विस्तारित एक्स-रे अवशोषण ठीक संरचना

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एक्सएएस आँकड़े के तीन क्षेत्र

विस्तारित एक्स-रे अवशोषण ठीक संरचना(EXAFS), किनारे की संरचना(XANES) के समीप एक्स-रे अवशोषण के साथ, एक्स-रे अवशोषण स्पेक्ट्रोस्कोपी(XAS) का एक उपवर्ग है। अन्य अवशोषण स्पेक्ट्रोस्कोपी की भाँति, एक्सएएस तकनीकें बीयर-लैंबर्ट नियम का पालन करती हैं। ऊर्जा के एक कार्य के रूप में एक पदार्थ का एक्स-रे अवशोषण गुणांक एक नमूने पर निर्देशित एक संकीर्ण ऊर्जा संकल्प के एक्स-रे का उपयोग करके प्राप्त किया जाता है और घटना और प्रेषित एक्स-रे तीव्रता को घटना एक्स-रे ऊर्जा में वृद्धि के रूप में दर्ज किया जाता है। .

जब आपतित एक्स-रे ऊर्जा नमूने के भीतर एक परमाणु के एक इलेक्ट्रॉन की बाध्यकारी ऊर्जा से मेल खाती है, तो नमूने द्वारा अवशोषित एक्स-रे की संख्या प्रभावशाली रूप से बढ़ जाती है, जिससे प्रेषित एक्स-रे तीव्रता में गिरावट आती है। इसका परिणाम अवशोषण बढ़त में होता है। प्रत्येक तत्व में अपने इलेक्ट्रॉनों की विभिन्न बाध्यकारी ऊर्जाओं के अनुरूप अद्वितीय अवशोषण किनारों का एक समूह होता है, जो एक्सएएस तत्व चयनात्मकता प्रदान करता है। एक्सएएस स्पेक्ट्रा को प्रायः सिंक्रोटॉन में एकत्र किया जाता है क्योंकि सिंक्रोट्रॉन एक्स-रे स्रोतों की उच्च तीव्रता अवशोषित तत्व की एकाग्रता को प्रति मिलियन कुछ भागों के रूप में कम तक पहुंचने की अनुमति देती है। यदि स्रोत बहुत कमजोर है तो अवशोषण असंसूचनीय नहीं होगा। क्योंकि एक्स-रे अत्यधिक वेधी हैं, एक्सएएस नमूने गैस, ठोस या तरल हो सकते हैं।

पृष्ठभूमि

इएक्सएऍफ़एस अवशोषण स्पेक्ट्रम को किसी दिए गए पदार्थ विपरीत ऊर्जा के अवशोषण गुणांक के भूखंडों के रूप में प्रदर्शित किया जाता है, सामान्यतः नमूने में एक तत्व के अवशोषण किनारे से पूर्व 500 - 1000 eV(इलेक्ट्रॉनवोल्ट) क्षेत्र में प्रारम्भ होता है। एक्स-रे अवशोषण गुणांक सामान्यतः इकाई चरण ऊंचाई के लिए सामान्यीकृत होता है। यह अवशोषण किनारे से पूर्व और बाद के क्षेत्र में एक रेखा को वापस करके, संपूर्ण आँकड़े समूह से पूर्व-किनारे पंक्ति को घटाकर और अवशोषण चरण की ऊंचाई से विभाजित करके किया जाता है,जो E0(अवशोषण किनारे पर) के मान पर पूर्व-किनारे और पश्च-किनारे के बीच के अंतर से निर्धारित होता है।

सामान्यीकृत अवशोषण स्पेक्ट्रा को प्रायः एक्सएएनइएस स्पेक्ट्रा कहा जाता है। नमूने में तत्व के औसत ऑक्सीकरण राज्य को निर्धारित करने के लिए इन स्पेक्ट्रा का उपयोग किया जा सकता है। एक्सएएनइएस स्पेक्ट्रा नमूने में अवशोषित परमाणु के समन्वय परिस्थिति के प्रति भी संवेदनशील हैं। अज्ञात नमूने के एक्सएएनइएस स्पेक्ट्रा को ज्ञात मानकों के साथ मिलाने के लिए फिंगर प्रिंटिंग विधियों का उपयोग किया गया है। कई अलग-अलग मानक स्पेक्ट्रा के रैखिक संयोजन उपयुक्त अज्ञात नमूने के भीतर प्रत्येक ज्ञात मानक स्पेक्ट्रा की मात्रा का अनुमान लगा सकते हैं।

एक्स-रे अवशोषण स्पेक्ट्रा 200 - 35,000 eV की सीमा में निर्मित होते हैं। प्रमुख भौतिक प्रक्रिया वह है जहां अवशोषित फोटॉन अवशोषित परमाणु से एक क्रोड प्रकाशिक इलेक्ट्रॉन को बाहर निकालता है, एक क्रोड छिद्र को पीछे छोड़ देता है। क्रोड छिद्र वाला परमाणु अब उत्तेजित है। उत्सर्जित प्रकाशिक इलेक्ट्रॉन की ऊर्जा अवशोषित फोटॉन के बराबर होगी जो प्रारंभिक क्रोड अवस्था की बाध्यकारी ऊर्जा को कम करती है।उत्सर्जित प्रकाशिक इलेक्ट्रॉन समीप के गैर-उत्तेजित परमाणुओं में इलेक्ट्रॉनों के साथ संपर्क करता है।

यदि उत्सर्जित प्रकाशिक इलेक्ट्रॉन को तरंग जैसी प्रकृति के लिए लिया जाता है और समीप के परमाणुओं को बिंदु बिखरने वाले के रूप में वर्णित किया जाता है, तो यह कल्पना करना संभव है कि पश्च प्रकीर्णक इलेक्ट्रॉन तरंगें अग्रिम-प्रसार तरंगों के साथ हस्तक्षेप करती हैं। परिणामी हस्तक्षेप स्वरूप मापित अवशोषण गुणांक के मॉडुलन के रूप में दिखाई देता है, जिससे इएक्सएऍफ़एस स्पेक्ट्रा में दोलन होता है। कई वर्षों से इएक्सएऍफ़एस स्पेक्ट्रा की व्याख्या के लिए एक सरलीकृत समतल-तरंग एकल-प्रकीर्णन सिद्धांत का उपयोग किया गया है, यद्यपि आधुनिक विधियों(जैसे FEFF, GNXAS) ने दिखाया है कि वक्र-तरंग संशोधन और बहु-प्रकीर्णन प्रभावों की उपेक्षा नहीं की जा सकती है। प्रकाशिक इलेक्ट्रॉन गतिज ऊर्जा की कम ऊर्जा क्षेत्र(5-200 eV) में प्रकाशिक इलेक्ट्रॉन बिखरने का आयाम बहुत बड़ा हो जाता है ताकि एक्सएएनईएस(या एनईएक्सएएफएस) स्पेक्ट्रा में कई बिखरने वाली घटनाएं प्रभावी हो जाएं।

प्रकाशिक इलेक्ट्रॉन की तरंग दैर्ध्य पश्च प्रकीर्णक तरंग की ऊर्जा और चरण पर निर्भर होती है जो केंद्रीय परमाणु में स्थित होती है। आगमी फोटॉन की ऊर्जा के एक फलन के रूप में तरंग दैर्ध्य बदलता है। पश्च प्रकीर्णन तरंग की अवस्था(तरंगें) और आयाम पश्च प्रकीर्णन करने वाले परमाणु के प्रकार और केंद्रीय परमाणु से पश्च प्रकीर्णन परमाणु की दूरी पर निर्भर करता है। परमाणु प्रजातियों पर प्रकीर्णन की निर्भरता इन इएक्सएऍफ़एस आँकड़े का विश्लेषण करके मूल अवशोषित(केंद्रीय रूप से उत्तेजित) परमाणु के रासायनिक समन्वय परिस्थिति से संबंधित जानकारी प्राप्त करना संभव बनाती है।

प्रायोगिक विचार

चूंकि इएक्सएऍफ़एस को समस्वरणीय एक्स-रे स्रोत की आवश्यकता होती है, आँकड़े प्रायः सिंक्रोट्रॉन पर एकत्र किए जाते हैं, प्रायः किरण रेखा पर जो विशेष रूप से उद्देश्य के लिए अनुकूलित होते हैं। किसी विशेष ठोस का अध्ययन करने के लिए विशेष सिंक्रोट्रॉन की उपयोगिता संबंधित तत्वों के अवशोषण किनारों पर एक्स-रे अभिवाह की चमक पर निर्भर करती है।

अनुप्रयोग

एक्सएएस एक अंतर्विषयक तकनीक है और एक्स-रे विवर्तन की तुलना में इसके अद्वितीय गुणों का उपयोग स्थानीय संरचना के विवरण को समझने के लिए किया गया है:

एक्सएएस क्रिस्टलीय और बहु-घटक पदार्थ में स्थानीय संरचनात्मक और ऊष्मीय विकार की विलक्षणता पर विवर्तन सूचना के लिए पूरक प्रदान करता है।

आणविक गतिकी या उत्क्रम मोंटे कार्लो पद्धति जैसे परमाणु अनुकरणीय का उपयोग अधिक विश्वसनीय और समृद्ध संरचनात्मक सूचना निकालने में मदद कर सकता है।

उदाहरण

इएक्सएऍफ़एस, एक्सएएनइएस की भाँति, मौलिक विशिष्टता के साथ अत्यधिक संवेदनशील तकनीक है। जैसे, इएक्सएऍफ़एस व्यावहारिक रूप से महत्वपूर्ण प्रजातियों की रासायनिक स्थिति को निर्धारित करने का एक अत्यंत उपयोगी विधि है जो बहुत कम बहुतायत या एकाग्रता में होता है। पर्यावरण रसायन विज्ञान में इएक्सएऍफ़एस का बार-बार उपयोग होता है, जहां वैज्ञानिक एक पारिस्थितिकी तंत्र के माध्यम से प्रदूषकों के प्रसार को समझने का प्रयत्न करते हैं। इएक्सएऍफ़एस का उपयोग त्वरक द्रव्यमान स्पेक्ट्रोमेट्री के साथ फोरेंसिक(विधि चिकित्साशास्त्र सम्बंधी) परीक्षाओं में किया जा सकता है, विशेष रूप से परमाणु अस्र(अप्रसार) अनुप्रयोगों में।

इतिहास

इएक्सएऍफ़एस(मूल रूप से कोसल की संरचना कहा जाता है) के इतिहास के विषय में बहुत विस्तृत, संतुलित और सूचनात्मक विवरण आर. स्टम वॉन बोर्डवेह्र द्वारा दिया गया है।[1] XAFS(इएक्सएऍफ़एस और एक्सएएनइएस) के इतिहास का अधिक आधुनिक और सटीक विवरण उस समूह के नेता द्वारा दिया गया है जिसने एडवर्ड ए. स्टर्न द्वारा एक पुरस्कार व्याख्यान में इएक्सएऍफ़एस का आधुनिक संस्करण विकसित किया था।[2]


यह भी देखें

संदर्भ

  1. ↑ Bordwehr, R. Stumm von (1989). "A History of X-ray absorption fine structure". Annales de Physique (in English). 14 (4): 377–465. Bibcode:1989AnPh...14..377S. doi:10.1051/anphys:01989001404037700. ISSN 0003-4169.
  2. ↑ Stern, Edward A. (2001-03-01). "Musings about the development of XAFS". Journal of Synchrotron Radiation. 8 (2): 49–54. doi:10.1107/S0909049500014138. ISSN 0909-0495. PMID 11512825.


ग्रन्थसूची

किताबें

  • Calvin, Scott. (2013-05-20). सभी के लिए एक्सएएफएस. Furst, Kirin Emlet. Boca Raton. ISBN 9781439878637. OCLC 711041662.{{cite book}}: CS1 maint: location missing publisher (link)
  • Bunker, Grant, 1954- (2010). एक्सएएफएस का परिचय: एक्स-रे अवशोषण ठीक संरचना स्पेक्ट्रोस्कोपी के लिए एक व्यावहारिक मार्गदर्शिका. Cambridge: Cambridge University Press. ISBN 9780511809194. OCLC 646816275.{{cite book}}: CS1 maint: multiple names: authors list (link)
  • Teo, Boon K. (1986). EXAFS: मूल सिद्धांत और डेटा विश्लेषण. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg. ISBN 9783642500312. OCLC 851822691.
  • एक्स-रे अवशोषण: सिद्धांत, अनुप्रयोग, EXAFS, SEXAFS और XANES की तकनीकें. Koningsberger, D. C., Prins, Roelof. New York: Wiley. 1988. ISBN 0471875473. OCLC 14904784.{{cite book}}: CS1 maint: others (link)


पुस्तक अध्याय


कागजात

बाहरी संबंध

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