामान्यतः दो प्रतिदर्श को आधा करती है, जिसके मध्य में संवेदक मध्यवर्ती होता है। सामान्यतः प्रतिरूप सजातीय होने चाहिए, लेकिन प्रतिदर्श अंतर्वेशन को अधिकतम करने के लिए संवेदक आकार के उचित चयन के साथ, विषम सामग्री के क्षणिक समतल स्रोत परीक्षण का विस्तारित उपयोग संभव है। संवेदक समर्थन के रूप में उपयोग की जाने वाली ज्ञात विद्युतरोधन सामग्री के प्रस्तुतीकरण के साथ, इस विधि का उपयोग एकल-पक्षीय विन्यास में भी किया जा सकता है।

समतल संवेदक में विद्युत चालक निकल (Ni) धातु का एक निरंतर दोहरा सर्पिल होता है, जो एक पतली पन्नी से निक्षारित किया जाता है। निकल सर्पिल पतली पॉलिइमाइड फिल्म केप्टन की दो परतों के मध्य स्थित है। पतली केप्टन फिल्म संवेदक को विद्युतरोधन और यांत्रिक स्थिरता प्रदान करती है। मापने के लिए संवेदक को प्रतिरूप के दो भागो के मध्य रखा जाता है। माप के समय एक निरंतर विद्युत प्रभाव संवाहक सर्पिल से होकर पारित होता है, जिससे संवेदक का तापमान बढ़ जाता है। सामग्री के तापीय परिवहन गुणों के आधार पर, उत्पन्न ऊष्मा संवेदक के दोनों किनारों पर प्रतिरूप में फैल जाती है। संवेदक में तापमान बनाम समय की प्रतिक्रिया अभिलेखन करके, तापीय चालकता, तापीय प्रसार और सामग्री की विशिष्ट ताप क्षमता की गणना की जा सकती है। अत्यधिक चालक सामग्री के लिए, बहुत बड़े प्रतिदर्श की आवश्यकता होती है (कुछ लीटर मात्रा)।

संशोधित क्षणिक समतल स्रोत (एमटीपीएस) विधि

संशोधित क्षणिक समतल स्रोत संवेदक

उपरोक्त विधि का एक रूपांतर डॉ. नैन्सी मैथिस द्वारा विकसित संशोधित क्षणिक समतल स्रोत विधि (एमटीपीएस) है। युक्ति एकपक्षीय, अंतरापृष्ठीय, ऊष्मा परावर्तकता संवेदक का उपयोग करते है जो प्रतिरूप के लिए एक क्षणिक, निरंतर ताप स्रोत उपयोजित करते है। इस पद्धति और ऊपर वर्णित पारंपरिक क्षणिक समतल स्रोत तकनीक के मध्य का अंतर यह है कि तापन तत्व एक संगत पर समर्थित है, जो यांत्रिक समर्थन, विद्युतरोधन और तापीय विद्युतरोधन प्रदान करते है। यह संशोधन तरल पदार्थ, पाउडर, लेपित और ठोस पदार्थोंों के परीक्षण में अधिकतम नम्यता प्रदान करने के लिए एकपक्षीय अंतरापृष्ठीय माप प्रदान करते है।

क्षणिक रेखा स्रोत विधि

File:Tp-overview.jpg

क्षणिक रेखित स्रोत मापन के लिए उपयोग की जाने वाली नीडल जांच की श्रृंखला। चित्र दिखता है, बाएं से दाएं, प्रतिरूप TP02, TP08, आकार तुलना के प्रयोजनों के लिए एक गोल नोक, TP03 और TP09

इस पद्धति के पीछे भौतिक प्रतिरूप अनंत रेखित स्रोत है जिसमें प्रति इकाई लंबाई निरंतर शक्ति होती है। समय $t$ पर तापमान रूपरेखा $T(t,r)$ दूरी $r$ पर इस प्रकार है

T(t,r)={\frac {Q}{4\pi k}}\mathrm {Ei} \left({\frac {r^{2}}{4at}}\right)

जहां

[W·m⁻¹] में

Q

प्रति इकाई लंबाई की शक्ति (भौतिकी) है

k

प्रतिरूप की तापीय चालकता [W ·m ⁻¹·K⁻¹] में है

\mathrm {Ei} (x)

चरघातांकी समाकलन है, एक पारलौकिक गणितीय फलन है

r

रेखित स्रोत के लिए त्रिज्यीय दूरी है

[m²·s⁻¹] में तापीय विसरणशीलता

a

है

t

वह समय है जो तापन आरम्भ होने के बाद से [s] में उतीर्ण हो चुका है

एक प्रयोग करते समय, एक निश्चित दूरी पर एक बिंदु पर तापमान को मापता है, और समय में उस तापमान का पालन करता है। बड़े समय के लिए, निम्न संबंध का उपयोग करके घातीय अभिन्न का अनुमान लगाया जा सकता है

\mathrm {Ei} (x)=-\gamma -\ln(x)+O(x^{2})

जहाँ

\gamma \approx 0.577

यूलर-मास्चेरोनी स्थिरांक है

यह निम्नलिखित अभिव्यक्ति की ओर जाता है

T(t,r)={\frac {Q}{4\pi k}}\left\{-\gamma -\ln \left({\frac {r^{2}}{4a}}\right)+\ln(t)\right\}

ध्यान दें कि RHS पर कोष्ठक में पहले दो पद अचर हैं। इस प्रकार यदि जांच तापमान को समय के प्राकृतिक लघुगणक के विरुद्ध आलेखित किया जाता है, तो तापीय चालकता को Q के दिए गए ज्ञान से निर्धारित किया जा सकता है। सामान्यतः इसका अर्थ है कि पहले 60 से 120 सेकंड के आकड़ो को उपेक्षित करना और 600 से 1200 सेकंड के लिए मापना है। सामान्यतः, इस विधि का उपयोग उन गैसों और तरल पदार्थ के लिए किया जाता है जिनकी तापीय चालकता 0.1 और 50 W/(mK) के मध्य होती है। यदि तापीय चालकता बहुत अधिक है, तो आरेख प्रायः रैखिकता नहीं दिखाता है, इसलिए कोई मूल्यांकन संभव नहीं है।^[10]

संशोधित क्षणिक रेखा स्रोत विधि

भूतापीय ऊष्मा पंप (जीएचपी/जीएसएचपी) प्रणाली के अभिकल्प के लिए पृथ्वी के एक बड़े द्रव्यमान की तापीय चालकता को मापने के लिए क्षणिक रेखा स्रोत विधि पर भिन्नता का उपयोग किया जाता है। इसे सामान्यतः GHP उद्योग द्वारा भूमि तापीय अनुक्रिया परीक्षण (टीआरटी) कहा जाता है।^[11]^[12]^[13]उचित जीएचपी अभिकल्प के लिए भूमि चालकता और तापीय क्षमता को समझना आवश्यक है, और इन गुणों को मापने के लिए टीआरटी का उपयोग पहली बार 1983 (मोजेन्सन) में प्रस्तुत किया गया था। 1996 में एक्लोफ और गेहलिन द्वारा प्रस्तावित की गई और अब ASHRAE द्वारा अनुमोदित सामान्यतः उपयोग की जाने वाली प्रक्रिया में जमीन में गहराई तक एक पाइप पाश डालना सम्मलित है (एक अच्छी तरह से वेधन में, ज्ञात तापीय गुणों के पृष्ठभूमि सामग्री के साथ वेधन के वलय को भरना, गर्म करना पाइप पाश में तरल पदार्थ, और वेधन में अंतर्गम और विवरण पाइप से पाश में तापमान की गिरावट को मापना है। पृष्ठभूमि तापीय चालकता का अनुमान रेखित स्रोत सन्निकटन विधि का उपयोग करके लगाया जाता है - मापी गई तापीय प्रतिक्रिया के लॉग पर एक सीधी रेखा की आलेखित रचना है। इस प्रक्रिया के लिए एक बहुत ही स्थिर तापीय स्रोत और पम्पिंग विद्युत परिपथ की आवश्यकता होती है।

अधिक उन्नत पृष्ठभूमि टीआरटी विधियां वर्तमान में विकास के अधीन हैं। डीओई अब एक नए उन्नत तापीय चालकता परीक्षण को मान्य कर रहा है, जिसमें कहा गया है कि उपस्थित दृष्टिकोण के रूप में अर्द्ध समय की आवश्यकता होती है, जबकि एक स्थिर तापीय स्रोत की आवश्यकता भी समाप्त हो जाती है।^[14] यह नई तकनीक बहु-आयामी प्रतिरूप-आधारित टीआरटी आकड़ो पर विश्लेषण आधारित है।

लेजर दमक विधि

लेजर दमक विधि का उपयोग मोटाई की दिशा में एक पतली डिस्क की उष्मीय विसारकता को मापने के लिए किया जाता है। यह विधि सामने के चेहरे पर एक छोटी ऊर्जा नाड़ी द्वारा निर्मित पतली-डिस्क प्रतिरूप के पीछे के भाग पर तापमान वृद्धि के मापन पर आधारित है। एक संदर्भ प्रतिरूप के साथ विशिष्ट ऊष्मा प्राप्त की जा सकती है और ज्ञात घनत्व के साथ तापीय चालकता का परिणाम निम्नानुसार होता है

k(T)=a(T)\cdot c_{P}(T)\cdot \rho (T)

जहाँ

k

[W·m⁻¹·K⁻¹] प्रतिरूप की तापीय चालकता है,

a

[m ² ·s⁻¹] में प्रतिरूप की तापीय विसरणशीलता है

c_{P}

[J ·kg⁻¹·K⁻¹] में प्रतिरूप की विशिष्ट ताप क्षमता है

\rho

[kg·m⁻³] में प्रतिरूप का घनत्व है

यह व्यापक तापमान सीमा (−120 °C से 2800 °C) पर विभिन्न सामग्रियों की बहुलता के लिए उपयुक्त है।^[15]

काल प्रक्षेत्र थर्मोरेफ्लेक्शन विधि

काल प्रक्षेत्र थर्मोरेफ्लेक्टेंस एक ऐसी विधि है जिसके द्वारा सामग्री के तापीय गुणों को मापा जा सकता है, सबसे महत्वपूर्ण तापीय चालकता है। इस पद्धति को विशेष रूप से पतली फिल्म सामग्री पर उपयोजित किया जा सकता है, जिसमें ऐसे गुण होते हैं जो थोक में समान सामग्रियों की तुलना में बहुत भिन्न होते हैं। इस तकनीक के पीछे विचार यह है कि एक बार किसी पदार्थ को गर्म करने के बाद, सतह के प्रतिबिंब में परिवर्तन का उपयोग तापीय गुणों को प्राप्त करने के लिए किया जा सकता है। परावर्तकता में परिवर्तन को समय के संबंध में मापा जाता है, और प्राप्त आंकड़ों का मिलान एक ऐसे प्रतिरूप से किया जा सकता है जिसमें गुणांक होते हैं जो तापीय गुणों के अनुरूप होते हैं।

DynTIM विधि

DynTIM एक अधिकांश तापीय चालकता मापन प्रणाली है। DynTIM ऊष्मक या तापमान संवेदक तत्व के लिए शक्ति डायोड का उपयोग करके वास्तविक तापीय अंतरापृष्ठ सामग्री के पर्यावरणीय मापदंडों का अनुसरण करके काम करता है।^[16] डायोड के आसपास प्रबल तापीय विद्युतरोधन होने से, ऊष्मा केवल एक उजागर शीतलन टैब के माध्यम से निकल जाती है, जिसका उपयोग तापीय अंतरापृष्ठ सामग्री मापन के लिए जांच के रूप में किया जाता है। यह विधि ASTM D5470 मानक के साथ समानताएं साझा करती है, जैसे विभिन्न सामग्री की मोटाई स्तरों पर तापीय प्रतिरोध का मापन है।^[17] प्रणाली को उच्च तापीय चालकता तापीय अंतरापृष्ठ सामग्री को मापने के लिए प्रारूप किया गया है। विद्युतरोधी की माप के लिए इसकी प्रयोज्यता अधिक सीमित है।

आवृत्ति-प्रक्षेत्र विधियाँ

3ω-पद्धति

सामग्रियों के विद्युत् ऊष्मीय लक्षण वर्णन के लिए एक लोकप्रिय तकनीक 3ω-पद्धति है, जिसमें एक पतली धातु संरचना (सामान्यतः एक तार या एक फिल्म) एक प्रतिरोधी तापक और प्रतिरोध तापमान संसूचक (आरटीडी) के रूप में कार्य करने के लिए प्रतिरूप पर जमा की जाती है। तापक आवृत्ति ω पर एसी विद्युत प्रवाह से संचालित होती है, जो एकल अवधि के समय एसी संकेत के दोलन के कारण आवृत्ति 2ω पर आवधिक जूल तापन को प्रेरित करती है। प्रतिरूप के गर्म होने और तापमान प्रतिक्रिया के मध्य कुछ देरी होगी जो संवेदक/प्रतिरूप के तापीय गुणों पर निर्भर है। यह तापमान प्रतिक्रिया तापक से एसी वोल्टेज संकेत के आयाम और स्थिति को आवृत्तियों की एक श्रृंखला में प्रवेश करके मापा जाता है (सामान्यतः अभिबंधन प्रवर्धक का उपयोग करके पूरा किया जाता है)। ध्यान दें, संकेत की स्थिति तापन संकेत और तापमान प्रतिक्रिया के मध्य अंतराल है। मापित वोल्टेज में मौलिक और तीसरे गुणावृत्ति घटक (क्रमशः ω और 3ω) दोनों सम्मलित होंगे, क्योंकि धातु संरचना का जौल तापक/संवेदक तापन के तापमान गुणांक (टीसीआर) के कारण धातु तापन आवृत्ति 2ω के साथ इसके प्रतिरोध में दोलनों को प्रेरित करता है जैसा कि निम्नलिखित समीकरण में कहा गया है:

V=IR=I_{0}e^{i\omega t}\left(R_{0}+{\frac {\partial R}{\partial T}}\Delta T\right)=I_{0}e^{i\omega t}\left(R_{0}+C_{0}e^{i2\omega t}\right)

,

जहां C₀ स्थिर है। तापीय चालकता ΔT बनाम लॉग (ω) वक्र के रैखिक ढलान द्वारा निर्धारित किया जाता है। 3ω-पद्धति के मुख्य लाभ विकिरण प्रभाव को कम करना और स्थिर-अवस्था तकनीकों की तुलना में तापीय चालकता के तापमान निर्भरता का आसान अधिग्रहण है। हालांकि पतली फिल्म आकृति और माइक्रोलिथोग्राफी में कुछ विशेषज्ञता की आवश्यकता होती है, इस तकनीक को उपलब्ध सर्वोत्तम छद्म-संपर्क विधि माना जाता है।^[18]

आवृत्ति-प्रक्षेत्र तप्त तार विधि

कमरे के तापमान से 800 °C तक ठोस और पिघले हुए यौगिकों की तापीय चालकता को सटीक रूप से मापने के लिए क्षणिक तप्त तार विधि को 3ω-विधि के साथ जोड़ा जा सकता है। उच्च तापमान वाले तरल पदार्थ में, संवहन और विकिरण से त्रुटियां स्थिर-अवस्था बनाती हैं और समय-क्षेत्र तापीय चालकता माप व्यापक रूप से भिन्न होते हैं;^[19] यह पिघला हुआ नाइट्रेट्स के पूर्व मापों में स्पष्ट है।^[20] आवृत्ति-प्रक्षेत्र में संचालित करके, तरल की तापीय चालकता को 25 μm व्यास के तप्‍त-तार का उपयोग करके मापा जा सकता है, परिवेश के तापमान में उतार-चढ़ाव के प्रभाव को अस्वीकार करते हुए, विकिरण से त्रुटि को कम करना, और जांचे गए आयतन को 1 μL से कम रखकर संवहन से होने वाली त्रुटियों को कम करना है ।^[21]

स्वतंत्र संवेदक-आधारित 3ω-विधि

स्वतंत्र संवेदक-आधारित 3ω तकनीक^[22]^[23] थर्मोफिजिकल गुण माप के लिए पारंपरिक 3ω विधि के लिए एक उम्मीदवार के रूप में प्रस्तावित और विकसित किया गया है। विधि निम्नतापी तापमान से लगभग 400 K तक ठोस, पाउडर और तरल पदार्थ के निर्धारण को सम्मलित करती है।^[24] ठोस प्रतिदर्श के लिए, विधि थोक और दसियों सूक्ष्ममापी मोटी वेफर्स/झिल्लियों, घनी या सरंध्र सतह दोनों पर उपयोजित होती है।^[25] ^[26] तापीय चालकता और तापीय प्रवाहकता को क्रमशः चयनित संवेदकों का उपयोग करके मापा जा सकता है। दो मूल रूप अब उपलब्ध हैं: रैखिक स्रोत स्वतंत्र संवेदक और सूक्ष्ममापी स्रोत स्वतंत्र संवेदक है। तकनीक के विभिन्न रूपों द्वारा थर्मोफिजिकल गुणों की श्रेणी को आच्छादित किया जा सकता है, इस अपवाद के साथ कि अनुशंसित तापीय चालकता श्रेणी जहां उच्चतम परिशुद्धता प्राप्त की जा सकती है, रैखिक स्रोत स्वतंत्र संवेदक के लिए 0.01 से 150 W/m•K और सूक्ष्ममापी स्रोत स्वतंत्र संवेदक के लिए 500 से 8000 J/m2•K•s0.5 है।

मापन युक्ति

एक तापीय चालकता परीक्षक, जेमोलॉजी के युक्ति में से एक, यह निर्धारित करता है कि हीरे की विशिष्ट उच्च तापीय चालकता का उपयोग करके रत्न अमिश्रित हीरा हैं या नहीं है।

उदाहरण के लिए, ITP-MG4 Zond (रूस) की ऊष्मा चालकता का मापक यंत्र देखें।^[27]

मानक

EN 12667, निर्माण सामग्री और उत्पादों का तापीय प्रदर्शन है। संरक्षित तप्त प्लेट और ताप प्रवाह मीटर विधियों के माध्यम से तापीय प्रतिरोध का निर्धारण है। उच्च और मध्यम तापीय प्रतिरोध के उत्पाद, ISBN 0-580-36512-3.
ISO 8301, तापीय विद्युतरोधन - स्थिर-अवस्था तापीय प्रतिरोध और संबंधित गुणों का निर्धारण - ऊष्मा प्रवाह मीटर तंत्र [1]
ISO 8497, तापीय विद्युतरोधन - परिपत्र पाइपों के लिए तापीय विद्युतरोधन के स्थिर-अवस्था तापीय संचारण गुणों का निर्धारण, ISBN 0-580-26907-8 [2]
ISO 22007-2:2008 प्लास्टिक - तापीय चालकता और तापीय प्रसार का निर्धारण - भाग 2: क्षणिक समतल ताप स्रोत (तप्त डिस्क) विधि सीएसनंबर = 40683
ISO 22007-4:2008 प्लास्टिक - तापीय चालकता और तापीय विसारकता का निर्धारण - भाग 4: लेज़र दमक विधि^[15]
IEEE मानक 442-1981, मृदा तापीय प्रतिरोधकता मापन के लिए IEEE मार्गदर्शिका, ISBN 0-7381-0794-8 मिट्टी के तापीय गुण भी देखें। [3]^[28]
IEEE मानक 98-2002, ठोस विद्युत रोधक सामग्री के तापीय मूल्यांकन के लिए परीक्षण प्रक्रियाओं की तैयारी के लिए मानक, ISBN 0-7381-3277-2 ^[29]
ASTM मानक C518 - 10, ताप प्रवाह मीटर युक्ति के माध्यम से स्थिर-अवस्था तापीय संचारण गुणों के लिए मानक परीक्षण विधि [4]
ASTM मानक D5334-14, तापीय सूची जांच प्रक्रिया द्वारा मिट्टी और नरम चट्टान की तापीय चालकता के निर्धारण के लिए मानक परीक्षण विधि [5]
ASTM मानक D5470-06, तापीय चालक विद्युतरोधन सामग्री के तापीय संस्थिति गुणों के लिए मानक परीक्षण विधि
ASTM मानक E1225-04, संरक्षित-तुलनात्मक-अनुदैर्ध्य ताप प्रवाह तकनीक के माध्यम से ठोस पदार्थों की तापीय चालकता के लिए मानक परीक्षण विधि" REDLINE_PAGES/E1225.htm?L+mystore+wnox2486+1189558298
ASTM मानक D5930-01, क्षणिक रेखित-स्रोत तकनीक के माध्यम से प्लास्टिक की तापीय चालकता के लिए मानक परीक्षण विधि +mystore+wnox2486+-L+तापीय: CODUCTIVITY+/usr6/htdocs/astm.org/DATABASE.CART/REDLINE_PAGES/D5930.htm
ASTM मानक D2717-95, ''तरल पदार्थ की तापीय चालकता के लिए मानक परीक्षण विधि'' 1189564966
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संदर्भ

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बाहरी संबंध

वास्तविक थर्मामीटर का उपयोग करने वाली एक वैकल्पिक पारंपरिक विधि का वर्णन यहां किया गया है [6].
तापीय चालकता, तापीय विसारकता और एकल माप के भीतर विशिष्ट ऊष्मा को मापने के नए तरीकों की एक संक्षिप्त समीक्षा पर उपलब्ध है[7].
संशोधित क्षणिक सतह स्रोत (MTPS) का संक्षिप्त विवरण http://patents.ic.gc.ca/opic-cipo/cpd/eng/patent/2397102/page/2397102_20120528_description.pdf

[1] Searle's Bar for a good heat conductor. Media.uws.ac.uk. Retrieved on 2017-09-05.

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[9] ASTM D7896-14 – Standard Test Method for Thermal Conductivity, Thermal Diffusivity and Volumetric Heat Capacity of Engine Coolants and Related Fluids by Transient Hot Wire Liquid Thermal Conductivity Method, ASTM International, West Conshohocken, PA, 2014, doi:10.1520/D7896-14

[10] tec-science (2020-02-10). "तापीय चालकता (THW) निर्धारित करने के लिए क्षणिक-गर्म-तार विधि विधि". tec-science (in English). Retrieved 2020-02-10.

[Chiasson1999-11] Chiasson, A.D. (1999). "ग्राउंड सोर्स हीट पंप सिस्टम के मॉडलिंग में प्रगति" (PDF). Oklahoma State University. Retrieved 2009-04-23. {{cite journal}}: Cite journal requires |journal= (help)

[12] ttp://www.igshpa.okstate.edu/research/papers/tc_testing_copyright.pdf Soil Thermal Conductivity Tests Richard A. Beier, Mechanical Engineering Technology Department, Oklahoma State University

[13] ttp://www.hvac.okstate.edu/sites/default/files/pubs/papers/2002/08-Witte_VanGelder_Spitler_02.pdf In Situ Measurement of Ground Thermal Conductivity: A Dutch Perspective, Henk J.L. Witte, Guus J. van Gelder, Jeffrey D. Spitler

[Advanced_Thermal_Conductivity_Testing-14] ttp://www.sbv.org/a/pages/level3-geothermal-round1-2 Advanced Thermal Conductivity Testing for Geothermal Heating and Cooling Systems, U.S. Department of Energy, Small Business Vouchers Pilot

[ISO22007-4-15] 15.0 ^15.1 ISO22007-4:2008 Plastics – Determination of thermal conductivity and thermal diffusivity – Part 4: Laser flash method

[16] Vass-Várnai, András; Sárkány, Zoltán; Rencz, Márta (September 2012). "इन-सीटू वातावरण की नकल करने वाली थर्मल इंटरफ़ेस सामग्री के लिए लक्षण वर्णन विधि". Microelectronics Journal. 43 (9): 661–668. doi:10.1016/j.mejo.2011.06.013.

[17] A. Vass-Várnai, M.Rencz: ‘Testing interface thermal resistance‘ In: Proceedings of eTherm'08 - The 1st International Symposium on Thermal Design and Thermophysical Property for Electronics. Tsukuba, Japan, 2008.06.18-2008.06.20. pp. 73-76.

[TEhandbook-18] Rowe, David Michael. Thermoelectrics handbook : macro to nano / edited by D.M. Rowe. Boca Raton: CRC/Taylor & Francis, 2006. ISBN 0-8493-2264-2

[19] Chliatzou, Ch. D.; Assael, M. J.; Antoniadis, K. D.; Huber, M. L.; Wakeham, W. A. (2018). "Reference Correlations for the Thermal Conductivity of 13 Inorganic Molten Salts". Journal of Physical and Chemical Reference Data (in English). 47 (3): 033104. Bibcode:2018JPCRD..47c3104C. doi:10.1063/1.5052343. ISSN 0047-2689. PMC 6459620. PMID 30983644.

[20] Zhao, Qing-Guo; Hu, Chun-Xu; Liu, Su-Jie; Guo, Hang; Wu, Yu-Ting (2017-12-01). "The thermal conductivity of molten NaNO3, KNO3, and their mixtures". Energy Procedia. Leveraging Energy Technologies and Policy Options for Low Carbon Cities (in English). 143: 774–779. doi:10.1016/j.egypro.2017.12.761. ISSN 1876-6102.

[21] Wingert, M. C.; Zhao, A. Z.; Kodera, Y.; Obrey, S. J.; Garay, J. E. (2020-05-01). "Frequency-domain hot-wire sensor and 3D model for thermal conductivity measurements of reactive and corrosive materials at high temperatures". Review of Scientific Instruments (in English). 91 (5): 054904. Bibcode:2020RScI...91e4904W. doi:10.1063/1.5138915. ISSN 0034-6748. PMID 32486705.

[22] Qiu, L.; Tang, D. W.; Zheng, X. H.; Su, G. P. (2011). "The freestanding sensor-based 3ω technique for measuring thermal conductivity of solids: Principle and examination". Review of Scientific Instruments. 82 (4): 045106–045106–6. Bibcode:2011RScI...82d5106Q. doi:10.1063/1.3579495. PMID 21529038.

[23] Qiu, L.; Zheng, X. H.; Zhu, J.; Tang, D. W. (2011). "Note: Non-destructive measurement of thermal effusivity of a solid and liquid using a freestanding serpentine sensor-based 3ω technique". Review of Scientific Instruments. 82 (8): 086110–086110–3. Bibcode:2011RScI...82h6110Q. doi:10.1063/1.3626937. PMID 21895288.

[24] Qiu, L.; Zheng, X. H.; Su, G. P.; Tang, D. W. (21 September 2011). "Design and Application of a Freestanding Sensor Based on 3ω Technique for Thermal-Conductivity Measurement of Solids, Liquids, and Nanopowders". International Journal of Thermophysics. 34 (12): 2261–2275. doi:10.1007/s10765-011-1075-y. S2CID 121187257.

[25] Qiu, L.; Zheng, X.H.; Yue, P.; Zhu, J.; Tang, D.W.; Dong, Y.J.; Peng, Y.L. (March 2015). "Adaptable thermal conductivity characterization of microporous membranes based on freestanding sensor-based 3ω technique". International Journal of Thermal Sciences. 89: 185–192. doi:10.1016/j.ijthermalsci.2014.11.005.

[26] Qiu, L.; Li, Y. M.; Zheng, X. H.; Zhu, J.; Tang, D. W.; Wu, J. Q.; Xu, C. H. (1 December 2013). "मैक्रो-पोरस पॉलिमर-व्युत्पन्न SiOC सिरेमिक का थर्मल-कंडक्टिविटी अध्ययन". International Journal of Thermophysics. 35 (1): 76–89. doi:10.1007/s10765-013-1542-8. S2CID 95284477.

[27] "Измеритель теплопроводности ИТП-МГ4 "Зонд"". www.stroypribor.ru. Retrieved 2018-07-14.

[28] मृदा तापीय प्रतिरोधकता मापन के लिए IEEE मार्गदर्शिका. 1981. doi:10.1109/IEEESTD.1981.81018. ISBN 978-0-7381-0794-3.

[29] ठोस विद्युत इन्सुलेट सामग्री के थर्मल मूल्यांकन के लिए परीक्षण प्रक्रियाओं की तैयारी के लिए IEEE मानक. 2002. doi:10.1109/IEEESTD.2002.93617. ISBN 0-7381-3277-2.

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-तापीय चालकता को मापने के कई संभावित प्रकार हैं, उनमें से प्रत्येक पदार्थ की सीमित सीमा के लिए उपयुक्त है, जो तापीय गुणों और मध्यम तापमान पर निर्भर करता है। एक प्रतिरूप की तापीय चालकता को मापने के लिए विधियों के तीन वर्ग उपस्थित हैं: स्थिर-अवस्था, समय-प्रक्षेत्र और आवृत्ति-प्रक्षेत्र विधियाँ।
+तापीय चालकता को मापने के कई संभावित प्रकार हैं, उनमें से प्रत्येक सामग्री की सीमित सीमा के लिए उपयुक्त है, जो तापीय गुणों और मध्यम तापमान पर निर्भर करता है। एक प्रतिरूप की तापीय चालकता को मापने के लिए विधियों के तीन वर्ग उपस्थित हैं: स्थिर-अवस्था, काल-प्रक्षेत्र और आवृत्ति-प्रक्षेत्र विधियाँ।
 == स्थिर-अवस्था के प्रकार ==
-सामान्य रूप में, स्थिर-अवस्था तकनीकें माप करती हैं जब मापे गए पदार्थ का तापमान समय के साथ नहीं बदलता है। यह संकेत विश्लेषण को स्पष्ट बनाता है (स्थिर अवस्था का तात्पर्य निरंतर संकेतों से है)। हानि यह है कि सामान्यतः एक अच्छी तरह से व्यवस्थित प्रयोगात्मक व्यवस्था की आवश्यकता होती है।
+सामान्य रूप में, स्थिर-अवस्था तकनीकें माप करती हैं जब मापी गई सामग्री का तापमान समय के साथ नहीं बदलता है। यह संकेत विश्लेषण को स्पष्ट बनाता है (स्थिर अवस्था का तात्पर्य निरंतर संकेतों से है)। हानि यह है कि सामान्यतः एक अच्छी तरह से व्यवस्थित प्रयोगात्मक व्यवस्था की आवश्यकता होती है।
-सामान्य रूप से स्थिर-अवस्था विधियाँ, सतह क्षेत्र <math>A(m^2)
+सामान्य रूप से स्थिर-अवस्था विधियाँ, पृष्ठ क्षेत्रफल <math>A(m^2)
-</math> और मोटाई, <math>x (m)</math> वाले प्रतिरूप के लिए एक ज्ञात ऊष्मा प्रवाह <math>\dot Q (W/m^2)</math> को उपयोजित करके काम करती हैं; एक बार प्रतिरूप के स्थिर-अवस्था का तापमान पहुँच जाता है, तो प्रतिरूप की मोटाई में तापमान, <math>\Delta T</math>, के अंतर को मापा जाता है। एक आयामी ऊष्मा प्रवाह और एक समदैशिक माध्यम को मानने के बाद, फूरियर के नियम का उपयोग तब मापी गई तापीय चालकता <math>k</math> की गणना के लिए किया जाता है:
+</math> और मोटाई, <math>x (m)</math> वाले प्रतिरूप के लिए एक ज्ञात ऊष्माभिवाह <math>\dot Q (W/m^2)</math> को उपयोजित करके काम करती हैं; एक बार प्रतिरूप के स्थिर-अवस्था तापमान पर पहुंचने के बाद, तापमान में अंतर, <math>\Delta T</math>, प्रतिदर्श की मोटाई में मापा जाता है। एक आयामी ऊष्मा प्रवाह और एक समदैशिक माध्यम को मानने के बाद, फूरियर के नियम का उपयोग तब मापी गई तापीय चालकता <math>k</math> की गणना के लिए किया जाता है:
 :<math>\dot Q=-k A \frac{\Delta T}{x}</math>
-स्थिर-अवस्था मापन में त्रुटि के प्रमुख स्रोतों में व्यवस्था में विकिरण और संवहन ताप हानियां सम्मलित हैं, साथ ही तापीय चालकता के लिए प्रसार करने वाले प्रतिरूप की मोटाई में त्रुटियां भी सम्मलित हैं।
+स्थिर-अवस्था मापन में त्रुटि के प्रमुख स्रोतों में व्यवस्था में विकिरण और संवहनी ऊष्मा हानियां सम्मलित हैं, साथ ही तापीय चालकता के लिए प्रसार करने वाले प्रतिरूप की मोटाई में त्रुटियां भी सम्मलित हैं।
-भूविज्ञान और [[भूभौतिकी]] में, समेकित चट्टान प्रतिदर्श के लिए सबसे सामान्य विधि [[विभाजित बार|विभाजित गृह]] है। तापमान और आवश्यक दबावों के साथ-साथ प्रतिदर्श आकार के आधार पर इन उपकरणों में कई संशोधन हैं। ज्ञात चालकता के दो प्रतिदर्श (सामान्यतः पीतल की प्लेट) के मध्य अज्ञात चालकता का एक प्रतिदर्श रखा जाता है। व्यवस्था सामान्यतः शीर्ष पर गर्म पीतल की प्लेट के साथ लंबवत होती है, मध्य में शीत पीतल की प्लेट के मध्य का प्रतिदर्श होता है। प्रतिरूप के अंतर्गत किसी भी संवहन को रोकने के लिए शीर्ष पर गर्मी की आपूर्ति की जाती है और नीचे की ओर जाने के लिए बनाया जाता है। प्रतिदर्श स्थिर अवस्था में पहुंचने के बाद माप लिया जाता है (शून्य ताप प्रवणता या पूरे प्रतिरूप पर निरंतर गर्मी के साथ), इसमें सामान्यतः लगभग 30 मिनट और अधिक समय लगता है।
+भूविज्ञान और [[भूभौतिकी]] में, समेकित चट्टान प्रतिदर्श के लिए सबसे सामान्य विधि [[विभाजित बार|विभाजित रेखा]] है। तापमान और आवश्यक दबावों के साथ-साथ प्रतिदर्श आकार के आधार पर युक्ति में कई संशोधन हैं। ज्ञात चालकता के दो प्रतिदर्श (सामान्यतः पीतल की प्लेट) के मध्य अज्ञात चालकता का एक प्रतिदर्श रखा जाता है। व्यवस्था सामान्यतः शीर्ष पर गर्म पीतल की प्लेट के साथ ऊर्ध्व होती है और मध्य में शीत पीतल की प्लेट के मध्य का प्रतिदर्श होती है। प्रतिरूप के अंतर्गत किसी भी संवहन को रोकने के लिए शीर्ष पर ऊष्मा की आपूर्ति की जाती है और नीचे की ओर जाने के लिए बनाया जाता है। प्रतिदर्श स्थिर अवस्था में पहुंचने के बाद माप लिया जाता है (शून्य ताप प्रवणता या पूरे प्रतिरूप पर निरंतर ऊष्मा के साथ), सामान्यतः इसमें लगभग 30 मिनट और अधिक समय लगता है।
 === अन्य स्थिर-अवस्था विधियाँ ===
-ऊष्मा के अच्छे संवाहकों के लिए, [[विभाजित बार|सरेल गृह विधि]] का उपयोग किया जा सकता है।<ref>[http://media.uws.ac.uk/~davison/labpage/searle/searle.html Searle's Bar for a good heat conductor]. Media.uws.ac.uk. Retrieved on 2017-09-05.</ref> गर्मी के खराब संवाहकों के लिए, लीज़ डिस्क विधि का उपयोग किया जा सकता है।<ref>[http://academia.hixie.ch/bath/Thermal/home.html Ian Hickson's Lees' Disc Experiment]. Academia.hixie.ch. Retrieved on 2013-12-12.</ref>
+ऊष्मा के अच्छे संवाहकों के लिए, [[विभाजित बार|सरेल रेखा विधि]] का उपयोग किया जा सकता है।<ref>[http://media.uws.ac.uk/~davison/labpage/searle/searle.html Searle's Bar for a good heat conductor]. Media.uws.ac.uk. Retrieved on 2017-09-05.</ref> ऊष्मा के तुच्छ संवाहकों के लिए, लीज़ डिस्क विधि का उपयोग किया जा सकता है।<ref>[http://academia.hixie.ch/bath/Thermal/home.html Ian Hickson's Lees' Disc Experiment]. Academia.hixie.ch. Retrieved on 2013-12-12.</ref>
 == काल प्रक्षेत्र प्रकार ==
-क्षणिक तकनीकें गर्म करने की प्रक्रिया के समय मापन करती हैं। लाभ यह है कि माप अपेक्षाकृत जल्दी किया जा सकता है। क्षणिक विधियाँ सामान्यतः सुई जांच द्वारा की जाती हैं।
+क्षणिक तकनीकें तापन प्रक्रिया के समय माप करती हैं। लाभ यह है कि माप अपेक्षाकृत जल्दी किया जा सकता है। क्षणिक विधियाँ सामान्यतः नीडल जांच द्वारा की जाती हैं।
-तापीय चालकता को मापने के लिए गैर-स्थिर-अवस्था विधियों को निरंतर मान प्राप्त करने के लिए संकेत की आवश्यकता नहीं होती है। इसके अलावा, संकेत का अध्ययन समय के कार्य के रूप में किया जाता है। इन विधियों का लाभ यह है कि इन्हें सामान्य रूप से अधिक तेज़ी से निष्पादित किया जा सकता है, क्योंकि स्थिर स्थिति की स्थिति के लिए प्रतीक्षा करने की कोई आवश्यकता नहीं है। हानि यह है कि आकड़ो का गणितीय विश्लेषण सामान्यतः अधिक कठिन होता है।
+तापीय चालकता को मापने के लिए गैर-स्थिर-अवस्था विधियों को निरंतर मान प्राप्त करने के लिए संकेत की आवश्यकता नहीं होती है। इसके अलावा, संकेत का अध्ययन समय के कार्य के रूप में किया जाता है। इन विधियों का लाभ यह है कि इन्हें सामान्य रूप से अधिक तेज़ी से निष्पादित किया जा सकता है, क्योंकि स्थिर स्थिति के लिए प्रतीक्षा करने की कोई आवश्यकता नहीं है। हानि यह है कि आकड़ो का गणितीय विश्लेषण सामान्यतः अधिक कठिन होता है।
-=== [[क्षणिक गर्म तार विधि]] ===
+=== क्षणिक तप्त तार विधि ===
-क्षणिक गर्म तार विधि (THW) गैसों, तरल पदार्थों, <ref name="cite1">{{cite book|editor-last1=Wakeham|editor-first1=W.A. |editor-last2=Nagashima|editor-first2=A. |editor-last3=Sengers|editor-first3=J.V. |chapter=Measurement of the Transport Properties of Fluids|title=प्रायोगिक ऊष्मप्रवैगिकी, खंड III|location=Oxford |publisher=Blackwell Scientific Publications|date=1991}}</ref> ठोस,<ref>{{cite journal|last1=Assael|first1=M.J. |last2=Antoniadis|first2=K.D.|last3=Metaxa|first3=I.N. |last4=Mylona|first4=S.K. |last5=Assael|first5=J.-A.M. |last6=Wu|first6=J.|last7=Hu|first7=M. |title=सॉलिड्स की थर्मल कंडक्टिविटी के मापन के लिए एक उपन्यास पोर्टेबल एब्सोल्यूट ट्रांसिएंट हॉट-वायर इंस्ट्रूमेंट|journal= International Journal of Thermophysics|volume=36 |issue=10–11 |pages=3083–3105 |doi=10.1007/s10765-015-1964-6|year=2015 |bibcode=2015IJT....36.3083A |s2cid=118547999 }}</ref>नैनोतरल <ref>{{cite journal|last1=Assael|first1=M.J. |last2=Chen|first2=C.F.|last3=Metaxa|first3=I. |last4=Wakeham|first4=W.A. |title=पानी में कार्बन नैनोट्यूब के निलंबन की तापीय चालकता|journal= International Journal of Thermophysics|volume=25 |issue=4 |pages=971–985 |doi=10.1023/B:IJOT.0000038494.22494.04|year=2004 |bibcode=2004IJT....25..971A |s2cid=97459543 }}</ref> और प्रशीतक द्रव्य<ref>{{cite journal |last1=Mylona |first1=Sofia K. |last2=Hughes |first2=Thomas J. |last3=Saeed |first3=Amina A. |last4=Rowland |first4=Darren |last5=Park |first5=Juwoon |last6=Tsuji |first6=Tomoya |last7=Tanaka |first7=Yukio |last8=Seiki |first8=Yoshio |last9=May |first9=Eric F. |title=Thermal conductivity data for refrigerant mixtures containing R1234yf and R1234ze(E) |journal= The Journal of Chemical Thermodynamics|volume=133 |pages=135–142 |doi=10.1016/j.jct.2019.01.028|year=2019 |s2cid=104413076 }}</ref> की व्यापक तापमान और दबाव में तापीय चालकता को मापने के लिए एक बहुत ही लोकप्रिय, सटीक और सटीक तकनीक है। यह तकनीक अनंत लंबाई वाले पतले ऊर्ध्वाधर धातु के तार के क्षणिक तापमान वृद्धि को अभिलेखन करने पर आधारित है, जब उस पर एक सोपान वोल्टता लगाया जाता है। तार एक द्रव में डूबा हुआ है और विद्युत ताप तत्व और प्रतिरोध तापमापी दोनों के रूप में कार्य कर सकता है। क्षणिक गर्म तार विधि का अन्य तापीय चालकता पद्धति पर लाभ है क्योंकि पूर्ण विकसित सिद्धांत है और कोई अंशांकन या एकल-बिंदु अंशांकन नहीं है। इसके अलावा बहुत कम मापने के समय (1 s) के कारण माप में कोई संवहन उपस्थित नहीं है और केवल द्रव की तापीय चालकता को बहुत उच्च सटीकता के साथ मापा जाता है।
+क्षणिक तप्त तार विधि (THW) गैसों, तरल पदार्थ, <ref name="cite1">{{cite book|editor-last1=Wakeham|editor-first1=W.A. |editor-last2=Nagashima|editor-first2=A. |editor-last3=Sengers|editor-first3=J.V. |chapter=Measurement of the Transport Properties of Fluids|title=प्रायोगिक ऊष्मप्रवैगिकी, खंड III|location=Oxford |publisher=Blackwell Scientific Publications|date=1991}}</ref>ठोस,<ref>{{cite journal|last1=Assael|first1=M.J. |last2=Antoniadis|first2=K.D.|last3=Metaxa|first3=I.N. |last4=Mylona|first4=S.K. |last5=Assael|first5=J.-A.M. |last6=Wu|first6=J.|last7=Hu|first7=M. |title=सॉलिड्स की थर्मल कंडक्टिविटी के मापन के लिए एक उपन्यास पोर्टेबल एब्सोल्यूट ट्रांसिएंट हॉट-वायर इंस्ट्रूमेंट|journal= International Journal of Thermophysics|volume=36 |issue=10–11 |pages=3083–3105 |doi=10.1007/s10765-015-1964-6|year=2015 |bibcode=2015IJT....36.3083A |s2cid=118547999 }}</ref>नैनोतरल <ref>{{cite journal|last1=Assael|first1=M.J. |last2=Chen|first2=C.F.|last3=Metaxa|first3=I. |last4=Wakeham|first4=W.A. |title=पानी में कार्बन नैनोट्यूब के निलंबन की तापीय चालकता|journal= International Journal of Thermophysics|volume=25 |issue=4 |pages=971–985 |doi=10.1023/B:IJOT.0000038494.22494.04|year=2004 |bibcode=2004IJT....25..971A |s2cid=97459543 }}</ref>और प्रशीतक द्रव्य<ref>{{cite journal |last1=Mylona |first1=Sofia K. |last2=Hughes |first2=Thomas J. |last3=Saeed |first3=Amina A. |last4=Rowland |first4=Darren |last5=Park |first5=Juwoon |last6=Tsuji |first6=Tomoya |last7=Tanaka |first7=Yukio |last8=Seiki |first8=Yoshio |last9=May |first9=Eric F. |title=Thermal conductivity data for refrigerant mixtures containing R1234yf and R1234ze(E) |journal= The Journal of Chemical Thermodynamics|volume=133 |pages=135–142 |doi=10.1016/j.jct.2019.01.028|year=2019 |s2cid=104413076 }}</ref> के व्यापक तापमान और दबाव में तापीय चालकता को मापने के लिए एक बहुत ही लोकप्रिय और सटीक तकनीक है। यह तकनीक अनंत लंबाई वाले क्षीण ऊर्ध्वाधर धातु के तार के क्षणिक तापमान वृद्धि को अभिलेखन करने पर आधारित है, जब उस पर एक सोपान वोल्टता लगाया जाता है। तार एक द्रव में डूबा हुआ है और विद्युत ताप तत्व और प्रतिरोध तापमापी दोनों के रूप में कार्य कर सकता है। क्षणिक तप्त तार विधि का अन्य तापीय चालकता पद्धति पर लाभ क्योंकि पूर्ण विकसित सिद्धांत है और कोई अंशांकन या एकल-बिंदु अंशांकन नहीं है। इसके अलावा बहुत कम मापने के समय (1s) के कारण माप में कोई संवहन उपस्थित नहीं है और केवल द्रव की तापीय चालकता को बहुत उच्च सटीकता के साथ मापा जाता है।
-शैक्षिक विश्व में उपयोग किए जाने वाले अधिकांश टीएचडब्ल्यू संवेदक में लंबाई में केवल अंतर के साथ दो समान बहुत पतले तार होते हैं।<ref name="cite1" />एकल तार का उपयोग करने वाले संवेदक,<ref>{{cite journal |last1=Nagasaka |first1=N. |last2=Nagashima |first2=A. |title= Simultaneous measurement of the thermal conductivity and the thermal diffusivity of liquids by the transient hot‐wire method|journal= Review of Scientific Instruments|volume=52 |issue=2 |pages=229–232 |doi=10.1063/1.1136577|year=1981 |bibcode=1981RScI...52..229N }}</ref><ref>{{cite journal |last1=Fujii |first1=M. |last2=Zhang |first2=X. |last3=Imaishi |first3=N. |last4=Fujiwara |first4=S. |last5=Sakamoto |first5=T. |title=माइक्रोग्रैविटी स्थितियों के तहत तापीय चालकता और तरल पदार्थों की तापीय विसारकता का एक साथ माप|journal= International Journal of Thermophysics|volume=18 |issue=2 |pages=327–339 |doi=10.1007/BF02575164|year=1997 |bibcode=1997IJT....18..327F |s2cid=122155913 }}</ref> दो-तार संवेदक पर लाभ के साथ शिक्षा और उद्योग दोनों में उपयोग किया जाता है, संवेदक को संभालने और तार को बदलने में आसानी होती है।
+शैक्षिक विश्व में उपयोग किए जाने वाले अधिकांश टीएचडब्ल्यू संवेदक में लंबाई में केवल अंतर के साथ दो समान बहुत क्षीण तार होते हैं।<ref name="cite1" /> एकल तार का उपयोग करने वाले संवेदक,<ref>{{cite journal |last1=Nagasaka |first1=N. |last2=Nagashima |first2=A. |title= Simultaneous measurement of the thermal conductivity and the thermal diffusivity of liquids by the transient hot‐wire method|journal= Review of Scientific Instruments|volume=52 |issue=2 |pages=229–232 |doi=10.1063/1.1136577|year=1981 |bibcode=1981RScI...52..229N }}</ref><ref>{{cite journal |last1=Fujii |first1=M. |last2=Zhang |first2=X. |last3=Imaishi |first3=N. |last4=Fujiwara |first4=S. |last5=Sakamoto |first5=T. |title=माइक्रोग्रैविटी स्थितियों के तहत तापीय चालकता और तरल पदार्थों की तापीय विसारकता का एक साथ माप|journal= International Journal of Thermophysics|volume=18 |issue=2 |pages=327–339 |doi=10.1007/BF02575164|year=1997 |bibcode=1997IJT....18..327F |s2cid=122155913 }}</ref> दो-तार संवेदक पर लाभ के साथ शिक्षा और उद्योग दोनों में उपयोग किये जाते है, संवेदक को प्रहस्तन और तार को बदलने में आसानी होती है।
-एकल-क्षणिक गर्म तार विधि का उपयोग करके इंजन शीतलक के मापन के लिए एक एएसटीएम मानक प्रकाशित किया गया है।<ref>{{citation |title=ASTM D7896-14 – Standard Test Method for Thermal Conductivity, Thermal Diffusivity and Volumetric Heat Capacity of Engine Coolants and Related Fluids by Transient Hot Wire Liquid Thermal Conductivity Method, ASTM International, West Conshohocken, PA |date=2014 |doi=10.1520/D7896-14 }}</ref>
+एकल-क्षणिक तप्त तार विधि का उपयोग करके इंजन शीतलक के मापन के लिए एक एएसटीएम मानक प्रकाशित किया गया है।<ref>{{citation |title=ASTM D7896-14 – Standard Test Method for Thermal Conductivity, Thermal Diffusivity and Volumetric Heat Capacity of Engine Coolants and Related Fluids by Transient Hot Wire Liquid Thermal Conductivity Method, ASTM International, West Conshohocken, PA |date=2014 |doi=10.1520/D7896-14 }}</ref>
 === क्षणिक समतल स्रोत विधि ===
-[[File:TPS sensor, model Hot Disk 4922.jpg|thumb|टीपीएस संवेदक, प्रतिरूप हॉट डिस्क 4922, सर्पिल त्रिज्या लगभग 15 मिमी]]क्षणिक समतल स्रोत विधि, एक समतल संवेदक का उपयोग और एक विशेष गणितीय प्रतिरूप जो गर्मी चालकता का वर्णन करता है, इलेक्ट्रॉनिक्स के साथ मिलकर, तापीय परिवहन गुण को मापने के लिए उपयोग की जाने वाली विधि को सक्षम बनाता है। यह कम से कम 0.01-500 W/m/K (ISO 22007-2 के अनुसार) की तापीय चालकता सीमा को आच्छादित करता है और इसका उपयोग विभिन्न प्रकार की सामग्रियों, जैसे ठोस, तरल, लेपित और पतली फिल्मों आदि को मापने के लिए किया जा सकता है। 2008 में इसे बहुलक (नवंबर 2008) के तापीय परिवहन गुणों को मापने के लिए आईएसओ-मानक के रूप में अनुमोदित किया गया था। यह टीपीएस मानक आइसोट्रोपिक और अनिसोट्रोपिक पदार्थ दोनों का परीक्षण करने के लिए इस पद्धति के उपयोग को भी सम्मलित करता है।
+[[File:TPS sensor, model Hot Disk 4922.jpg|thumb|टीपीएस संवेदक, प्रतिरूप तीव्र डिस्क 4922, सर्पिल त्रिज्या लगभग 15 मिमी]]क्षणिक समतल स्रोत विधि, एक समतल संवेदक का उपयोग और एक विशेष गणितीय प्रतिरूप जो ऊष्मा चालकता का वर्णन करता है, इलेक्ट्रॉनिक्स के साथ मिलकर, तापीय परिवहन गुण को मापने के लिए उपयोग की जाने वाली विधि को सक्षम बनाता है। यह कम से कम 0.01-500 W/m/K (ISO 22007-2 के अनुसार) की तापीय चालकता सीमा को आच्छादित करता है और इसका उपयोग विभिन्न प्रकार के सामग्रीो, जैसे ठोस, तरल, लेपित और पतली फिल्मों आदि को मापने के लिए किया जा सकता है। 2008 में इसे बहुलक (नवंबर 2008) के तापीय परिवहन गुणों को मापने के लिए आईएसओ-मानक के रूप में अनुमोदित किया गया था। यह टीपीएस मानक समदैशिक और विषमदैशिक सामग्री दोनों का परीक्षण करने के लिए इस पद्धति के उपयोग को भी सम्मलित करता है।
-क्षणिक समतल स्रोत तकनीक सामान्यतः दो प्रतिदर्श को आधा करती है, जिसके मध्य में संवेदक मध्यवर्ती होता है। सामान्यतः प्रतिरूप सजातीय होने चाहिए, लेकिन प्रतिदर्श पैठ को अधिकतम करने के लिए संवेदक आकार के उचित चयन के साथ, विषम पदार्थ के क्षणिक समतल स्रोत परीक्षण का विस्तारित उपयोग संभव है। संवेदक समर्थन के रूप में उपयोग की जाने वाली ज्ञात विद्युतरोधन पदार्थ की प्रस्तुतीकरण के साथ, इस विधि का उपयोग एकल-पक्षीय विन्यास में भी किया जा सकता है।
+क्षणिक समतल स्रोत तकनीक सामान्यतः दो प्रतिदर्श को आधा करती है, जिसके मध्य में संवेदक मध्यवर्ती होता है। सामान्यतः प्रतिरूप सजातीय होने चाहिए, लेकिन प्रतिदर्श अंतर्वेशन को अधिकतम करने के लिए संवेदक आकार के उचित चयन के साथ, विषम सामग्री के क्षणिक समतल स्रोत परीक्षण का विस्तारित उपयोग संभव है। संवेदक समर्थन के रूप में उपयोग की जाने वाली ज्ञात विद्युतरोधन सामग्री के प्रस्तुतीकरण के साथ, इस विधि का उपयोग एकल-पक्षीय विन्यास में भी किया जा सकता है।
-समतल संवेदक में विद्युत प्रवाहकीय निकल (Ni) धातु का एक निरंतर दोहरा सर्पिल होता है, जो एक पतली पन्नी से निक्षारित किया जाता है। निकल सर्पिल पतली [[ polyimide |पॉलिइमाइड]] फिल्म केप्टन की दो परतों के मध्य स्थित है। पतली केप्टन फिल्म संवेदक को विद्युत विद्युतरोधन और यांत्रिक स्थिरता प्रदान करती है। मापने के लिए संवेदक को प्रतिरूप के दो भागो के मध्य रखा जाता है। माप के समय एक निरंतर विद्युत प्रभाव संवाहक सर्पिल से होकर पारित होता है, जिससे संवेदक का तापमान बढ़ जाता है। पदार्थ के तापीय परिवहन गुणों के आधार पर, उत्पन्न गर्मी संवेदक के दोनों किनारों पर प्रतिरूप में फैल जाती है। संवेदक में तापमान बनाम समय की प्रतिक्रिया अभिलेखन करके, तापीय चालकता, तापीय प्रसार और पदार्थ की विशिष्ट ताप क्षमता की गणना की जा सकती है। अत्यधिक चालक पदार्थ के लिए, बहुत बड़े प्रतिदर्श की आवश्यकता होती है (कुछ लीटर मात्रा)।
+समतल संवेदक में विद्युत चालक निकल (Ni) धातु का एक निरंतर दोहरा सर्पिल होता है, जो एक पतली पन्नी से निक्षारित किया जाता है। निकल सर्पिल पतली [[ polyimide |पॉलिइमाइड]] फिल्म केप्टन की दो परतों के मध्य स्थित है। पतली केप्टन फिल्म संवेदक को विद्युतरोधन और यांत्रिक स्थिरता प्रदान करती है। मापने के लिए संवेदक को प्रतिरूप के दो भागो के मध्य रखा जाता है। माप के समय एक निरंतर विद्युत प्रभाव संवाहक सर्पिल से होकर पारित होता है, जिससे संवेदक का तापमान बढ़ जाता है। सामग्री के तापीय परिवहन गुणों के आधार पर, उत्पन्न ऊष्मा संवेदक के दोनों किनारों पर प्रतिरूप में फैल जाती है। संवेदक में तापमान बनाम समय की प्रतिक्रिया अभिलेखन करके, तापीय चालकता, तापीय प्रसार और सामग्री की विशिष्ट ताप क्षमता की गणना की जा सकती है। अत्यधिक चालक सामग्री के लिए, बहुत बड़े प्रतिदर्श की आवश्यकता होती है (कुछ लीटर मात्रा)।
 === संशोधित क्षणिक समतल स्रोत (एमटीपीएस) विधि ===
-[[File:Thermal Conductivity Measurement, Modified Transient Plane Source Technique.png|thumb|संशोधित क्षणिक समतल स्रोत संवेदक]]उपरोक्त विधि का एक रूपांतर [https://www.youtube.com/watch?v=Htmi5J8zbQM डॉ. नैन्सी मैथिस] द्वारा विकसित संशोधित क्षणिक समतल स्रोत विधि (एमटीपीएस) है। युक्ति एकपक्षीय, अंतरापृष्ठीय, ऊष्मा परावर्तकता संवेदक का उपयोग करता है जो प्रतिरूप के लिए एक क्षणिक, निरंतर ताप स्रोत उपयोजित करता है। इस पद्धति और ऊपर वर्णित पारंपरिक क्षणिक समतल स्रोत तकनीक के मध्य का अंतर यह है कि तापन तत्व एक संगत पर समर्थित है, जो यांत्रिक समर्थन, विद्युत विद्युतरोधन और तापीय विद्युतरोधन प्रदान करता है। यह संशोधन तरल पदार्थ, पाउडर, लेपित और ठोस पदार्थों के परीक्षण में अधिकतम लचीलापन प्रदान करने के लिए एकपक्षीय अंतरापृष्ठीय माप प्रदान करता है।
+[[File:Thermal Conductivity Measurement, Modified Transient Plane Source Technique.png|thumb|संशोधित क्षणिक समतल स्रोत संवेदक]]उपरोक्त विधि का एक रूपांतर [https://www.youtube.com/watch?v=Htmi5J8zbQM डॉ. नैन्सी मैथिस] द्वारा विकसित संशोधित क्षणिक समतल स्रोत विधि (एमटीपीएस) है। युक्ति एकपक्षीय, अंतरापृष्ठीय, ऊष्मा परावर्तकता संवेदक का उपयोग करते है जो प्रतिरूप के लिए एक क्षणिक, निरंतर ताप स्रोत उपयोजित करते है। इस पद्धति और ऊपर वर्णित पारंपरिक क्षणिक समतल स्रोत तकनीक के मध्य का अंतर यह है कि तापन तत्व एक संगत पर समर्थित है, जो यांत्रिक समर्थन, विद्युतरोधन और तापीय विद्युतरोधन प्रदान करते है। यह संशोधन तरल पदार्थ, पाउडर, लेपित और ठोस पदार्थोंों के परीक्षण में अधिकतम नम्यता प्रदान करने के लिए एकपक्षीय अंतरापृष्ठीय माप प्रदान करते है।
 === क्षणिक रेखा स्रोत विधि ===
-[[Image:tp-overview.jpg|thumb|right|400px|क्षणिक रेखित स्रोत मापन के लिए उपयोग की जाने वाली सुई जांच की श्रृंखला। फोटो शो, बाएं से दाएं, प्रतिरूप TP02, TP08, आकार तुलना के प्रयोजनों के लिए एक बॉलपॉइंट, TP03 और TP09]]इस पद्धति के पीछे भौतिक प्रतिरूप अनंत रेखित स्रोत है जिसमें प्रति इकाई लंबाई निरंतर शक्ति होती है। समय <math>t</math> पर तापमान रूपरेखा <math>T(t,r)</math> दूरी <math>r</math> पर     इस प्रकार है
+[[Image:tp-overview.jpg|thumb|right|400px|क्षणिक रेखित स्रोत मापन के लिए उपयोग की जाने वाली नीडल जांच की श्रृंखला। चित्र दिखता है, बाएं से दाएं, प्रतिरूप TP02, TP08, आकार तुलना के प्रयोजनों के लिए एक गोल नोक, TP03 और TP09]]इस पद्धति के पीछे भौतिक प्रतिरूप अनंत रेखित स्रोत है जिसमें प्रति इकाई लंबाई निरंतर शक्ति होती है। समय <math>t</math> पर तापमान रूपरेखा <math>T(t,r)</math> दूरी <math>r</math> पर     इस प्रकार है
 :<math>T(t,r) = \frac{Q}{4 \pi k} \mathrm{Ei} \left( \frac{r^2}{4 a t} \right)</math>
 जहां
 : [<nowiki/>[[W·m−1|W·m<sup>−1</sup>]]] में <math>Q</math> प्रति इकाई लंबाई की [[शक्ति (भौतिकी)]] है
-: <math>k</math>  प्रतिरूप की तापीय चालकता है [<nowiki/>[[W·m−1·K−1|W·m<sup>−1</sup>·K<sup>−1</sup>]]] में
+: <math>k</math> प्रतिरूप की तापीय चालकता [<nowiki/>[[W·m−1·K−1|W]]<nowiki/>[[W·m−1·K−1|·m]][[W·m−1·K−1|<sup>−</sup>]]<nowiki/>[[W·m−1·K−1|<sup>1</sup>·K<sup>−1</sup>]]] में है
 : <math>\mathrm{Ei}(x)</math> चरघातांकी समाकलन है, एक पारलौकिक गणितीय फलन है
 : <math>r</math> रेखित स्रोत के लिए त्रिज्यीय दूरी है
-: [<nowiki/>[[M2·s−1|m<sup>2</sup>·s<sup>−1</sup>]]]  में तापीय विसरणशीलता <math>a</math> है
+: [<nowiki/>[[M2·s−1|m<sup>2</sup>·s<sup>−1</sup>]]] में तापीय विसरणशीलता <math>a</math> है
 : <math>t</math> वह समय है जो तापन आरम्भ होने के बाद से [s] में उतीर्ण हो चुका है
@@ Line 57: / Line 57: @@
 :<math>T(t,r) = \frac{Q}{4 \pi k} \left\{ -\gamma -\ln \left( \frac{r^2}{4 a} \right) + \ln (t) \right\} </math>
-ध्यान दें कि RHS पर कोष्ठक में पहले दो पद अचर हैं। इस प्रकार यदि जांच तापमान को समय के प्राकृतिक लघुगणक के विरुद्ध आलेखित किया जाता है, तो तापीय चालकता को Q के दिए गए ज्ञान से निर्धारित किया जा सकता है। सामान्यतः इसका अर्थ है कि पहले 60 से 120 सेकंड के आकड़ो को अनदेखा करना और 600 से 1200 सेकंड के लिए मापना। सामान्यतः, इस विधि का उपयोग उन गैसों और तरल पदार्थों के लिए किया जाता है जिनकी तापीय चालकता 0.1 और 50 W/(mK) के मध्य होती है। यदि तापीय चालकता बहुत अधिक है, तो आरेख प्रायः रैखिकता नहीं दिखाता है, इसलिए कोई मूल्यांकन संभव नहीं है।<ref>{{Cite web|url=https://www.tec-science.com/thermodynamics/heat/transient-hot-wire-method-method-for-determining-thermal-conductivity-thw/|title=तापीय चालकता (THW) निर्धारित करने के लिए क्षणिक-गर्म-तार विधि विधि|last=tec-science|date=2020-02-10|website=tec-science|language=en-US|access-date=2020-02-10}}</ref>
+ध्यान दें कि RHS पर कोष्ठक में पहले दो पद अचर हैं। इस प्रकार यदि जांच तापमान को समय के प्राकृतिक लघुगणक के विरुद्ध आलेखित किया जाता है, तो तापीय चालकता को Q के दिए गए ज्ञान से निर्धारित किया जा सकता है। सामान्यतः इसका अर्थ है कि पहले 60 से 120 सेकंड के आकड़ो को उपेक्षित करना और 600 से 1200 सेकंड के लिए मापना है। सामान्यतः, इस विधि का उपयोग उन गैसों और तरल पदार्थ के लिए किया जाता है जिनकी तापीय चालकता 0.1 और 50 W/(mK) के मध्य होती है। यदि तापीय चालकता बहुत अधिक है, तो आरेख प्रायः रैखिकता नहीं दिखाता है, इसलिए कोई मूल्यांकन संभव नहीं है।<ref>{{Cite web|url=https://www.tec-science.com/thermodynamics/heat/transient-hot-wire-method-method-for-determining-thermal-conductivity-thw/|title=तापीय चालकता (THW) निर्धारित करने के लिए क्षणिक-गर्म-तार विधि विधि|last=tec-science|date=2020-02-10|website=tec-science|language=en-US|access-date=2020-02-10}}</ref>
 === संशोधित क्षणिक रेखा स्रोत विधि ===
-[[जियोथर्मल हीट पंप|जियोतापीय ऊष्मा पंप]] (जीएचपी/जीएसएचपी) प्रणाली के अभिकल्प के लिए पृथ्वी के एक बड़े द्रव्यमान की तापीय चालकता को मापने के लिए क्षणिक रेखा स्रोत विधि पर भिन्नता का उपयोग किया जाता है। इसे सामान्यतः GHP उद्योग द्वारा भूमि तापीय अनुक्रिया परीक्षण (टीआरटी) कहा जाता है।<ref name=Chiasson1999>{{Cite journal | title = ग्राउंड सोर्स हीट पंप सिस्टम के मॉडलिंग में प्रगति| url = http://www.solis.pl/index.php/content/download/375/1291/file/GROUND%20SOURCE%20HEAT.pdf | year = 1999 | author = Chiasson, A.D. | publisher = Oklahoma State University | access-date = 2009-04-23 }}</ref><ref>http://www.igshpa.okstate.edu/research/papers/tc_testing_copyright.pdf Soil Thermal Conductivity Tests
+[[जियोथर्मल हीट पंप|भूतापीय ऊष्मा पंप]] (जीएचपी/जीएसएचपी) प्रणाली के अभिकल्प के लिए पृथ्वी के एक बड़े द्रव्यमान की तापीय चालकता को मापने के लिए क्षणिक रेखा स्रोत विधि पर भिन्नता का उपयोग किया जाता है। इसे सामान्यतः GHP उद्योग द्वारा भूमि तापीय अनुक्रिया परीक्षण (टीआरटी) कहा जाता है।<ref name=Chiasson1999>{{Cite journal | title = ग्राउंड सोर्स हीट पंप सिस्टम के मॉडलिंग में प्रगति| url = http://www.solis.pl/index.php/content/download/375/1291/file/GROUND%20SOURCE%20HEAT.pdf | year = 1999 | author = Chiasson, A.D. | publisher = Oklahoma State University | access-date = 2009-04-23 }}</ref><ref>http://www.igshpa.okstate.edu/research/papers/tc_testing_copyright.pdf Soil Thermal Conductivity Tests
-Richard A. Beier, Mechanical Engineering Technology Department, Oklahoma State University</ref><ref>http://www.hvac.okstate.edu/sites/default/files/pubs/papers/2002/08-Witte_VanGelder_Spitler_02.pdf In Situ Measurement of Ground Thermal Conductivity: A Dutch Perspective, Henk J.L. Witte, Guus J. van Gelder, Jeffrey D. Spitler</ref> उचित जीएचपी अभिकल्प के लिए जमीनी चालकता और तापीय क्षमता को समझना आवश्यक है, और इन गुणों को मापने के लिए टीआरटी का उपयोग पहली बार 1983 (मोजेन्सन) में प्रस्तुत किया गया था। 1996 में एक्लोफ और गेहलिन द्वारा प्रस्तावित की गई और अब ASHRAE द्वारा अनुमोदित अब सामान्यतः उपयोग की जाने वाली प्रक्रिया में जमीन में गहराई तक एक पाइप लूप डालना सम्मलित है (एक अच्छी तरह से वेधन में, ज्ञात तापीय गुणों के पृष्ठभूमि पदार्थ के साथ वेधन के वलय को भरना, गर्म करना पाइप लूप में तरल पदार्थ, और वेधन में अंतर्गम और विवरण पाइप से लूप में तापमान की गिरावट को मापना है। पृष्ठभूमि तापीय चालकता का अनुमान रेखित स्रोत सन्निकटन विधि का उपयोग करके लगाया जाता है - मापी गई तापीय प्रतिक्रिया के लॉग पर एक सीधी रेखा की आलेखित रचना है। इस प्रक्रिया के लिए एक बहुत ही स्थिर तापीय स्रोत और पम्पिंग विद्युत परिपथ की आवश्यकता होती है।
+Richard A. Beier, Mechanical Engineering Technology Department, Oklahoma State University</ref><ref>http://www.hvac.okstate.edu/sites/default/files/pubs/papers/2002/08-Witte_VanGelder_Spitler_02.pdf In Situ Measurement of Ground Thermal Conductivity: A Dutch Perspective, Henk J.L. Witte, Guus J. van Gelder, Jeffrey D. Spitler</ref>उचित जीएचपी अभिकल्प के लिए भूमि चालकता और तापीय क्षमता को समझना आवश्यक है, और इन गुणों को मापने के लिए टीआरटी का उपयोग पहली बार 1983 (मोजेन्सन) में प्रस्तुत किया गया था। 1996 में एक्लोफ और गेहलिन द्वारा प्रस्तावित की गई और अब ASHRAE द्वारा अनुमोदित सामान्यतः उपयोग की जाने वाली प्रक्रिया में जमीन में गहराई तक एक पाइप पाश डालना सम्मलित है (एक अच्छी तरह से वेधन में, ज्ञात तापीय गुणों के पृष्ठभूमि सामग्री के साथ वेधन के वलय को भरना, गर्म करना पाइप पाश में तरल पदार्थ, और वेधन में अंतर्गम और विवरण पाइप से पाश में तापमान की गिरावट को मापना है। पृष्ठभूमि तापीय चालकता का अनुमान रेखित स्रोत सन्निकटन विधि का उपयोग करके लगाया जाता है - मापी गई तापीय प्रतिक्रिया के लॉग पर एक सीधी रेखा की आलेखित रचना है। इस प्रक्रिया के लिए एक बहुत ही स्थिर तापीय स्रोत और पम्पिंग विद्युत परिपथ की आवश्यकता होती है।
-अधिक उन्नत पृष्ठभूमि टीआरटी विधियां वर्तमान में विकास के अधीन हैं। डीओई अब एक नए उन्नत तापीय चालकता परीक्षण को मान्य कर रहा है, जिसमें कहा गया है कि उपस्थित दृष्टिकोण के रूप में आधे समय की आवश्यकता होती है, जबकि एक स्थिर तापीय स्रोत की आवश्यकता भी समाप्त हो जाती है।<ref name="Advanced Thermal Conductivity Testing">http://www.sbv.org/a/pages/level3-geothermal-round1-2 Advanced Thermal Conductivity Testing for Geothermal Heating and Cooling Systems, U.S. Department of Energy, Small Business Vouchers Pilot</ref> यह नई तकनीक बहु-आयामी प्रतिरूप-आधारित टीआरटी आकड़े विश्लेषण पर आधारित है।
+अधिक उन्नत पृष्ठभूमि टीआरटी विधियां वर्तमान में विकास के अधीन हैं। डीओई अब एक नए उन्नत तापीय चालकता परीक्षण को मान्य कर रहा है, जिसमें कहा गया है कि उपस्थित दृष्टिकोण के रूप में अर्द्ध समय की आवश्यकता होती है, जबकि एक स्थिर तापीय स्रोत की आवश्यकता भी समाप्त हो जाती है।<ref name="Advanced Thermal Conductivity Testing">http://www.sbv.org/a/pages/level3-geothermal-round1-2 Advanced Thermal Conductivity Testing for Geothermal Heating and Cooling Systems, U.S. Department of Energy, Small Business Vouchers Pilot</ref> यह नई तकनीक बहु-आयामी प्रतिरूप-आधारित टीआरटी आकड़ो पर विश्लेषण आधारित है।
-=== लेजर फ्लैश विधि ===
+=== लेजर दमक विधि ===
-लेजर फ्लैश विधि का उपयोग मोटाई की दिशा में एक पतली डिस्क की उष्मीय विसारकता को मापने के लिए किया जाता है। यह विधि सामने के चेहरे पर एक छोटी ऊर्जा नाड़ी द्वारा निर्मित पतली-डिस्क प्रतिरूप के पीछे के चेहरे पर तापमान वृद्धि के मापन पर आधारित है। एक संदर्भ प्रतिरूप के साथ विशिष्ट ऊष्मा प्राप्त की जा सकती है और ज्ञात घनत्व के साथ तापीय चालकता का परिणाम निम्नानुसार होता है
+लेजर दमक विधि का उपयोग मोटाई की दिशा में एक पतली डिस्क की उष्मीय विसारकता को मापने के लिए किया जाता है। यह विधि सामने के चेहरे पर एक छोटी ऊर्जा नाड़ी द्वारा निर्मित पतली-डिस्क प्रतिरूप के पीछे के भाग पर तापमान वृद्धि के मापन पर आधारित है। एक संदर्भ प्रतिरूप के साथ विशिष्ट ऊष्मा प्राप्त की जा सकती है और ज्ञात घनत्व के साथ तापीय चालकता का परिणाम निम्नानुसार होता है
 :<math>k(T) = a(T) \cdot c_P(T) \cdot \rho(T)</math>
 जहाँ
-: <math>k</math> प्रतिरूप की तापीय चालकता है, [<nowiki/>[[W·m−1·K−1|W·m<sup>−1</sup>·K<sup>−1</sup>]]]
+: <math>k</math> [<nowiki/>[[W·m−1·K−1|W·m<sup>−1</sup>·K<sup>−1</sup>]]] प्रतिरूप की तापीय <nowiki/>चालकता है,
-: <math>a</math>  [<nowiki/>[[M2 ·s−1|m<sup>2</sup> ·s<sup>−1</sup>]]] में प्रतिरूप की तापीय विसरणशीलता है
+: <math>a</math> [<nowiki/>[[M2 ·s−1|m]]<nowiki/>[[M2 ·s−1|<sup>2</sup> ·s<sup>−1</sup>]]] में प्रतिरूप की तापीय विसरणशीलता है
-: <math>c_P</math>  [<nowiki/>[[J·kg−1·K−1|J·kg<sup>−1</sup>·K<sup>−1</sup>]]] में प्रतिरूप की विशिष्ट ताप क्षमता है
+: <math>c_P</math> [<nowiki/>[[J·kg−1·K−1|J]]<nowiki/>[[J·kg−1·K−1|·kg<sup>−1</sup>·K<sup>−1</sup>]]] में प्रतिरूप की विशिष्ट ताप क्षमता है
 : <math>\rho</math> [<nowiki/>[[Kg·m−3|kg·m<sup>−3</sup>]]] में प्रतिरूप का [[घनत्व]] है
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 {{main|काल प्रक्षेत्र थर्मोरेफ्लेक्शन}}
-काल प्रक्षेत्र थर्मोरेफ्लेक्टेंस एक ऐसी विधि है जिसके द्वारा पदार्थ के तापीय गुणों को मापा जा सकता है, सबसे महत्वपूर्ण तापीय चालकता है। इस पद्धति को विशेष रूप से पतली फिल्म पदार्थ पर उपयोजित किया जा सकता है, जिसमें ऐसे गुण होते हैं जो थोक में समान सामग्रियों की तुलना में बहुत भिन्न होते हैं। इस तकनीक के पीछे विचार यह है कि एक बार पदार्थ गर्म हो जाने पर, सतह के प्रतिबिंब में परिवर्तन का उपयोग तापीय गुणों को प्राप्त करने के लिए किया जा सकता है। परावर्तकता में परिवर्तन को समय के संबंध में मापा जाता है, और प्राप्त आंकड़ों का मिलान एक ऐसे प्रतिरूप से किया जा सकता है जिसमें गुणांक होते हैं जो तापीय गुणों के अनुरूप होते हैं।
+काल प्रक्षेत्र थर्मोरेफ्लेक्टेंस एक ऐसी विधि है जिसके द्वारा सामग्री के तापीय गुणों को मापा जा सकता है, सबसे महत्वपूर्ण तापीय चालकता है। इस पद्धति को विशेष रूप से पतली फिल्म सामग्री पर उपयोजित किया जा सकता है, जिसमें ऐसे गुण होते हैं जो थोक में समान सामग्रियों की तुलना में बहुत भिन्न होते हैं। इस तकनीक के पीछे विचार यह है कि एक बार किसी पदार्थ को गर्म करने के बाद, सतह के प्रतिबिंब में परिवर्तन का उपयोग तापीय गुणों को प्राप्त करने के लिए किया जा सकता है। परावर्तकता में परिवर्तन को समय के संबंध में मापा जाता है, और प्राप्त आंकड़ों का मिलान एक ऐसे प्रतिरूप से किया जा सकता है जिसमें गुणांक होते हैं जो तापीय गुणों के अनुरूप होते हैं।
 === DynTIM विधि ===
-DynTIM एक थोक तापीय चालकता मापन प्रणाली है। DynTIM ऊष्मक या तापमान संवेदक तत्व के लिए शक्ति डायोड का उपयोग करके वास्तविक तापीय अंतरापृष्ठ पदार्थ के पर्यावरणीय मापदंडों का अनुसरण करके काम करता है।<ref>{{cite journal |last1=Vass-Várnai |first1=András |last2=Sárkány |first2=Zoltán |last3=Rencz |first3=Márta |title=इन-सीटू वातावरण की नकल करने वाली थर्मल इंटरफ़ेस सामग्री के लिए लक्षण वर्णन विधि|journal=Microelectronics Journal |date=September 2012 |volume=43 |issue=9 |pages=661–668 |doi=10.1016/j.mejo.2011.06.013 }}</ref> डायोड के आस पास मजबूत तापीय विद्युतरोधन होने से, गर्मी केवल एक उजागर शीतलन टैब के माध्यम से निकल जाती है, जिसका उपयोग तापीय अंतरापृष्ठ पदार्थ मापन के लिए जांच के रूप में किया जाता है। यह विधि ASTM D5470 मानक के साथ समानताएं साझा करती है, जैसे विभिन्न पदार्थ मोटाई स्तरों पर तापीय प्रतिरोध की मापन है।<ref>A. Vass-Várnai, M.Rencz: ‘Testing interface thermal resistance‘ In: Proceedings of eTherm'08 - The 1st International Symposium on Thermal Design and Thermophysical Property for Electronics. Tsukuba, Japan, 2008.06.18-2008.06.20. pp. 73-76.
+DynTIM एक अधिकांश तापीय चालकता मापन प्रणाली है। DynTIM ऊष्मक या तापमान संवेदक तत्व के लिए शक्ति डायोड का उपयोग करके वास्तविक तापीय अंतरापृष्ठ सामग्री के पर्यावरणीय मापदंडों का अनुसरण करके काम करता है।<ref>{{cite journal |last1=Vass-Várnai |first1=András |last2=Sárkány |first2=Zoltán |last3=Rencz |first3=Márta |title=इन-सीटू वातावरण की नकल करने वाली थर्मल इंटरफ़ेस सामग्री के लिए लक्षण वर्णन विधि|journal=Microelectronics Journal |date=September 2012 |volume=43 |issue=9 |pages=661–668 |doi=10.1016/j.mejo.2011.06.013 }}</ref> डायोड के आसपास प्रबल तापीय विद्युतरोधन होने से, ऊष्मा केवल एक उजागर शीतलन टैब के माध्यम से निकल जाती है, जिसका उपयोग तापीय अंतरापृष्ठ सामग्री मापन के लिए जांच के रूप में किया जाता है। यह विधि ASTM D5470 मानक के साथ समानताएं साझा करती है, जैसे विभिन्न सामग्री की मोटाई स्तरों पर तापीय प्रतिरोध का मापन है।<ref>A. Vass-Várnai, M.Rencz: ‘Testing interface thermal resistance‘ In: Proceedings of eTherm'08 - The 1st International Symposium on Thermal Design and Thermophysical Property for Electronics. Tsukuba, Japan, 2008.06.18-2008.06.20. pp. 73-76.
-</ref> प्रणाली को उच्च तापीय चालकता तापीय अंतरापृष्ठ पदार्थ को मापने के लिए प्रारूप किया गया है। विद्युतरोधी की माप के लिए इसकी प्रयोज्यता अधिक सीमित है।
+</ref> प्रणाली को उच्च तापीय चालकता तापीय अंतरापृष्ठ सामग्री को मापने के लिए प्रारूप किया गया है। विद्युतरोधी की माप के लिए इसकी प्रयोज्यता अधिक सीमित है।
 == आवृत्ति-प्रक्षेत्र विधियाँ ==
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 {{Main|3ω-पद्धति}}
-सामग्रियों के विद्युत् ऊष्मीय लक्षण वर्णन के लिए एक लोकप्रिय तकनीक 3ω-पद्धति है, जिसमें एक पतली धातु संरचना (सामान्यतः एक तार या एक फिल्म) एक प्रतिरोधी तापक और [[प्रतिरोध तापमान डिटेक्टर|प्रतिरोध तापमान संसूचक]] (आरटीडी) के रूप में कार्य करने के लिए प्रतिरूप पर जमा की जाती है। ऊष्मार आवृत्ति ω पर एसी विद्युत प्रवाह से संचालित होता है, जो एकल अवधि के समय एसी संकेत के दोलन के कारण आवृत्ति 2ω पर आवधिक जूल तापन को प्रेरित करता है। '''प्रतिरूप के गर्म''' होने और तापमान प्रतिक्रिया के मध्य कुछ देरी होगी जो संवेदक/प्रतिरूप के तापीय गुणों पर निर्भर है। यह तापमान प्रतिक्रिया ऊष्मार से एसी वोल्टेज संकेत के आयाम और चरण (तरंगों) को आवृत्तियों की एक श्रृंखला में प्रवेश करके मापा जाता है (सामान्यतः [[लॉक-इन एम्पलीफायर]] का उपयोग करके पूरा किया जाता है। लॉक-इन-एम्पलीफायर)। ध्यान दें, संकेत का चरण (तरंगें) तापन संकेत और तापमान प्रतिक्रिया के मध्य अंतराल है। मापा वोल्टेज में मौलिक और तीसरे हार्मोनिक घटक (क्रमशः ω और 3ω) दोनों सम्मलित होंगे, क्योंकि धातु ऊष्मार/संवेदक के [[तापमान गुणांक]] (टीसीआर) के कारण धातु संरचना का जौल तापन आवृत्ति 2ω के साथ प्रतिरोध में दोलनों को प्रेरित करता है। निम्नलिखित समीकरण में कहा गया है:
+सामग्रियों के विद्युत् ऊष्मीय लक्षण वर्णन के लिए एक लोकप्रिय तकनीक 3ω-पद्धति है, जिसमें एक पतली धातु संरचना (सामान्यतः एक तार या एक फिल्म) एक प्रतिरोधी तापक और [[प्रतिरोध तापमान डिटेक्टर|प्रतिरोध तापमान संसूचक]] (आरटीडी) के रूप में कार्य करने के लिए प्रतिरूप पर जमा की जाती है। तापक आवृत्ति ω पर एसी विद्युत प्रवाह से संचालित होती है, जो एकल अवधि के समय एसी संकेत के दोलन के कारण आवृत्ति 2ω पर आवधिक जूल तापन को प्रेरित करती है। प्रतिरूप के गर्म होने और तापमान प्रतिक्रिया के मध्य कुछ देरी होगी जो संवेदक/प्रतिरूप के तापीय गुणों पर निर्भर है। यह तापमान प्रतिक्रिया तापक से एसी वोल्टेज संकेत के आयाम और स्थिति को आवृत्तियों की एक श्रृंखला में प्रवेश करके मापा जाता है (सामान्यतः [[लॉक-इन एम्पलीफायर|अभिबंधन प्रवर्धक]] का उपयोग करके पूरा किया जाता है)। ध्यान दें, संकेत की स्थिति तापन संकेत और तापमान प्रतिक्रिया के मध्य अंतराल है। मापित वोल्टेज में मौलिक और तीसरे गुणावृत्ति घटक (क्रमशः ω और 3ω) दोनों सम्मलित होंगे, क्योंकि धातु संरचना का जौल तापक/संवेदक तापन के [[तापमान गुणांक]] (टीसीआर) के कारण धातु तापन आवृत्ति 2ω के साथ इसके प्रतिरोध में दोलनों को प्रेरित करता है जैसा कि निम्नलिखित समीकरण में कहा गया है:
 :<math>V=IR=I_0e^{i\omega t}\left (R_0+\frac{\partial R}{\partial T}\Delta T \right )=I_0e^{i\omega t}\left (R_0+C_0e^{i2\omega t} \right )</math>,
-जहां सी<sub>0</sub> स्थिर है। तापीय चालकता ΔT बनाम लॉग (ω) वक्र के रैखिक ढलान द्वारा निर्धारित की जाती है। 3ω-पद्धति के मुख्य लाभ विकिरण प्रभाव को कम करना और स्थिर-अवस्था तकनीकों की तुलना में तापीय चालकता की तापमान निर्भरता का आसान अधिग्रहण है। हालांकि पतली फिल्म पैटर्निंग और माइक्रोलिथोग्राफी में कुछ विशेषज्ञता की आवश्यकता होती है, इस तकनीक को उपलब्ध सर्वोत्तम छद्म-संपर्क विधि माना जाता है।<ref name="TEhandbook">Rowe, David Michael. Thermoelectrics handbook : macro to nano / edited by D.M. Rowe. Boca Raton: CRC/Taylor & Francis, 2006. {{ISBN|0-8493-2264-2}}</ref> (सामान्य)
+जहां C<sub>0</sub> स्थिर है। तापीय चालकता ΔT बनाम लॉग (ω) वक्र के रैखिक ढलान द्वारा निर्धारित किया जाता है। 3ω-पद्धति के मुख्य लाभ विकिरण प्रभाव को कम करना और स्थिर-अवस्था तकनीकों की तुलना में तापीय चालकता के तापमान निर्भरता का आसान अधिग्रहण है। हालांकि पतली फिल्म आकृति और माइक्रोलिथोग्राफी में कुछ विशेषज्ञता की आवश्यकता होती है, इस तकनीक को उपलब्ध सर्वोत्तम छद्म-संपर्क विधि माना जाता है।<ref name="TEhandbook">Rowe, David Michael. Thermoelectrics handbook : macro to nano / edited by D.M. Rowe. Boca Raton: CRC/Taylor & Francis, 2006. {{ISBN|0-8493-2264-2}}</ref>
-=== फ्रीक्वेंसी-प्रक्षेत्र हॉट-वायर विधि ===
+=== आवृत्ति-प्रक्षेत्र तप्त तार विधि ===
-क्षणिक गर्म तार विधि को कमरे के तापमान से 800 °C तक ठोस और पिघले हुए यौगिकों की तापीय चालकता को सटीक रूप से मापने के लिए 3ω-विधि के साथ जोड़ा जा सकता है। उच्च तापमान वाले तरल पदार्थों में, संवहन और विकिरण से त्रुटियां स्थिर-अवस्था बनाती हैं और समय-क्षेत्र तापीय चालकता माप व्यापक रूप से भिन्न होते हैं;<ref>{{Cite journal|last1=Chliatzou|first1=Ch. D.|last2=Assael|first2=M. J.|last3=Antoniadis|first3=K. D.|last4=Huber|first4=M. L.|last5=Wakeham|first5=W. A.|date=2018|title=Reference Correlations for the Thermal Conductivity of 13 Inorganic Molten Salts|journal=Journal of Physical and Chemical Reference Data|language=en|volume=47|issue=3|pages=033104|doi=10.1063/1.5052343|issn=0047-2689|pmc=6459620|pmid=30983644|bibcode=2018JPCRD..47c3104C}}</ref> यह पिघला हुआ नाइट्रेट्स के पिछले मापों में स्पष्ट है।<ref>{{Cite journal|last1=Zhao|first1=Qing-Guo|last2=Hu|first2=Chun-Xu|last3=Liu|first3=Su-Jie|last4=Guo|first4=Hang|last5=Wu|first5=Yu-Ting|date=2017-12-01|title=The thermal conductivity of molten NaNO3, KNO3, and their mixtures|journal=Energy Procedia|series=Leveraging Energy Technologies and Policy Options for Low Carbon Cities|language=en|volume=143|pages=774–779|doi=10.1016/j.egypro.2017.12.761|issn=1876-6102|doi-access=free}}</ref> आवृत्ति-प्रक्षेत्र में संचालित करके, तरल की तापीय चालकता को 25 माइक्रोन व्यास के गर्म-तार का उपयोग करके मापा जा सकता है, परिवेश के तापमान में उतार-चढ़ाव के प्रभाव को अस्वीकार करते हुए, विकिरण से त्रुटि को कम करना, और संवहन से त्रुटियों को कम करके जांच की गई मात्रा को नीचे रखना 1 μL।<ref>{{Cite journal|last1=Wingert|first1=M. C.|last2=Zhao|first2=A. Z.|last3=Kodera|first3=Y.|last4=Obrey|first4=S. J.|last5=Garay|first5=J. E.|date=2020-05-01|title=Frequency-domain hot-wire sensor and 3D model for thermal conductivity measurements of reactive and corrosive materials at high temperatures|journal=Review of Scientific Instruments|language=en|volume=91|issue=5|pages=054904|doi=10.1063/1.5138915|pmid=32486705 |bibcode=2020RScI...91e4904W|issn=0034-6748|doi-access=free}}</ref>
+कमरे के तापमान से 800 °C तक ठोस और पिघले हुए यौगिकों की तापीय चालकता को सटीक रूप से मापने के लिए क्षणिक तप्त तार विधि को 3ω-विधि के साथ जोड़ा जा सकता है। उच्च तापमान वाले तरल पदार्थ में, संवहन और विकिरण से त्रुटियां स्थिर-अवस्था बनाती हैं और समय-क्षेत्र तापीय चालकता माप व्यापक रूप से भिन्न होते हैं;<ref>{{Cite journal|last1=Chliatzou|first1=Ch. D.|last2=Assael|first2=M. J.|last3=Antoniadis|first3=K. D.|last4=Huber|first4=M. L.|last5=Wakeham|first5=W. A.|date=2018|title=Reference Correlations for the Thermal Conductivity of 13 Inorganic Molten Salts|journal=Journal of Physical and Chemical Reference Data|language=en|volume=47|issue=3|pages=033104|doi=10.1063/1.5052343|issn=0047-2689|pmc=6459620|pmid=30983644|bibcode=2018JPCRD..47c3104C}}</ref> यह पिघला हुआ नाइट्रेट्स के पूर्व मापों में स्पष्ट है।<ref>{{Cite journal|last1=Zhao|first1=Qing-Guo|last2=Hu|first2=Chun-Xu|last3=Liu|first3=Su-Jie|last4=Guo|first4=Hang|last5=Wu|first5=Yu-Ting|date=2017-12-01|title=The thermal conductivity of molten NaNO3, KNO3, and their mixtures|journal=Energy Procedia|series=Leveraging Energy Technologies and Policy Options for Low Carbon Cities|language=en|volume=143|pages=774–779|doi=10.1016/j.egypro.2017.12.761|issn=1876-6102|doi-access=free}}</ref> आवृत्ति-प्रक्षेत्र में संचालित करके, तरल की तापीय चालकता को 25 μm व्यास के तप्‍त-तार का उपयोग करके मापा जा सकता है, परिवेश के तापमान में उतार-चढ़ाव के प्रभाव को अस्वीकार करते हुए, विकिरण से त्रुटि को कम करना, और जांचे गए आयतन को 1 μL से कम रखकर संवहन से होने वाली त्रुटियों को कम करना है ।<ref>{{Cite journal|last1=Wingert|first1=M. C.|last2=Zhao|first2=A. Z.|last3=Kodera|first3=Y.|last4=Obrey|first4=S. J.|last5=Garay|first5=J. E.|date=2020-05-01|title=Frequency-domain hot-wire sensor and 3D model for thermal conductivity measurements of reactive and corrosive materials at high temperatures|journal=Review of Scientific Instruments|language=en|volume=91|issue=5|pages=054904|doi=10.1063/1.5138915|pmid=32486705 |bibcode=2020RScI...91e4904W|issn=0034-6748|doi-access=free}}</ref>
-=== फ्रीस्टैंडिंग संवेदक-आधारित 3ω-विधि ===
+=== स्वतंत्र संवेदक-आधारित 3ω-विधि ===
-फ्रीस्टैंडिंग संवेदक-आधारित 3ω तकनीक<ref>{{cite journal|last1=Qiu|first1=L.|last2=Tang|first2=D. W.|last3=Zheng|first3=X. H.|last4=Su|first4=G. P.|title=The freestanding sensor-based 3ω technique for measuring thermal conductivity of solids: Principle and examination|journal=Review of Scientific Instruments|date=2011|volume=82|issue=4|pages=045106–045106–6|doi=10.1063/1.3579495|pmid=21529038|bibcode=2011RScI...82d5106Q}}</ref><ref>{{cite journal|last1=Qiu|first1=L.|last2=Zheng|first2=X. H.|last3=Zhu|first3=J.|last4=Tang|first4=D. W.|title=Note: Non-destructive measurement of thermal effusivity of a solid and liquid using a freestanding serpentine sensor-based 3ω technique|journal=Review of Scientific Instruments|date=2011|volume=82|issue=8|pages=086110–086110–3|doi=10.1063/1.3626937|pmid=21895288|bibcode=2011RScI...82h6110Q}}</ref> थर्मोफिजिकल गुण माप के लिए पारंपरिक 3ω विधि के लिए एक उम्मीदवार के रूप में प्रस्तावित और विकसित किया गया है। विधि क्रायोजेनिक तापमान से लगभग 400 K तक ठोस, पाउडर और तरल पदार्थ के निर्धारण को सम्मलित करती है।<ref>{{cite journal|last1=Qiu|first1=L.|last2=Zheng|first2=X. H.|last3=Su|first3=G. P.|last4=Tang|first4=D. W.|title=Design and Application of a Freestanding Sensor Based on 3ω Technique for Thermal-Conductivity Measurement of Solids, Liquids, and Nanopowders|journal=International Journal of Thermophysics|date=21 September 2011|volume=34|issue=12|pages=2261–2275|doi=10.1007/s10765-011-1075-y|s2cid=121187257}}</ref> ठोस प्रतिदर्श के लिए, विधि थोक और दसियों माइक्रोमीटर मोटी वेफर्स/झिल्लियों दोनों पर उपयोजित होती है,<ref>{{cite journal|last1=Qiu|first1=L.|last2=Zheng|first2=X.H.|last3=Yue|first3=P.|last4=Zhu|first4=J.|last5=Tang|first5=D.W.|last6=Dong|first6=Y.J.|last7=Peng|first7=Y.L.|title=Adaptable thermal conductivity characterization of microporous membranes based on freestanding sensor-based 3ω technique|journal=International Journal of Thermal Sciences|date=March 2015|volume=89|pages=185–192|doi=10.1016/j.ijthermalsci.2014.11.005}}</ref> घनी या झरझरा सतह।<ref>{{cite journal|last1=Qiu|first1=L.|last2=Li|first2=Y. M.|last3=Zheng|first3=X. H.|last4=Zhu|first4=J.|last5=Tang|first5=D. W.|last6=Wu|first6=J. Q.|last7=Xu|first7=C. H.|title=मैक्रो-पोरस पॉलिमर-व्युत्पन्न SiOC सिरेमिक का थर्मल-कंडक्टिविटी अध्ययन|journal=International Journal of Thermophysics|date=1 December 2013|volume=35|issue=1|pages=76–89|doi=10.1007/s10765-013-1542-8|s2cid=95284477}}</ref> तापीय चालकता और तापीय प्रवाहकता को क्रमशः चयनित संवेदकों का उपयोग करके मापा जा सकता है। दो मूल रूप अब उपलब्ध हैं: रैखिक स्रोत फ्रीस्टैंडिंग संवेदक और प्लानर स्रोत फ्रीस्टैंडिंग संवेदक। थर्मोफिजिकल गुणों की श्रेणी को तकनीक के विभिन्न रूपों द्वारा कवर किया जा सकता है, इस अपवाद के साथ कि अनुशंसित तापीय चालकता रेंज जहां उच्चतम परिशुद्धता प्राप्त की जा सकती है, रैखिक स्रोत फ्रीस्टैंडिंग संवेदक के लिए 0.01 से 150 W/m•K है और 500 से 8000 J/m2•K•s0.5 प्लानर स्रोत फ्रीस्टैंडिंग संवेदक के लिए।
+स्वतंत्र संवेदक-आधारित 3ω तकनीक<ref>{{cite journal|last1=Qiu|first1=L.|last2=Tang|first2=D. W.|last3=Zheng|first3=X. H.|last4=Su|first4=G. P.|title=The freestanding sensor-based 3ω technique for measuring thermal conductivity of solids: Principle and examination|journal=Review of Scientific Instruments|date=2011|volume=82|issue=4|pages=045106–045106–6|doi=10.1063/1.3579495|pmid=21529038|bibcode=2011RScI...82d5106Q}}</ref><ref>{{cite journal|last1=Qiu|first1=L.|last2=Zheng|first2=X. H.|last3=Zhu|first3=J.|last4=Tang|first4=D. W.|title=Note: Non-destructive measurement of thermal effusivity of a solid and liquid using a freestanding serpentine sensor-based 3ω technique|journal=Review of Scientific Instruments|date=2011|volume=82|issue=8|pages=086110–086110–3|doi=10.1063/1.3626937|pmid=21895288|bibcode=2011RScI...82h6110Q}}</ref> थर्मोफिजिकल गुण माप के लिए पारंपरिक 3ω विधि के लिए एक उम्मीदवार के रूप में प्रस्तावित और विकसित किया गया है। विधि निम्नतापी तापमान से लगभग 400 K तक ठोस, पाउडर और तरल पदार्थ के निर्धारण को सम्मलित करती है।<ref>{{cite journal|last1=Qiu|first1=L.|last2=Zheng|first2=X. H.|last3=Su|first3=G. P.|last4=Tang|first4=D. W.|title=Design and Application of a Freestanding Sensor Based on 3ω Technique for Thermal-Conductivity Measurement of Solids, Liquids, and Nanopowders|journal=International Journal of Thermophysics|date=21 September 2011|volume=34|issue=12|pages=2261–2275|doi=10.1007/s10765-011-1075-y|s2cid=121187257}}</ref> ठोस प्रतिदर्श के लिए, विधि थोक और दसियों सूक्ष्ममापी मोटी वेफर्स/झिल्लियों, घनी या सरंध्र सतह दोनों पर उपयोजित होती है।<ref>{{cite journal|last1=Qiu|first1=L.|last2=Zheng|first2=X.H.|last3=Yue|first3=P.|last4=Zhu|first4=J.|last5=Tang|first5=D.W.|last6=Dong|first6=Y.J.|last7=Peng|first7=Y.L.|title=Adaptable thermal conductivity characterization of microporous membranes based on freestanding sensor-based 3ω technique|journal=International Journal of Thermal Sciences|date=March 2015|volume=89|pages=185–192|doi=10.1016/j.ijthermalsci.2014.11.005}}</ref> <ref>{{cite journal|last1=Qiu|first1=L.|last2=Li|first2=Y. M.|last3=Zheng|first3=X. H.|last4=Zhu|first4=J.|last5=Tang|first5=D. W.|last6=Wu|first6=J. Q.|last7=Xu|first7=C. H.|title=मैक्रो-पोरस पॉलिमर-व्युत्पन्न SiOC सिरेमिक का थर्मल-कंडक्टिविटी अध्ययन|journal=International Journal of Thermophysics|date=1 December 2013|volume=35|issue=1|pages=76–89|doi=10.1007/s10765-013-1542-8|s2cid=95284477}}</ref> तापीय चालकता और तापीय प्रवाहकता को क्रमशः चयनित संवेदकों का उपयोग करके मापा जा सकता है। दो मूल रूप अब उपलब्ध हैं: रैखिक स्रोत स्वतंत्र संवेदक और सूक्ष्ममापी स्रोत स्वतंत्र संवेदक है। तकनीक के विभिन्न रूपों द्वारा थर्मोफिजिकल गुणों की श्रेणी को आच्छादित किया जा सकता है, इस अपवाद के साथ कि अनुशंसित तापीय चालकता श्रेणी जहां उच्चतम परिशुद्धता प्राप्त की जा सकती है, रैखिक स्रोत स्वतंत्र संवेदक के लिए 0.01 से 150 W/m•K और सूक्ष्ममापी स्रोत स्वतंत्र संवेदक के लिए 500 से 8000 J/m2•K•s0.5 है।
-== मापने के उपकरण ==
+== मापन युक्ति ==
-एक तापीय चालकता परीक्षक, [[जेमोलॉजी]] के उपकरणों में से एक, यह निर्धारित करता है कि हीरे की विशिष्ट उच्च तापीय चालकता का उपयोग करके रत्न असली हीरे हैं या नहीं।
+एक तापीय चालकता परीक्षक, [[जेमोलॉजी]] के युक्ति में से एक, यह निर्धारित करता है कि हीरे की विशिष्ट उच्च तापीय चालकता का उपयोग करके रत्न अमिश्रित हीरा हैं या नहीं है।
 उदाहरण के लिए, ITP-MG4 Zond (रूस) की ऊष्मा चालकता का मापक यंत्र देखें।<ref>{{Cite web|url=http://www.stroypribor.ru/produkt/catalog/izmeriteli-teploprovodnosti/izmeritel-teploprovodnosti-itp-mg4-zond.html|title=Измеритель теплопроводности ИТП-МГ4 "Зонд"|website=www.stroypribor.ru|access-date=2018-07-14}}</ref>
 == मानक ==
-* EN 12667, निर्माण पदार्थ और उत्पादों का तापीय प्रदर्शन। संरक्षित गर्म प्लेट और ताप प्रवाह मीटर विधियों के माध्यम से तापीय प्रतिरोध का निर्धारण। उच्च और मध्यम तापीय प्रतिरोध के उत्पाद, {{ISBN|0-580-36512-3}}.
+* EN 12667, निर्माण सामग्री और उत्पादों का तापीय प्रदर्शन है। संरक्षित तप्त प्लेट और ताप प्रवाह मीटर विधियों के माध्यम से तापीय प्रतिरोध का निर्धारण है। उच्च और मध्यम तापीय प्रतिरोध के उत्पाद, {{ISBN|0-580-36512-3}}.
-* आईएसओ 8301, तापीय विद्युतरोधन - स्थिर-अवस्था तापीय प्रतिरोध और संबंधित गुणों का निर्धारण - ऊष्मा फ्लो मीटर तंत्र [http://www.iso.org/iso/iso_catalogue/catalogue_tc/catalogue_detail.htm?csnumber=15421]
+* ISO 8301, तापीय विद्युतरोधन - स्थिर-अवस्था तापीय प्रतिरोध और संबंधित गुणों का निर्धारण - ऊष्मा प्रवाह मीटर तंत्र [http://www.iso.org/iso/iso_catalogue/catalogue_tc/catalogue_detail.htm?csnumber=15421]
-* आईएसओ 8497, तापीय विद्युतरोधन - परिपत्र पाइपों के लिए तापीय विद्युतरोधन के स्थिर-अवस्था तापीय ट्रांसमिशन गुणों का निर्धारण, {{ISBN|0-580-26907-8}} [http://www.iso.org/iso/iso_catalogue/catalogue_tc/catalogue_detail.htm?csnumber=15707]
+* ISO 8497, तापीय विद्युतरोधन - परिपत्र पाइपों के लिए तापीय विद्युतरोधन के स्थिर-अवस्था तापीय संचारण गुणों का निर्धारण, {{ISBN|0-580-26907-8}} [http://www.iso.org/iso/iso_catalogue/catalogue_tc/catalogue_detail.htm?csnumber=15707]
-* ISO 22007-2:2008 प्लास्टिक - तापीय चालकता और तापीय प्रसार का निर्धारण - भाग 2: क्षणिक समतल ताप स्रोत (हॉट डिस्क) विधि [http://www.iso.org/iso/iso_catalogue/catalogue_tc/catalogue_detail.htm? सीएसनंबर = 40683]
+* ISO 22007-2:2008 प्लास्टिक - तापीय चालकता और तापीय प्रसार का निर्धारण - भाग 2: क्षणिक समतल ताप स्रोत (तप्त डिस्क) विधि [http://www.iso.org/iso/iso_catalogue/catalogue_tc/catalogue_detail.htm? सीएसनंबर = 40683]
-* ISO 22007-4:2008 प्लास्टिक - तापीय चालकता और तापीय विसरणशीलता का निर्धारण - भाग 4: लेज़र फ़्लैश विधि<ref name="ISO22007-4"/>* IEEE मानक 442-1981, मृदा तापीय प्रतिरोधकता मापन के लिए IEEE मार्गदर्शिका, {{ISBN|0-7381-0794-8}}. [[मिट्टी के तापीय गुण]] भी देखें। [http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punnumber=2543]<ref>{{cite book |doi=10.1109/IEEESTD.1981.81018 |title=मृदा तापीय प्रतिरोधकता मापन के लिए IEEE मार्गदर्शिका|isbn=978-0-7381-0794-3 |year=1981 }}</ref>
+* ISO 22007-4:2008 प्लास्टिक - तापीय चालकता और तापीय विसारकता का निर्धारण - भाग 4: लेज़र दमक विधि<ref name="ISO22007-4"/>
-* आईईईई मानक 98-2002, ठोस विद्युत इन्सुलेट पदार्थ के तापीय मूल्यांकन के लिए परीक्षण प्रक्रियाओं की तैयारी के लिए मानक, {{ISBN|0-7381-3277-2}} [एचटीटीपी://ीीेक्सप्लोरे.ीीे.ऑर्ग/सर्वलेट/आपस?पुनुम्बेर=7893]<ref>{{cite book |doi=10.1109/IEEESTD.2002.93617 |title=ठोस विद्युत इन्सुलेट सामग्री के थर्मल मूल्यांकन के लिए परीक्षण प्रक्रियाओं की तैयारी के लिए IEEE मानक|year=2002 |isbn=0-7381-3277-2 }}</ref>
+*IEEE मानक 442-1981, मृदा तापीय प्रतिरोधकता मापन के लिए IEEE मार्गदर्शिका, {{ISBN|0-7381-0794-8}} [[मिट्टी के तापीय गुण]] भी देखें। [http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punnumber=2543]<ref>{{cite book |doi=10.1109/IEEESTD.1981.81018 |title=मृदा तापीय प्रतिरोधकता मापन के लिए IEEE मार्गदर्शिका|isbn=978-0-7381-0794-3 |year=1981 }}</ref>
-* ASTM मानक C518 - 10, ताप प्रवाह मीटर उपकरण के माध्यम से स्थिर-अवस्था तापीय ट्रांसमिशन गुणों के लिए मानक परीक्षण विधि [http://www.astm.org/Standards/C518.htm]
+* IEEE मानक 98-2002, ठोस विद्युत रोधक सामग्री के तापीय मूल्यांकन के लिए परीक्षण प्रक्रियाओं की तैयारी के लिए मानक, {{ISBN|0-7381-3277-2}} <ref>{{cite book |doi=10.1109/IEEESTD.2002.93617 |title=ठोस विद्युत इन्सुलेट सामग्री के थर्मल मूल्यांकन के लिए परीक्षण प्रक्रियाओं की तैयारी के लिए IEEE मानक|year=2002 |isbn=0-7381-3277-2 }}</ref>
-* ASTM मानक D5334-14, तापीय सुई जांच प्रक्रिया द्वारा मिट्टी और नरम चट्टान की तापीय चालकता के निर्धारण के लिए मानक परीक्षण विधि [https://www.astm.org/Standards/D5334]
+* ASTM मानक C518 - 10, ताप प्रवाह मीटर युक्ति के माध्यम से स्थिर-अवस्था तापीय संचारण गुणों के लिए मानक परीक्षण विधि [http://www.astm.org/Standards/C518.htm]
-* ASTM मानक D5470-06, तापीय प्रवाहकीय विद्युत विद्युतरोधन पदार्थ के तापीय संचरण गुणों के लिए मानक परीक्षण विधि [http://www.astm.org/cgi-bin/SoftCart.exe/DATABASE.CART/REDLINE_PAGES/D5470.htm?E +मायस्टोर]
+* ASTM मानक D5334-14, तापीय सूची जांच प्रक्रिया द्वारा मिट्टी और नरम चट्टान की तापीय चालकता के निर्धारण के लिए मानक परीक्षण विधि [https://www.astm.org/Standards/D5334]
-* ASTM मानक E1225-04, संरक्षित-तुलनात्मक-अनुदैर्ध्य ताप प्रवाह तकनीक [http://www.astm.org/cgi-bin/SoftCart.exe/DATABASE.CART/ REDLINE_PAGES/E1225.htm?L+mystore+wnox2486+1189558298]
+* ASTM मानक D5470-06, तापीय चालक विद्युतरोधन सामग्री के तापीय संस्थिति गुणों के लिए मानक परीक्षण विधि
-* एएसटीएम मानक डी5930-01, क्षणिक रेखित-स्रोत तकनीक के माध्यम से प्लास्टिक की तापीय चालकता के लिए मानक परीक्षण विधि [http://www.astm.org/cgi-bin/SoftCart.exe/STORE/filtrexx40.cgi?U +mystore+wnox2486+-L+तापीय: CODUCTIVITY+/usr6/htdocs/astm.org/DATABASE.CART/REDLINE_PAGES/D5930.htm]
+* ASTM मानक E1225-04, संरक्षित-तुलनात्मक-अनुदैर्ध्य ताप प्रवाह तकनीक के माध्यम से ठोस पदार्थों की तापीय चालकता के लिए मानक परीक्षण विधि" [http://www.astm.org/cgi-bin/SoftCart.exe/DATABASE.CART/ REDLINE_PAGES/E1225.htm?L+mystore+wnox2486+1189558298]
-* ASTM मानक D2717-95, तरल पदार्थ की तापीय चालकता के लिए मानक परीक्षण विधि [http://www.astm.org/cgi-bin/SoftCart.exe/DATABASE.CART/REDLINE_PAGES/D2717.htm?L+mystore+wnox2486+ 1189564966]
+* ASTM मानक D5930-01, क्षणिक रेखित-स्रोत तकनीक के माध्यम से प्लास्टिक की तापीय चालकता के लिए मानक परीक्षण विधि [http://www.astm.org/cgi-bin/SoftCart.exe/STORE/filtrexx40.cgi?U +mystore+wnox2486+-L+तापीय: CODUCTIVITY+/usr6/htdocs/astm.org/DATABASE.CART/REDLINE_PAGES/D5930.htm]
-* एएसटीएम मानक ई1461-13(2022), [https://www.astm.org/e1461-13r22.html फ्लैश विधि द्वारा तापीय डिफ्यूसिविटी के लिए मानक परीक्षण विधि]।
+* ASTM मानक D2717-95, <nowiki>''</nowiki>तरल पदार्थ की तापीय चालकता के लिए मानक परीक्षण विधि<nowiki>''</nowiki> [http://www.astm.org/cgi-bin/SoftCart.exe/DATABASE.CART/REDLINE_PAGES/D2717.htm?L+mystore+wnox2486+ 1189564966]
+* ASTM मानक E1461-13(2022), दमक विधि द्वारा तापीय विसरणीयता के लिए मानक परीक्षण विधि।
 ==संदर्भ==
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 ==बाहरी संबंध==
-* An alternative traditional method using real thermometers is described at [https://web.archive.org/web/20080528125725/http://www.uow.edu.au/eng/phys/200labs/phys235/badcon.pdf].
+* वास्तविक थर्मामीटर का उपयोग करने वाली एक वैकल्पिक पारंपरिक विधि का वर्णन यहां किया गया है [https://web.archive.org/web/20080528125725/http://www.uow.edu.au/eng/phys/200labs/phys235/badcon.pdf].
-* A brief review of new methods measuring thermal conductivity, [[thermal diffusivity]] and specific heat within a single measurement is available at [http://thermophys.savba.sk/Methods.htm].
+* तापीय चालकता, तापीय विसारकता और एकल माप के भीतर विशिष्ट ऊष्मा को मापने के नए तरीकों की एक संक्षिप्त समीक्षा पर उपलब्ध है[http://thermophys.savba.sk/Methods.htm].
-* A brief description of Modified Transient Plane Source (MTPS) at http://patents.ic.gc.ca/opic-cipo/cpd/eng/patent/2397102/page/2397102_20120528_description.pdf
+* संशोधित क्षणिक सतह स्रोत (MTPS) का संक्षिप्त विवरण http://patents.ic.gc.ca/opic-cipo/cpd/eng/patent/2397102/page/2397102_20120528_description.pdf
-[[Category: सामग्री परीक्षण]]
+[[Category:Articles with hatnote templates targeting a nonexistent page]]
+[[Category:CS1 English-language sources (en)]]
-[[Category: Machine Translated Page]]
+[[Category:CS1 errors]]
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