कॉमन पाथ इंटरफेरोमीटर: Difference between revisions

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=== सग्नैक ===
=== सग्नैक ===
{{main article|Sagnac interferometer}}
{{main article|सग्नैक इंटरफेरोमीटर}}
Sagnac व्यतिकरणमापी लंबाई या लंबाई परिवर्तन को मापने के लिए पूरी तरह से अनुपयुक्त हैं। सैग्नैक इंटरफेरोमीटर में, बीम्सप्लिटर से निकलने वाले दोनों बीम एक साथ एक आयत के चारों ओर विपरीत दिशाओं में घूमते हैं और मूल बीमस्प्लिटर पर पुनः संयोजित होते हैं। नतीजा यह है कि एक सैग्नाक इंटरफेरोमीटर, पहले आदेश के लिए, अपने ऑप्टिकल घटकों के किसी भी आंदोलन के लिए पूरी तरह असंवेदनशील है। वास्तव में, Sagnac व्यतिकरणमापी को प्रावस्था परिवर्तनों को मापने के लिए उपयोगी बनाने के लिए, व्यतिकरणमापी के पुंजों को थोड़ा अलग किया जाना चाहिए ताकि वे पूर्णतः सामान्य पथ का अनुसरण न करें। मामूली बीम पृथक्करण के साथ भी, Sagnac इंटरफेरोमीटर उत्कृष्ट कंट्रास्ट और फ्रिंज स्थिरता प्रदान करते हैं।<ref name=Optics471ASagnac>{{cite web |title=सग्नाक इंटरफेरोमीटर|url=http://www.optics.arizona.edu/opti471a/Sagnac/The%20Sagnac%20Interferometer.pdf |publisher=University of Arizona College of Optical Sciences |access-date=30 March 2012 }}{{dead link|date=August 2017 |bot=InternetArchiveBot |fix-attempted=yes }}</ref> Sagnac व्यतिकरणमापी के दो बुनियादी टोपोलॉजी संभव हैं, प्रत्येक पथ में सम या विषम संख्या में प्रतिबिंब हैं या नहीं, इस पर भिन्नता है। विषम संख्या में परावर्तनों वाले सग्नाक व्यतिकरणमापी में, जैसा कि चित्र में दिखाया गया है, विपरीत दिशा में यात्रा करने वाले बीमों के वेवफ्रंट अधिकांश प्रकाश पथ पर एक दूसरे के संबंध में पार्श्व रूप से उलटे होते हैं, इसलिए टोपोलॉजी कड़ाई से सामान्य-पथ नहीं है।<ref name=Hariharan2007>{{cite book |last=Hariharan |first=P. |title=Basics of Interferometry, 2nd edition |year=2007 |publisher=Elsevier |isbn=978-0-12-373589-8 |pages=19}}</ref>
Sagnac व्यतिकरणमापी लंबाई या लंबाई परिवर्तन को मापने के लिए पूरी तरह से अनुपयुक्त हैं। सैग्नैक इंटरफेरोमीटर में, बीम्सप्लिटर से निकलने वाले दोनों बीम एक साथ एक आयत के चारों ओर विपरीत दिशाओं में घूमते हैं और मूल बीमस्प्लिटर पर पुनः संयोजित होते हैं। नतीजा यह है कि एक सैग्नाक इंटरफेरोमीटर, पहले आदेश के लिए, अपने ऑप्टिकल घटकों के किसी भी आंदोलन के लिए पूरी तरह असंवेदनशील है। वास्तव में, Sagnac व्यतिकरणमापी को प्रावस्था परिवर्तनों को मापने के लिए उपयोगी बनाने के लिए, व्यतिकरणमापी के पुंजों को थोड़ा अलग किया जाना चाहिए ताकि वे पूर्णतः सामान्य पथ का अनुसरण न करें। मामूली बीम पृथक्करण के साथ भी, Sagnac इंटरफेरोमीटर उत्कृष्ट कंट्रास्ट और फ्रिंज स्थिरता प्रदान करते हैं।<ref name=Optics471ASagnac>{{cite web |title=सग्नाक इंटरफेरोमीटर|url=http://www.optics.arizona.edu/opti471a/Sagnac/The%20Sagnac%20Interferometer.pdf |publisher=University of Arizona College of Optical Sciences |access-date=30 March 2012 }}{{dead link|date=August 2017 |bot=InternetArchiveBot |fix-attempted=yes }}</ref> Sagnac व्यतिकरणमापी के दो बुनियादी टोपोलॉजी संभव हैं, प्रत्येक पथ में सम या विषम संख्या में प्रतिबिंब हैं या नहीं, इस पर भिन्नता है। विषम संख्या में परावर्तनों वाले सग्नाक व्यतिकरणमापी में, जैसा कि चित्र में दिखाया गया है, विपरीत दिशा में यात्रा करने वाले बीमों के वेवफ्रंट अधिकांश प्रकाश पथ पर एक दूसरे के संबंध में पार्श्व रूप से उलटे होते हैं, इसलिए टोपोलॉजी कड़ाई से सामान्य-पथ नहीं है।<ref name=Hariharan2007>{{cite book |last=Hariharan |first=P. |title=Basics of Interferometry, 2nd edition |year=2007 |publisher=Elsevier |isbn=978-0-12-373589-8 |pages=19}}</ref>
Sagnac व्यतिकरणमापी का सबसे अच्छा ज्ञात उपयोग घूर्णन के प्रति इसकी संवेदनशीलता में निहित है। व्यतिकरणमापी के इस रूप पर घूर्णन के प्रभावों का पहला लेखा-जोखा 1913 में जॉर्ज सग्नैक द्वारा प्रकाशित किया गया था, जो गलती से मानते थे कि ईथर के भंवर का पता लगाने की उनकी क्षमता ने सापेक्षता सिद्धांत को अप्रमाणित कर दिया है।<ref name=Anderson1994>{{cite journal |last=Anderson |first=R. |author2=Bilger, H. R. |author3=Stedman, G. E.  |title="सग्नाक प्रभाव" पृथ्वी-घुमाए गए इंटरफेरोमीटर की एक सदी|journal=Am. J. Phys. |year=1994 |volume=62 |issue=11 |pages=975–985 |doi=10.1119/1.17656 |url=http://signallake.com/innovation/andersonNov94.pdf|access-date=30 March 2012|bibcode = 1994AmJPh..62..975A }}</ref> वर्तमान सैग्नैक इंटरफेरोमीटर की संवेदनशीलता सग्नाक की मूल व्यवस्था से कहीं अधिक है। रोटेशन की संवेदनशीलता काउंटर-रोटेटिंग बीम द्वारा परिचालित क्षेत्र के समानुपाती होती है, और [[फाइबर ऑप्टिक जाइरोस्कोप]], सग्नैक इंटरफेरोमीटर के वर्तमान वंशज, दर्पणों के बजाय ऑप्टिकल फाइबर के हजारों लूप का उपयोग करते हैं, जैसे कि छोटे से मध्यम आकार के इकाइयां आसानी से पृथ्वी के घूर्णन का पता लगाती हैं।<ref name=Lin1979>{{Cite journal | last1 = Lin | first1 = S. C. | last2 = Giallorenzi | first2 = T. G. | doi = 10.1364/AO.18.000915 | title = सग्नाक-इफेक्ट ऑप्टिकल-फाइबर रिंग इंटरफेरोमीटर का संवेदनशीलता विश्लेषण| journal = Applied Optics | volume = 18 | issue = 6 | pages = 915–931 | year = 1979 | pmid =  20208844|bibcode = 1979ApOpt..18..915L }}</ref> [[रिंग लेजर जाइरोस्कोप]] (चित्रित नहीं) Sagnac रोटेशन सेंसर का एक और रूप है जिसमें जड़त्वीय मार्गदर्शन प्रणालियों में महत्वपूर्ण अनुप्रयोग हैं।<ref name=Anderson1994/>
Sagnac व्यतिकरणमापी का सबसे अच्छा ज्ञात उपयोग घूर्णन के प्रति इसकी संवेदनशीलता में निहित है। व्यतिकरणमापी के इस रूप पर घूर्णन के प्रभावों का पहला लेखा-जोखा 1913 में जॉर्ज सग्नैक द्वारा प्रकाशित किया गया था, जो गलती से मानते थे कि ईथर के भंवर का पता लगाने की उनकी क्षमता ने सापेक्षता सिद्धांत को अप्रमाणित कर दिया है।<ref name=Anderson1994>{{cite journal |last=Anderson |first=R. |author2=Bilger, H. R. |author3=Stedman, G. E.  |title="सग्नाक प्रभाव" पृथ्वी-घुमाए गए इंटरफेरोमीटर की एक सदी|journal=Am. J. Phys. |year=1994 |volume=62 |issue=11 |pages=975–985 |doi=10.1119/1.17656 |url=http://signallake.com/innovation/andersonNov94.pdf|access-date=30 March 2012|bibcode = 1994AmJPh..62..975A }}</ref> वर्तमान सैग्नैक इंटरफेरोमीटर की संवेदनशीलता सग्नाक की मूल व्यवस्था से कहीं अधिक है। रोटेशन की संवेदनशीलता काउंटर-रोटेटिंग बीम द्वारा परिचालित क्षेत्र के समानुपाती होती है, और [[फाइबर ऑप्टिक जाइरोस्कोप]], सग्नैक इंटरफेरोमीटर के वर्तमान वंशज, दर्पणों के बजाय ऑप्टिकल फाइबर के हजारों लूप का उपयोग करते हैं, जैसे कि छोटे से मध्यम आकार के इकाइयां आसानी से पृथ्वी के घूर्णन का पता लगाती हैं।<ref name=Lin1979>{{Cite journal | last1 = Lin | first1 = S. C. | last2 = Giallorenzi | first2 = T. G. | doi = 10.1364/AO.18.000915 | title = सग्नाक-इफेक्ट ऑप्टिकल-फाइबर रिंग इंटरफेरोमीटर का संवेदनशीलता विश्लेषण| journal = Applied Optics | volume = 18 | issue = 6 | pages = 915–931 | year = 1979 | pmid =  20208844|bibcode = 1979ApOpt..18..915L }}</ref> [[रिंग लेजर जाइरोस्कोप]] (चित्रित नहीं) Sagnac रोटेशन सेंसर का एक और रूप है जिसमें जड़त्वीय मार्गदर्शन प्रणालियों में महत्वपूर्ण अनुप्रयोग हैं।<ref name=Anderson1994/>
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=== बिंदु विवर्तन ===
=== बिंदु विवर्तन ===
{{main article|Point diffraction interferometer}}
{{main article|बिंदु विवर्तन इंटरफेरोमीटर}}
[[File:Single slit and double slit3.jpg|thumb|300px|चित्रा 2. यंग का प्रयोग - सिंगल-बनाम डबल-स्लिट पैटर्न]]लेंस परीक्षण और द्रव प्रवाह निदान में उपयोगी एक अन्य सामान्य-पथ इंटरफेरोमीटर बिंदु विवर्तन इंटरफेरोमीटर (PDI) है, जिसका आविष्कार 1933 में लिनिक द्वारा किया गया था।<ref name=Millerd2004>{{cite journal |last=Millerd |first=J. E. |author2=Brock, N. J. |author3=Hayes, J. B. |author4=Wyant, J. C. |editor1-first=Katherine |editor1-last=Creath |editor2-first=Joanna |editor2-last=Schmit |title=तात्कालिक चरण-शिफ्ट, बिंदु-विवर्तन व्यतिकरणमापी|journal=Proceedings of SPIE |year=2004 |volume=5531 |pages=264–272 |doi=10.1117/12.560959 |url=http://www.optics.arizona.edu/jcwyant/pdf/Published_Papers/Phase_Shifting/InstantaneousPhase-shiftPoint-diffractionInterferometer.pdf |access-date=31 March 2012 |archive-url=https://web.archive.org/web/20101008174420/http://www.optics.arizona.edu/jcwyant/pdf/Published_Papers/Phase_Shifting/InstantaneousPhase-shiftPoint-diffractionInterferometer.pdf |archive-date=8 October 2010 |url-status=dead |series=Interferometry XII: Techniques and Analysis |bibcode=2004SPIE.5531..264M |s2cid=125388913 }}</ref><ref name=Mercer1996>{{cite journal|last=Mercer|first=C. R.|author2=Rashidnia, N. |author3=Creath, K. |title=अर्द्ध स्थिर अवस्था प्रवाह के लिए उच्च डेटा घनत्व तापमान माप|journal=Experiments in Fluids|year=1996|volume=21|issue=1|pages=11–16|doi=10.1007/BF00204630|url=https://ntrs.nasa.gov/archive/nasa/casi.ntrs.nasa.gov/19960033183_1996063135.pdf|access-date=31 March 2012|bibcode = 1996ExFl...21...11M |hdl=2060/19960033183|s2cid=55927553|hdl-access=free}}</ref> रेफरेंस बीम एक छोटे से पिनहोल से विवर्तन द्वारा उत्पन्न होता है, जो [[हवादार डिस्क]] के आधे व्यास का होता है, एक सेमीट्रांसपेरेंट प्लेट में। चित्र 1 पिनहोल पर केंद्रित एक विपथन तरंगफ्रंट दिखाता है। विवर्तित संदर्भ किरणपुंज और संचरित परीक्षण तरंग व्यतिकरण करके फ्रिंज बनाते हैं। पीडीआई का सामान्य-पथ डिजाइन इसके लिए कई महत्वपूर्ण लाभ लाता है। (1) माच-ज़ेन्डर या माइकलसन डिज़ाइनों के लिए आवश्यक दो पथों के बजाय केवल एक ही लेज़र पथ की आवश्यकता है। यह लाभ बड़े इंटरफेरोमेट्रिक सेटअप में बहुत महत्वपूर्ण हो सकता है जैसे पवन सुरंगों में अशांत मीडिया के माध्यम से लंबे ऑप्टिकल पथ होते हैं। (2) सामान्य-पथ डिज़ाइन दोहरे पथ डिज़ाइनों की तुलना में कम ऑप्टिकल घटकों का उपयोग करता है, संरेखण को बहुत आसान बनाता है, साथ ही लागत, आकार और वजन को कम करता है, विशेष रूप से बड़े सेटअप के लिए।<ref name=Ferraro2007>{{cite web|last=Ferraro|first=P.; Paturzo, M.; Grilli, S.|title=एक उपन्यास चरण-स्थानांतरण बिंदु-विवर्तन इंटरफेरोमीटर का उपयोग करके ऑप्टिकल वेवफ्रंट माप|url=http://spie.org/x8369.xml|publisher=SPIE|access-date=26 May 2012|year=2007}}</ref> (3) जबकि एक दोहरे पथ डिजाइन की सटीकता उस सटीकता पर निर्भर करती है जिसके साथ संदर्भ तत्व का पता लगाया जाता है, सावधानीपूर्वक डिजाइन पीडीआई के उत्पन्न संदर्भ बीम को गारंटीकृत सटीकता के लिए सक्षम बनाता है।<ref name=Naulleau1999>{{Cite journal | last1 = Naulleau | first1 = P. P. | last2 = Goldberg | first2 = K. A. | last3 = Lee | first3 = S. H. | last4 = Chang | first4 = C. | last5 = Attwood | first5 = D. | last6 = Bokor | first6 = J. | doi = 10.1364/AO.38.007252 | title = Extreme-ultraviolet phase-shifting point-diffraction interferometer: A wave-front metrology tool with subangstrom reference-wave accuracy | journal = Applied Optics | volume = 38 | issue = 35 | pages = 7252–7263 | year = 1999 | pmid =  18324274|bibcode = 1999ApOpt..38.7252N }}</ref> एक नुकसान यह है कि पिनहोल के माध्यम से प्रकाश की मात्रा इस बात पर निर्भर करती है कि प्रकाश पिनहोल पर कितनी अच्छी तरह केंद्रित हो सकता है। यदि आपतित तरंगाग्र गंभीर रूप से विचलित है, तो बहुत कम प्रकाश आर-पार हो सकता है।<ref name=Malacara2006/>पीडीआई ने विभिन्न [[अनुकूली प्रकाशिकी]] अनुप्रयोगों में उपयोग देखा है।<ref name=Love1995>{{cite journal |last=Love |first=G. D. |author2=Andrews, N. |author3=Birch, P. |author4=Buscher, D. |author5=Doel, P. |author6=Dunlop, C. |author7=Major, J. |author8=Myers, R. |author9=Purvis, A. |author10=Sharples, R. |author11=Vick, A. |author12=Zadrozny, A. |author13=Restaino, S. R. |author14=Glindemann, A. |title=Binary adaptive optics: atmospheric wave-front correction with a half-wave phase shifter |journal=Applied Optics |year=1995 |volume=34 |issue=27 |pages=6058–6066 |doi=10.1364/AO.34.006058 |pmid=21060444 |url=http://www.dur.ac.uk/g.d.love/downloadable/p011Binary_adapt_optics.pdf |access-date=31 March 2012 |bibcode=1995ApOpt..34.6058L |archive-url=https://web.archive.org/web/20121107000706/http://www.dur.ac.uk/g.d.love/downloadable/p011Binary_adapt_optics.pdf |archive-date=7 November 2012 |url-status=dead }}</ref><ref name=Paterson2007>{{Cite journal | last1 = Paterson | first1 = C. | last2 = Notaras | first2 = J. | doi = 10.1364/OE.15.013745 | title = ऑप्टिकल भंवरों के साथ मजबूत जगमगाहट में बिंदु-विवर्तन इंटरफेरोमीटर के साथ बंद-लूप अनुकूली प्रकाशिकी का प्रदर्शन| journal = Optics Express | volume = 15 | issue = 21 | pages = 13745–13756 | year = 2007 | pmid =  19550645|bibcode = 2007OExpr..1513745P | doi-access = free }}</ref>
[[File:Single slit and double slit3.jpg|thumb|300px|चित्रा 2. यंग का प्रयोग - सिंगल-बनाम डबल-स्लिट पैटर्न]]लेंस परीक्षण और द्रव प्रवाह निदान में उपयोगी एक अन्य सामान्य-पथ इंटरफेरोमीटर बिंदु विवर्तन इंटरफेरोमीटर (PDI) है, जिसका आविष्कार 1933 में लिनिक द्वारा किया गया था।<ref name=Millerd2004>{{cite journal |last=Millerd |first=J. E. |author2=Brock, N. J. |author3=Hayes, J. B. |author4=Wyant, J. C. |editor1-first=Katherine |editor1-last=Creath |editor2-first=Joanna |editor2-last=Schmit |title=तात्कालिक चरण-शिफ्ट, बिंदु-विवर्तन व्यतिकरणमापी|journal=Proceedings of SPIE |year=2004 |volume=5531 |pages=264–272 |doi=10.1117/12.560959 |url=http://www.optics.arizona.edu/jcwyant/pdf/Published_Papers/Phase_Shifting/InstantaneousPhase-shiftPoint-diffractionInterferometer.pdf |access-date=31 March 2012 |archive-url=https://web.archive.org/web/20101008174420/http://www.optics.arizona.edu/jcwyant/pdf/Published_Papers/Phase_Shifting/InstantaneousPhase-shiftPoint-diffractionInterferometer.pdf |archive-date=8 October 2010 |url-status=dead |series=Interferometry XII: Techniques and Analysis |bibcode=2004SPIE.5531..264M |s2cid=125388913 }}</ref><ref name=Mercer1996>{{cite journal|last=Mercer|first=C. R.|author2=Rashidnia, N. |author3=Creath, K. |title=अर्द्ध स्थिर अवस्था प्रवाह के लिए उच्च डेटा घनत्व तापमान माप|journal=Experiments in Fluids|year=1996|volume=21|issue=1|pages=11–16|doi=10.1007/BF00204630|url=https://ntrs.nasa.gov/archive/nasa/casi.ntrs.nasa.gov/19960033183_1996063135.pdf|access-date=31 March 2012|bibcode = 1996ExFl...21...11M |hdl=2060/19960033183|s2cid=55927553|hdl-access=free}}</ref> रेफरेंस बीम एक छोटे से पिनहोल से विवर्तन द्वारा उत्पन्न होता है, जो [[हवादार डिस्क]] के आधे व्यास का होता है, एक सेमीट्रांसपेरेंट प्लेट में। चित्र 1 पिनहोल पर केंद्रित एक विपथन तरंगफ्रंट दिखाता है। विवर्तित संदर्भ किरणपुंज और संचरित परीक्षण तरंग व्यतिकरण करके फ्रिंज बनाते हैं। पीडीआई का सामान्य-पथ डिजाइन इसके लिए कई महत्वपूर्ण लाभ लाता है। (1) माच-ज़ेन्डर या माइकलसन डिज़ाइनों के लिए आवश्यक दो पथों के बजाय केवल एक ही लेज़र पथ की आवश्यकता है। यह लाभ बड़े इंटरफेरोमेट्रिक सेटअप में बहुत महत्वपूर्ण हो सकता है जैसे पवन सुरंगों में अशांत मीडिया के माध्यम से लंबे ऑप्टिकल पथ होते हैं। (2) सामान्य-पथ डिज़ाइन दोहरे पथ डिज़ाइनों की तुलना में कम ऑप्टिकल घटकों का उपयोग करता है, संरेखण को बहुत आसान बनाता है, साथ ही लागत, आकार और वजन को कम करता है, विशेष रूप से बड़े सेटअप के लिए।<ref name=Ferraro2007>{{cite web|last=Ferraro|first=P.; Paturzo, M.; Grilli, S.|title=एक उपन्यास चरण-स्थानांतरण बिंदु-विवर्तन इंटरफेरोमीटर का उपयोग करके ऑप्टिकल वेवफ्रंट माप|url=http://spie.org/x8369.xml|publisher=SPIE|access-date=26 May 2012|year=2007}}</ref> (3) जबकि एक दोहरे पथ डिजाइन की सटीकता उस सटीकता पर निर्भर करती है जिसके साथ संदर्भ तत्व का पता लगाया जाता है, सावधानीपूर्वक डिजाइन पीडीआई के उत्पन्न संदर्भ बीम को गारंटीकृत सटीकता के लिए सक्षम बनाता है।<ref name=Naulleau1999>{{Cite journal | last1 = Naulleau | first1 = P. P. | last2 = Goldberg | first2 = K. A. | last3 = Lee | first3 = S. H. | last4 = Chang | first4 = C. | last5 = Attwood | first5 = D. | last6 = Bokor | first6 = J. | doi = 10.1364/AO.38.007252 | title = Extreme-ultraviolet phase-shifting point-diffraction interferometer: A wave-front metrology tool with subangstrom reference-wave accuracy | journal = Applied Optics | volume = 38 | issue = 35 | pages = 7252–7263 | year = 1999 | pmid =  18324274|bibcode = 1999ApOpt..38.7252N }}</ref> एक नुकसान यह है कि पिनहोल के माध्यम से प्रकाश की मात्रा इस बात पर निर्भर करती है कि प्रकाश पिनहोल पर कितनी अच्छी तरह केंद्रित हो सकता है। यदि आपतित तरंगाग्र गंभीर रूप से विचलित है, तो बहुत कम प्रकाश आर-पार हो सकता है।<ref name=Malacara2006/>पीडीआई ने विभिन्न [[अनुकूली प्रकाशिकी]] अनुप्रयोगों में उपयोग देखा है।<ref name=Love1995>{{cite journal |last=Love |first=G. D. |author2=Andrews, N. |author3=Birch, P. |author4=Buscher, D. |author5=Doel, P. |author6=Dunlop, C. |author7=Major, J. |author8=Myers, R. |author9=Purvis, A. |author10=Sharples, R. |author11=Vick, A. |author12=Zadrozny, A. |author13=Restaino, S. R. |author14=Glindemann, A. |title=Binary adaptive optics: atmospheric wave-front correction with a half-wave phase shifter |journal=Applied Optics |year=1995 |volume=34 |issue=27 |pages=6058–6066 |doi=10.1364/AO.34.006058 |pmid=21060444 |url=http://www.dur.ac.uk/g.d.love/downloadable/p011Binary_adapt_optics.pdf |access-date=31 March 2012 |bibcode=1995ApOpt..34.6058L |archive-url=https://web.archive.org/web/20121107000706/http://www.dur.ac.uk/g.d.love/downloadable/p011Binary_adapt_optics.pdf |archive-date=7 November 2012 |url-status=dead }}</ref><ref name=Paterson2007>{{Cite journal | last1 = Paterson | first1 = C. | last2 = Notaras | first2 = J. | doi = 10.1364/OE.15.013745 | title = ऑप्टिकल भंवरों के साथ मजबूत जगमगाहट में बिंदु-विवर्तन इंटरफेरोमीटर के साथ बंद-लूप अनुकूली प्रकाशिकी का प्रदर्शन| journal = Optics Express | volume = 15 | issue = 21 | pages = 13745–13756 | year = 2007 | pmid =  19550645|bibcode = 2007OExpr..1513745P | doi-access = free }}</ref>




=== पार्श्व बाल काटना ===
=== पार्श्व बाल काटना ===
{{main article|Shearing interferometer}}
{{main article|शियरिंग इंटरफेरोमीटर}}
लेटरल शियरिंग इंटरफेरोमेट्री वेवफ्रंट सेंसिंग की एक स्व-संदर्भित विधि है। एक अलग पथ संदर्भ वेवफ्रंट के साथ एक वेवफ्रंट की तुलना करने के बजाय, पार्श्व कतरनी इंटरफेरोमेट्री एक वेवफ्रंट को स्वयं के स्थानांतरित संस्करण के साथ हस्तक्षेप करती है। नतीजतन, यह एक वेवफ्रंट के ढलान के प्रति संवेदनशील है, न कि वेवफ्रंट शेप प्रति से। सचित्र समतल समानांतर प्लेट इंटरफेरोमीटर में परीक्षण और संदर्भ बीम के लिए असमान पथ लंबाई है; इस वजह से, इसका उपयोग अत्यधिक मोनोक्रोमैटिक (लेजर) प्रकाश के साथ किया जाना चाहिए। यह आम तौर पर किसी भी सतह पर बिना किसी कोटिंग के उपयोग किया जाता है, ताकि भूत प्रतिबिंबों को कम किया जा सके। परीक्षण के तहत एक लेंस से एक अपवर्तित तरंगाग्र प्लेट के आगे और पीछे से हस्तक्षेप पैटर्न बनाने के लिए परिलक्षित होता है। इस मूल डिजाइन पर विविधताएं दर्पणों के परीक्षण की अनुमति देती हैं। [[जैमिन इंटरफेरोमीटर]], माइकलसन इंटरफेरोमीटर, मैक-जेन्डर इंटरफेरोमीटर|मैक-जेन्डर इंटरफेरोमीटर और अन्य इंटरफेरोमीटर डिजाइनों पर आधारित लेटरल शियरिंग इंटरफेरोमीटर के अन्य रूपों में क्षतिपूर्ति पथ हैं और इन्हें सफेद रोशनी के साथ इस्तेमाल किया जा सकता है।<ref name=Strojnik2006>{{Cite book | last1 = Strojnik | first1 = M. | last2 = Paez | first2 = G. | last3 = Mantravadi | first3 = M. | doi = 10.1002/9780470135976.ch4 | chapter = Lateral Shear Interferometers | title = ऑप्टिकल दुकान परीक्षण| pages = 122 | year = 2007 | isbn = 9780470135976 }}</ref> ऑप्टिकल परीक्षण के अलावा, पार्श्व शियरिंग इंटरफेरोमेट्री के अनुप्रयोगों में पतली फिल्म विश्लेषण, पारदर्शी सामग्री में द्रव्यमान और थर्मल प्रसार, अपवर्तक सूचकांक और अपवर्तक सूचकांक माप की ढाल, संधान परीक्षण और अनुकूली प्रकाशिकी शामिल हैं।<ref>{{Cite journal | last1 = Chanteloup | first1 = J. C. | title = वेव-फ्रंट सेंसिंग के लिए मल्टीपल-वेव लेटरल शियरिंग इंटरफेरोमेट्री| doi = 10.1364/AO.44.001559 | journal = Applied Optics | volume = 44 | issue = 9 | pages = 1559–1571 | year = 2005 | pmid =  15818859|bibcode = 2005ApOpt..44.1559C }}</ref><ref name=Ribak>{{cite web |last=Ribak |first=E.N. |title=अनुकूली प्रकाशिकी के बाद इंटरफेरोमेट्री|url=http://physics.technion.ac.il/~eribak/GlasgowAOInt.pdf |access-date=14 April 2012}}</ref> शियरिंग इंटरफेरोमीटर, एक सामान्य ढांचा जिसमें लेटरल शियरिंग, हार्टमैन, शेक-हार्टमैन वेवफ्रंट सेंसर शामिल हैं। शेक-हार्टमैन, रोटेशनल शीयरिंग, फोल्डिंग शीयरिंग और [[एपर्चर मास्किंग इंटरफेरोमेट्री]] इंटरफेरोमीटर, औद्योगिक रूप से विकसित अधिकांश वेवफ्रंट सेंसर में उपयोग किए जाते हैं।<ref>{{cite web|last=Primot|first=J.; Guernineau, N.|title=वेवफ्रंट सेंसिंग के लिए शियरिंग इंटरफेरोमेट्री|url=http://www.master-optics.eu/biblio/primot_guerineau.pdf|publisher=OpSciTech|access-date=2012-04-15|archive-url=https://web.archive.org/web/20120303055516/http://www.master-optics.eu/biblio/primot_guerineau.pdf|archive-date=2012-03-03|url-status=dead}}</ref>
लेटरल शियरिंग इंटरफेरोमेट्री वेवफ्रंट सेंसिंग की एक स्व-संदर्भित विधि है। एक अलग पथ संदर्भ वेवफ्रंट के साथ एक वेवफ्रंट की तुलना करने के बजाय, पार्श्व कतरनी इंटरफेरोमेट्री एक वेवफ्रंट को स्वयं के स्थानांतरित संस्करण के साथ हस्तक्षेप करती है। नतीजतन, यह एक वेवफ्रंट के ढलान के प्रति संवेदनशील है, न कि वेवफ्रंट शेप प्रति से। सचित्र समतल समानांतर प्लेट इंटरफेरोमीटर में परीक्षण और संदर्भ बीम के लिए असमान पथ लंबाई है; इस वजह से, इसका उपयोग अत्यधिक मोनोक्रोमैटिक (लेजर) प्रकाश के साथ किया जाना चाहिए। यह आम तौर पर किसी भी सतह पर बिना किसी कोटिंग के उपयोग किया जाता है, ताकि भूत प्रतिबिंबों को कम किया जा सके। परीक्षण के तहत एक लेंस से एक अपवर्तित तरंगाग्र प्लेट के आगे और पीछे से हस्तक्षेप पैटर्न बनाने के लिए परिलक्षित होता है। इस मूल डिजाइन पर विविधताएं दर्पणों के परीक्षण की अनुमति देती हैं। [[जैमिन इंटरफेरोमीटर]], माइकलसन इंटरफेरोमीटर, मैक-जेन्डर इंटरफेरोमीटर|मैक-जेन्डर इंटरफेरोमीटर और अन्य इंटरफेरोमीटर डिजाइनों पर आधारित लेटरल शियरिंग इंटरफेरोमीटर के अन्य रूपों में क्षतिपूर्ति पथ हैं और इन्हें सफेद रोशनी के साथ इस्तेमाल किया जा सकता है।<ref name=Strojnik2006>{{Cite book | last1 = Strojnik | first1 = M. | last2 = Paez | first2 = G. | last3 = Mantravadi | first3 = M. | doi = 10.1002/9780470135976.ch4 | chapter = Lateral Shear Interferometers | title = ऑप्टिकल दुकान परीक्षण| pages = 122 | year = 2007 | isbn = 9780470135976 }}</ref> ऑप्टिकल परीक्षण के अलावा, पार्श्व शियरिंग इंटरफेरोमेट्री के अनुप्रयोगों में पतली फिल्म विश्लेषण, पारदर्शी सामग्री में द्रव्यमान और थर्मल प्रसार, अपवर्तक सूचकांक और अपवर्तक सूचकांक माप की ढाल, संधान परीक्षण और अनुकूली प्रकाशिकी शामिल हैं।<ref>{{Cite journal | last1 = Chanteloup | first1 = J. C. | title = वेव-फ्रंट सेंसिंग के लिए मल्टीपल-वेव लेटरल शियरिंग इंटरफेरोमेट्री| doi = 10.1364/AO.44.001559 | journal = Applied Optics | volume = 44 | issue = 9 | pages = 1559–1571 | year = 2005 | pmid =  15818859|bibcode = 2005ApOpt..44.1559C }}</ref><ref name=Ribak>{{cite web |last=Ribak |first=E.N. |title=अनुकूली प्रकाशिकी के बाद इंटरफेरोमेट्री|url=http://physics.technion.ac.il/~eribak/GlasgowAOInt.pdf |access-date=14 April 2012}}</ref> शियरिंग इंटरफेरोमीटर, एक सामान्य ढांचा जिसमें लेटरल शियरिंग, हार्टमैन, शेक-हार्टमैन वेवफ्रंट सेंसर शामिल हैं। शेक-हार्टमैन, रोटेशनल शीयरिंग, फोल्डिंग शीयरिंग और [[एपर्चर मास्किंग इंटरफेरोमेट्री]] इंटरफेरोमीटर, औद्योगिक रूप से विकसित अधिकांश वेवफ्रंट सेंसर में उपयोग किए जाते हैं।<ref>{{cite web|last=Primot|first=J.; Guernineau, N.|title=वेवफ्रंट सेंसिंग के लिए शियरिंग इंटरफेरोमेट्री|url=http://www.master-optics.eu/biblio/primot_guerineau.pdf|publisher=OpSciTech|access-date=2012-04-15|archive-url=https://web.archive.org/web/20120303055516/http://www.master-optics.eu/biblio/primot_guerineau.pdf|archive-date=2012-03-03|url-status=dead}}</ref>


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[[File:Off axis in TEM.jpg|thumb|चित्रा 3. एक इलेक्ट्रॉन होलोग्रफ़ी प्रणाली में प्रयुक्त बाइप्रिज्म]]आधुनिक परिप्रेक्ष्य से, यंग के हस्तक्षेप प्रयोग|यंग के डबल स्लिट प्रयोग (चित्र 2 देखें) का परिणाम स्पष्ट रूप से प्रकाश की तरंग प्रकृति की ओर इशारा करता है, लेकिन 1800 के दशक की शुरुआत में ऐसा नहीं था। आखिरकार, न्यूटन ने देखा था जिसे अब विवर्तन घटना के रूप में पहचाना जाता है, और उन पर प्रकाशिकी की अपनी तीसरी पुस्तक में लिखा था,<ref name=NewtonOpticks>{{cite book|last=Newton|first=Isaac|title=Opticks: or, a Treatise of the Reflections, Refractions, Inflections and Colours of Light|year=1730|publisher=Project Gutenberg|pages=317–406|url=http://www.gutenberg.org/files/33504/33504-h/33504-h.htm}}</ref> प्रकाश के अपने कोरपसकुलर सिद्धांत के संदर्भ में उनकी व्याख्या करना। यंग के समकालीनों ने आपत्तियां उठाईं कि उनके परिणाम केवल स्लिट्स के किनारों से विवर्तन प्रभाव का प्रतिनिधित्व कर सकते हैं, न्यूटन द्वारा पहले देखे गए फ्रिंजों की तुलना में सिद्धांत रूप में अलग नहीं है। [[ऑगस्टिन फ्रेस्नेल]], जिन्होंने लहर सिद्धांत का समर्थन किया, ने हस्तक्षेप प्रभावों को प्रदर्शित करने के लिए प्रयोगों की एक श्रृंखला का प्रदर्शन किया, जिसे किनारे विवर्तन के परिणाम के रूप में स्पष्ट नहीं किया जा सकता था। इनमें से सबसे उल्लेखनीय अपवर्तन द्वारा दो आभासी हस्तक्षेप करने वाले स्रोतों को बनाने के लिए द्विप्रिज्म का उनका उपयोग था।
[[File:Off axis in TEM.jpg|thumb|चित्रा 3. एक इलेक्ट्रॉन होलोग्रफ़ी प्रणाली में प्रयुक्त बाइप्रिज्म]]आधुनिक परिप्रेक्ष्य से, यंग के हस्तक्षेप प्रयोग|यंग के डबल स्लिट प्रयोग (चित्र 2 देखें) का परिणाम स्पष्ट रूप से प्रकाश की तरंग प्रकृति की ओर इशारा करता है, लेकिन 1800 के दशक की शुरुआत में ऐसा नहीं था। आखिरकार, न्यूटन ने देखा था जिसे अब विवर्तन घटना के रूप में पहचाना जाता है, और उन पर प्रकाशिकी की अपनी तीसरी पुस्तक में लिखा था,<ref name=NewtonOpticks>{{cite book|last=Newton|first=Isaac|title=Opticks: or, a Treatise of the Reflections, Refractions, Inflections and Colours of Light|year=1730|publisher=Project Gutenberg|pages=317–406|url=http://www.gutenberg.org/files/33504/33504-h/33504-h.htm}}</ref> प्रकाश के अपने कोरपसकुलर सिद्धांत के संदर्भ में उनकी व्याख्या करना। यंग के समकालीनों ने आपत्तियां उठाईं कि उनके परिणाम केवल स्लिट्स के किनारों से विवर्तन प्रभाव का प्रतिनिधित्व कर सकते हैं, न्यूटन द्वारा पहले देखे गए फ्रिंजों की तुलना में सिद्धांत रूप में अलग नहीं है। [[ऑगस्टिन फ्रेस्नेल]], जिन्होंने लहर सिद्धांत का समर्थन किया, ने हस्तक्षेप प्रभावों को प्रदर्शित करने के लिए प्रयोगों की एक श्रृंखला का प्रदर्शन किया, जिसे किनारे विवर्तन के परिणाम के रूप में स्पष्ट नहीं किया जा सकता था। इनमें से सबसे उल्लेखनीय अपवर्तन द्वारा दो आभासी हस्तक्षेप करने वाले स्रोतों को बनाने के लिए द्विप्रिज्म का उनका उपयोग था।


फ़्रेज़नेल [[biprism]] का एक इलेक्ट्रॉन संस्करण [[इलेक्ट्रॉन होलोग्राफी]] में उपयोग किया जाता है, एक इमेजिंग तकनीक जो किसी वस्तु के इलेक्ट्रॉन हस्तक्षेप पैटर्न को फोटोग्राफिक रूप से रिकॉर्ड करती है। होलोग्राम को तब एक लेज़र द्वारा रोशन किया जा सकता है जिसके परिणामस्वरूप मूल वस्तु की एक बहुत ही आवर्धित छवि होती है, हालाँकि वर्तमान वरीयता होलोग्राम के संख्यात्मक पुनर्निर्माण के लिए है।<ref>M. Lehmann, H. Lichte, Tutorial on off-axis electron holography, Microsc. Microanal. 8(6), 447–466 (2002)</ref> पारंपरिक इमेजिंग तकनीकों का उपयोग करके इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी में अधिक से अधिक रिज़ॉल्यूशन को सक्षम करने के लिए इस तकनीक को विकसित किया गया था। पारंपरिक इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी का रिज़ॉल्यूशन इलेक्ट्रॉन तरंग दैर्ध्य द्वारा सीमित नहीं है, बल्कि इलेक्ट्रॉन लेंस के बड़े विपथन द्वारा होता है।<ref name=Tonomura1999>{{cite book|last=Tonomura|first=A.|title=Electron Holography, 2nd ed.|year=1999|publisher=Springer|isbn=3540645551|url=https://books.google.com/books?id=ghn_GeKbRo0C}}</ref>
फ़्रेज़नेल [[biprism|द्वि प्रिज्म]] का एक इलेक्ट्रॉन संस्करण [[इलेक्ट्रॉन होलोग्राफी]] में उपयोग किया जाता है, एक इमेजिंग तकनीक जो किसी वस्तु के इलेक्ट्रॉन हस्तक्षेप पैटर्न को फोटोग्राफिक रूप से रिकॉर्ड करती है। होलोग्राम को तब एक लेज़र द्वारा रोशन किया जा सकता है जिसके परिणामस्वरूप मूल वस्तु की एक बहुत ही आवर्धित छवि होती है, हालाँकि वर्तमान वरीयता होलोग्राम के संख्यात्मक पुनर्निर्माण के लिए है।<ref>M. Lehmann, H. Lichte, Tutorial on off-axis electron holography, Microsc. Microanal. 8(6), 447–466 (2002)</ref> पारंपरिक इमेजिंग तकनीकों का उपयोग करके इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी में अधिक से अधिक रिज़ॉल्यूशन को सक्षम करने के लिए इस तकनीक को विकसित किया गया था। पारंपरिक इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी का रिज़ॉल्यूशन इलेक्ट्रॉन तरंग दैर्ध्य द्वारा सीमित नहीं है, बल्कि इलेक्ट्रॉन लेंस के बड़े विपथन द्वारा होता है।<ref name=Tonomura1999>{{cite book|last=Tonomura|first=A.|title=Electron Holography, 2nd ed.|year=1999|publisher=Springer|isbn=3540645551|url=https://books.google.com/books?id=ghn_GeKbRo0C}}</ref>
चित्र 3 एक हस्तक्षेप इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप की मूल व्यवस्था को दर्शाता है। इलेक्ट्रॉन बाइप्रिज्म में ग्राउंड पोटेंशियल पर दो प्लेट इलेक्ट्रोड द्वारा ब्रैकेट किए गए एक ठीक, सकारात्मक रूप से चार्ज किए गए इलेक्ट्रिक फिलामेंट (चित्र में डॉट के रूप में दर्शाए गए) होते हैं। फिलामेंट, आमतौर पर व्यास में 1 माइक्रोन से अधिक नहीं होता है, आमतौर पर एक सोने की परत वाला क्वार्ट्ज फाइबर होता है। नमूना ऑफ-एक्सिस को इलेक्ट्रॉन बीम में रखकर, विवर्तित नमूना वेवफ्रंट और रेफरेंस वेवफ्रंट को मिलाकर होलोग्राम बनाया जाता है।
चित्र 3 एक हस्तक्षेप इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप की मूल व्यवस्था को दर्शाता है। इलेक्ट्रॉन बाइप्रिज्म में ग्राउंड पोटेंशियल पर दो प्लेट इलेक्ट्रोड द्वारा ब्रैकेट किए गए एक ठीक, सकारात्मक रूप से चार्ज किए गए इलेक्ट्रिक फिलामेंट (चित्र में डॉट के रूप में दर्शाए गए) होते हैं। फिलामेंट, आमतौर पर व्यास में 1 माइक्रोन से अधिक नहीं होता है, आमतौर पर एक सोने की परत वाला क्वार्ट्ज फाइबर होता है। नमूना ऑफ-एक्सिस को इलेक्ट्रॉन बीम में रखकर, विवर्तित नमूना वेवफ्रंट और रेफरेंस वेवफ्रंट को मिलाकर होलोग्राम बनाया जाता है।


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एलआईजीओ | लेजर इंटरफेरोमीटर ग्रेविटेशनल-वेव ऑब्जर्वेटरी (एलआईजीओ) में दो 4-किमी फेब्री-पेरोट इंटरफेरोमीटर | माइकलसन-फैब्री-पेरोट इंटरफेरोमीटर शामिल हैं, और बीम स्प्लिटर पर लगभग 100 वाट लेजर पावर के पावर स्तर पर संचालित होते हैं। उन्नत एलआईजीओ के लिए वर्तमान में चल रहे उन्नयन के लिए कई किलोवाट लेजर शक्ति की आवश्यकता होगी, और वैज्ञानिकों को थर्मल विरूपण, लेसरों की आवृत्ति भिन्नता, दर्पण विस्थापन और तापीय रूप से प्रेरित बिरफ्रेंसेंस के साथ संघर्ष करने की आवश्यकता होगी।
एलआईजीओ | लेजर इंटरफेरोमीटर ग्रेविटेशनल-वेव ऑब्जर्वेटरी (एलआईजीओ) में दो 4-किमी फेब्री-पेरोट इंटरफेरोमीटर | माइकलसन-फैब्री-पेरोट इंटरफेरोमीटर शामिल हैं, और बीम स्प्लिटर पर लगभग 100 वाट लेजर पावर के पावर स्तर पर संचालित होते हैं। उन्नत एलआईजीओ के लिए वर्तमान में चल रहे उन्नयन के लिए कई किलोवाट लेजर शक्ति की आवश्यकता होगी, और वैज्ञानिकों को थर्मल विरूपण, लेसरों की आवृत्ति भिन्नता, दर्पण विस्थापन और तापीय रूप से प्रेरित बिरफ्रेंसेंस के साथ संघर्ष करने की आवश्यकता होगी।


उन्नत [[LIGO]] से परे तीसरी पीढ़ी के संवर्द्धन के लिए विभिन्न प्रकार की प्रतिस्पर्धी ऑप्टिकल प्रणालियों की खोज की जा रही है। इन प्रतिस्पर्धी टोपोलॉजी में से एक शून्य-क्षेत्र Sagnac डिज़ाइन रहा है। जैसा कि ऊपर उल्लेख किया गया है, Sagnac इंटरफेरोमीटर, पहले क्रम में, अपने ऑप्टिकल घटकों के किसी भी स्थिर या कम-आवृत्ति विस्थापन के प्रति असंवेदनशील हैं, और न ही लेज़रों या [[ birefringence ]] में मामूली आवृत्ति भिन्नता से प्रभावित फ्रिंज हैं। तीसरी पीढ़ी के LIGO के लिए Sagnac व्यतिकरणमापी का एक शून्य-क्षेत्र संस्करण प्रस्तावित किया गया है। चित्र 1 दिखाता है कि कैसे प्रकाश को विपरीत भाव के दो छोरों के माध्यम से निर्देशित करके, शून्य का एक प्रभावी क्षेत्र प्राप्त किया जाता है। Sagnac इंटरफेरोमीटर का यह संस्करण इसलिए खगोलीय हित की क्षणिक घटनाओं के प्रति उच्च संवेदनशीलता बनाए रखते हुए, अपने ऑप्टिकल घटकों के रोटेशन या कम आवृत्ति बहाव के प्रति असंवेदनशील है।<ref name=Sun1996>{{cite journal |last=Sun| first=K.-X. |author2=Fejer, M. M. |author3=Gustafson, E. |author4= Byer R. L.  |title=ग्रेविटेशनल-वेव डिटेक्शन के लिए Sagnac इंटरफेरोमीटर|journal=Physical Review Letters |year=1996 |volume=76 |issue=17 |pages=3053&ndash;3056 |url=https://nlo.stanford.edu/fejerpubs/1996/93.pdf  |access-date=31 March 2012|bibcode = 1996PhRvL..76.3053S |doi = 10.1103/PhysRevLett.76.3053 | pmid=10060864 }}</ref> हालांकि, एक ऑप्टिकल सिस्टम के चुनाव में कई विचार शामिल हैं, और कुछ क्षेत्रों में शून्य-क्षेत्र Sagnac की श्रेष्ठता के बावजूद, तीसरी पीढ़ी के LIGO के लिए ऑप्टिकल सिस्टम का कोई सर्वसम्मत विकल्प अभी तक नहीं है।<ref name=Friese2009>{{Cite journal | last1 = Freise | first1 = A. | last2 = Chelkowski | first2 = S. | last3 = Hild | first3 = S. | last4 = Pozzo | first4 = W. D. | last5 = Perreca | first5 = A. | last6 = Vecchio | first6 = A. | doi = 10.1088/0264-9381/26/8/085012 | title = तीसरी पीढ़ी के गुरुत्वाकर्षण तरंग डिटेक्टर के लिए ट्रिपल मिशेलसन इंटरफेरोमीटर| journal = Classical and Quantum Gravity | volume = 26 | issue = 8 | pages = 085012 | year = 2009 |arxiv = 0804.1036 |bibcode = 2009CQGra..26h5012F | s2cid = 7535227 }}</ref><ref name=Eberle2010>{{Cite journal | last1 = Eberle | first1 = T. | last2 = Steinlechner | first2 = S. | last3 = Bauchrowitz | first3 = J. R. | last4 = Händchen | first4 = V. | last5 = Vahlbruch | first5 = H. | last6 = Mehmet | first6 = M. | last7 = Müller-Ebhardt | first7 = H. | last8 = Schnabel | first8 = R. | doi = 10.1103/PhysRevLett.104.251102 | title = ग्रेविटेशनल वेव डिटेक्शन के लिए जीरो-एरिया सग्नैक इंटरफेरोमीटर टोपोलॉजी का क्वांटम एन्हांसमेंट| journal = Physical Review Letters | volume = 104 | issue = 25 | year = 2010 | pmid =  20867358|arxiv = 1007.0574 |bibcode = 2010PhRvL.104y1102E | page=251102| s2cid = 9929939 }}</ref>
उन्नत [[LIGO|लीगो]] से परे तीसरी पीढ़ी के संवर्द्धन के लिए विभिन्न प्रकार की प्रतिस्पर्धी ऑप्टिकल प्रणालियों की खोज की जा रही है। इन प्रतिस्पर्धी टोपोलॉजी में से एक शून्य-क्षेत्र सग्नाक डिज़ाइन रहा है। जैसा कि ऊपर उल्लेख किया गया है, सग्नाक इंटरफेरोमीटर, पहले क्रम में, अपने ऑप्टिकल घटकों के किसी भी स्थिर या कम-आवृत्ति विस्थापन के प्रति असंवेदनशील हैं, और न ही लेज़रों या [[ birefringence | बायर फ्रिंजेंस]] में मामूली आवृत्ति भिन्नता से प्रभावित फ्रिंज हैं। तीसरी पीढ़ी के लीगो के लिए सग्नाक व्यतिकरणमापी का एक शून्य-क्षेत्र संस्करण प्रस्तावित किया गया है। चित्र 1 दिखाता है कि कैसे प्रकाश को विपरीत भाव के दो छोरों के माध्यम से निर्देशित करके, शून्य का एक प्रभावी क्षेत्र प्राप्त किया जाता है। सग्नाक इंटरफेरोमीटर का यह संस्करण इसलिए खगोलीय हित की क्षणिक घटनाओं के प्रति उच्च संवेदनशीलता बनाए रखते हुए, अपने ऑप्टिकल घटकों के रोटेशन या कम आवृत्ति बहाव के प्रति असंवेदनशील है।<ref name=Sun1996>{{cite journal |last=Sun| first=K.-X. |author2=Fejer, M. M. |author3=Gustafson, E. |author4= Byer R. L.  |title=ग्रेविटेशनल-वेव डिटेक्शन के लिए Sagnac इंटरफेरोमीटर|journal=Physical Review Letters |year=1996 |volume=76 |issue=17 |pages=3053&ndash;3056 |url=https://nlo.stanford.edu/fejerpubs/1996/93.pdf  |access-date=31 March 2012|bibcode = 1996PhRvL..76.3053S |doi = 10.1103/PhysRevLett.76.3053 | pmid=10060864 }}</ref> हालांकि, एक ऑप्टिकल सिस्टम के चुनाव में कई विचार शामिल हैं, और कुछ क्षेत्रों में शून्य-क्षेत्र सग्नाक की श्रेष्ठता के बावजूद, तीसरी पीढ़ी के लीगो के लिए ऑप्टिकल सिस्टम का कोई सर्वसम्मत विकल्प अभी तक नहीं है।<ref name=Friese2009>{{Cite journal | last1 = Freise | first1 = A. | last2 = Chelkowski | first2 = S. | last3 = Hild | first3 = S. | last4 = Pozzo | first4 = W. D. | last5 = Perreca | first5 = A. | last6 = Vecchio | first6 = A. | doi = 10.1088/0264-9381/26/8/085012 | title = तीसरी पीढ़ी के गुरुत्वाकर्षण तरंग डिटेक्टर के लिए ट्रिपल मिशेलसन इंटरफेरोमीटर| journal = Classical and Quantum Gravity | volume = 26 | issue = 8 | pages = 085012 | year = 2009 |arxiv = 0804.1036 |bibcode = 2009CQGra..26h5012F | s2cid = 7535227 }}</ref><ref name=Eberle2010>{{Cite journal | last1 = Eberle | first1 = T. | last2 = Steinlechner | first2 = S. | last3 = Bauchrowitz | first3 = J. R. | last4 = Händchen | first4 = V. | last5 = Vahlbruch | first5 = H. | last6 = Mehmet | first6 = M. | last7 = Müller-Ebhardt | first7 = H. | last8 = Schnabel | first8 = R. | doi = 10.1103/PhysRevLett.104.251102 | title = ग्रेविटेशनल वेव डिटेक्शन के लिए जीरो-एरिया सग्नैक इंटरफेरोमीटर टोपोलॉजी का क्वांटम एन्हांसमेंट| journal = Physical Review Letters | volume = 104 | issue = 25 | year = 2010 | pmid =  20867358|arxiv = 1007.0574 |bibcode = 2010PhRvL.104y1102E | page=251102| s2cid = 9929939 }}</ref>




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===बाथ इंटरफेरोमीटर===
===बाथ इंटरफेरोमीटर===
{{main article|Bath interferometer (common path)}}
{{main article|बाथ इंटरफेरोमीटर (सामान्य पथ)}}
बाथ इंटरफेरोमीटर (चित्र 4) का उपयोग टेलीस्कोप दर्पणों का परीक्षण करने के लिए किया जा सकता है। इसमें आमतौर पर एक बीम स्प्लिटर, एक ऑप्टिकल फ्लैट, छोटी फोकल लंबाई का एक उभयलिंगी डायवर्जर और एक अर्धचालक लेजर जैसे प्रकाश स्रोत होते हैं।<ref>{{cite patent
बाथ इंटरफेरोमीटर (चित्र 4) का उपयोग टेलीस्कोप दर्पणों का परीक्षण करने के लिए किया जा सकता है। इसमें आमतौर पर एक बीम स्प्लिटर, एक ऑप्टिकल फ्लैट, छोटी फोकल लंबाई का एक उभयलिंगी डायवर्जर और एक अर्धचालक लेजर जैसे प्रकाश स्रोत होते हैं।<ref>{{cite patent
| country = DE
| country = DE

Revision as of 23:20, 9 May 2023

कॉमन-पाथ इंटरफेरोमीटर, इंटरफेरोमीटर का एक वर्ग है जिसमें रेफरेंस बीम और सैंपल बीम एक ही पथ पर यात्रा करते हैं। उदाहरणों में माइकलसन इंटरफेरोमीटर, ज़र्निके चरण-कंट्रास्ट इंटरफेरोमीटर और बिंदु विवर्तन इंटरफेरोमीटर शामिल हैं। एक आम-पथ व्यतिकरणमापी आम तौर पर दोहरे-पथ व्यतिकरणमापी जैसे माइकलसन व्यतिकरणमापी या मच-ज़ेन्डर व्यतिकरणमापी की तुलना में पर्यावरणीय स्पंदनों के लिए अधिक मजबूत होता है।[1] हालांकि एक ही रास्ते से यात्रा करते हुए, संदर्भ और नमूना बीम विपरीत दिशाओं में यात्रा कर सकते हैं, या वे एक ही दिशा में यात्रा कर सकते हैं लेकिन समान या अलग ध्रुवीकरण के साथ।

डबल-पथ इंटरफेरोमीटर संदर्भ और नमूना भुजाओं के बीच चरण बदलाव या लंबाई परिवर्तन के प्रति अत्यधिक संवेदनशील होते हैं। इस वजह से, छोटे विस्थापन के मापन के लिए विज्ञान और उद्योग में द्वि-पथ व्यतिकरणमापी का व्यापक उपयोग हुआ है,[2] अपवर्तक-सूचकांक परिवर्तन,[3] सतह की अनियमितताएं और इसी तरह। हालांकि, ऐसे अनुप्रयोग हैं, जिनमें संदर्भ और नमूना पथों के बीच सापेक्ष विस्थापन या अपवर्तक-सूचकांक अंतर के प्रति संवेदनशीलता वांछनीय नहीं है; वैकल्पिक रूप से, किसी अन्य संपत्ति के माप में रुचि हो सकती है।

चयनित उदाहरण

चित्र 1. उभयनिष्ठ-पथ व्यतिकरणमापी के चयनित उदाहरण

सग्नैक

Main article: सग्नैक इंटरफेरोमीटर

Sagnac व्यतिकरणमापी लंबाई या लंबाई परिवर्तन को मापने के लिए पूरी तरह से अनुपयुक्त हैं। सैग्नैक इंटरफेरोमीटर में, बीम्सप्लिटर से निकलने वाले दोनों बीम एक साथ एक आयत के चारों ओर विपरीत दिशाओं में घूमते हैं और मूल बीमस्प्लिटर पर पुनः संयोजित होते हैं। नतीजा यह है कि एक सैग्नाक इंटरफेरोमीटर, पहले आदेश के लिए, अपने ऑप्टिकल घटकों के किसी भी आंदोलन के लिए पूरी तरह असंवेदनशील है। वास्तव में, Sagnac व्यतिकरणमापी को प्रावस्था परिवर्तनों को मापने के लिए उपयोगी बनाने के लिए, व्यतिकरणमापी के पुंजों को थोड़ा अलग किया जाना चाहिए ताकि वे पूर्णतः सामान्य पथ का अनुसरण न करें। मामूली बीम पृथक्करण के साथ भी, Sagnac इंटरफेरोमीटर उत्कृष्ट कंट्रास्ट और फ्रिंज स्थिरता प्रदान करते हैं।[4] Sagnac व्यतिकरणमापी के दो बुनियादी टोपोलॉजी संभव हैं, प्रत्येक पथ में सम या विषम संख्या में प्रतिबिंब हैं या नहीं, इस पर भिन्नता है। विषम संख्या में परावर्तनों वाले सग्नाक व्यतिकरणमापी में, जैसा कि चित्र में दिखाया गया है, विपरीत दिशा में यात्रा करने वाले बीमों के वेवफ्रंट अधिकांश प्रकाश पथ पर एक दूसरे के संबंध में पार्श्व रूप से उलटे होते हैं, इसलिए टोपोलॉजी कड़ाई से सामान्य-पथ नहीं है।[5] Sagnac व्यतिकरणमापी का सबसे अच्छा ज्ञात उपयोग घूर्णन के प्रति इसकी संवेदनशीलता में निहित है। व्यतिकरणमापी के इस रूप पर घूर्णन के प्रभावों का पहला लेखा-जोखा 1913 में जॉर्ज सग्नैक द्वारा प्रकाशित किया गया था, जो गलती से मानते थे कि ईथर के भंवर का पता लगाने की उनकी क्षमता ने सापेक्षता सिद्धांत को अप्रमाणित कर दिया है।[6] वर्तमान सैग्नैक इंटरफेरोमीटर की संवेदनशीलता सग्नाक की मूल व्यवस्था से कहीं अधिक है। रोटेशन की संवेदनशीलता काउंटर-रोटेटिंग बीम द्वारा परिचालित क्षेत्र के समानुपाती होती है, और फाइबर ऑप्टिक जाइरोस्कोप, सग्नैक इंटरफेरोमीटर के वर्तमान वंशज, दर्पणों के बजाय ऑप्टिकल फाइबर के हजारों लूप का उपयोग करते हैं, जैसे कि छोटे से मध्यम आकार के इकाइयां आसानी से पृथ्वी के घूर्णन का पता लगाती हैं।[7] रिंग लेजर जाइरोस्कोप (चित्रित नहीं) Sagnac रोटेशन सेंसर का एक और रूप है जिसमें जड़त्वीय मार्गदर्शन प्रणालियों में महत्वपूर्ण अनुप्रयोग हैं।[6]

उनके असाधारण कंट्रास्ट और फ्रिंज स्थिरता के कारण, सग्नैक कॉन्फ़िगरेशन का उपयोग करने वाले इंटरफेरोमीटर ने आइंस्टीन की विशेष सापेक्षता की खोज और सैद्धांतिक और प्रयोगात्मक चुनौतियों के खिलाफ सापेक्षता के बाद के बचाव में प्रयोगों में महत्वपूर्ण भूमिका निभाई। उदाहरण के लिए, उनके माइकलसन-मॉर्ले प्रयोग से एक साल पहले, माइकलसन और मॉर्ले (1886) ने फ़िज़्यू प्रयोग # 1851 की पुनरावृत्ति का दोहराव किया, फ़िज़ियो के सेटअप को इतनी उच्च स्थिरता के एक समान-प्रतिबिंब सग्नैक इंटरफेरोमीटर के साथ बदल दिया, यहां तक ​​​​कि एक रोशन भी रखा प्रकाश पथ में मैच ने आर्टिफिशियल फ्रिंज विस्थापन का कारण नहीं बनाया।[8] 1935 में, हैमर प्रयोग ने विशेष सापेक्षता के लिए एक सैद्धांतिक चुनौती को खारिज कर दिया, जिसने विषम-प्रतिबिंब सग्नैक इंटरफेरोमीटर का उपयोग करते हुए, माइकलसन-मॉर्ले-प्रकार के प्रयोगों के अशक्त परिणामों को ईथर घसीटना की मात्र कलाकृति के रूप में समझाने का प्रयास किया। वह इस इंटरफेरोमीटर को खुले में, बिना किसी तापमान नियंत्रण के एक उच्च पहाड़ी चोटी पर संचालित कर सकता है, फिर भी 1/10 फ्रिंज सटीकता की रीडिंग प्राप्त कर सकता है।[9][10]


बिंदु विवर्तन

Main article: बिंदु विवर्तन इंटरफेरोमीटर
चित्रा 2. यंग का प्रयोग - सिंगल-बनाम डबल-स्लिट पैटर्न

लेंस परीक्षण और द्रव प्रवाह निदान में उपयोगी एक अन्य सामान्य-पथ इंटरफेरोमीटर बिंदु विवर्तन इंटरफेरोमीटर (PDI) है, जिसका आविष्कार 1933 में लिनिक द्वारा किया गया था।[11][12] रेफरेंस बीम एक छोटे से पिनहोल से विवर्तन द्वारा उत्पन्न होता है, जो हवादार डिस्क के आधे व्यास का होता है, एक सेमीट्रांसपेरेंट प्लेट में। चित्र 1 पिनहोल पर केंद्रित एक विपथन तरंगफ्रंट दिखाता है। विवर्तित संदर्भ किरणपुंज और संचरित परीक्षण तरंग व्यतिकरण करके फ्रिंज बनाते हैं। पीडीआई का सामान्य-पथ डिजाइन इसके लिए कई महत्वपूर्ण लाभ लाता है। (1) माच-ज़ेन्डर या माइकलसन डिज़ाइनों के लिए आवश्यक दो पथों के बजाय केवल एक ही लेज़र पथ की आवश्यकता है। यह लाभ बड़े इंटरफेरोमेट्रिक सेटअप में बहुत महत्वपूर्ण हो सकता है जैसे पवन सुरंगों में अशांत मीडिया के माध्यम से लंबे ऑप्टिकल पथ होते हैं। (2) सामान्य-पथ डिज़ाइन दोहरे पथ डिज़ाइनों की तुलना में कम ऑप्टिकल घटकों का उपयोग करता है, संरेखण को बहुत आसान बनाता है, साथ ही लागत, आकार और वजन को कम करता है, विशेष रूप से बड़े सेटअप के लिए।[13] (3) जबकि एक दोहरे पथ डिजाइन की सटीकता उस सटीकता पर निर्भर करती है जिसके साथ संदर्भ तत्व का पता लगाया जाता है, सावधानीपूर्वक डिजाइन पीडीआई के उत्पन्न संदर्भ बीम को गारंटीकृत सटीकता के लिए सक्षम बनाता है।[14] एक नुकसान यह है कि पिनहोल के माध्यम से प्रकाश की मात्रा इस बात पर निर्भर करती है कि प्रकाश पिनहोल पर कितनी अच्छी तरह केंद्रित हो सकता है। यदि आपतित तरंगाग्र गंभीर रूप से विचलित है, तो बहुत कम प्रकाश आर-पार हो सकता है।[15]पीडीआई ने विभिन्न अनुकूली प्रकाशिकी अनुप्रयोगों में उपयोग देखा है।[16][17]


पार्श्व बाल काटना

Main article: शियरिंग इंटरफेरोमीटर

लेटरल शियरिंग इंटरफेरोमेट्री वेवफ्रंट सेंसिंग की एक स्व-संदर्भित विधि है। एक अलग पथ संदर्भ वेवफ्रंट के साथ एक वेवफ्रंट की तुलना करने के बजाय, पार्श्व कतरनी इंटरफेरोमेट्री एक वेवफ्रंट को स्वयं के स्थानांतरित संस्करण के साथ हस्तक्षेप करती है। नतीजतन, यह एक वेवफ्रंट के ढलान के प्रति संवेदनशील है, न कि वेवफ्रंट शेप प्रति से। सचित्र समतल समानांतर प्लेट इंटरफेरोमीटर में परीक्षण और संदर्भ बीम के लिए असमान पथ लंबाई है; इस वजह से, इसका उपयोग अत्यधिक मोनोक्रोमैटिक (लेजर) प्रकाश के साथ किया जाना चाहिए। यह आम तौर पर किसी भी सतह पर बिना किसी कोटिंग के उपयोग किया जाता है, ताकि भूत प्रतिबिंबों को कम किया जा सके। परीक्षण के तहत एक लेंस से एक अपवर्तित तरंगाग्र प्लेट के आगे और पीछे से हस्तक्षेप पैटर्न बनाने के लिए परिलक्षित होता है। इस मूल डिजाइन पर विविधताएं दर्पणों के परीक्षण की अनुमति देती हैं। जैमिन इंटरफेरोमीटर, माइकलसन इंटरफेरोमीटर, मैक-जेन्डर इंटरफेरोमीटर|मैक-जेन्डर इंटरफेरोमीटर और अन्य इंटरफेरोमीटर डिजाइनों पर आधारित लेटरल शियरिंग इंटरफेरोमीटर के अन्य रूपों में क्षतिपूर्ति पथ हैं और इन्हें सफेद रोशनी के साथ इस्तेमाल किया जा सकता है।[18] ऑप्टिकल परीक्षण के अलावा, पार्श्व शियरिंग इंटरफेरोमेट्री के अनुप्रयोगों में पतली फिल्म विश्लेषण, पारदर्शी सामग्री में द्रव्यमान और थर्मल प्रसार, अपवर्तक सूचकांक और अपवर्तक सूचकांक माप की ढाल, संधान परीक्षण और अनुकूली प्रकाशिकी शामिल हैं।[19][20] शियरिंग इंटरफेरोमीटर, एक सामान्य ढांचा जिसमें लेटरल शियरिंग, हार्टमैन, शेक-हार्टमैन वेवफ्रंट सेंसर शामिल हैं। शेक-हार्टमैन, रोटेशनल शीयरिंग, फोल्डिंग शीयरिंग और एपर्चर मास्किंग इंटरफेरोमेट्री इंटरफेरोमीटर, औद्योगिक रूप से विकसित अधिकांश वेवफ्रंट सेंसर में उपयोग किए जाते हैं।[21]


फ्रेस्नेल का द्विप्रिज्म

चित्रा 3. एक इलेक्ट्रॉन होलोग्रफ़ी प्रणाली में प्रयुक्त बाइप्रिज्म

आधुनिक परिप्रेक्ष्य से, यंग के हस्तक्षेप प्रयोग|यंग के डबल स्लिट प्रयोग (चित्र 2 देखें) का परिणाम स्पष्ट रूप से प्रकाश की तरंग प्रकृति की ओर इशारा करता है, लेकिन 1800 के दशक की शुरुआत में ऐसा नहीं था। आखिरकार, न्यूटन ने देखा था जिसे अब विवर्तन घटना के रूप में पहचाना जाता है, और उन पर प्रकाशिकी की अपनी तीसरी पुस्तक में लिखा था,[22] प्रकाश के अपने कोरपसकुलर सिद्धांत के संदर्भ में उनकी व्याख्या करना। यंग के समकालीनों ने आपत्तियां उठाईं कि उनके परिणाम केवल स्लिट्स के किनारों से विवर्तन प्रभाव का प्रतिनिधित्व कर सकते हैं, न्यूटन द्वारा पहले देखे गए फ्रिंजों की तुलना में सिद्धांत रूप में अलग नहीं है। ऑगस्टिन फ्रेस्नेल, जिन्होंने लहर सिद्धांत का समर्थन किया, ने हस्तक्षेप प्रभावों को प्रदर्शित करने के लिए प्रयोगों की एक श्रृंखला का प्रदर्शन किया, जिसे किनारे विवर्तन के परिणाम के रूप में स्पष्ट नहीं किया जा सकता था। इनमें से सबसे उल्लेखनीय अपवर्तन द्वारा दो आभासी हस्तक्षेप करने वाले स्रोतों को बनाने के लिए द्विप्रिज्म का उनका उपयोग था।

फ़्रेज़नेल द्वि प्रिज्म का एक इलेक्ट्रॉन संस्करण इलेक्ट्रॉन होलोग्राफी में उपयोग किया जाता है, एक इमेजिंग तकनीक जो किसी वस्तु के इलेक्ट्रॉन हस्तक्षेप पैटर्न को फोटोग्राफिक रूप से रिकॉर्ड करती है। होलोग्राम को तब एक लेज़र द्वारा रोशन किया जा सकता है जिसके परिणामस्वरूप मूल वस्तु की एक बहुत ही आवर्धित छवि होती है, हालाँकि वर्तमान वरीयता होलोग्राम के संख्यात्मक पुनर्निर्माण के लिए है।[23] पारंपरिक इमेजिंग तकनीकों का उपयोग करके इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी में अधिक से अधिक रिज़ॉल्यूशन को सक्षम करने के लिए इस तकनीक को विकसित किया गया था। पारंपरिक इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी का रिज़ॉल्यूशन इलेक्ट्रॉन तरंग दैर्ध्य द्वारा सीमित नहीं है, बल्कि इलेक्ट्रॉन लेंस के बड़े विपथन द्वारा होता है।[24] चित्र 3 एक हस्तक्षेप इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप की मूल व्यवस्था को दर्शाता है। इलेक्ट्रॉन बाइप्रिज्म में ग्राउंड पोटेंशियल पर दो प्लेट इलेक्ट्रोड द्वारा ब्रैकेट किए गए एक ठीक, सकारात्मक रूप से चार्ज किए गए इलेक्ट्रिक फिलामेंट (चित्र में डॉट के रूप में दर्शाए गए) होते हैं। फिलामेंट, आमतौर पर व्यास में 1 माइक्रोन से अधिक नहीं होता है, आमतौर पर एक सोने की परत वाला क्वार्ट्ज फाइबर होता है। नमूना ऑफ-एक्सिस को इलेक्ट्रॉन बीम में रखकर, विवर्तित नमूना वेवफ्रंट और रेफरेंस वेवफ्रंट को मिलाकर होलोग्राम बनाया जाता है।

शून्य-क्षेत्र Sagnac

एलआईजीओ | लेजर इंटरफेरोमीटर ग्रेविटेशनल-वेव ऑब्जर्वेटरी (एलआईजीओ) में दो 4-किमी फेब्री-पेरोट इंटरफेरोमीटर | माइकलसन-फैब्री-पेरोट इंटरफेरोमीटर शामिल हैं, और बीम स्प्लिटर पर लगभग 100 वाट लेजर पावर के पावर स्तर पर संचालित होते हैं। उन्नत एलआईजीओ के लिए वर्तमान में चल रहे उन्नयन के लिए कई किलोवाट लेजर शक्ति की आवश्यकता होगी, और वैज्ञानिकों को थर्मल विरूपण, लेसरों की आवृत्ति भिन्नता, दर्पण विस्थापन और तापीय रूप से प्रेरित बिरफ्रेंसेंस के साथ संघर्ष करने की आवश्यकता होगी।

उन्नत लीगो से परे तीसरी पीढ़ी के संवर्द्धन के लिए विभिन्न प्रकार की प्रतिस्पर्धी ऑप्टिकल प्रणालियों की खोज की जा रही है। इन प्रतिस्पर्धी टोपोलॉजी में से एक शून्य-क्षेत्र सग्नाक डिज़ाइन रहा है। जैसा कि ऊपर उल्लेख किया गया है, सग्नाक इंटरफेरोमीटर, पहले क्रम में, अपने ऑप्टिकल घटकों के किसी भी स्थिर या कम-आवृत्ति विस्थापन के प्रति असंवेदनशील हैं, और न ही लेज़रों या बायर फ्रिंजेंस में मामूली आवृत्ति भिन्नता से प्रभावित फ्रिंज हैं। तीसरी पीढ़ी के लीगो के लिए सग्नाक व्यतिकरणमापी का एक शून्य-क्षेत्र संस्करण प्रस्तावित किया गया है। चित्र 1 दिखाता है कि कैसे प्रकाश को विपरीत भाव के दो छोरों के माध्यम से निर्देशित करके, शून्य का एक प्रभावी क्षेत्र प्राप्त किया जाता है। सग्नाक इंटरफेरोमीटर का यह संस्करण इसलिए खगोलीय हित की क्षणिक घटनाओं के प्रति उच्च संवेदनशीलता बनाए रखते हुए, अपने ऑप्टिकल घटकों के रोटेशन या कम आवृत्ति बहाव के प्रति असंवेदनशील है।[25] हालांकि, एक ऑप्टिकल सिस्टम के चुनाव में कई विचार शामिल हैं, और कुछ क्षेत्रों में शून्य-क्षेत्र सग्नाक की श्रेष्ठता के बावजूद, तीसरी पीढ़ी के लीगो के लिए ऑप्टिकल सिस्टम का कोई सर्वसम्मत विकल्प अभी तक नहीं है।[26][27]


स्कैटरप्लेट

ट्वाइमैन-ग्रीन इंटरफेरोमीटर का एक सामान्य मार्ग विकल्प स्कैटरप्लेट इंटरफेरोमीटर है,[28] 1953 में जेएम बर्च द्वारा आविष्कार किया गया।[29] ट्विमैन-ग्रीन इंटरफेरोमीटर, एक डबल पाथ इंटरफेरोमीटर, माइकलसन इंटरफेरोमीटर का एक प्रकार है जो आमतौर पर ऑप्टिकल सतहों और लेंस की शुद्धता का परीक्षण करने के लिए उपयोग किया जाता है।[30][31] चूंकि संदर्भ और नमूना पथ अलग-अलग हैं, इंटरफेरोमीटर का यह रूप कंपन और प्रकाश पथों में वायुमंडलीय अशांति के प्रति बेहद संवेदनशील है, जो दोनों ऑप्टिकल मापों में हस्तक्षेप करते हैं। एक ऑप्टिकल सतह का सटीक माप भी सहायक प्रकाशिकी की गुणवत्ता पर निर्भर करता है।

क्योंकि स्कैटरप्लेट इंटरफेरोमीटर एक सामान्य-पथ इंटरफेरोमीटर है, संदर्भ और परीक्षण पथ स्वचालित रूप से मेल खाते हैं ताकि सफेद रोशनी के साथ भी एक शून्य ऑर्डर फ्रिंज आसानी से प्राप्त किया जा सके। यह कंपन और विक्षोभ के प्रति अपेक्षाकृत असंवेदनशील है, और सहायक प्रकाशिकी की गुणवत्ता ट्वायमैन-ग्रीन सेटअप की तरह महत्वपूर्ण नहीं है।[28] फ्रिंज कंट्रास्ट, हालांकि, कम है, और एक विशिष्ट हॉटस्पॉट विभिन्न उद्देश्यों के लिए स्कैटरप्लेट इंटरफेरोमीटर को अनुपयुक्त बना सकता है। ऑप्टिकल परीक्षण के लिए उपयोगी कई अन्य कॉमन-पाथ इंटरफेरोमीटर का वर्णन किया गया है।[15][32] चित्र 1 एक गोलाकार दर्पण का परीक्षण करने के लिए स्थापित इंटरफेरोमीटर दिखाता है। परीक्षण के तहत दर्पण के वक्रता के केंद्र के पास एक स्कैटरप्लेट सेट किया गया है। इस प्लेट में छोटे अपारदर्शी पैच का एक पैटर्न होता है जो उलटा समरूपता के साथ प्लेट पर व्यवस्थित होते हैं लेकिन जो आकार और वितरण में अन्यथा यादृच्छिक होते हैं। (1) प्रकाश का एक निश्चित अंश सीधे स्कैटरप्लेट से होकर गुजरता है, दर्पण द्वारा परावर्तित होता है, लेकिन फिर बिखर जाता है क्योंकि यह दूसरी बार स्कैटरप्लेट का सामना करता है। यह प्रत्यक्ष-प्रकीर्णित प्रकाश संदर्भ किरण बनाता है। (2) प्रकाश का एक निश्चित अंश बिखर जाता है क्योंकि यह स्कैटरप्लेट से होकर गुजरता है, दर्पण द्वारा परावर्तित होता है, लेकिन फिर स्कैटरप्लेट से सीधे गुजरता है क्योंकि यह दूसरी बार स्कैटरप्लेट का सामना करता है। यह बिखरा हुआ प्रत्यक्ष प्रकाश टेस्ट बीम बनाता है, जो इंटरफेरेंस फ्रिंज बनाने के लिए रेफरेंस बीम के साथ जुड़ता है। (3) प्रकाश का एक निश्चित अंश इसके दोनों मुकाबलों पर स्कैटरप्लेट से सीधे गुजरता है। यह प्रत्यक्ष-प्रत्यक्ष प्रकाश एक छोटा, अवांछनीय हॉटस्पॉट उत्पन्न करता है। (4) स्कैटरप्लेट के साथ दोनों मुठभेड़ों पर प्रकाश का एक निश्चित अंश बिखरा हुआ है। यह बिखरा-बिखरा प्रकाश हस्तक्षेप पैटर्न के समग्र विपरीत को कम करता है।[33]

चित्रा 4. बाथ इंटरफेरोमीटर

बाथ इंटरफेरोमीटर

Main article: बाथ इंटरफेरोमीटर (सामान्य पथ)

बाथ इंटरफेरोमीटर (चित्र 4) का उपयोग टेलीस्कोप दर्पणों का परीक्षण करने के लिए किया जा सकता है। इसमें आमतौर पर एक बीम स्प्लिटर, एक ऑप्टिकल फ्लैट, छोटी फोकल लंबाई का एक उभयलिंगी डायवर्जर और एक अर्धचालक लेजर जैसे प्रकाश स्रोत होते हैं।[34]


अन्य विन्यास

साहित्य में अन्य सामान्य-पथ इंटरफेरोमीटर विन्यासों का वर्णन किया गया है, जैसे कि डबल-फोकस इंटरफेरोमीटर और सॉन्डर्स प्रिज्म इंटरफेरोमीटर,[15]गंभीर प्रयास। कॉमन-पाथ इंटरफेरोमीटर ऑप्टिकल सुसंगतता टोमोग्राफी सहित विभिन्न प्रकार के अनुप्रयोगों में उपयोगी साबित हुए हैं,[1]डिजिटल होलोग्राफी,[35] और चरण विलंब का मापन।[36] पर्यावरणीय कंपन के प्रति उनका सापेक्ष लचीलापन एक सामान्य उत्कृष्ट विशेषता है, और जब कोई संदर्भ बीम उपलब्ध नहीं होता है तो कभी-कभी उनका उपयोग किया जा सकता है; हालाँकि, उनकी टोपोलॉजी के आधार पर, उनके हस्तक्षेप पैटर्न की व्याख्या करना दोहरे पथ इंटरफेरोमीटर द्वारा उत्पन्न की तुलना में अधिक जटिल हो सकता है।

यह भी देखें

संदर्भ

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